標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 36165-2018 金屬平均晶粒度的測定 電子背散射衍射(EBSD)法》是一項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)，旨在通過電子背散射衍射技術(shù)（Electron Backscatter Diffraction, EBSD）來測定金屬材料中的平均晶粒尺寸。該標(biāo)準(zhǔn)適用于多種類型的金屬及其合金材料。

標(biāo)準(zhǔn)首先定義了相關(guān)術(shù)語和定義，比如“晶?！?、“晶界”等基礎(chǔ)概念，并對(duì)EBSD技術(shù)的基本原理進(jìn)行了簡要介紹。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容，EBSD是一種基于掃描電子顯微鏡(SEM)的技術(shù)，能夠提供樣品表面微觀結(jié)構(gòu)的信息，包括晶體取向、相分布以及晶界特性等。通過分析這些信息，可以準(zhǔn)確地測量出樣品中各個(gè)晶粒的大小及形狀，進(jìn)而計(jì)算得到平均晶粒度。

在實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備階段，《GB/T 36165-2018》規(guī)定了試樣的制備要求，包括但不限于試樣尺寸、表面處理方法等。為了保證測試結(jié)果的有效性與準(zhǔn)確性，還詳細(xì)描述了如何使用SEM配合EBSD附件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集的具體步驟，如設(shè)置合適的加速電壓、工作距離等參數(shù)；選擇適當(dāng)?shù)膾呙鑵^(qū)域以確保代表性；以及采用何種方式記錄或保存所獲得的數(shù)據(jù)等。

關(guān)于數(shù)據(jù)分析部分，本標(biāo)準(zhǔn)提出了幾種常用的晶粒尺寸統(tǒng)計(jì)方法，例如面積加權(quán)平均法、線截距法等，并給出了相應(yīng)的計(jì)算公式。此外，還討論了如何處理邊界條件下的特殊情況，比如對(duì)于非完整晶?；蛘弋惓４?小晶粒的處理原則等。最后，針對(duì)可能出現(xiàn)的各種誤差來源，《GB/T 36165-2018》也提供了相應(yīng)的建議措施，幫助用戶提高測試精度并減少不確定性因素的影響。


如需獲取更多詳盡信息，請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2018-05-14 頒布
  • 2019-02-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測定電子背散射衍射(EBSD)法_第1頁
GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測定電子背散射衍射(EBSD)法_第2頁
GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測定電子背散射衍射(EBSD)法_第3頁
GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測定電子背散射衍射(EBSD)法_第4頁
GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測定電子背散射衍射(EBSD)法_第5頁
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束，剩余11頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 36165-2018金屬平均晶粒度的測定電子背散射衍射(EBSD)法-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

ICS7704099

H24..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T36165—2018

金屬平均晶粒度的測定電子背散射衍射

EBSD法

()

Determinationofaveragegrainsizeofmetal—

ElectronbackscatterdiffractionEBSDmethod

()

2018-05-14發(fā)布2019-02-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T36165—2018

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

原理

4………………………2

設(shè)備

5………………………2

取樣

6………………………3

試樣制備

7…………………3

校準(zhǔn)與核查

8………………3

測量步驟

9…………………3

檢驗(yàn)報(bào)告

10…………………6

附錄規(guī)范性附錄根據(jù)平均等積圓直徑計(jì)算晶粒度級(jí)別

A()…………7

Ⅰ

GB/T36165—2018

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會(huì)提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC183)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位首鋼集團(tuán)有限公司冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院江蘇省沙鋼鋼鐵研究院有限公司

:、、、

江蘇沙鋼集團(tuán)有限公司

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人尹立新鞠新華崔桂彬欒燕孟楊任群嚴(yán)春蓮吳園園林濤鑄郝京麗

:、、、、、、、、、、

張珂溫娟胡顯軍

、、。

Ⅲ

GB/T36165—2018

引言

本標(biāo)準(zhǔn)的方法根據(jù)晶體取向劃分晶粒適用于所有晶體結(jié)構(gòu)類型

EBSD,。

本標(biāo)準(zhǔn)的方法對(duì)晶界很難用傳統(tǒng)金相方法顯示的金屬材料較適用

EBSD。

本標(biāo)準(zhǔn)的方法比金相法分辨率高適用于晶粒細(xì)小的金屬材料

EBSD,。

本標(biāo)準(zhǔn)還適用于復(fù)相材料主相組織平均晶粒尺寸的定量分析

。

Ⅳ

GB/T36165—2018

金屬平均晶粒度的測定電子背散射衍射

EBSD法

()

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用電子背散射衍射測定晶粒度方法的原理設(shè)備取樣試樣制備校準(zhǔn)與

(EBSD)、、、、

核查測量步驟

、。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量完全再結(jié)晶的多晶金屬材料的平均晶粒度其他能產(chǎn)生高質(zhì)量高標(biāo)定率電子背

。

散射衍射花樣的晶體材料可參照此方法執(zhí)行

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

金屬顯微組織檢驗(yàn)方法

GB/T13298

微束分析電子背散射衍射分析方法通則

GB/T19501

微束分析掃描電鏡圖像放大倍率校準(zhǔn)導(dǎo)則

GB/T27788

金相學(xué)術(shù)語

GB/T30067

金屬試樣的電解拋光方法

YB/T4377

3術(shù)語和定義

和界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件

GB/T19501GB/T30067。

31

.

電子背散射衍射electronbackscatterdiffractionEBSD

;

通過掃描電鏡中電子束在傾斜約樣品表層激發(fā)出的菊池衍射花樣確定晶體結(jié)構(gòu)取向及相

(70°)、

關(guān)信息的方法

。

32

.

電子背散射衍射花樣EBSDpattern

由菊池衍射帶組成的花樣根據(jù)衍射花樣的幾何特征可以確定激發(fā)區(qū)域晶體的類型和取向

,。

33

.

晶體取向crystallographicorientation

()()

晶體坐標(biāo)系和樣品坐標(biāo)系的相互關(guān)系例如在立方晶系中

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。驍?shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質(zhì)量問題。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論