犐犆犛７１．０４０．９９

犖５３

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２１６３８—２００８

鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則

犌狌犻犱犲犳狅狉犲犾犲犮狋狉狅狀犫犲犪犿犿犻犮狉狅犪狀犪犾狔狊犻狊狅犳犱犲犳犲犮狋犻狀狊狋犲犲犾犿犪狋犲狉犻犪犾狊

２００８０４１１發(fā)布２００８１００１實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２１６３８—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：寶鋼股份公司研究院、武漢鋼鐵集團(tuán)公司技術(shù)中心、北京鋼鐵研究總院及上海材

料研究所。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：陳家光、李平和、朱衍勇、王濱、田青超。

Ⅰ

書

犌犅／犜２１６３８—２００８

引言

本國家標(biāo)準(zhǔn)是為了適應(yīng)我國鋼鐵工業(yè)迅速發(fā)展的需求而制定的。

電子束顯微分析是高技術(shù)領(lǐng)域的分析技術(shù)，在材料領(lǐng)域中有廣泛的應(yīng)用。鋼鐵材料缺陷電子束顯

微分析方法，是以電子束顯微分析技術(shù)為核心，將顯微分析與材料的質(zhì)量檢驗(yàn)、科研、生產(chǎn)工藝及用戶使

用技術(shù)結(jié)合起來，進(jìn)行綜合分析，以表征鋼鐵材料缺陷成因。標(biāo)準(zhǔn)中對從事該項(xiàng)分析實(shí)驗(yàn)室必須具備的

條件、分析過程、結(jié)論用語進(jìn)行規(guī)范。由于鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法比較成熟，得出的方法具

有普適性，可作為其他材料缺陷電子束顯微分析參考依據(jù)。

Ⅱ

犌犅／犜２１６３８—２００８

鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析的術(shù)語、分析方法和程序、分析報告內(nèi)容等。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于鋼鐵材料內(nèi)部及表面缺陷的電子束顯微分析。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ４３４０．１金屬維氏硬度試驗(yàn)第１部分：試驗(yàn)方法（ＧＢ／Ｔ４３４０．１—１９９９，ｅｖｑＩＳＯ６５０７１：

１９９７）

ＧＢ／Ｔ１０５６１鋼中非金屬夾雜物含量的測定標(biāo)準(zhǔn)評級圖顯微檢驗(yàn)法（ＧＢ／Ｔ１０５６１—２００５，

ｉｄｔＩＳＯ４９６７：１９９８）

ＧＢ／Ｔ１３２９９鋼的顯微組織評定方法

ＧＢ／Ｔ１５０７４電子探針定量分析方法通則

ＧＢ／Ｔ１５４８１檢測和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求（ＧＢ／Ｔ１５４８１—２０００，ｉｄｔＩＳＯ／ＩＥＣ１７０２５：１９９９）

ＧＢ／Ｔ１７３５９電子探針和掃描電鏡Ｘ射線能譜定量分析通則

ＧＢ／Ｔ１９５０１電子背散射衍射分析方法通則

ＪＪＧ５５０掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程

ＪＪＧ９０１電子探針分析儀檢定規(guī)程

３術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

３．１

缺陷犱犲犳犲犮狋

鋼鐵材料表面和／或內(nèi)部存在的不連續(xù)、不完整等影響材料性能的異常部分，通常在冶煉、加工、儲

運(yùn)和／或使用過程中形成。

３．２

宏觀分析犿犪犮狉狅狊犮狅狆犻犮犪狀犪犾狔狊犻狊

用肉眼或低倍放大鏡（通常放大倍數(shù)小于１０倍）對空間線度大于１０－４ｍ物體所進(jìn)行的分析。

３．３

顯微分析犿犻犮狉狅狊犮狅狆犻犮犪狀犪犾狔狊犻狊

用顯微分析儀器對空間線度在１０－４ｍ～１０－８ｍ之間的物質(zhì)所進(jìn)行的分析。

３．４

電子束顯微分析犲犾犲犮狋狉狅狀犫犲犪犿犿犻犮狉狅犪狀犪犾狔狊犻狊