材料研究方法（二）知到章節(jié)測(cè)試答案智慧樹2023年最新武漢科技大學(xué)第一章測(cè)試

光學(xué)透鏡成像的基礎(chǔ)是光可以發(fā)生（）。

參考答案:

折射

照明光源的波長(zhǎng)不單一造成的像差我們稱為（）。

參考答案:

色差

（）是由于透鏡的遠(yuǎn)軸區(qū)與近軸區(qū)的磁場(chǎng)對(duì)電子的折射能力不同而造成的。

參考答案:

球差

像散是由于透鏡磁場(chǎng)的非旋轉(zhuǎn)對(duì)稱引起的。（）

參考答案:

對(duì)

低能電子束波長(zhǎng)比較長(zhǎng)，不容易被磁場(chǎng)會(huì)聚（）

參考答案:

錯(cuò)

第二章測(cè)試

透射電鏡的分辨率主要取決于（）。

參考答案:

物鏡

透射電子顯微鏡的成像系統(tǒng)中有（）

參考答案:

物鏡、中間鏡、投影鏡

透射電子顯微鏡中的光闌有（）

參考答案:

物鏡光闌、聚光鏡光闌、選區(qū)光闌

透射電子顯微鏡操作的過(guò)程中，將中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是成像操作。（）

參考答案:

對(duì)

透射電子顯微鏡不需要在高真空下工作。（）

參考答案:

錯(cuò)

第三章測(cè)試

共帶軸的晶面在倒空間中的陣點(diǎn)是（）

參考答案:

共面

正空間中孿晶點(diǎn)陣與基體點(diǎn)陣存在對(duì)稱關(guān)系，其倒空間點(diǎn)陣（）

參考答案:

存在同樣的鏡面對(duì)稱關(guān)系

單晶體的電子衍射花樣本質(zhì)上是（）

參考答案:

垂直于電子束入射方向的零層倒易陣點(diǎn)上的陣點(diǎn)在熒光屏上的投影

一個(gè)體心立方晶體，下面哪個(gè)衍射斑點(diǎn)()不消光。

參考答案:

（110）

多晶體樣品的衍射花樣特點(diǎn)是（）

參考答案:

同心的衍射圓環(huán)

如果要獲得單晶衍射花樣，首先要有單晶樣品。（）

參考答案:

錯(cuò)

只有不發(fā)生系統(tǒng)消光的晶面才能出現(xiàn)衍射斑點(diǎn)。（）

參考答案:

對(duì)

體心點(diǎn)陣中，當(dāng)h+k+l=偶數(shù)的晶面會(huì)產(chǎn)生消光。（）

參考答案:

錯(cuò)

電子衍射花樣的標(biāo)定結(jié)果是唯一的。()

參考答案:

錯(cuò)

每一個(gè)倒易矢量表示正空間中的一個(gè)晶面。（）

參考答案:

錯(cuò)

第四章測(cè)試

在三個(gè)假設(shè)的前提下，運(yùn)動(dòng)學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時(shí)，采用了兩個(gè)基本近似（）

參考答案:

柱體近似

;雙光束近似

對(duì)于完整晶體，當(dāng)偏離矢量恒定時(shí)，厚度改變，會(huì)產(chǎn)生等厚條紋襯度。（）

參考答案:

對(duì)

衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)理論忽略動(dòng)力學(xué)效應(yīng)，沒(méi)有考慮入射波與衍射波的相互作用。（）

參考答案:

對(duì)

不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。（）

參考答案:

對(duì)

質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無(wú)關(guān)。（）

參考答案:

錯(cuò)

第五章測(cè)試

高分辨電子顯微術(shù)是一種基于（）的成像技術(shù)

參考答案:

相位襯度

高分辨成像的電子束是（）

參考答案:

透射束+1支或多支衍射束

影響高分辨像襯度的主要因素是（）

參考答案:

物鏡的球差和欠焦量

高分辨成像分析試樣的厚度比一般透射電鏡試樣更厚。（）

參考答案:

錯(cuò)

高分辨成像含兩個(gè)基本過(guò)程，分別對(duì)應(yīng)著數(shù)學(xué)上的傅里葉變換和反傅里葉變換。（）

參考答案:

對(duì)

第六章測(cè)試

電子束作用物質(zhì)的區(qū)域是（）

參考答案:

輕元素是“梨形”，重元素是“半球形”

掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大，電子束直徑（）

參考答案:

變細(xì)、強(qiáng)度增強(qiáng)

電子背散射衍射系統(tǒng)的核心是（）

參考答案:

衍射譜采集設(shè)備

掃描電子顯微鏡中電磁透鏡的作用是放大成像。（）

參考答案:

錯(cuò)

與背散射電子作為調(diào)制信號(hào)成像的分辨率相比，二次電子成像的分辨率更高。（）

參考答案:

對(duì)

第七章測(cè)試

.電子探針的主要作用是用來(lái)進(jìn)行()分析

參考答案:

微區(qū)成分

電子探針做定量分析時(shí)一般不需要進(jìn)行修正。（）

參考答案:

錯(cuò)

電子探針中能譜儀和波譜儀均需長(zhǎng)期置于低溫狀態(tài)。（）

參考答案:

錯(cuò)

電子探針中能譜儀的分辨率比波譜儀低。（）

參考答案:

對(duì)

電子探針只能用于定性分析，不能用于定量分析。（）

參考答案:

錯(cuò)

第八章測(cè)試

俄歇電子的產(chǎn)生通常有三種形式：KLL、LMM、MNN，它涉及到（）

參考答案:

三個(gè)能級(jí)

下面氣體中，不吸收紅外光的是（）

參考答案:

N2

不能用X射線光電子能譜進(jìn)行分析的是（）

參考答案:

微區(qū)元素定性分析

與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。（）

參考答案:

錯(cuò)

與掃描隧道顯微鏡不同，原子力顯微鏡不受樣品導(dǎo)電性質(zhì)的限制。（）

參考答案:

對(duì)

第九章測(cè)試

對(duì)第二相的形狀、大小以及成分進(jìn)行分析的復(fù)型方法是（）

參考答案:

萃取復(fù)型

支持膜或復(fù)型薄膜不應(yīng)該顯示出（）

參考答案:

自身組織結(jié)構(gòu)

制作復(fù)型樣品的材料不需要是非晶態(tài)材料。（）

參考答案:

錯(cuò)

樣