標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 39978-2021 納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針?lè)ā肥且豁?xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)定使用四探針?lè)y(cè)量碳納米管粉體電阻率的具體方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于以粉末形式存在的碳納米管材料，通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試條件和步驟來(lái)確保不同實(shí)驗(yàn)室間測(cè)試結(jié)果的一致性和可比性。

根據(jù)此標(biāo)準(zhǔn)，首先需要準(zhǔn)備一定量的待測(cè)樣品，并按照指定的方法制備成適合測(cè)量的形態(tài)。這通常涉及到將碳納米管粉末均勻分散在基底上或壓縮成片狀。接著，采用四探針裝置接觸樣品表面，其中四個(gè)探針按直線排列，兩個(gè)外側(cè)探針用于施加電流，而內(nèi)側(cè)的兩個(gè)探針則用來(lái)檢測(cè)電壓降。通過(guò)改變施加于外側(cè)探針間的電流大小，并記錄下此時(shí)內(nèi)側(cè)探針間產(chǎn)生的電壓值，可以計(jì)算出材料的電阻率。

為了保證測(cè)量準(zhǔn)確性，《GB/T 39978-2021》還詳細(xì)說(shuō)明了實(shí)驗(yàn)過(guò)程中需要注意的各項(xiàng)參數(shù)設(shè)置及操作細(xì)節(jié)，比如探針之間的距離、施加電流的范圍等。此外，對(duì)于如何處理數(shù)據(jù)以及報(bào)告最終結(jié)果也有明確指導(dǎo)，包括但不限于推薦使用的公式、單位轉(zhuǎn)換規(guī)則等信息。

在整個(gè)測(cè)量流程中，保持環(huán)境條件穩(wěn)定（如溫度、濕度）是非常重要的，因?yàn)檫@些因素可能會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生影響。因此，在進(jìn)行任何正式測(cè)試之前，應(yīng)先確保所有設(shè)備均已校準(zhǔn)，并且工作環(huán)境符合標(biāo)準(zhǔn)要求。


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....

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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2021-05-21 頒布
  • 2021-12-01 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介

ICS5910020

G13..

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T39978—2021

納米技術(shù)碳納米管粉體電阻率四探針?lè)?/p>

Nanotechnology—Resistivityofcarbonnanotubepowder—

Fourprobemethod

2021-05-21發(fā)布2021-12-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T39978—2021

目次

前言

…………………………Ⅰ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

原理

4………………………2

儀器與試計(jì)

5………………3

天平

5.1…………………3

粉末壓片機(jī)

5.2…………………………3

四探針電阻率測(cè)試儀

5.3………………3

干燥烘箱

5.4……………3

螺旋測(cè)微儀

5.5…………………………3

試劑

5.6…………………3

環(huán)境要求

6…………………3

取樣與試樣制備

7…………………………3

取樣

7.1…………………3

試樣預(yù)處理

7.2…………………………5

試樣制備

7.3……………5

測(cè)試步驟

8…………………5

結(jié)果分析

9…………………5

測(cè)試結(jié)果

9.1……………5

不確定度來(lái)源分析

9.2…………………6

測(cè)試報(bào)告

10…………………6

附錄資料性附錄實(shí)例分析

A()…………7

附錄資料性附錄測(cè)試報(bào)告

B()…………10

GB/T39978—2021

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)科學(xué)院提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)納米材料分技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC279/SC1)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位深圳市德方納米科技股份有限公司深圳市標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院佛山市德方納米科

:、、

技有限公司冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院國(guó)家納米科學(xué)中心北京市理化分析測(cè)試中心北京粉體技術(shù)

、、、、

協(xié)會(huì)

。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人尚偉麗孔令涌張瑞芳王遠(yuǎn)航孫言邱志平蔡亞琪王益群任誠(chéng)欒燕

:、、、、、、、、、、

高潔王孝平高原周素紅李倩

、、、、。

Ⅰ

GB/T39978—2021

納米技術(shù)碳納米管粉體電阻率四探針?lè)?/p>

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了碳納米管粉體壓制成厚塊的電阻率的四探針測(cè)試方法

。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于采用四探針?lè)y(cè)試試樣厚度大于倍探針間距的碳納米管粉體電阻率的樣品其他

4。

碳材料的粉體電阻率測(cè)試可參考執(zhí)行

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

粉末冶金用粉末取樣方法

GB/T5314—2011

數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定

GB/T8170

四探針電阻率測(cè)試儀

JJG508

四探針探頭通用技術(shù)條件

SJ/T10315

3術(shù)語(yǔ)和定義

下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

。

31

.

體積電阻率volumeresistivity

在給定的時(shí)間及電壓下直流電場(chǎng)強(qiáng)度與材料內(nèi)部電流密度之比

,。

注1在實(shí)際中體積電阻率通常被視為單位體積內(nèi)的體積電阻

:,。

注2體積電阻率的單位用表示實(shí)際上由于碳納米管粉體電阻率較小可使用或

:Ω·m。,mΩ·cmΩ·cm。

注3改寫定義

:GB/T31838.2—2019,3.2。

32

.

粉體電阻率powderresistivity

粉末材料的體積電阻率

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