編錄壁（西壁）位于槽底平面圖的上方，如遇壁上基巖揭露不好的特殊情況時(shí)，處理原則同前。當(dāng)西壁明顯高于東壁（這時(shí)，在西壁上揭露出的基巖較西壁完整），編錄壁首選西壁，編錄人面向西素描作圖。探槽的南端放圖的左側(cè)，西端放圖的右側(cè)。當(dāng)探槽的起點(diǎn)在南端時(shí)，自南往北編錄則自左往右作圖（如圖6a）；探槽起點(diǎn)在北時(shí)，自北往南編錄，則自右往左作圖（如圖64探槽觀察、分層、布樣4.1觀察由組長(zhǎng)帶領(lǐng)編錄人員共同觀察擬編錄探槽中的地質(zhì)現(xiàn)象（必要時(shí)還應(yīng)觀察探槽附近有關(guān)地質(zhì)現(xiàn)象），確定基巖面、分層并布樣。有兩壁一底探槽，一般情況下，只作一壁一底展開(kāi)圖。確定基巖面：壁上的基巖高度應(yīng)不小于30cm，通過(guò)觀察，正確判斷殘坡積物與風(fēng)化基巖的界線。4.2分層分層單元視礦體復(fù)雜程度而定，復(fù)雜的礦體分層單元應(yīng)小于礦區(qū)填圖單元，一般礦體同礦區(qū)填圖單元一致，分層厚度及夾石剔除厚度按工業(yè)指標(biāo)或設(shè)計(jì)要求，不同礦（化）體層，不同礦石類(lèi)型和工業(yè)品級(jí)、不同巖石類(lèi)型和較大構(gòu)造應(yīng)分開(kāi)。4.3刻槽樣的布樣4.3.1刻槽樣位置布樣應(yīng)在觀察、分層的基礎(chǔ)上進(jìn)行。樣品應(yīng)沿礦體厚度方向、分段連續(xù)布置于探槽中靠近編錄壁的槽底或編錄壁的下部，4.3.2刻槽樣布置的三不原則a.同一件樣不得跨越不同礦石類(lèi)型、品級(jí)b.同一件樣不得跨越不同礦種或不同礦層，見(jiàn)圖7、8。圖7不同礦種（層）分開(kāi)取樣示意圖圖8不同自然類(lèi)型及工業(yè)品級(jí)應(yīng)單獨(dú)取樣c.單樣樣長(zhǎng)代表的真厚度一般不應(yīng)超過(guò)該礦種的工業(yè)可采厚度，如圖47a中，銅礦一般工業(yè)可采厚度1—2m，而現(xiàn)在布樣長(zhǎng)度代表真厚度達(dá)4m，樣品過(guò)長(zhǎng)，應(yīng)分為2件樣，見(jiàn)圖9b。圖9單樣樣長(zhǎng)所代表的真厚度一般不超過(guò)該礦種的工業(yè)可采厚度當(dāng)?shù)V體與圍巖有明顯的區(qū)別，礦體厚度較大，礦石類(lèi)型比較簡(jiǎn)單，礦化均勻，則樣長(zhǎng)可以適當(dāng)放大。4.3.3礦層中夾石（脈巖）剔除原則a.礦層中夾石（脈巖）厚度≥工業(yè)指標(biāo)的剔除厚度（礦區(qū)設(shè)計(jì)中應(yīng)確定）時(shí)，礦石與夾石分別采樣；見(jiàn)圖10。b.礦層中夾石（脈巖）厚度小于剔除厚度時(shí)，應(yīng)合并到相鄰低品級(jí)礦石樣中自然貧化，見(jiàn)圖10、11。圖10夾石與礦層采樣示意圖圖11脈巖剔除原則4.3.4礦層的頂?shù)装灞仨毟饔幸患刂茦悠?.3.5樣品編號(hào)原則：化學(xué)樣編號(hào)為化學(xué)分析樣代號(hào)H+工程編號(hào)+該工程中本類(lèi)樣品順序號(hào)組成（其他手標(biāo)本、薄片、光片、大小體重等樣品號(hào)原則類(lèi)似）。在實(shí)際工作時(shí)，同一探槽中，第一件樣及最后一件樣編號(hào)保持完整，而中間的樣品編號(hào)可省略工程號(hào)。樣品布好后，應(yīng)及時(shí)打上編號(hào)的樣樁，每件樣的起止端，都應(yīng)打上樣樁。樣品編號(hào)及樣樁布設(shè)如圖12：圖12樣樁布設(shè)圖5探槽編錄基線的設(shè)置基線布置在編錄壁上。基線位置宜選擇在基巖與浮土的分界線附近，但工程起、止兩個(gè)端點(diǎn)宜布在地表以便定測(cè)及照顧素描。當(dāng)探槽過(guò)長(zhǎng)或有拐彎時(shí)，應(yīng)分段設(shè)置基點(diǎn)及基線（如圖13）。圖13基線布設(shè)圖操作方法：在基點(diǎn)處打上編好號(hào)的基線樁，然后用皮尺拉緊固定在兩個(gè)基線樁上部就成為基線，第一條基線起點(diǎn)為零。測(cè)量方位角及坡度角：組長(zhǎng)及測(cè)手分別作為前、后測(cè)手，用羅盤(pán)測(cè)定皮尺的方位角和坡度角，二者的讀數(shù)誤差在3°之內(nèi)時(shí)，取平均值作為基線的方位角和坡角。6探槽投影作圖6.1素描圖的基本原理通過(guò)測(cè)量槽壁及槽底上的各地質(zhì)編錄要素（界線、產(chǎn)狀、標(biāo)本及樣品位置等）與基線的相對(duì)位置，按比例縮小后描繪到坐標(biāo)紙上，成為一張真實(shí)地反映探槽中各種地質(zhì)現(xiàn)象的槽壁、槽底展開(kāi)圖。槽壁、槽底在素描圖上的位置：編錄壁按比例縮小后繪于素描圖的上方，槽底繪于圖的下方，與槽壁之間應(yīng)留1cm以上間隔（以便標(biāo)注產(chǎn)狀、樣號(hào)等），槽底按正投影繪成等寬的條帶狀，其寬度一般為1—1.5cm；局部地段遇特殊情況，需加繪另一槽壁時(shí)，則展開(kāi)投繪在槽底的下方（見(jiàn)圖14）。圖14槽壁、槽底位置示意圖6.2注意素描圖的真實(shí)性作圖時(shí)須根據(jù)有限的特征點(diǎn)，參看地質(zhì)體實(shí)際形態(tài)勾繪成圖（如透鏡狀、波狀、分枝狀等）。6.3地質(zhì)體的取舍按比例縮小后的寬度大于1mm的地質(zhì)體均應(yīng)素描到圖上；有特殊意義的小礦體或地質(zhì)現(xiàn)象雖不足1mm，也應(yīng)適當(dāng)放大比例尺表示，其方法一般是從該點(diǎn)引出圖外作一小幅放大的素描圖（見(jiàn)圖15）。圖15特殊地質(zhì)現(xiàn)象放大素描圖6.4探槽拐點(diǎn)的處理6.4.1拐彎小于15度時(shí)，連續(xù)繪圖。探槽方向變化的方位差小于15度時(shí)，應(yīng)在拐點(diǎn)處設(shè)基點(diǎn)，槽壁及槽底均可連續(xù)繪圖。6.4.2拐彎大于15度時(shí)，采用裂開(kāi)或重疊法繪圖。a.注意：編錄壁在任何時(shí)候仍都應(yīng)該連續(xù)繪制（因?yàn)榫庝洷诩盎€始終是連續(xù)的），槽底與編錄壁的共用邊也是連續(xù)的，只是槽底裂開(kāi)或重疊。b.當(dāng)拐彎方向背離前一編錄導(dǎo)線方向時(shí)（前進(jìn)方向變大），裂開(kāi)槽底非共用邊線，其裂開(kāi)角度等于導(dǎo)線拐彎方位差，而槽壁連續(xù)繪圖，見(jiàn)圖16。圖16方向增大15°以上探槽底、壁繪制示意圖c.當(dāng)拐彎方向較前一編錄導(dǎo)線方向變小時(shí)，斷開(kāi)槽底非共用邊線，將槽底重疊，其重疊夾角等于拐彎方位差，而槽壁連續(xù)繪圖，見(jiàn)圖17。圖17方向減小15°以上探槽底、壁繪制示意圖6.5大坡度探槽的槽壁素描大坡度探槽的槽壁可分段垂直上下移動(dòng)成鋸齒狀（槽底仍然連續(xù)。這時(shí)要注意各段之間的地質(zhì)要素應(yīng)嚴(yán)格扣合）圖18。圖18上下移動(dòng)槽壁示意圖6.6作圖基本步驟作圖員面向編錄壁操作：6.6.1合理布圖首先根據(jù)探槽的長(zhǎng)度，高差等計(jì)劃好圖名、比例尺、基線起點(diǎn)、槽壁、槽底、責(zé)任表及樣品分析結(jié)果表在坐標(biāo)紙上的相應(yīng)位置，要求布局合理，整齊美觀。使用礦區(qū)統(tǒng)一圖例。6.6.2標(biāo)繪基點(diǎn)基線。圖上確定的第一條基線起點(diǎn)編號(hào)為0（基點(diǎn)位置畫(huà)2mm直徑的圓圈、圓心加點(diǎn)），以0點(diǎn)開(kāi)始，用測(cè)出的坡度角在坐標(biāo)紙上畫(huà)出基線并按比例尺確定該基線在圖上的長(zhǎng)度、該基線的終點(diǎn)為基點(diǎn)。以次類(lèi)推標(biāo)繪其他基點(diǎn)基線。6.6.3槽壁素描各導(dǎo)線起點(diǎn)讀數(shù)均為0m，測(cè)手測(cè)量并報(bào)出各地質(zhì)要素特征點(diǎn)相對(duì)于基線的坐標(biāo)位置。設(shè)各點(diǎn)鉛垂投影到基線上的位置為Xm，即皮尺上的讀數(shù)，該點(diǎn)距基線的鉛垂距離為Y米（分基線上或基線下，用標(biāo)桿丈量出數(shù)據(jù)），作圖員便可據(jù)此將各點(diǎn)位置投到圖上、并分類(lèi)聯(lián)接成圖。如圖，地表點(diǎn)a垂直投在導(dǎo)線上的點(diǎn)為a′，a′在皮尺（導(dǎo)線）上的讀數(shù)為5.5m。a點(diǎn)距導(dǎo)線的垂距a-a′為1.9m（讀成基上1.9m），則a點(diǎn)的X坐標(biāo)=5.5m。Y坐標(biāo)=基上1.9m，據(jù)此即可在圖上確定出a點(diǎn)位置，再依次確定出地表b點(diǎn)的位置。這樣依次連接o、a、b點(diǎn)即成地形線（地表線）。將c、d、e點(diǎn)相聯(lián)為基巖線；將f、q、j點(diǎn)相聯(lián)為槽底線；將k、i點(diǎn)相聯(lián)為礦體頂界；將n、m點(diǎn)相聯(lián)為礦體底界。6.6.4槽底素描測(cè)手將槽底上的各編錄要素點(diǎn)先按地質(zhì)走向投到槽底與槽壁交界處，然后再垂直投到基線上報(bào)出該點(diǎn)在基線上的一個(gè)讀數(shù)點(diǎn)（X坐標(biāo)），作圖員即可將該點(diǎn)自基線上投影到槽底圖上將地質(zhì)體、樣品等繪出（因槽底為平面圖，故無(wú)Y坐標(biāo)點(diǎn)）。破碎帶控制點(diǎn)a、b及樣槽控制點(diǎn)c、d、e、f各點(diǎn)在基線上的投影點(diǎn)分別為a’、b’、c’、d’及f’，據(jù)其在導(dǎo)線上的讀數(shù)在圖上反投影到槽底上，然后根據(jù)走向素描成圖（見(jiàn)圖19）。圖19槽底投影素描示意圖6.6.5標(biāo)注產(chǎn)狀、標(biāo)本、樣品位置測(cè)量產(chǎn)狀、標(biāo)本、樣品的位置并用符號(hào)標(biāo)注在圖上（方法同上）7探槽地質(zhì)描述記錄文字記錄要求采用DZ/T0078—93表A5《坑探工程原始地質(zhì)記錄表》。記錄順序以編錄基線為單位，從0—1基線開(kāi)始一段接一段依次進(jìn)行。巖層分層界線位置、斷層線位置、標(biāo)本采集位置、產(chǎn)狀測(cè)量位置等都應(yīng)以投影時(shí)在基線上的交點(diǎn)距離為準(zhǔn)。巖性描述與礦層（體）描述要求分層進(jìn)行，如一條基線包涵了兩種巖性層時(shí)，應(yīng)分段進(jìn)行描述，如果幾條基線只控制了一種巖性層時(shí)，則將幾條基線距離合并作一次性描述。表中“地質(zhì)描述”一欄，主要是：巖石名稱，巖石特征（顏色、風(fēng)化特征、成分、結(jié)構(gòu)構(gòu)造）；巖礦石名稱、礦化特征、穿插關(guān)系、厚度；地質(zhì)體及地質(zhì)構(gòu)造特征、產(chǎn)狀等。表中“補(bǔ)充描述”是古生物及遺跡化石、蝕變及礦化現(xiàn)象。坡度、分層位置、斷層位置、礦體（層）頂?shù)装逦恢?，產(chǎn)狀及手標(biāo)本、揀塊樣等位置數(shù)據(jù)都要求素描圖和文字記錄完全一致。8小園井地質(zhì)編錄。8.1投影面及基點(diǎn)、基線定位小園井一般在浮土（或強(qiáng)風(fēng)化）區(qū)起代替地質(zhì)點(diǎn)的作用，編錄簡(jiǎn)單?；c(diǎn)定位：將小園井在地表與勘探線方向交北點(diǎn)作為基點(diǎn)（選擇正北、北西、北東、正東方位點(diǎn)），導(dǎo)線自基點(diǎn)往下自然下垂（如圖24中的a、b、c、d）?；€自基點(diǎn)用皮尺鉛直布設(shè)到井底，基線通過(guò)的一壁為編錄壁。投影面定位：繪制通過(guò)基點(diǎn)并垂直勘探線方向的一個(gè)理想化的規(guī)則矩形圖作為投影面，投影面的寬度為小園井的直徑，高度為小園井深（均按比例繪制）如小園井投影面及基點(diǎn)定位示意圖20。圖20小園井投影面及基點(diǎn)定位示意圖8.2地質(zhì)要素點(diǎn)的投影取值通過(guò)基點(diǎn)沿投影面的水平方向?yàn)閄坐標(biāo)，各點(diǎn)的X坐標(biāo)為該點(diǎn)至基線的直距，在基線左側(cè)為負(fù)值，在基線右側(cè)取正值；Y坐標(biāo)為該點(diǎn)垂直投影于基線上的讀數(shù)，投影取值如圖21：基巖界線ab的a點(diǎn)、b點(diǎn)坐標(biāo)分別為：a點(diǎn)x=a～a′＝-0.5mb點(diǎn)x＝b～b′＝0.50my=ya′＝3.65my=yb′＝4.00m圖21投影取值示意圖8.3地質(zhì)記錄及繪圖由于小園井范圍小，所揭示的地質(zhì)現(xiàn)象有限，在編錄時(shí)可以作簡(jiǎn)單的素描圖和文字記錄于“小園井地質(zhì)記錄表”中。在素描圖中，編錄壁繪成一柱狀圖格式，依次將基線通過(guò)的地質(zhì)界線、產(chǎn)狀、樣品的位置記錄在表中，并展繪到柱狀圖上。將觀察到的地質(zhì)現(xiàn)象記錄在相應(yīng)欄目中，即成小園井地質(zhì)記錄表（圖22）。圖22小園井地質(zhì)記錄表9淺井地質(zhì)編錄9.1地質(zhì)編錄要求編錄及時(shí)性：由于淺井施工中常常需要進(jìn)行井壁支護(hù)，從而遮蓋了所揭露的地質(zhì)現(xiàn)象。因此在施工過(guò)程中，編錄人員經(jīng)常與施工人員取得聯(lián)系，掌握工程進(jìn)度，及時(shí)進(jìn)行編錄和采樣。素描圖比例尺：淺井用于揭露礦層（體）或地質(zhì)界線時(shí)，素描圖比例尺一般為1∶100，而對(duì)某些有特殊要求的礦種和地質(zhì)現(xiàn)象，可在設(shè)計(jì)書(shū)中規(guī)定放大到1∶50。9.2淺井壁展開(kāi)要求及方法淺井素描圖繪兩壁及底或四壁及底（等距離或不等距離的井底掌子面）。9.2.1確定首選壁（第一壁）a.勘查線方向呈南北向時(shí)，可選擇正北壁為第一壁，也可選擇正東壁為第一壁；b.勘查線方向呈東西向時(shí)，可選擇正北壁為第一壁，也可選擇正東壁為第一壁。c.勘查線方向呈北西——南東向時(shí)，可選擇北西壁為第一壁，也可選擇北東壁為第一壁；d.勘查線方向呈北東—南西向時(shí)，可選擇北西壁為第一壁，也可選擇北東壁為第一壁。9.2.2井壁展開(kāi)方法淺井形態(tài)有正方形和長(zhǎng)方形兩種，四壁展開(kāi)應(yīng)根據(jù)淺井長(zhǎng)、寬規(guī)格作展開(kāi)輪廓圖。四壁展開(kāi)作圖法（見(jiàn)圖23）。圖23四壁展開(kāi)平面示意圖選北壁作第一壁后，北壁不動(dòng)，從北壁與西壁結(jié)核菌處斷開(kāi)，將西、南、東三個(gè)壁同時(shí)作逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，直至與第一壁構(gòu)成一個(gè)平面，則為四壁展開(kāi)圖（見(jiàn)圖24）。圖24井壁展開(kāi)剖面示意圖9.2.3基點(diǎn)、基線布設(shè)基點(diǎn)要求布設(shè)在第一壁的左上角處，基點(diǎn)又是淺井定位時(shí)的坐標(biāo)點(diǎn)。基線自基點(diǎn)O米呈鉛直往井底布設(shè)（見(jiàn)圖25）。圖25基點(diǎn)基線布設(shè)圖淺井中點(diǎn)的投影圖9.2.4投影方法a.井壁投影作圖法井壁上各地質(zhì)要素采用垂直投影方法，基線作鉛垂坐標(biāo)，鋼卷尺作水平坐標(biāo)進(jìn)行投影作圖。點(diǎn)的投影方法：點(diǎn)的投影方法如圖26所示，在淺井第一壁和第二壁上分別采了薄片標(biāo)本b1、b2兩塊（見(jiàn)圖26）。b1位置投影，用鋼卷尺自b1點(diǎn)呈水平狀交于基線1.5mA點(diǎn)處，A點(diǎn)至b1水平距1.4m，即b1坐標(biāo)為基線1.5m，水平1.4m。b2位置投影，用鋼卷尺自b2點(diǎn)呈水平狀交于第一壁與第二壁交線上B′點(diǎn)，再自B′點(diǎn)水平延長(zhǎng)交于基線上B點(diǎn)2.3m處，b2至B′水平距1.5m，即b2坐標(biāo)（第二壁上）為基線上2.3m，水平1.5m。圖26淺井中點(diǎn)的投影圖最后利用b1、b2坐標(biāo)數(shù)值展繪于淺井展開(kāi)圖的第一壁和第二壁上。b.界線投影方法：圖27a淺井立體圖中，ABCD及EFGH分別為鐵礦層的頂、底界面，投影素描鐵礦界線時(shí)，只需要投影A、B、C、D、E、E、G、H8個(gè)點(diǎn)的垂直坐標(biāo)即可，因?yàn)樗鼈兎謩e位于淺井四壁的交線上，它們的水平坐標(biāo)均可視為零值。用點(diǎn)的投影方法，A、B、C、D四點(diǎn)的坐標(biāo)為：A點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)1.8m；B點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)1.8m；C點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)4.8m；D點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)4.8m。最后將各點(diǎn)的鉛直坐標(biāo)，在展開(kāi)圖每?jī)杀诮痪€上分別找到A、B、C、D點(diǎn)的位置，隨手連接相鄰?fù)队包c(diǎn)構(gòu)成一條較園滑的曲線（絕不能勾成折線），即為淺井展開(kāi)圖上四個(gè)壁的鐵礦層頂界線，按此方法再依次投影E、F、G、H4個(gè)鐵礦層底界線點(diǎn)（見(jiàn)圖27b）。圖27界線投影示意圖c.淺井底的投影作圖方法如圖24中淺井底按正投影繪制。淺井底呈水平的正方形或長(zhǎng)方形，底上繪制的各類(lèi)界線均為相關(guān)地質(zhì)體走向線。點(diǎn)投影方法與作圖：淺井底面任一投影點(diǎn)，可向井底任意一邊作垂直投影交于底邊上一點(diǎn)，則該交點(diǎn)到底邊端點(diǎn)距離和該交點(diǎn)到投影點(diǎn)距離即為投影點(diǎn)的兩個(gè)平面坐標(biāo)數(shù)值（見(jiàn)圖28b′為井底一投影點(diǎn)。自b′點(diǎn)向一壁底邊A′B′垂直投影交點(diǎn)O′，鋼卷尺直接丈量A′O′距離0.9m，O′b′距離1.0m。作圖方法見(jiàn)淺井展開(kāi)圖中基線2.5m的井底圖，自一壁基線2.5（A1點(diǎn)位置）沿底邊按比例尺量0.9m為O′點(diǎn)，自O(shè)′點(diǎn)垂直A′O′線量1.0m得b′點(diǎn)。界線投影與作圖：由淺井立體圖可見(jiàn)，2.5米處井底面A′B′C′D′與巖層分界面ABCD交于淺井2壁和4壁底線上F、E兩點(diǎn)，EF為井底分界線（見(jiàn)圖28b）。從立體圖可見(jiàn)，求E、F兩點(diǎn)位置無(wú)須投影，直接丈量A′-E和B′-F距離即可。A′E、B′F均為0.7m。作圖方法：在淺井展開(kāi)圖的井底圖中，自A′點(diǎn)沿4壁底邊量0.7m長(zhǎng)為E點(diǎn)，再自B′點(diǎn)沿2壁底邊量0.7m長(zhǎng)為F點(diǎn)，連接EF即為井底面上分層界線。也可從E點(diǎn)或F點(diǎn)按界線走向直接繪制。圖28井底投影示意圖9.2.5素描圖內(nèi)容及要求a.野外繪制素描圖要求真實(shí)、準(zhǔn)確，內(nèi)容包括有巖性分層界線、礦層（體）界線、蝕變帶，斷層及破碎帶、樣品位置及編號(hào)、產(chǎn)狀等等。b.素描的精度要求是：凡地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象在不同比例尺的素描圖上寬（厚）度≥1mm，長(zhǎng)度≥3mm者，都屬于素描對(duì)象，圖上必須反映。如素描圖是1∶50，實(shí)際地質(zhì)體寬（厚）度≥5cm，長(zhǎng)度≥15cm都要求反映到圖上。9.2.6分段編錄及基線布置a.要求分段編錄:淺井在施工進(jìn)程中為防止松散層垮塌，往往需要架箱支護(hù)，因此地質(zhì)編錄應(yīng)隨著施工進(jìn)度分段進(jìn)行。b.在分段編錄的全過(guò)程中，要求每次編錄的基線布置都應(yīng)從井口基點(diǎn)處統(tǒng)一從零米開(kāi)始懸掛皮尺，以保證上次編錄末端井深與這次編錄的開(kāi)始井深數(shù)據(jù)完全吻合，避免重新布設(shè)基點(diǎn)出現(xiàn)井深誤差。9.2.7野外編錄步驟a.確定第一壁：按照礦區(qū)的統(tǒng)一規(guī)定，在淺井工程實(shí)地位置確定第一壁及其方位，同時(shí)丈量淺井四壁規(guī)格。b.布設(shè)基點(diǎn)（木樁）、基線：在第一壁和第四壁交線井口處，打入編有淺井編號(hào)的木樁即為基點(diǎn)，基點(diǎn)亦是淺井的坐標(biāo)點(diǎn)。基線是用皮尺的零米點(diǎn)固定在木樁（基點(diǎn)）上，并沿第一壁和第四壁鉛垂懸掛而成。c.繪制淺井空白圖作圖人員在進(jìn)入井下之前，在方格米厘紙上照1、2、3、4壁的實(shí)際規(guī)格或平均規(guī)格，按比例尺依次展開(kāi)，同時(shí)繪上基點(diǎn)，基線和第一壁方向，即為淺井空白圖，作井下編錄使用。d.投影作圖—編繪淺井素描草圖按照點(diǎn)投影、線投影的方法和要求，對(duì)淺井編錄壁（兩壁或四壁）上各分層界線、礦層（體）界線，斷層線等以及樣品、標(biāo)本、產(chǎn)狀位置等地質(zhì)現(xiàn)象進(jìn)行投影，同時(shí)將投影點(diǎn)展繪到空白圖相應(yīng)位置上，然后連接相同性質(zhì)投影點(diǎn)構(gòu)成各類(lèi)界線，標(biāo)注樣品標(biāo)本號(hào)、產(chǎn)狀數(shù)據(jù)等。e.文字記錄采用坑探工程原始地質(zhì)記錄表的格式進(jìn)行記錄。文字記錄的內(nèi)容應(yīng)與素描圖上的內(nèi)容完全一致，因此在編錄過(guò)程中記錄人員和作圖者應(yīng)經(jīng)常聯(lián)系、核對(duì)，如發(fā)現(xiàn)問(wèn)題便于現(xiàn)場(chǎng)修正。對(duì)不同的巖性層、含礦層（體）、蝕變帶、斷層及破碎帶等界線的井深以界線與基線交點(diǎn)的讀數(shù)為準(zhǔn)，井壁地質(zhì)現(xiàn)象以及樣品、標(biāo)本、產(chǎn)狀等位置，則以水平投影在基線上讀數(shù)為準(zhǔn)。作文字記錄，應(yīng)針對(duì)該段反映的主要地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象，有擇重的進(jìn)行。例如描述礦層（體），要抓住礦石特征，重點(diǎn)記錄反映礦石成因的特征和現(xiàn)象。描述斷層，應(yīng)記錄斷層特征（含斷層面、破碎帶、兩盤(pán)相對(duì)移動(dòng)方向等），達(dá)到反映斷層性質(zhì)和破壞程度等要求。9.2.8安全工作淺井施工及編錄，采樣過(guò)程中的安全工作應(yīng)引起足夠的重視。其中防垮塌，防掉塊尤其重要，因此及時(shí)編錄、采樣和及時(shí)架箱支護(hù)是防止井壁垮塌的主要措施。另外在編錄、采樣過(guò)程中，應(yīng)安排專人留守井口，防止掉塊、掉物傷人。10質(zhì)量檢查及資料整理10.1質(zhì)量檢查a.檢查文字記錄、素描圖、實(shí)物（標(biāo)本、樣品、照相）資料是否吻合。b.檢查點(diǎn)號(hào)、地質(zhì)體代號(hào)、標(biāo)本及樣品編號(hào)、位置及各種數(shù)據(jù)等有無(wú)錯(cuò)漏，若發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，必須到野外核實(shí)，方能補(bǔ)充和修正，不允許回憶補(bǔ)充