精品文檔-下載后可編輯LTE發(fā)射機(jī)ACLR性能的測量技術(shù)-技術(shù)方案

現(xiàn)代無線服務(wù)提供商正致力于不斷擴(kuò)大帶寬，為更多用戶提供互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議（IP）服務(wù)。長期演進(jìn)技術(shù)（LTE）是新一代蜂窩技術(shù)，能夠增強(qiáng)當(dāng)前部署的3GPP網(wǎng)絡(luò)并創(chuàng)造重要的新業(yè)務(wù)機(jī)會(huì)，從而滿足上述需求。LTE的體系結(jié)構(gòu)復(fù)雜而且還在不斷演進(jìn)，這為網(wǎng)絡(luò)和用戶設(shè)備的設(shè)計(jì)與測試帶來了新的挑戰(zhàn)。其中，在空中接口上的一個(gè)關(guān)鍵挑戰(zhàn)就是如何在信號(hào)傳輸過程中進(jìn)行功率管理。

在LTE等數(shù)字通信系統(tǒng)中，發(fā)射信號(hào)泄漏到鄰近信道的功率可能會(huì)對(duì)鄰近信道中的信號(hào)傳輸產(chǎn)生干擾，進(jìn)而影響系統(tǒng)性能。相鄰信道泄漏功率比（ACLR）測試可以驗(yàn)證系統(tǒng)發(fā)射機(jī)的工作性能是否符合規(guī)定的限制。鑒于LTE技術(shù)的復(fù)雜性，快速和地執(zhí)行這種關(guān)鍵測試對(duì)于測試人員來說可能充滿挑戰(zhàn)性（見表1）。裝有LTE特定信號(hào)生成軟件的信號(hào)發(fā)生器、裝有LTE特定測量軟件的現(xiàn)代化信號(hào)分析儀，以及針對(duì)該分析儀優(yōu)化的方法，可以幫助測試人員戰(zhàn)勝這一挑戰(zhàn)。

了解ACLR測試要求

ACLR是LTE射頻發(fā)射機(jī)一致性測試中的一個(gè)重要的發(fā)射機(jī)特性。這些測試的目的是驗(yàn)證被測件是否達(dá)到了基站（eNB）和用戶設(shè)備（UE）中的要求。大部分針對(duì)帶外發(fā)射的LTE一致性測試與在范圍和目的上與針對(duì)WCDMA的一致性測試類似。但是WCDMA指定了使用根余弦（RRC）濾波器進(jìn)行發(fā)射機(jī)測量，而標(biāo)準(zhǔn)并沒有為LTE定義等效的濾波器。因此，LTE發(fā)射機(jī)測試可以使用不同的濾波器來優(yōu)化信道帶內(nèi)性能，改善誤差矢量幅度；或優(yōu)化信道帶外性能，獲得更出色的鄰近信道功率特性。

鑒于在測試發(fā)射機(jī)性能中可以使用的復(fù)雜發(fā)射機(jī)配置有很多，LTE指定了一系列下行鏈路信號(hào)配置來測試eNB.這些配置稱為E-UTRA測試模型（E-TM）。它們可分為三大類：E-TM1、E-TM2和E-TM3.類和第三類可再細(xì)分為E-TM1.1、E-TM1.2、E-TM3.1、E-TM3.2和E-TM3.3.注：E-UTRA中的“E”源自“enhanced（增強(qiáng)型）”,指LTEUMTS陸地?zé)o線接入；而單獨(dú)的UTRA是指WCDMA.

ACLR測試要求會(huì)有所不同，這取決于發(fā)射機(jī)測試是在UE還是在eNB上進(jìn)行。在UE上進(jìn)行的ACLR測試不像在eNB上進(jìn)行那樣要求嚴(yán)格。發(fā)射機(jī)測試使用規(guī)定用于eNB接收機(jī)測試的參考測量信道（RMC）來執(zhí)行。

3GPPLTE規(guī)范關(guān)于ACLR的定義是，以指定信道頻率為中心的濾波后平均功率與以鄰近信道頻率為中心的濾波后平均功率之比。eNB的ACLR一致性要求分為兩種情景指定：相同帶寬的鄰近E-UTRA信道載波（E-UTRAACLR1）；UTRA鄰近和相間信道載波（分別是UTRAACLR1和UTRAACLR2）。

針對(duì)E-UTRA和UTRA鄰近信道規(guī)定了不同的限制和測量濾波器，用于成對(duì)頻譜（FDD）和非成對(duì)頻譜（TDD）工作。E-UTRA信道使用平方測量濾波器進(jìn)行測量，而UTRA信道使用滾降因子為0.22、帶寬等于碼片速率的RRC濾波器進(jìn)行測量。

戰(zhàn)勝ACLR測量挑戰(zhàn)

鑒于LTE技術(shù)的復(fù)雜性和用于測試發(fā)射機(jī)性能的發(fā)射機(jī)配置復(fù)雜性，符合標(biāo)準(zhǔn)的頻譜測量（例如ACLR）可能非常繁瑣。幸運(yùn)的是，信號(hào)測評(píng)工具的出現(xiàn)使工程師們能夠快速、地進(jìn)行這些LTE測量。功率測量（包括ACLR）通常使用頻譜分析儀或信號(hào)分析儀來進(jìn)行，而要求的測試信號(hào)使用信號(hào)發(fā)生器生成。

為了更好地說明如何使用這些儀器，請?jiān)O(shè)想以下情景：根據(jù)規(guī)范，載波頻率必須設(shè)置在被測基站所支持的頻段內(nèi)，按照成對(duì)頻譜FDD工作或非成對(duì)頻譜TDD工作時(shí)的規(guī)定，通過測量信道頻率兩側(cè)的頻偏的ACLR.首先使用E-TM1.1發(fā)射信號(hào)進(jìn)行測試，其中所有PDSCH資源塊都具有相同的功率。然后使用E-TM1.2信號(hào)（增加和減少功率）進(jìn)行測試。E-TM1.2配置非常有用，因?yàn)樗軌蚍抡娑鄠€(gè)用戶（其設(shè)備工作在不同功率上）。這一情景的結(jié)果是波峰因數(shù)更高，導(dǎo)致在不產(chǎn)生額外無效頻譜內(nèi)容（例如ACLR）的情況下放大信號(hào)變得更加困難。

本例中，AgilentSignalStudioforLTE與AgilentMXG信號(hào)發(fā)生器相連，生成頻率設(shè)為2.11GHz且符合標(biāo)準(zhǔn)的E-TM1.2測試信號(hào)。輸出信號(hào)幅度――決定ACLR性能的重要考慮因素――設(shè)為-10dBm.在從1.4擴(kuò)展到20MHz的帶寬范圍內(nèi)選擇5MHz信道帶寬。

圖1為已選定傳輸信道（TransportChannel）的eNB設(shè)置。底部為測試信號(hào)的資源分配塊圖。信道1和2是要進(jìn)行測量的信道，它們共享下行鏈路。

圖1:此處顯示了E-TM1.2測試信號(hào)的資源分配塊（底部）。Y軸表示頻率或資源塊，X軸表示時(shí)隙或時(shí)間，白色區(qū)域表示信道1,粉紅色區(qū)域表示信道2,其它顏色表示同步信道、參考信號(hào)等。

信道1的輸出功率電平為-4.3dB.因此，其信道功率已經(jīng)進(jìn)行過降低。信道2的輸出功率已經(jīng)進(jìn)行過增加，設(shè)置為3dB.對(duì)于資源塊分配圖中的不同資源塊，可以設(shè)置復(fù)雜的功率增加和降低選項(xiàng)。與所有資源塊都處于同一功率級(jí)的單個(gè)信道相比，得到的復(fù)合信號(hào)具有更高的峰均比。放大此類功率增加的信號(hào)可能非常困難。功率放大器中沒有足夠的功率回退（back-off），可能導(dǎo)致限幅。

隨后，可以使用在AgilentX系列信號(hào)分析儀上運(yùn)行的SignalStudio軟件生成測試信號(hào)。生成信號(hào)之后，通過LAN或GPIB將波形到信號(hào)發(fā)生器。將信號(hào)發(fā)生器的射頻輸出端連接到信號(hào)分析儀的射頻輸入端，使用掃描頻譜分析測量ACLR性能。在此例中，信號(hào)分析儀處于LTE模式，中心頻率為2.11GHz,選擇了ACP測量。隨后，通過從LTE應(yīng)用程序中的一系列可用選項(xiàng)中（例如成對(duì)或非成對(duì)頻譜、鄰近信道和相間信道中的載波類型等選項(xiàng)），調(diào)用適當(dāng)?shù)膮?shù)和測試限制，根據(jù)LTE標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行快速一鍵式ACLR測量。

對(duì)于FDD測量，LTE定義了兩種ACLR測量方法：一種是在中心頻率和偏置頻率上使用E-UTRA（LTE）；另一種是在中心頻率上使用LTE,在鄰近和相間的偏置頻率上使用UTRA（WCDMA）。圖2顯示了E-UTRA鄰近和相間頻偏信道的ACLR測量結(jié)果。對(duì)于此次測量，選擇5MHz載波，由于下行鏈路有301個(gè)子載波，所以測量噪聲帶寬為4.515MHz.

圖2:此處顯示的是使用安捷倫X系列分析儀獲得的ACLR測量結(jié)果。個(gè)頻偏（A）位于5MHz處，集成帶寬為4.515MHz.另一個(gè)頻偏（B）位于10MHz處，具有相同的集成帶寬。

優(yōu)化分析儀設(shè)置

雖然上述的一鍵式測量提供了非?？焖?、易用、依據(jù)LTE標(biāo)準(zhǔn)的ACLR測量，但是工程師仍然可以對(duì)信號(hào)分析儀設(shè)置進(jìn)行優(yōu)化，獲得更出色的性能。有四種方法可以優(yōu)化分析儀，進(jìn)一步改善測量結(jié)果：

*優(yōu)化混頻器上的信號(hào)電平――優(yōu)化輸入混頻器上的信號(hào)電平要求對(duì)衰減器進(jìn)行調(diào)整，實(shí)現(xiàn)的限幅。有些分析儀能夠根據(jù)當(dāng)前測得的信號(hào)值自動(dòng)選擇衰減值。這為實(shí)現(xiàn)的測量范圍奠定了良好的基礎(chǔ)。其它分析儀（例如X系列信號(hào)分析儀）擁有電子和機(jī)械衰減器，可以結(jié)合使用兩者來優(yōu)化性能。在這些情況下，機(jī)械衰減器只需進(jìn)行細(xì)微的調(diào)整變得獲得更出色的的結(jié)果，步進(jìn)大約為1或2dB.

*更改分辨帶寬濾波器――按下分析儀的帶寬濾波器鍵，可降低分辨率帶寬。注：由于分辨率帶寬降低，所以掃描時(shí)間會(huì)增加。掃描速度的降低，可以減少測量結(jié)果和測量速度的變化。

*啟動(dòng)噪聲校正――一旦啟動(dòng)噪聲校正功能，分析儀將會(huì)進(jìn)行掃描，以測量當(dāng)前中心頻率的內(nèi)部本底噪聲，并將在以后進(jìn)行的掃描中從測量結(jié)果中減去該內(nèi)部本底噪聲。這種方法能夠顯著改善ACLR,有時(shí)改善幅度高達(dá)5dB.

*采用另一種測量方法。除了使用默認(rèn)的測量方法（集成帶寬或IBW）之外，也可以采用濾波IBW方法。該方法使用了更加陡降的截止濾波器。雖然這種方法會(huì)降低功率測量結(jié)果的精度，但是對(duì)ACLR結(jié)果沒有不利影響。

通過結(jié)合使用這些方法，信號(hào)分析儀可以利用其嵌入式LTE應(yīng)用程序自動(dòng)優(yōu)化ACLR測量，實(shí)現(xiàn)性能與速度的搭配。對(duì)于典型的ACLR測量，測量結(jié)果可能改善高達(dá)10dB或更多（圖3）。如果測量需要的性能，那么可以進(jìn)一步調(diào)整分析儀設(shè)置。

本文小結(jié)

符合標(biāo)準(zhǔn)的頻譜測量（例如ACLR）對(duì)于射頻工程師開發(fā)下一代無線系統(tǒng)具有極其重要的作用。然而使用LTE應(yīng)用軟件進(jìn)行測量時(shí)，受多種因素的影響，這些測量非常復(fù)雜：鄰近信道帶寬的變化，發(fā)射濾波器的選擇，不同帶寬和不同干擾靈敏度的信道之間的射頻變量的交互。應(yīng)對(duì)這一挑戰(zhàn)的實(shí)用解決方案是使用安裝有特定標(biāo)準(zhǔn)測量應(yīng)用軟件的頻譜分析儀或信號(hào)分析儀