標(biāo)準(zhǔn)解讀

《JJF 1256-2010 X射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范》是針對(duì)X射線單晶體定向儀制定的計(jì)量技術(shù)規(guī)范，旨在確保該類(lèi)儀器測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。此標(biāo)準(zhǔn)適用于新制造、使用中或修理后的X射線單晶體定向儀的首次校準(zhǔn)、后續(xù)校準(zhǔn)以及使用中的檢驗(yàn)。

根據(jù)該標(biāo)準(zhǔn)，X射線單晶體定向儀的主要性能指標(biāo)包括但不限于角度測(cè)量誤差、重復(fù)性誤差等關(guān)鍵參數(shù)。對(duì)于這些性能指標(biāo)，標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了具體的測(cè)試方法與要求，比如在進(jìn)行角度測(cè)量誤差檢測(cè)時(shí)，需采用已知晶面間距的標(biāo)準(zhǔn)樣品作為參考物，并通過(guò)對(duì)比實(shí)際測(cè)量值與理論計(jì)算值來(lái)評(píng)估儀器的角度測(cè)量精度；而重復(fù)性誤差則通常通過(guò)對(duì)同一晶面多次測(cè)量后得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析來(lái)確定。

此外，《JJF 1256-2010》還明確了校準(zhǔn)過(guò)程中所需使用的設(shè)備條件、環(huán)境條件（如溫度、濕度）以及操作步驟等內(nèi)容，以保證校準(zhǔn)過(guò)程的有效性和一致性。同時(shí)，對(duì)于校準(zhǔn)結(jié)果的記錄和報(bào)告格式也給出了明確指導(dǎo)，要求包含被校儀器的基本信息、校準(zhǔn)日期、所用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)及其編號(hào)、校準(zhǔn)項(xiàng)目及結(jié)果等重要信息。

該規(guī)范為X射線單晶體定向儀提供了科學(xué)合理的校準(zhǔn)依據(jù)和技術(shù)支持，有助于提高相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)科研工作的質(zhì)量和效率。


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....

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  • 2010-06-10 頒布
  • 2010-09-10 實(shí)施
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JJF 1256-2010X射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范_第1頁(yè)
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JJF 1256-2010X射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范_第4頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JJF1256—2010

X射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSpecificationfor

X-rayMonocrystalOrientationEquipment

2010-06-10發(fā)布2010-09-10實(shí)施

國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

JJF1256—2010

射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范??

X??????????????

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CalibrationSecificationfor?JJF1256—2010?

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p?

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X-rayMonocrystalOrientationEquipment

本規(guī)范經(jīng)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局于年月日批準(zhǔn)并自

2010610,

年月日起實(shí)施

2010910。

歸口單位全國(guó)長(zhǎng)度計(jì)量技術(shù)委員會(huì)

:

主要起草單位遼寧省丹東市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

:

參加起草單位丹東市射線儀器檢測(cè)中心

:

鳳城質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局

遼東射線儀器有限公司

本規(guī)范由全國(guó)長(zhǎng)度計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋

JJF1256—2010

本規(guī)范主要起草人

:

譚力遼寧省丹東市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

()

余長(zhǎng)江丹東市射線儀器檢測(cè)中心

()

田平遼寧省丹東市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

()

劉文崢遼寧省丹東市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

()

吳明珠鳳城質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局

()

參加起草人

:

劉德勝丹東市射線儀器檢測(cè)中心

()

王永利遼東射線儀器有限公司

()

JJF1256—2010

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻(xiàn)………………

2(1)

術(shù)語(yǔ)……………………

3(1)

概述……………………

4(2)

計(jì)量性能要求…………

5(3)

空氣比釋動(dòng)能率……………………

5.1(3)

測(cè)角儀樣品軸轉(zhuǎn)角示值誤差………

5.2(3)

綜合誤差……………

5.3(3)

漏散射線空氣比釋動(dòng)能率…………

5.4(3)

測(cè)量重復(fù)性…………

5.5(3)

校準(zhǔn)條件………………

6(3)

環(huán)境條件……………

6.1(3)

標(biāo)準(zhǔn)器………………

6.2(3)

校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法…………………

7(4)

空氣比釋動(dòng)能率……………………

7.1(4)

測(cè)角儀樣品軸轉(zhuǎn)角示值誤差………

7.2(4)

綜合誤差……………

7.3(5)

漏散射線空氣比釋動(dòng)能率…………

7.4(5)

測(cè)量重復(fù)性…………

7.5(6)

校準(zhǔn)結(jié)果………………

8(6)

校準(zhǔn)周期………………

9(6)

附錄校準(zhǔn)晶體………………………

A(7)

附錄定向儀樣品軸轉(zhuǎn)角示值誤差測(cè)量結(jié)果不確定度示例………

B(8)

JJF1256—2010

X射線單晶體定向儀校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本校準(zhǔn)規(guī)范適用于銅靶實(shí)際焦點(diǎn)射線管的單晶體和加單色器雙晶體

(1×4)mmX

射線定向儀以下簡(jiǎn)稱(chēng)定向儀的校準(zhǔn)

X()。

2引用文獻(xiàn)

本規(guī)范引用下列文獻(xiàn)

:

電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)

GB18871—2002

射線晶體定向儀技術(shù)條件

JB/T5482—2003X

工業(yè)探傷用射線管通用技術(shù)條件

JB/T8764—1998X

測(cè)量不確定度評(píng)定與表示

JJF1059—1999

通用計(jì)量術(shù)語(yǔ)及定義

JJF1001—1998

測(cè)量?jī)x器的特性評(píng)定

JJF1094—2002

使用上述引用文獻(xiàn)時(shí)應(yīng)注意使用現(xiàn)行有效版本

,。

3術(shù)語(yǔ)

漏散射線

3.1scattandleakageray

漏散射線是漏射線和散射線的合稱(chēng)漏射線是一次射線透過(guò)物質(zhì)或經(jīng)過(guò)晶體衍射的

。

輻射其波長(zhǎng)與一次波長(zhǎng)相等散射線是一次射線輻射到物質(zhì)上由該物質(zhì)產(chǎn)生二次輻

,。,

射的射線改變了一次輻射的方向和能量其波長(zhǎng)較一次波長(zhǎng)長(zhǎng)

,,。

測(cè)角儀線

3.2“0”“0”lineofgoniometer

銅靶實(shí)際焦點(diǎn)射線管的單晶體射線定向儀的測(cè)角儀線

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