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文檔簡介
殘余應力的測定主要內容物體內應力的產(chǎn)生和分類X射線殘余應力測定的基本原理宏觀應力測定方法X射線宏觀應力測定中的一些問題1殘余應力是一種內應力內應力指產(chǎn)生應力的各種因素不復存在時,由于形變、體積變化不均勻而殘留在構件內部并自身保持平衡的應力產(chǎn)生應力的各種因素不復存在指,外加載荷去除、加工完成、溫度已均勻、相變過程中止等目前公認的內應力分類方法是由德國的E.馬克勞赫于1979年提出的,將內應力按其平衡的范圍分為三類,即第Ⅰ類內應力、第Ⅱ類內應力和第Ⅲ類內應力一物體內應力的產(chǎn)生與分類2一、內應力的分類1)第Ⅰ類內應力(
Ⅰ)指在物體宏觀體積內存在并平衡的內應力。當其被釋放后,物體的宏觀體積或形狀將會變化2)第Ⅱ類內應力(
Ⅱ)指在數(shù)個晶粒范圍內存在并平衡的內應力。這種平衡被破壞時也會出現(xiàn)尺寸變化3)第Ⅲ類內應力(
Ⅲ)指在若干個原子范圍內存在并平衡的內應力。如各種晶體缺陷(空位、間隙原子、位錯等),這種平衡被破壞時不會產(chǎn)生尺寸的變化3二、內應力的分布如圖1所示,第Ⅰ類內應力是存在于各個晶粒的內應力在很多晶粒范圍內的平均值,是較大體積宏觀變形不協(xié)調的結果
第Ⅱ類內應力是晶粒尺度范圍內應力的平均值,為各個晶?;蚓Я^(qū)域之間變形不協(xié)調的結果
第Ⅲ類內應力是晶粒內局部內應力相對第Ⅱ類內應力值的波動,它與晶體缺陷形成的應變場有關
圖1內應力分布示意圖4三、內應力的衍射效應1)第Ⅰ類內應力又稱宏觀應力或殘余應力,其衍射效應使衍射線位移2)第Ⅱ類內應力又稱微觀應力。其衍射效應主要引起衍射線線形變化3)第Ⅲ類內應力又稱晶格畸變應力或超微觀應力等,名稱尚未同一,其衍射效應使衍射強度降低4)第Ⅱ類內應力是十分重要的中間環(huán)節(jié),通過它才能將第Ⅰ類內應力和第Ⅲ類內應力聯(lián)系起來,構成一個完整的內應力系統(tǒng)5四、內應力的產(chǎn)生1)宏觀應力圖2是產(chǎn)生宏觀應力的實例,框架和中間梁在焊接前無應力;梁的兩端焊接在框架上后,中間梁受拉應力,兩側框架受壓應力,上下梁受彎曲應力可見,殘余應力是材料內部宏觀區(qū)域內平衡均勻分布的應力圖2宏觀應力的產(chǎn)生a)焊接前b)焊接后
6四、內應力的產(chǎn)生2)微觀應力由圖3可示意說明了第Ⅱ類內應力的產(chǎn)生。在單向拉伸載荷作用下,由于A晶粒處于易滑移取向,當載荷超過臨界切應力時將發(fā)生塑性變形;而B晶粒僅發(fā)生彈性變形。載荷去除后,B晶粒變形要恢復,而A晶粒僅部分恢復,使B晶粒受拉應力,晶粒A受壓應力,而形成晶粒間相互平衡的應力圖3第Ⅱ類內應力的產(chǎn)生7五、內應力的檢測殘余應力是一種彈性應力,它與構件的疲勞性能、耐應力腐蝕能力和尺寸穩(wěn)定性等密切相關,殘余應力檢測對于工藝控制、失效分析等具有重要意義,主要方法有1)應力松弛法即用鉆孔、開槽或薄層等方法使應力松馳,用電阻應變片測量變形以計算殘余應力,屬于破壞性測試2)無損法即用應力敏感性的方法,如超聲、磁性、中子衍射、X射線衍射等。3)X射線衍射法屬于無損法,具有快速、準確可靠、測量區(qū)域小等優(yōu)點,且能區(qū)分和測定三種不同的類別的內應力8一、基本原理
用X射線衍射法測定殘余應力,首先測定應變,再借助材料的彈性特征參量確定應力對于理想的多晶體,在無應力狀態(tài)下,不同方位的同族晶面間距相等;當承受一定宏觀應力
時,同族晶面間距隨晶面方位及應力大小發(fā)生有規(guī)律的變化,如圖4所示,隨晶面法線相對于試樣表面法線的夾角
增大,晶面間距d增大二X射線宏觀應力測定的基本原理圖4應力與不同方位同族晶面間距的關系9一、基本原理
沿
方位方位,某晶面間距d
相對于無應力(d0)時的變化(d
-d0)/d0=d/d0,反映了由應力引起的晶面法線方向的彈性應變
=d/d0顯然,晶面間距隨方位的變化率與作用應力之間存在一定的函數(shù)關系因此,建立待測殘余應力
與空間某方位上的應變
之間的關系,是解決應力測量的問題的關鍵物體自由表面的法線方向應力為零,當物體內應力沿垂直于表面方向的變化梯度極小,而X射線穿透深度又很小,測量區(qū)域近似滿足平面應力狀態(tài)10二、測定宏觀應力的坐標系在平面應力狀態(tài)下,建立坐標系如圖5。圖中O-XYZ是主應力坐標系,為主應力(
1,
2,
3)和主應變(
1,
2,
3)方向;O-xyz為待測應力
(
x)及
y和
z的方向;
3和
z與試樣法線ON平行;
是
與
1間的夾角
ON與
決定的平面稱測量方向平面,
是此平面上某方向的應變,它與ON間夾角稱為方位角
即
是衍射晶面法線ON與試樣表面法線ON間的夾角圖5測定宏觀應力的坐標系11三、應力測定公式根據(jù)彈性力學原理,對于一個連續(xù)、均質、各向同性的物體,在平面應力狀態(tài)下,
z=0,
z=
3,按圖5所示的坐標系,可以導出任一方向ON的應變?yōu)?7)將
對sin2
求導(8)即(9)式(9)中,E為彈性模量,為泊松比;表明在平面應力狀態(tài)下,
與sin2
呈線性關系
sin2
sin2
=E1+
E
12四、應力常數(shù)K由布拉格方程的微分式,d/d=-
cot
0,
為常數(shù)時,
0為無應力是的衍射角,
=(2
-2
0)/2,則
=-(2
-2
0)cot
0/2,對sin2
求導,并代入式(6-9)可得更實用的公式,式(9)中
變換為衍射角的形式,即(11)再將2
的單位由“弧度”換成“度”,則有(12)2
sin2
13四、應力常數(shù)K式(12)表明,在平面應力狀態(tài)下,2
隨sin2
呈線性關系,見圖6。令式(12)中(13a)(13b)則(13c)
K稱應力常數(shù),它決定于待測材料的彈性性質及所選衍射晶面的衍射角(由晶面間距d和波長
決定)圖62
-sin2
線性關系KM=14四、應力常數(shù)KM是2
-sin2
直線的斜率。由于K是負值,若當M0時,應力為負,即壓應力;當M0時,應力為正,即拉應力若2
-sin2
關系失去線性,說明材料偏離平面應力狀態(tài),三種非平面應力狀態(tài)的影響見圖7在樣品測試范圍存在應力梯度、存在三維應力狀態(tài)或存在織構等情況下,需采用特殊的方法測算其殘余應力圖7非線性2
-sin2
關系a)存在應力梯度b)存在三維應力c)存在織構15四、應力常數(shù)K表中給出了幾種材料的應力測試數(shù)據(jù),供參考幾種材料的應力測試數(shù)據(jù)材料點陣類型點陣常數(shù)/?輻射源{hkl}2/()K/[MPa/(
)]-FeBCC2.8664CrK
CoK
211310156.8161.4-318.1-230.4-FeFCC3.656CrK
MnK
311311149.6154.8-355.35-292.73AlFCC4.049CrK
CoK
222420156.7162.1-92.12-70.36CuFCC3.6153CrK
CoK
311400146.5163.5-245.0-118.0TiHCPa2.9504c4.6831CoK
CoK
114211154.2142.2-171.6-256.7NiFCC3.5238CrK
CuK
311420157.7155.6-273.22-289.3916由前述的測定原理可知,欲測定試樣表面某確定方向的殘余應力
=KM,需按如下步驟進行1)在測定方向平面內至少測出兩個不同
方位的衍射角2
2)求出2
-sin2
直線的斜率M3)根據(jù)測試條件取應力常數(shù)K4)將M和K代入式(13)計算殘余應力
要確定和改變衍射晶面的方位
,需利用某種衍射幾何方式實現(xiàn)。目前殘余應力多在衍射儀或應力儀上測量,常用的衍射幾何方式有兩種,同傾法和側傾法三宏觀應力測定方法17一、同傾法同傾法的衍射幾何特點是測量方向平面和掃描平面相重合,如圖8a所示。測量方向平面是ON、
x所在的平面;掃描平面是入射線、衍射晶面法線(ON、
方向)和衍射線所在平面。同傾法確定
的方式有兩種圖8同傾法(a)和側傾法(b)衍射幾何特點第三節(jié)宏觀應力測定方法18一、同傾法1)固定
法當ON與ON重合時,即
=0,計數(shù)管和試樣以2:1的角速度轉動,此時衍射晶面與試樣表面平行,見圖9a;樣品繞衍射儀軸轉動
角,ON與ON間夾角為
,通過衍射幾何條件設置直接確定和改變衍射面方位
的方法稱固定
法
此法適用于較小尺寸的試樣在衍射儀上測定其宏觀殘余應力圖9固定
法a)
=0b)
=4519一、同傾法2)固定
0
法
0是入射線與試樣表面法線ON間的夾角。固定
0法待測試樣不動,通過改變X射線的入射方向獲得不同的
方位,如圖10所示按圖中所示的衍射幾何條件,由
0和
計算
=
0+(90-
)
此法適用于機械零件或大型構件,多在專用的應力測定儀上使用圖10固定
0
法a)
0
=0b)
0=4520一、同傾法3)晶面方位角
的選取同傾法(固定
或
0)選取晶面方位角的方式有兩種a.0-45法(兩點法)
或
0選取0和45進行測定,由兩個數(shù)據(jù)求2
-sin2
直線的斜率M此法適用于已知2
-sin2
具有良好的線性關系或對測量精度要求不高的場合對于固定
的0-45法,sin2
=sin245-sin20=0.5,則應力計算公式簡化為
=2K2
21一、同傾法3)晶面方位角
的選取b.sin2
法2
測量必然存在偶然誤差,故兩點法會影響測量精度。為此取幾個(n≥4)
方位測量,再用作圖法或最小二乘法求出2
-sin2
直線的最佳斜率M,根據(jù)式(13b)得到直線方程2
i=2
=0+Msin2
i(15)斜率M滿足偏差vi最小(見圖11),按最小二乘法原則,其M值為(17)n(2
i
sin2
i
)-sin2
i2
i
n
sin4
i
-(sin2
i)2
M=第三節(jié)宏觀應力測定方法22一、同傾法3)晶面方位角
的選取目前,sin2
法中4個方位角
i和
0i按如下方法選取,固定
法
i常取0、25、35、45;固定
0法可根據(jù)
0值估算合適的
0i
用計算機處理數(shù)據(jù),可以取更多的測點,以提高M的精度
圖11確定2
-sin2
直線最佳斜率23二、側傾法同傾法中,
或
0的變化受
的限制,
的變化范圍為0~
(見圖9);
0的變化范圍為0~(2
-90)(見圖9)由于測定衍射峰的全形需一定的掃描范圍,且計數(shù)管無法接收到平行于試樣表面的衍射線。當工件形狀復雜,如需測定轉角處的切向應力,方位角的變
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