———無(wú)損檢測(cè)技術(shù)資格人員考試無(wú)損檢測(cè)超聲波二級(jí)考試試題二試卷(練習(xí)題庫(kù))

1、由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波不是機(jī)械波。（）

2、只要有作機(jī)械振動(dòng)的波源就能產(chǎn)生機(jī)械波。()

3、振動(dòng)是波動(dòng)的根源，波動(dòng)是振動(dòng)狀態(tài)的傳播。()

4、介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向與波的傳播方向互相垂直的波稱為縱波。()

5、當(dāng)介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)受到交變剪切應(yīng)力作用時(shí),產(chǎn)生切變形變，從而形成橫波。()

6、液體介質(zhì)中只能傳播縱波和表面波，不能傳播橫波。()

7、根據(jù)介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)方向相對(duì)于波的傳播方向的不同，波的波形可分為縱波、橫波、表面波和板波等。(

8、同一時(shí)刻,介質(zhì)中振動(dòng)相位相同的所有質(zhì)點(diǎn)所聯(lián)成的面稱為波前。()

9、實(shí)際應(yīng)用超聲波探頭中的波源近似于活塞波振動(dòng)，當(dāng)距離波源的距離足夠大時(shí)，活塞波類似于柱面波。(

10、超聲波檢測(cè)中廣泛采用的是脈沖波，其特點(diǎn)是波源振動(dòng)持續(xù)時(shí)間很長(zhǎng)，且間歇輻射。()

11、次聲波、聲波、超聲波都是在彈性介質(zhì)中傳播的機(jī)械波，在介質(zhì)中的傳播速度相同，他們的主要區(qū)別主

12、同種波型的超聲波，在同一介質(zhì)中傳播時(shí)，頻率越低，其波長(zhǎng)越長(zhǎng)。()

13、分貝值差表示反射波幅度相互關(guān)系，在確定基準(zhǔn)波高后，可以直接用儀器的衰減器讀數(shù)表示缺陷波相對(duì)波高

14、一般固體中的聲速隨介質(zhì)溫度升高而降低。()

15、超聲波在同一介質(zhì)中橫波比縱波檢測(cè)分辨力高，但對(duì)于材料的穿透能力差。()

16、超聲波在同一固體材料中，傳播縱波、橫波時(shí)聲阻抗都相同。()

17、超聲場(chǎng)中任一點(diǎn)的聲壓與該處質(zhì)點(diǎn)傳播速度之比稱為聲阻抗。()

18、固體介質(zhì)的密度越小，聲速越大，則它的聲阻抗越大。()

19、在普通鋼焊縫檢測(cè)中，母材與填充金屬聲阻抗相差很小，若沒有任何缺陷，是不會(huì)產(chǎn)生界面回波的。(

20、波的疊加原理說明,幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí),可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播。()

21、超聲波垂直入射到光滑平界面時(shí)，聲強(qiáng)反射率等于聲強(qiáng)透過率，兩者之和等于1。()

22、超聲波垂直入射到光滑平界面時(shí)，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓，說明能量守恒。()

23、超聲波垂直入射到光滑平界面時(shí)，在任何情況下，透射波聲壓總是小于入射波

24、超聲波垂直入射到光滑平界面時(shí)，其聲壓反射率或透過率僅與界面兩種介質(zhì)的聲阻抗有關(guān)。()

25、Z1的光滑平界面時(shí)若聲壓透射率大于1說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用"target="_blank">超聲波垂直入射到Z2>Z1的光滑平界面時(shí),若聲壓透射率大于1,說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用

26、聲壓往復(fù)透射率高低直接影響檢測(cè)靈敏度高低，往復(fù)透射率高,檢測(cè)靈敏度高,()

27、超聲波垂直入射到光滑平界面時(shí)，聲壓往復(fù)透過率大于聲強(qiáng)透過率。()

28、超聲波垂直入射到光滑平界面時(shí),界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。()

29、當(dāng)鋼中氣隙(如裂紋)厚度一定時(shí),超聲波頻率增加,反射波高也隨著增加。()

30、當(dāng)超聲波聲束以一定角度傾斜入射到不同介質(zhì)的界面上,產(chǎn)生同類型的反射和折射波，這種現(xiàn)象就是波形轉(zhuǎn)

31、超聲波傾斜入射到界面時(shí)，界面上入射聲束的折射角等于反射角。()

32、超聲波傾斜入射到界面在第一臨界角時(shí)，第二介質(zhì)中只有折射橫波。()

33、只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為液體時(shí)，才會(huì)有第三臨界角。()

34、當(dāng)橫波傾斜入射到固/固截面時(shí),縱波反射角為90°時(shí)所對(duì)應(yīng)的橫波入射角稱為第三臨界角。此

35、橫波傾斜入射到鋼／水界面，水中既無(wú)折射橫波，又無(wú)折射縱波。()

36、為使工件中只有單一的橫波，斜探頭入射角應(yīng)選擇為第一臨界角或第二臨界角。()

37、超聲波入射到C1＞C2的凸曲面時(shí)（從入射方向看），其折射波發(fā)散。()

38、以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃/水界面為凸曲面。()

39、超聲波的擴(kuò)散衰減主要取決于波陣面的形狀，與傳播介質(zhì)的性質(zhì)無(wú)關(guān)。()

40、引起超聲波衰減的主要原因波速擴(kuò)散、晶粒散射、介質(zhì)吸收。()

41、對(duì)同一介質(zhì)而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。()

42、在同一介質(zhì)中，傳播縱波、橫波時(shí)的聲阻抗不一樣。()

43、超聲波入射到C1＞C2的凸界面時(shí)，其透射波聚集。()

44、超聲波垂直入射到光滑平界面時(shí)，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。()

45、超聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)內(nèi)聲壓分布不均勻、起伏變化是由于波的干涉造成的。()

46、超聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷一概不能發(fā)現(xiàn)。()

47、聲源輻射的超聲能量,總是聲束中心線上的聲壓最高。()

48、超聲波的半擴(kuò)散角大，超聲能量集中，聲束的指向性好，檢測(cè)靈敏度高，對(duì)缺陷定位準(zhǔn)確。(

49、超聲場(chǎng)可分為近場(chǎng)區(qū)和遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，波源軸線上最后一個(gè)聲壓極大值的位置至波源的距離稱為超聲場(chǎng)的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度

50、因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)內(nèi)處于聲壓極小值處的較大缺陷回波可能較低,而處于聲壓極大值處的較小的缺陷回波可能較高，

51、超聲頻率不變，晶片面積越大,超聲的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。()

52、超聲場(chǎng)遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)聲壓隨距離增加單調(diào)減小是由于介質(zhì)衰減的結(jié)果。()

53、在其他條件相同時(shí)，橫波聲束的指向性比縱波好，橫波的能量更集中一些，因橫波波波長(zhǎng)比縱波短。(

54、同頻率的探頭其擴(kuò)散角與探頭晶片尺寸成反比，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度與晶片面積成正比。()

55、橫波斜探頭聲場(chǎng)假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積。()

56、檢測(cè)時(shí)采用低頻是為了改善聲束指向性，提高檢測(cè)靈敏度。()

57、因?yàn)槌暡ù嬖跀U(kuò)散衰減，所以，檢測(cè)時(shí)應(yīng)盡可能在進(jìn)場(chǎng)區(qū)進(jìn)行。()

58、在實(shí)際超聲波檢測(cè)中，測(cè)定探頭聲速軸線偏離與橫波探頭的K值應(yīng)規(guī)定在2N以外進(jìn)行測(cè)定。()

59、當(dāng)其他條件一定時(shí)，若超聲波頻率增加，則近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度和半擴(kuò)散角都增加。()

60、橫波探頭晶片尺寸一定，K值增大時(shí)，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度減小。()

61、超聲波的能量主要集中在2θ（0）以內(nèi)的錐形區(qū)域，此區(qū)域稱為主聲束。()

62、一般聲束指向角越小，則主聲束越窄，聲能量越集中，從而可以提高對(duì)缺陷的分辨能力以及準(zhǔn)確判斷缺陷

63、在超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波近似看成平面波，其平均聲壓不變。()

64、頻率、晶片尺寸等條件相同時(shí)，在同一介質(zhì)中，橫波聲束指向性比縱波差。()

65、其它條件相同時(shí)，鋼中橫波聲場(chǎng)近場(chǎng)長(zhǎng)度隨探頭的折射角增大而減小。()

66、縱波聲場(chǎng)存在近場(chǎng)區(qū)，橫波聲場(chǎng)不存在近場(chǎng)區(qū)。()

67、超聲波的聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波形有關(guān)。()

68、面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場(chǎng)的近場(chǎng)區(qū)場(chǎng)區(qū)相同()

69、面積相同、頻率相同的圓晶片和方晶片，聲束指向性也相同()

70、在同樣的檢測(cè)條件下，當(dāng)自然缺陷的反射回波，與某人工規(guī)則反射體的反射回波等高時(shí)，則該人工規(guī)則反

71、短橫孔是長(zhǎng)度明顯小于聲束截面積的橫孔，其孔徑和長(zhǎng)度一定，波高與距離的變化規(guī)律與平底孔相同。(

72、檢測(cè)條件一定，平底孔的波高與其面積成正比，與距離成反比。()

73、長(zhǎng)橫孔是長(zhǎng)度大于聲束截面積的橫孔，其孔徑一定，距離增加一倍其回波下降9dB.()

74、對(duì)軸類工件作外圓徑向縱波檢測(cè)時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平底回波聲壓反射規(guī)律不同。()

75、當(dāng)X≥3N時(shí)，超聲波在內(nèi)孔檢測(cè)圓柱體,其回波聲壓小于同距離大平底回波聲壓。()

76、實(shí)用AVG曲線只適用于特定的探頭,使用時(shí)不需要進(jìn)行歸一化處理。()

77、在通用AVG曲線上,可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。()

78、通用AVG曲線采用的距離是以近場(chǎng)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離,適用于不同規(guī)格的探頭。()

79、超聲波探傷儀的A型顯示、B型顯示、C型顯示都屬于波形顯示。()

80、超聲波儀器的C型顯示能顯示工件中缺陷在探測(cè)方向上的面積投影，但不能顯示其深度。()

81、探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件檢測(cè)面上掃查的電路。()

82、調(diào)節(jié)超聲波探傷儀“延遲”旋鈕時(shí)，掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變。()

83、調(diào)節(jié)超聲波探傷儀“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)，可連續(xù)精確的調(diào)節(jié)時(shí)基線代表的檢測(cè)范圍,以對(duì)缺陷準(zhǔn)確定位。

84、衰減器是用來調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度的，衰減器讀數(shù)按衰減方式標(biāo)出的，讀數(shù)越大，靈敏度越高。()

85、調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時(shí)，抑制越大，儀器動(dòng)態(tài)范圍越大。()

86、脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。()

87、所謂數(shù)字式超聲波探傷儀主要是指發(fā)射，接受電路的參數(shù)控制和接收信號(hào)的處理、顯示均采用數(shù)字化方式的

88、數(shù)字式超聲波探傷與模擬式超聲波探傷儀最根本的區(qū)別是，探頭接收的超聲信號(hào)需經(jīng)數(shù)/模轉(zhuǎn)換，將數(shù)字信

89、在數(shù)字式超聲波探傷儀中,脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率。()

90、超聲波探頭中的關(guān)鍵部件是晶片，它的作用是電能和聲能的互換。()

91、超聲波探頭發(fā)射超聲波時(shí)產(chǎn)生正壓電效應(yīng)，接收超聲波時(shí)產(chǎn)生逆壓電效應(yīng)。()

92、壓電材料中，單晶材料發(fā)射靈敏度較高，多晶材料接受靈敏度較高。()

93、超聲波探頭所使用晶片的壓電效應(yīng)不受溫度的影響。()

94、焊接接頭超聲波檢測(cè)用斜探頭，當(dāng)楔塊底面后部磨損較大時(shí)，其折射角將變大。()

95、雙晶直探頭由于延遲塊的存在，避免了始脈沖引起的盲區(qū)問題，可以檢測(cè)近表面缺陷和進(jìn)行薄板檢測(cè)。(

96、縱波雙晶直探頭檢測(cè)工件時(shí)，對(duì)位于菱形聲束會(huì)聚區(qū)內(nèi)缺陷的檢測(cè)靈敏度高。()

97、雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)。()

98、聚集探頭根據(jù)焦點(diǎn)形狀不同分為點(diǎn)聚焦和線聚焦。()

99、與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。()

100、使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測(cè)范圍。()

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101、由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波檢測(cè)。()

102、水浸聚焦探頭檢測(cè)工件時(shí)，實(shí)際焦距比理論計(jì)算值大。()

103、工件表面比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。()

104、探頭的工作頻率是指探頭每秒鐘內(nèi)發(fā)射超聲脈沖的次數(shù)。()

105、標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)、形狀、尺寸及精度，使用單位可以根據(jù)自行確定。()

106、用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20mm的鋼板時(shí)，應(yīng)采用CB-Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)試塊對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。

107、CSⅢ試塊是一種適用于檢測(cè)面為曲面的鍛件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊。()

108、CSK-ⅠA試塊上φ50、φ44、φ40三孔的臺(tái)階，可用來測(cè)定斜探頭的分辨力。

109、CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、CSK-Ⅳ試塊主要用于制作橫波距離-波幅曲線、校準(zhǔn)斜探頭的K

110、CSK-ⅡA試塊上的人工反射體是Φ1×6。()

111、斜探頭的入射點(diǎn)是指其主聲束軸線與檢測(cè)面的交點(diǎn)。()

112、測(cè)定探頭的K值或βs應(yīng)在近場(chǎng)區(qū)內(nèi)進(jìn)行，因?yàn)榻鼒?chǎng)內(nèi)聲壓最高點(diǎn)在聲束軸線上，測(cè)試誤差小。()

113、斜探頭的K值常用CSK-ⅠA試塊上的φ50和φ1.5橫孔來測(cè)定。()

114、測(cè)定組合靈敏度時(shí)，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平≤10%，再進(jìn)行測(cè)試。()

115、測(cè)定“始脈沖