標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 15616-1995 是一項(xiàng)中國國家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《金屬及合金的電子探針定量分析方法》。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用電子探針顯微分析技術(shù)(EPMA)對金屬及合金材料進(jìn)行定量化學(xué)成分分析的方法、步驟、精度要求以及相關(guān)的校正和測試條件。以下是該標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容概述:
標(biāo)準(zhǔn)適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于測定金屬及合金中常規(guī)元素(如過渡金屬、堿土金屬、部分稀有 earth 元素等)的含量,特別適合微區(qū)分析,即能夠在樣品表面進(jìn)行微米級(jí)區(qū)域的成分分析。
原理
電子探針定量分析基于能量色散X射線光譜(EDS)或波長色散X射線光譜(WDS)技術(shù),通過將高能電子束聚焦照射到樣品表面,激發(fā)樣品中的原子產(chǎn)生特征X射線。這些X射線的能量或波長與樣品中元素種類相對應(yīng),通過測量這些X射線的強(qiáng)度,可以計(jì)算出對應(yīng)元素的含量。
儀器要求
標(biāo)準(zhǔn)明確了進(jìn)行電子探針分析所使用的儀器應(yīng)具備的性能指標(biāo),包括但不限于分辨率、檢測限、穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性等。同時(shí),要求儀器定期進(jìn)行校準(zhǔn)和維護(hù),確保分析結(jié)果的可靠性。
樣品制備
詳細(xì)說明了樣品的制備方法,要求樣品表面平整、清潔且無污染,以避免分析誤差。對于不同類型的樣品,可能需要采用不同的鑲嵌、切割或拋光技術(shù)。
分析步驟
- 點(diǎn)分析:選擇合適的分析點(diǎn),設(shè)置電子束的加速電壓和電流。
- 背景校正:在分析前,需進(jìn)行背景測量并進(jìn)行相應(yīng)校正,以消除非樣品產(chǎn)生的信號(hào)干擾。
- 定量分析:應(yīng)用已知的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行標(biāo)定,建立定量關(guān)系,然后根據(jù)測得的X射線強(qiáng)度計(jì)算元素含量。
- 校正方法:介紹了K因子校正、內(nèi)標(biāo)法、外標(biāo)法等多種校正方法,以提高分析的準(zhǔn)確度。
精密度與準(zhǔn)確度
規(guī)定了分析結(jié)果的精密度和準(zhǔn)確度要求,通常要求多次重復(fù)測量的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差應(yīng)在可接受范圍內(nèi),并與國際認(rèn)可的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)或已知成分的樣品進(jìn)行比對驗(yàn)證。
報(bào)告
要求分析報(bào)告應(yīng)包含但不限于樣品信息、分析條件、所用校正方法、測量結(jié)果及其不確定度評估等內(nèi)容。
注意事項(xiàng)
雖然避免直接使用“注意”等詞語,但標(biāo)準(zhǔn)中隱含地提醒使用者需關(guān)注儀器狀態(tài)、樣品處理過程中的污染控制以及正確執(zhí)行校正程序,以保證分析結(jié)果的可靠性和再現(xiàn)性。
該標(biāo)準(zhǔn)為金屬及合金成分分析提供了統(tǒng)一的技術(shù)指導(dǎo),有助于確保不同實(shí)驗(yàn)室間數(shù)據(jù)的可比性和一致性。
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- 被代替
- 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替,建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 15616-2008
- 1995-07-12 頒布
- 1996-02-01 實(shí)施
文檔簡介
ICS.621.317.7:543.062N33中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T15616-95金屬及合金的電子探針定量分析方法Quantitativemethodforelectronprobemicroanalysisofmetalsandalloys1995-07-12發(fā)布1996-02-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)金屬及合金的電子探針GB/T15616-95定量分析方法Quantitativemethodforelectronprobemicroanalysisormetalsandalloys!主題內(nèi)客與適用范臣本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金屬及合金的電子探針定量分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于金屬和合金樣品立方微米的微區(qū)成分分析,分析的元素范圍是"Na~"U,液度在1%以上.2引用標(biāo)準(zhǔn)GB/T4930電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件GB/T15074電子探針定量分析標(biāo)準(zhǔn)方法通則3分析原理金屬及合金的電子探針定量分析是應(yīng)用具有一定能量并聚焦的電子束轟擊樣品,被照射區(qū)中各元素被激發(fā)出不同波長的X射線,通過品體分光譜儀對×射線進(jìn)行分光。在相同的條件下分別測量標(biāo)樣和試樣的特征X射線強(qiáng)度,進(jìn)行束流修正,死時(shí)間修正和扣除本底得到強(qiáng)度比。然后進(jìn)行吸收,原子序數(shù)及熒光修正得到各元素含量值。4儀器與輔助設(shè)備4.1電子探針分析儀4.2金相顯微鏡及研磨和拋光試樣裝暨。4.3超聲波清洗裝置。標(biāo)樣5.1純金屬或與試樣化學(xué)組成相近的化合物或合金。5.2優(yōu)先選用國家標(biāo)準(zhǔn)化行政主管部門批準(zhǔn)頒發(fā)的國家級(jí)標(biāo)準(zhǔn)樣品,若尚無合適的標(biāo)樣時(shí),可選用相應(yīng)機(jī)構(gòu)認(rèn)可的研究標(biāo)樣。6試樣6.1試樣表面應(yīng)先作金相拋磨,地光.在放大300×的金相顯微鏡下檢家,分析區(qū)域應(yīng)無屠痕。6.2在縱截面上測鍍(或滲)層成分時(shí),試樣須經(jīng)鑲嵌或用夾具夾好再進(jìn)行研磨和拋光,保證待測邊緣無倒角。6.3需顯露組織時(shí),只能作輕度腐蝕。6.4試樣應(yīng)是塊狀的金屬與合金,顆粒狀試樣需鑲嵌研磨和拋光
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