寶玉石鑒定儀器教育部職業(yè)教育寶玉石鑒定與加工專(zhuān)業(yè)教學(xué)資源庫(kù)GemsandJadeIdentificationandProcessingTeachingResourceLibrary電子探針?lè)治龇ńㄔO(shè)者姓名：王美麗電子探針?lè)治龇椒ā耠娮犹结樂(lè)治鲇兴姆N基本分析方法：點(diǎn)分析、線(xiàn)掃描分析、面掃描分析和表面微形貌分析●準(zhǔn)確的分析對(duì)實(shí)驗(yàn)條件有兩大方面的要求一是對(duì)樣品有一定的要求：如良好的導(dǎo)電、導(dǎo)熱性，表面平整度等；二是對(duì)工作條件有一定的要求：如加速電壓，計(jì)數(shù)率和計(jì)數(shù)時(shí)間，X射線(xiàn)出射角等電子探針?lè)治龇椒?.點(diǎn)分析對(duì)寶石表面或露出寶石表面的晶體包體選定微區(qū)作定點(diǎn)的全譜掃描，進(jìn)行定量、定性或半定量分析。首先用同軸光學(xué)顯微鏡進(jìn)行觀察，將待分析的寶石樣品微區(qū)移到視野中心，然后使聚焦電子束固定照射到該點(diǎn)上，這時(shí)驅(qū)動(dòng)譜儀的晶體和檢測(cè)器連續(xù)地改變乙值，記錄X射線(xiàn)信號(hào)強(qiáng)度L隨波長(zhǎng)的變化曲線(xiàn)。電子探針?lè)治龇椒c(diǎn)分析●譜線(xiàn)強(qiáng)度峰值位置的波長(zhǎng)----定性結(jié)果

對(duì)應(yīng)某元素的x射線(xiàn)強(qiáng)度----定量結(jié)果?！穸c(diǎn)定性分析是對(duì)試樣某一選定點(diǎn)(區(qū)域)進(jìn)行定性成分分析，以確定該點(diǎn)區(qū)域內(nèi)存在的元素。用譜儀探測(cè)并顯示X射線(xiàn)譜,根據(jù)譜線(xiàn)峰值位置的波長(zhǎng)或能量確定分析點(diǎn)區(qū)域的試樣中存在的元素。電子探針?lè)治龇椒?.點(diǎn)分析●定點(diǎn)定量分析在穩(wěn)定的電子束照射下，由譜儀得到的X射線(xiàn)譜在扣除了背景計(jì)數(shù)率之后，各元素的同類(lèi)特征譜線(xiàn)的強(qiáng)度值應(yīng)與它們的濃度相對(duì)應(yīng)。●由譜線(xiàn)強(qiáng)度的直接對(duì)比只能對(duì)元素的相對(duì)含量作出粗略的估計(jì)，即使通過(guò)強(qiáng)度的歸一化求得的濃度值，最多也只能是一種半定量分析結(jié)果，其誤差是相當(dāng)大的。產(chǎn)生這種誤差的原因是：譜線(xiàn)強(qiáng)度除與元素含量有關(guān)外還與試樣的化學(xué)成分有關(guān)電子探針?lè)治龇椒ǔ涮钐幚砑t寶石的電子探針能譜點(diǎn)分析的結(jié)果顯示填充物是鉛玻璃電子探針?lè)治龇椒ā耠娮犹结樂(lè)治鲇兴姆N基本分析方法：點(diǎn)分析、線(xiàn)掃描分析、面掃描分析和表面微形貌分析●準(zhǔn)確的分析對(duì)實(shí)驗(yàn)條件有兩大方面的要求一是對(duì)樣品有一定的要求：如良好的導(dǎo)電、導(dǎo)熱性，表面平整度等；二是對(duì)工作條件有一定的要求：如加速電壓，計(jì)數(shù)率和計(jì)數(shù)時(shí)間，X射線(xiàn)出射角等電子探針?lè)治龇椒?.線(xiàn)掃描分析在光學(xué)顯微鏡的監(jiān)視下，把樣品要檢測(cè)的方向調(diào)至x或r方向，使聚焦電子束在寶石的生長(zhǎng)環(huán)帶或色帶的掃描區(qū)域內(nèi)沿一條直線(xiàn)進(jìn)行慢掃描，同時(shí)用計(jì)數(shù)率計(jì)檢測(cè)某一特征x射線(xiàn)的瞬時(shí)強(qiáng)度。若顯像管射線(xiàn)束的橫向掃描與試樣上的線(xiàn)掃描同步，用計(jì)數(shù)率計(jì)的輸出控制顯像管射線(xiàn)束的縱向位置，這樣就可以得到特征X射線(xiàn)強(qiáng)度沿試樣掃描線(xiàn)的分布特征。電子探針?lè)治龇椒?.線(xiàn)掃描分析通常將電子束掃描線(xiàn)，特征X射線(xiàn)強(qiáng)度分布曲線(xiàn)重疊于二次電子圖象之上可以更加直觀地表明元素含量分布與形貌、結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系。電子探針?lè)治龇椒?.線(xiàn)掃描分析電子?xùn)|在試樣上掃描時(shí),由于樣品表面轟擊點(diǎn)的變化,波譜儀將無(wú)法保持精確的聚焦條件,為此可將電子束固定不動(dòng)而使樣品以一定的速度移動(dòng)但這樣做并不方便,重復(fù)性也不易保證,特別是仍然不能解決粗糙表面分析的困難考慮到線(xiàn)掃描分析最多只能是半定量的,因而目前仍較多采用電子?xùn)|掃描的方法。如果使用能譜儀,則不存在X射線(xiàn)聚焦的問(wèn)題。電子探針?lè)治龇椒?.線(xiàn)掃描分析電子探針線(xiàn)掃描分析對(duì)于測(cè)定元素在材料相界和晶界上的富集與貧化十分有效在有關(guān)擴(kuò)散現(xiàn)象的研究中,電子探針比剝層化學(xué)分析、放射性示蹤原子等方法更方便。在垂直于擴(kuò)散界面的方向上進(jìn)行線(xiàn)掃描,可以很快顯示濃度與擴(kuò)散距離的關(guān)系曲線(xiàn),若以微米級(jí)逐點(diǎn)分析,即可相當(dāng)精確地測(cè)定擴(kuò)散系數(shù)和激活能。電子探針?lè)治龇椒?.線(xiàn)掃描分析EPMA線(xiàn)掃描分析有助于探討寶石中化學(xué)元素在空間上的變化規(guī)律。鈹擴(kuò)散處理橙紅色藍(lán)寶石的Fe、Ti、Cr的EPMA能譜線(xiàn)掃描分析結(jié)果。電子探針?lè)治龇椒ā耠娮犹结樂(lè)治鲇兴姆N基本分析方法：點(diǎn)分析、線(xiàn)掃描分析、面掃描分析和表面微形貌分析●準(zhǔn)確的分析對(duì)實(shí)驗(yàn)條件有兩大方面的要求一是對(duì)樣品有一定的要求：如良好的導(dǎo)電、導(dǎo)熱性，表面平整度等；二是對(duì)工作條件有一定的要求：如加速電壓，計(jì)數(shù)率和計(jì)數(shù)時(shí)間，X射線(xiàn)出射角等電子探針?lè)治龇椒?.面掃描分析聚焦電子束在寶石表面進(jìn)行光柵式面掃描，將x射線(xiàn)譜儀調(diào)到只檢測(cè)某一元素的特征X射線(xiàn)位置，用x射線(xiàn)檢測(cè)器的輸出脈沖信號(hào)控制同步掃描的顯像掃描線(xiàn)亮度，在熒光屏上得到由許多亮點(diǎn)組成的圖像。亮點(diǎn)就是該元素的所在處。根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密程度就可確定某元素在試樣表面上分布情況，將x射線(xiàn)譜儀調(diào)整到測(cè)定另一元素特征x射線(xiàn)位置時(shí)就可得到那一成分的面分布圖像。電子探針面掃描分析有助于探討寶石中化學(xué)元素在空間上的配比與分布規(guī)律。電子探針?lè)治龇椒?.面掃描分析在一幅X射線(xiàn)掃描像中，亮區(qū)代表元素含量高，灰區(qū)代表元素含量較低，黑色區(qū)域代表元素含量很低或不存在。電子探針?lè)治龇椒?.表面微形貌分析二次電子是電子束轟擊到試樣時(shí)逐出樣品淺表層原子的核外電子，由于一定能量的電子束所逐出的二次電子的激發(fā)效率和樣品元素的電離能以及電子束與樣品的夾角有關(guān)，因此根據(jù)二次電子的強(qiáng)度可作形貌分析。翡翠中環(huán)帶交代結(jié)構(gòu)的EPMA二次電子像電子探針?lè)治龇椒c(diǎn)分析---寶石表面或露出寶石表面的晶體包體選定微區(qū)作定點(diǎn)的全譜掃描線(xiàn)掃描分析---寶石中化學(xué)元素在空間上的變化規(guī)律面掃描分析---寶石中化學(xué)元素在空間上的配比與分布規(guī)律微形貌分析---根據(jù)二次電子的強(qiáng)度可作表面形貌分析電子探針?lè)治龇椒娮犹结樖茄芯康厍蚺c行星物質(zhì)組成最基礎(chǔ)的微束分析技術(shù)。近年