犐犆犛３５．２２０．２０

犔６３

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１２６２８—２００８

代替ＧＢ／Ｔ１２６２８—１９９０

硬磁盤驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范

犌犲狀犲狉犪犾狊狆犲犮犻犳犻犮犪狋犻狅狀犳狅狉犺犪狉犱犱犻狊犽犱狉犻狏犲

２００８０７１８發(fā)布２００８１２０１實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜１２６２８—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

５試驗(yàn)方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

６檢驗(yàn)規(guī)則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１１

７標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１２

附錄Ａ（規(guī)范性附錄）檢查程序編制原則及技術(shù)要求!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１３

附錄Ｂ（規(guī)范性附錄）故障判據(jù)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１４

書

犌犅／犜１２６２８—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１２６２８—１９９０《硬磁盤驅(qū)動(dòng)器通用技術(shù)條件》。

本標(biāo)準(zhǔn)與ＧＢ／Ｔ１２６２８—１９９０的主要區(qū)別如下：

———ＧＢ／Ｔ１２６２８—１９９０只涵蓋３．５ｉｎ硬磁盤驅(qū)動(dòng)器，本標(biāo)準(zhǔn)增加２．５ｉｎ硬磁盤驅(qū)動(dòng)器；

———增加了硬磁盤片、數(shù)據(jù)傳輸率、準(zhǔn)備時(shí)間、接口、啟停測試等關(guān)鍵術(shù)語；

———?jiǎng)h除了原標(biāo)準(zhǔn)中的溫式（氏）磁盤驅(qū)動(dòng)器、頭盤組件、記錄方式、記錄密度、磁通翻轉(zhuǎn)密度、磁道

密度、柱面、格式化容量、主軸電機(jī)啟動(dòng)時(shí)間、主軸電機(jī)停止時(shí)間、最大尋道時(shí)間、平均旋轉(zhuǎn)等待

時(shí)間、缺陷磁道、惡劣碼等術(shù)語；

———增加了結(jié)構(gòu)示意圖、外形及安裝示意圖、增加了平均尋道時(shí)間、數(shù)據(jù)傳輸率、準(zhǔn)備時(shí)間等主要性

能指標(biāo)；

———更新了ＧＢ／Ｔ１２６２８—１９９０安全要求和電磁兼容要求及測試方法；

———增加了２．５ｉｎ和３．５ｉｎ硬盤的環(huán)境適應(yīng)性要求以及測試方法，更新抗振動(dòng)以及抗沖擊性能

要求；

———增加了啟停測試要求及測試方法；

———更新了電源適應(yīng)能力的要求及測試方法；

———更新了ＧＢ／Ｔ１２６２８—１９９０中檢驗(yàn)規(guī)則中的交收檢驗(yàn)內(nèi)容；

———更新了ＧＢ／Ｔ１２６２８—１９９０包裝標(biāo)志中的內(nèi)容；

———?jiǎng)h除了ＧＢ／Ｔ１２６２８—１９９０附錄Ｃ。

本標(biāo)準(zhǔn)中的附錄Ａ和附錄Ｂ是規(guī)范性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國信息技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ２８）提出并歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：深圳易拓科技有限公司、中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所、華中科技大學(xué)、中國長城計(jì)

算機(jī)深圳股份有限公司。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：許銘癸、鄭洪仁、鄧德新、馮丹、劉景寧、儲成武、錢舒、王華、葉少文、童廣勝。

本標(biāo)準(zhǔn)由標(biāo)準(zhǔn)起草單位負(fù)責(zé)解釋。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１２６２８—１９９０。

Ⅰ

犌犅／犜１２６２８—２００８

硬磁盤驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硬磁盤驅(qū)動(dòng)器（以下簡稱產(chǎn)品）的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則、標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯

存等。

本標(biāo)準(zhǔn)主要適用于２．５ｉｎ和３．５ｉｎ硬磁盤驅(qū)動(dòng)器，是制定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的依據(jù)，其他規(guī)格的可參照

使用。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ１９１—２００８包裝儲運(yùn)圖示標(biāo)志（ＩＳＯ７８０：１９９７，ＭＯＤ）

ＧＢ／Ｔ２４２１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第１部分：總則（ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９，ｅｑｖＩＥＣ６００６８１：１９９８）

ＧＢ／Ｔ２４２２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語（ＧＢ／Ｔ２４２２—１９９５，ｅｑｖＩＥＣ６００６８５２：１９９０）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ａ：低溫（ｉｄｔ

ＩＥＣ６００６８２１：１９９０）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２—２００１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｂ：高溫（ｉｄｔ

ＩＥＣ６００６８２２：１９７４）

ＧＢ／Ｔ２４２３．３—２００６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｃａｂ：恒定濕熱試驗(yàn)

（ＩＥＣ６００６８２７８：２００１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．５—１９９５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｅａ和導(dǎo)則：沖擊（ｉｄｔ

ＩＥＣ６００６８２２７：１９８７）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１０—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方