標準解讀
GB/T 15972.55-2009 是一項中國國家標準,專注于光纖試驗方法的規(guī)范,特別針對環(huán)境性能的測量方法與試驗程序中的氫老化測試。該標準為光纖制造商、檢測機構以及使用光纖產品的行業(yè)提供了一套統(tǒng)一的評估流程,以確保光纖在長期暴露于含氫環(huán)境中仍能保持其性能穩(wěn)定。
標準內容概述
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適用范圍:本部分規(guī)定了光纖在特定氫氣環(huán)境下老化性能的測試方法和程序,適用于評估光纖材料在氫環(huán)境下潛在的老化效應,包括但不限于傳輸損耗的變化、機械強度的衰退等。
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測試原理:氫老化測試通過將光纖樣品置于含有一定濃度氫氣的封閉環(huán)境中,模擬長期氫暴露條件,考察此環(huán)境下光纖性能隨時間的變化情況。測試旨在模擬實際應用中可能遇到的極端或特定工作環(huán)境,如油氣田、核電站等場景下的氫氣影響。
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測試條件:標準詳細說明了測試時的環(huán)境參數,包括氫氣濃度、溫度、濕度以及試驗持續(xù)時間等,確保測試結果的一致性和可比性。同時,對氫氣純度、壓力控制及測試室的密封性提出了具體要求。
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樣品準備:規(guī)范了光纖樣品的選擇、切割、清潔及預處理方法,確保所有測試樣品在測試前處于相同或可比較的狀態(tài),減少測試誤差來源。
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性能指標測量:明確了在氫老化測試前后,如何測量光纖的關鍵性能指標,如光衰減特性、機械強度(如抗彎、抗拉強度)、幾何尺寸變化等,用以量化氫老化對光纖性能的影響。
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數據分析與評估:提供了數據處理方法和評價準則,指導如何根據測試結果判斷光纖是否滿足特定的應用要求或標準,以及如何報告測試結果,包括但不限于統(tǒng)計分析、合格判定標準等。
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安全措施:鑒于氫氣的特殊性質,標準還強調了實施測試過程中應采取的安全措施,確保操作人員的安全和防止事故的發(fā)生。
實施意義
該標準的實施有助于光纖制造商優(yōu)化產品設計,提高光纖在特定工作環(huán)境下的可靠性和使用壽命;同時,也為光纖使用者提供了選擇和評估產品的科學依據,確保通信網絡和其他應用系統(tǒng)的穩(wěn)定運行。
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- 現行
- 正在執(zhí)行有效
- 2009-09-30 頒布
- 2009-12-01 實施
文檔簡介
犐犆犛33.180.10
犕33
中華人民共和國國家標準
犌犅/犜15972.55—2009
光纖試驗方法規(guī)范
第55部分:環(huán)境性能的測量方法和
試驗程序氫老化
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20090930發(fā)布20091201實施
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局
發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
書
犌犅/犜15972.55—2009
前言
GB/T15972《光纖試驗方法規(guī)范》由若干部分組成:
———第10部分~第19部分:測量方法和試驗程序總則(對應IEC60793110~IEC60793119;代
替GB/T15972.1—1998);
———第20部分~第29部分:尺寸參數的測量方法和試驗程序(對應IEC60793120~IEC60793
129;代替GB/T15972.2—1998);
———第30部分~第39部分:機械性能的測量方法和試驗程序(對應IEC60793130~IEC60793
139;代替GB/T15972.3—1998);
———第40部分~第49部分:傳輸特性和光學特性的測量方法和試驗程序(對應IEC60793140~
IEC60793149;代替GB/T15972.4—1998);
———第50部分~第59部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗程序(對應IEC60793150~IEC60793
159;代替GB/T15972.5—1998)。
其中GB/T15972.5×由以下部分組成:
———第50部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗程序恒定濕熱;
———第51部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗程序干熱;
———第52部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗程序溫度循環(huán);
———第53部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗程序浸水;
———第54部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗程序伽瑪輻照;
———第55部分:環(huán)境性能的測量方法和試驗程序氫老化。
本部分為GB/T15972的第55部分。本部分中基準試驗方法主要參考了IEC60793250:2008
《光纖第250部分:產品規(guī)范B類單模光纖分規(guī)范》(英文版),同時結合了國內試驗的具體情況制
定的。
本部分的附錄A為資料性附錄。
本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出。
本部分由中國通信標準化協會歸口。
本部分起草單位:武漢郵電科學研究院、長飛光纖光纜有限公司。
本部分主要起草人:陳永詩、李海清、李婧、劉騁、程淑玲。
Ⅰ
書
犌犅/犜15972.55—2009
光纖試驗方法規(guī)范
第55部分:環(huán)境性能的測量方法和
試驗程序氫老化
1范圍
GB/T15972的本部分規(guī)定了光纖在給定的含氫環(huán)境中進行氫老化試驗的方法和試驗程序。
本部分主要適用于評估GB/T15972.10—2008中規(guī)定的B1.3類波長段擴展的非色散位移單模光
纖的氫老化性能,也可用于評估B4類單模光纖的氫老化性能。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過GB/T15972的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文
件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據本部分達成
協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本
部分。
GB/T9771.3—2008通信用單模光纖第3部分:波長段擴展的非色散位移單模光纖特性
GB/T15972.10—2008光纖試驗方法規(guī)范第10部分:測量方法和試驗程序總則
(IEC6079311:2002,Opticalfibres—Part11:Measurementmethodsandtestprocedures—General
andguidline,MOD)
GB/T15972.40—2008光纖試驗方法規(guī)范第40部分:傳輸特性和光學特性的測量方法和試驗
程序衰減(IEC60793140:2001,Opticalfibres—Part140:Measurementmethodsandtestproce
dures—Attenuation,MOD)
3試驗裝置
3.1試驗箱
試驗裝置包括一個環(huán)境試驗箱。試驗箱的大小應能夠容納試驗樣品,不得使試樣受到直接輻射熱,
它能維持規(guī)定的溫度在規(guī)定的容差內,可用空氣循環(huán)維持試驗箱內的均勻條件。
3.2光纖容器
容器大小應能夠容納試驗光纖樣品,它能維持所需的含氫環(huán)境。容器應置于環(huán)境試驗箱內,且容器
材料傳熱性能能保證容器內的光纖樣品與環(huán)境試驗箱的設定溫度達到一致。
3.3其他裝置
完成試驗和測量所必須的其他裝置,如裝有(H2+He)(氫氣和氦氣)或(H2+N2)(氫氣和氮氣)混
合氣體瓶等。
4試樣和試樣制備
為達到所要求的衰減測量重復性,單模光纖試樣長度應至少為2000m。暴露在試驗箱外面的光
纖應盡可能短,如果暴露在外面的部分超過試樣總長度的10%,則宜記錄
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