標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則》與《GB 5170.1-1985》相比，在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和調(diào)整，以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和行業(yè)需求的變化。這些變化主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：

首先，《GB/T 5170.1-1995》標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)中的“T”表明了其作為推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的地位，這與1985年版的強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)有所區(qū)別，體現(xiàn)了標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)上的轉(zhuǎn)變。

其次，在內(nèi)容上，《GB/T 5170.1-1995》對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的基本要求、檢定項(xiàng)目及方法進(jìn)行了更加詳細(xì)的規(guī)定。比如，對(duì)于溫度均勻度、濕度控制精度等關(guān)鍵指標(biāo)提出了更具體的要求，并且增加了關(guān)于設(shè)備穩(wěn)定性的測(cè)試要求，確保了試驗(yàn)結(jié)果的一致性和可靠性。

此外，《GB/T 5170.1-1995》還擴(kuò)大了適用范圍，不僅涵蓋了原有的高低溫試驗(yàn)箱、濕熱試驗(yàn)箱等傳統(tǒng)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，而且新增了一些新型環(huán)境模擬裝置如快速溫變?cè)囼?yàn)箱的相關(guān)規(guī)定，反映了當(dāng)時(shí)市場(chǎng)上新興技術(shù)的應(yīng)用情況。

在術(shù)語(yǔ)定義部分，《GB/T 5170.1-1995》也進(jìn)行了修訂和完善，使得相關(guān)概念更加清晰準(zhǔn)確，有助于減少因理解差異而導(dǎo)致的操作錯(cuò)誤或誤解。


如需獲取更多詳盡信息，請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。

....

查看全部

  • 被代替
  • 已被新標(biāo)準(zhǔn)代替，建議下載現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.1-2008
  • 1995-04-06 頒布
  • 1996-01-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則_第1頁(yè)
GB/T 5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則_第2頁(yè)
免費(fèi)預(yù)覽已結(jié)束，剩余10頁(yè)可下載查看

下載本文檔

GB/T 5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

UDC621.3.08K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總InspectionmethodsforbasicSparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsGeneral1995-04-06發(fā)布1996-01-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法CB/T5170.1-1995總代替GB5170.1-85InspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingcquipmentsforelectricandelectronicproductsGeneral1主題內(nèi)客與適用范圍1.1主題內(nèi)容本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“設(shè)備")基本參數(shù)檢定方法所用術(shù)語(yǔ)、檢定條件、檢定儀器、檢定周期、檢定負(fù)載及檢定結(jié)果處理等基本要求。1.2適用范圍本標(biāo)淮適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定，其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定亦可參照使用。2引用標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程GB2421總則GB11158高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件3術(shù)語(yǔ)3.1通用術(shù)語(yǔ)3.1.1環(huán)境條件environmentalcondition設(shè)備所經(jīng)受的周?chē)锢怼⒒瘜W(xué)和生物的條件、3.1.2環(huán)境參數(shù)environmentalparameters表征環(huán)境條件的一個(gè)或幾個(gè)物理、化學(xué)和生物的特性參數(shù)(如溫度、濕度、加速度等)。3.1.3綜合試驗(yàn)設(shè)備combinedtestingequipments能同時(shí)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的設(shè)備。3.1.4組合試驗(yàn)設(shè)備compositetestingequipments能依次連續(xù)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗(yàn)的設(shè)備3.1.5標(biāo)稱(chēng)值nominalvalue當(dāng)檢定環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備時(shí),按試驗(yàn)方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需要預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值3.1.6特定負(fù)載specifiedload利

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)文本僅供個(gè)人學(xué)習(xí)、研究之用，未經(jīng)授權(quán)，嚴(yán)禁復(fù)制、發(fā)行、匯編、翻譯或網(wǎng)絡(luò)傳播等，侵權(quán)必究。
  • 2. 本站所提供的標(biāo)準(zhǔn)均為PDF格式電子版文本（可閱讀打?。驍?shù)字商品的特殊性，一經(jīng)售出，不提供退換貨服務(wù)。
  • 3. 標(biāo)準(zhǔn)文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁(yè)，非文檔質(zhì)量問(wèn)題。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論