ICS19040

K04.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T51701—2016

代替.

GB/T5170.1—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

第1部分總則

:

Inspectionmethodsforenvironmentaltestingequipments

forelectricandelectronicroducts—Part1General

p:

2016-12-13發(fā)布2017-07-01實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T51701—2016

.

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

檢驗(yàn)條件

4…………………11

檢驗(yàn)用儀器及要求

5………………………11

檢驗(yàn)周期

6…………………11

檢驗(yàn)負(fù)載

7…………………11

對(duì)受檢設(shè)備的外觀和安全要求

8…………12

檢驗(yàn)記錄表

9………………12

檢驗(yàn)結(jié)果的處理

10………………………12

Ⅰ

GB/T51701—2016

.

前言

分為以下部分

GB/T5170:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分總則

———GB/T5170.1—20161:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.2—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法第部分濕熱試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.5—20165:

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.8—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.9—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.10—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.11—2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)正弦試驗(yàn)

———GB/T5170.13—2005()

用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)正弦試驗(yàn)

———GB/T5170.14—2009()

用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動(dòng)正弦試驗(yàn)

———GB/T5170.15—2005()

用液壓振動(dòng)臺(tái)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)

———GB/T5170.16—2005

用離心機(jī)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫低氣壓濕

———GB/T5170.17—2005//

熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度濕度組合循

———GB/T5170.18—2005/

環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度振動(dòng)正弦

———GB/T5170.19—2005/()

綜合試驗(yàn)設(shè)備

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗(yàn)設(shè)備

———GB/T5170.20—2005

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢驗(yàn)方法振動(dòng)隨機(jī)試驗(yàn)用

———GB/T5170.21—2008()

液壓振動(dòng)臺(tái)

本部分是的第部分

GB/T51701。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則與

GB/T5170.1—2008《》,GB/T5170.1—

相比主要技術(shù)內(nèi)容變化如下

2008,:

在規(guī)范性引用文件中增加了

———GB/T2298—2010、GB/T2422—2012、GB/T23715—2009;

溫度偏差的定義由原來的試驗(yàn)箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間各測(cè)量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)最高

———“(),

溫度和最低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差修改為試驗(yàn)箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間各測(cè)量點(diǎn)

”,“(),

在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)最高溫度和最低溫度與設(shè)定溫度的上下偏差見

”(3.2.4);

相對(duì)濕度偏差的定義由原來的試驗(yàn)箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間各測(cè)量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)

———“(),

最高相對(duì)濕度和最低相對(duì)濕度與標(biāo)稱相對(duì)濕度的上下偏差修改為試驗(yàn)箱室穩(wěn)定狀態(tài)下

”,“(),

工作空間各測(cè)量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)最高相對(duì)濕度和最低相對(duì)濕度與設(shè)定相對(duì)濕度的上下偏

差見

”(3.2.5);

術(shù)語每溫度平均變化速率修改為溫度平均變化速率定義由原來的試驗(yàn)箱

———“5min”“5min”,“

Ⅲ

GB/T51701—2016

.

室工作空間幾何中心點(diǎn)測(cè)得的兩個(gè)規(guī)定溫度之間每的平均轉(zhuǎn)變速率用表

()5min,℃/min

示修改為試驗(yàn)箱室工作空間幾何中心點(diǎn)測(cè)得的兩個(gè)規(guī)定溫度之間任意時(shí)間的平

”,“()5min

均轉(zhuǎn)變速率用表示見

,℃/min”(3.2.11);

氣壓偏差的定義由原來的試驗(yàn)箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間測(cè)量點(diǎn)在規(guī)定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)最高氣

———“(),

壓和最低氣壓與標(biāo)稱氣壓的上下偏差修改為試驗(yàn)箱室穩(wěn)定狀態(tài)下工作空間測(cè)量點(diǎn)在規(guī)

”,“(),

定時(shí)間內(nèi)實(shí)測(cè)最高氣壓和最低氣壓與設(shè)定氣壓的上下偏差見

”(3.2.12);

刪除了術(shù)語頻率范圍頻率穩(wěn)定度本底噪聲加速度臺(tái)面漏磁

———“”、“”、“”、“”;

增加了術(shù)語輻照度偏差二氧化硫濃度偏差硫化氫濃度偏差降雨強(qiáng)度雨滴直

———“”、“”、“”、“”、“

徑振動(dòng)發(fā)生器振動(dòng)臺(tái)激振器振動(dòng)發(fā)生器系統(tǒng)電動(dòng)振動(dòng)發(fā)生器電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)電

”、“//”、“”、“/”、“

磁振動(dòng)發(fā)生器電磁振動(dòng)臺(tái)液壓式振動(dòng)發(fā)生器機(jī)械式振動(dòng)發(fā)生器掃頻速率線性

/”、“”、“”、“”、“

掃頻速率對(duì)數(shù)頻率掃頻速率振幅掃頻精度

”、“()”、“”、“”;

檢驗(yàn)用儀器及要求由原來的使用的測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度k不大于被測(cè)

———“(=2)

參數(shù)允許偏差的三分之一二次儀表與一次儀表應(yīng)一同校驗(yàn)修改為由各部分具體規(guī)定見

,”,“”(

第章

5);

檢驗(yàn)報(bào)告增加了至少應(yīng)包含的信息見

———(10.3)。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC8)。

本部分起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所廣州五所環(huán)境儀器有限公司中國電器科學(xué)研

:、、

究院有限公司中國航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)

、、

研究院無錫蘇南試驗(yàn)設(shè)備有限公司

、。

本部分主要起草人伍偉雄謝晨浩黃開云呂國義蘇偉倪一明賴文光呂旺燕鄭術(shù)力

:、、、、、、、、、

謝凱鋒

。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB5170.1—1985、GB/T5170.1—1995、GB/T5170.1—2008。

Ⅳ

GB/T51701—2016

.

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法

第1部分總則

:

1范圍

的本部分規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備以下簡稱設(shè)備檢驗(yàn)所用術(shù)語和定義檢驗(yàn)條件檢

GB/T5170(“”)、、

驗(yàn)用儀器及要求檢驗(yàn)周期檢驗(yàn)負(fù)載外觀和安全檢驗(yàn)記錄表檢驗(yàn)結(jié)果處理等

、、、、、。

本部分適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢驗(yàn)其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備的檢

,

驗(yàn)亦可參照使用

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

機(jī)械振動(dòng)沖擊與狀態(tài)監(jiān)測(cè)詞匯

GB/T2298、

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南

GB/T2421.1