犐犆犛１９．１２０

犃２８

中華人民共和國國家標準

犌犅／犜２１６４９．１—２００８

粒度分析圖像分析法

第１部分：靜態(tài)圖像分析法

犘犪狉狋犻犮犾犲狊犻狕犲犪狀犪犾狔狊犻狊—犐犿犪犵犲犪狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱狊—

犘犪狉狋１：犛狋犪狋犻犮犻犿犪犵犲犪狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱

（ＩＳＯ１３３２２１：２００４，ＭＯＤ）

２００８０４１６發(fā)布２００８１００１實施

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

書

犌犅／犜２１６４９．１—２００８

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

引言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅱ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術語、縮略語、定義與符號!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３．１術語、縮略語與定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３．２符號!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

４本方法要求的樣品制備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

４．１總的推薦方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３

４．２制樣方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

５圖像采集!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

５．１總則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

５．２步驟!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

５．３圖像采集儀的操作條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

６顯微鏡和圖像分析!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

６．１總則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

６．２粒度分級和放大!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

６．３計數(shù)步驟!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!５

７粒度的計算結果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!８

８試驗報告!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

附錄Ａ（規(guī)范性附錄）用于評估樣品平均粒徑所需的顆粒尺寸的研究!!!!!!!!!!!!１０

附錄Ｂ（規(guī)范性附錄）操作時的放大倍率!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２３

附錄Ｃ（規(guī)范性附錄）典型物鏡的分辨率和粒度區(qū)間!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２４

附錄Ｄ（資料性附錄）典型圖像分析法的流程圖!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２５

附錄Ｅ（資料性附錄）平均值和方差的統(tǒng)計檢驗（方差分析和多樣性比較）!!!!!!!!!!２６

附錄Ｆ（資料性附錄）幾種制樣方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２８

參考文獻!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!３０

書

犌犅／犜２１６４９．１—２００８

前言

ＧＢ／Ｔ２１６４９《粒度分析圖像分析法》分為以下兩個部分：

———第１部分：靜態(tài)圖像分析法；

———第２部分：動態(tài)圖像分析法。

本部分是ＧＢ／Ｔ２１６４９的第１部分。

本部分修改采用ＩＳＯ１３３２２１：２００４《粒度分析圖像分析法第１部分：靜態(tài)圖像分析法》（英文版）。

本部分與ＩＳＯ１３３２２１比較，主要修改內(nèi)容如下：

———在附錄Ｂ中增加了兩檔放大倍率，使測量范圍拓展到納米級。

———４．２條制樣方法的內(nèi)容從正文移至附錄Ｆ（資料性附錄），并增加Ｆ．５“支持膜法”。

———對范圍進行了修改。

———對術語、縮略語、定義與符號進行了修改。

———對公式（４）進行了修改：

（犣１－犡Ｆ１）（犣２－犡Ｆ２）

犘ｉ＝

犣１犣２

———將ＩＳＯ１３３２２１６．３．６．１條中示例改寫為“檢定過的標準格柵或粒度標準物質”。

本部分相對于ＩＳＯ１３３２２１：２００４刪除的內(nèi)容如下：

———刪除５．２條中內(nèi)容重復的ｂ）、ｃ）、ｄ）、ｈ）。

———將一些適用于國際標準的表述改寫為適用于我國標準的表述。

本部分的附錄Ａ、附錄Ｂ、附錄Ｃ為規(guī)范性附錄，附錄Ｄ、附錄Ｅ、附錄Ｆ為資料性附錄。

本部分由全國篩網(wǎng)篩分和顆粒分檢方法標準化技術委員會（ＳＡＣ／ＴＣ１６８）提出并歸口。

本部分起草單位：北京市理化分析測試中心、鋼鐵研究總院。

本部分主要起草人：周素紅、鄒濤、陳縈、盧慶新、鄭毅、方建鋒。

Ⅰ

犌犅／犜２１６４９．１—２００８

引言

在采用圖像分析法測定粒度時，本標準旨在對測試方法以及適用范圍提供指導。

圖像分析技術已廣泛應用于分析各種性質的可成像材料。因而，當采用圖像分析法測定粒度時，本

標準僅限于規(guī)范該技術，并給出標準適用范圍，而不是提供精確的標準方法。

本標準包括了用檢定過的標準格柵、粒度標準物質來標定驗證的方法。通過測量已知尺寸的格柵

或顆?？梢院侠淼赜嬎愠鲇稍O備引入的系統(tǒng)不確定度。

為了確保數(shù)據(jù)的有效性，本標準推薦了一種有關顆粒數(shù)量分布的準確描述，并提供了一個分析

平臺。

采用顯微鏡法測量粒度分布簡單直接。但由于該技術僅測量樣品的一小部分，為了保證分析結果

具有代表性，建議將原始樣品分成若干份，測量其中的三份或更多份。如采用狋檢驗法對數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計

分析，可以知道測量的樣品是否真實地代表全部原始樣品。

從樣品細分到得到最終結果的分析過程中，每一步產(chǎn)生的誤差累計到總的測量不確定度中。估計

每一步產(chǎn)生的不確定度是非常重要的。在本標準的適當位置給出了說明。

由于儀器的測量范圍不同，制樣技術各異，在此沒有給出統(tǒng)一的制樣方法，采用其他方法不會影響

數(shù)據(jù)的有效性。然而，為了保證所做的測量與本標準一致并能夠溯源，還是規(guī)定了一些基本步驟。

Ⅱ

犌犅／犜２１６４９．１—２００８

粒度分析圖像分析法

第１部分：靜態(tài)圖像分析法

１范圍

ＧＢ／Ｔ２１６４９．１的本部分規(guī)定了利用靜態(tài)圖像分析法測定顆粒粒度分布的方法。本部分適用于測

定能夠從顯微鏡中獲得圖像的顆粒的粒度分布。

本部分測量的顆粒尺寸范圍是小于１０∶１的窄分布。為了獲得可重復的體積平均直徑，對符合正

態(tài)分布的、標準偏差為１．６的分布，需要測量６０００多個顆粒。如果要得到可靠的百分數(shù)值時，如犇９０或

其他百分數(shù)值，則必須至少測量６１０００個顆粒。詳見附錄Ａ。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２１６４９的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨