材料顯微結構分析方法VII.

掃描電子顯微鏡ScanningElectronMicroscopy

（SEM）

特點：①分辨率比較高，二次電子象50～60?

②放大倍數(shù)連續(xù)可調，幾十倍到二十萬倍

③景深大，立體感強④試樣制備簡單

⑤一機多用VII.

掃描電子顯微鏡*電子束參數(shù)：束流i

：10－12～10－6A

束斑直徑d：50?～1m發(fā)散度:(立體角)電子束亮度：亮度方程：**掃描系統(tǒng)：X-Y

**掃描方式①線掃描，X掃描，Y調制CS制備陶瓷涂層與基體的界面形貌及元素分布陶瓷涂層金屬**掃描系統(tǒng)：X-Y

**掃描方式①線掃描，X掃描，Y調制②面掃描：

用CRT上相應點的亮度顯示試樣上對應點的顯微結構信號.

PMN陶瓷中的Mg分布*放大倍數(shù)：L：l：M由調節(jié)線圏的偏轉控制S大小實現(xiàn)，不必改變透鏡的聚焦的激磁電流。通常即在某一M下，CRT可分辨的最小尺寸，圖象元素：所以Pe與M之關系:

當M=1000X時:

CRT熒光屏尺寸100mm電子束在樣品上的掃描長度

有效放大倍數(shù)：即Pe

與束斑dsamp必須相適應：當:虛放大，不可分辨景深D：即試樣有一定起伏時，能使上下各部都獲得同時聚焦的深度。又∴∴二.檢測器

三個重要參量

1.take-offAngle:

試樣表面與信號探測器的夾角2.探測器立體角：A：探測器立體角r：Sample與探測器之間的距離3.轉換率：探測器響應值與接受信號的百分比1.閃爍晶體－光電倍增系統(tǒng)

PM光電倍增管法拉第罩F作用：

F為-50V偏壓：F為+250V偏壓：

避免S上的10KV影響eB方向。

take-offAngle:

=30

()a.b.c.無影燈效應立體感強三.反差

C的影響因素：原子序數(shù)反差試樣兩點信號強度S差:形貌反差

(1)原子序數(shù)反差。應是信號檢測器能在CTR上的反映。SrTiO3基BLC的背散射圖像*背散射電子圖象與吸收圖象之關系：

在Sample上加正偏壓:

當η>0.5時：eSC圖象有比eBS圖象更好的反差。

即對重元素觀察吸收電子圖象往往更有效。

3.對eSE：兩相鄰的不同傾角的平均值

兩相鄰的不同傾角的差值

θ表面拋光浸蝕試樣斷口試樣與有效發(fā)射深度有關

θ:d:即:

=0的eSE的發(fā)射率R那么有：Rose認為，通常要區(qū)別兩點反差，必須有：

四.

圖象質量：

*圖象中反映的信息的清晰程度

決定于S/N(信號/噪聲)

通常一點上有

就有次波動。次幾率為了觀察具有C水平的圖象，要求圖象上相應點的信號

必須超過：組成一個掃描點的時間為τ，所需的電流強度為

若信號負載者是e,那么：例：觀察Al-Fe交界，ε=0.25SEM兩個最重要的關系：

最少需要多大的

可以獲得的細節(jié)情況閾值方程

亮度方程電子束亮度：原子序數(shù)反差：用β方程計算，即實際上是求束斑尺寸：

可觀察細節(jié)，

例：最少需要多大的

可以獲得的細節(jié)情況ε=0.25觀察Al-Fe交界，鎢絲T=2700K,加速電壓E=25KV

：

習題：第26題第29題教學安排：一.第十三周二.第十四周1.t-ZrO2超細粉體顆粒尺寸的XRD測定儀器寬度標定標樣：SrTiO312月12日星期五上課(TEM)2.復習三