1超高壓水晶釜定期檢驗規(guī)程本文件規(guī)定了超高壓水晶釜定期檢驗的基本要求、檢驗項目和檢驗方法及安全狀況等級評定的內(nèi)本文件適用于設(shè)計壓力大于或等于100MPa，且容器外徑內(nèi)徑之比大于1.25整體鍛造的在役超高壓水2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用構(gòu)成本文件必不可少的條款。少的。其中，注日期的引用文件，僅所注日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T30579-2014承壓設(shè)備損傷模式識別GB/T35013-2018承壓設(shè)備合于使用評價GB/T32563-2016無損檢測超聲檢測相控陣超聲檢測方法GB/T23905-2009無損檢測超聲檢測用試塊TSG08-2017特種設(shè)備使用管理規(guī)則TSG21-2016-2016固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程NB/T47013.1承壓設(shè)備無損檢測第1部分：通用要求NB/T47013.3承壓設(shè)備無損檢測第3部分：超聲檢測NB/T47013.4承壓設(shè)備無損檢測第4部分：磁粉檢測NB/T47013.5承壓設(shè)備無損檢測第5部分：滲透檢測NB/T47013.9承壓設(shè)備無損檢測第9部分：聲發(fā)射檢測NB/T47013.10承壓設(shè)備無損檢測第10部分：衍射時差法超聲檢測JB/T10061A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件JB/T10062超聲波探傷用探頭性能測試方法3術(shù)語和定義TSG21-2016-2016和NB/T47013.1界定的術(shù)語和定義適用于本文件。4通用要求4.1檢驗程序超高壓水晶釜定期檢驗的一般程序，包括損傷模式識別、檢驗方案制定、檢驗前的準(zhǔn)備、檢驗實施、缺陷及問題的處理、檢驗結(jié)果匯總及評價、出具檢驗報告等。24.2檢驗結(jié)構(gòu)及檢驗人員4.2.1檢驗機構(gòu)檢驗機構(gòu)應(yīng)具有特種設(shè)備安全監(jiān)督管理部門核準(zhǔn)的壓力容器定期檢驗資質(zhì)，并按核準(zhǔn)的檢驗范圍從事檢驗工作；檢驗機構(gòu)應(yīng)當(dāng)對超高壓水晶釜定期檢驗報告的真實性、準(zhǔn)確性、有效性負責(zé)。4.2.2檢驗人員4.2.2.1檢驗人員應(yīng)當(dāng)取得相應(yīng)的特種設(shè)備檢驗人員證書，其中檢驗人員應(yīng)由壓力容器檢驗師或由壓力容器檢驗員在檢驗師的指導(dǎo)下進行檢驗。4.2.2.2壓力容器檢驗人員具備損傷模式識別等專業(yè)能力。4.2.2.3檢驗報告審核人員應(yīng)具有3年以上審核工作經(jīng)驗；檢測人員應(yīng)當(dāng)取得相應(yīng)的特種設(shè)備檢測人員資質(zhì)證書。4.3報檢使用單位應(yīng)當(dāng)在超高壓水晶釜檢驗有效期屆滿的1個月以前向檢驗機構(gòu)申報檢驗。檢驗機構(gòu)接到定期檢驗申報后，應(yīng)當(dāng)在定期檢驗有效期屆滿前安排檢驗。4.4安全狀況等級超高壓水晶釜的安全狀況分為1級~5級，應(yīng)當(dāng)根據(jù)檢驗情況，按照本文件的第7章的規(guī)定進行評定。4.5檢驗周期超高壓水晶釜一般于投用后3年內(nèi)進行首次定期檢驗。以后的檢驗周期由檢驗機構(gòu)根據(jù)超高壓水晶釜的安全狀況等級，按照以下要求確定：a)安全狀況等級為1、2級的,檢驗結(jié)論為符合要求，可以繼續(xù)使用，一般每6年檢驗一次；b)安全狀況等級為3級的,檢驗結(jié)論為符合要求，可以繼續(xù)使用，一般每3年至6年檢驗一次；c)安全狀況等級為4級的，檢驗結(jié)論為基本符合要求，監(jiān)控使用，累計監(jiān)控使用時間不得超過3年，在監(jiān)控使用期間，使用單位應(yīng)當(dāng)采取有效的監(jiān)控措施；d)安全狀況等級為5級的，檢驗結(jié)論為不符合要求，不得繼續(xù)使用。4.6檢驗周期的特殊規(guī)定4.6.1有下列情況之一的超高壓水晶釜，檢驗周期應(yīng)當(dāng)適當(dāng)縮短：a)材質(zhì)劣化現(xiàn)象比較明顯的；b)運行過程中發(fā)生超溫的；c)使用年限超過15年的；d)使用單位沒有按照規(guī)定進行年度檢查的；e)檢驗中對其他影響安全的因素有懷疑的。4.6.2不能按期進行定期檢驗的情況：a)因特殊情況不能按期進行定期檢驗的超高壓水晶釜，由使用單位提出書面申請報告說明情況，經(jīng)使用單位主要負責(zé)人批準(zhǔn)，征得上次承擔(dān)定期檢驗的檢驗機構(gòu)同意（首次檢驗的延期除外向使用登記機關(guān)備案后，可以延期檢驗；b)對于不能按期進行定期檢驗的超高壓水晶釜，使用單位應(yīng)當(dāng)采取有效的監(jiān)控和應(yīng)急管理措施。4.7達到設(shè)計使用年限的特殊規(guī)定3達到設(shè)計使用年限的超高壓水晶釜（未規(guī)定設(shè)計使用年限，但是使用超過20年的視為達到設(shè)計使用年限如果要繼續(xù)使用，使用單位應(yīng)委托有檢驗資質(zhì)的特種設(shè)備檢驗機構(gòu)參照定期檢驗的規(guī)定對其檢驗，必要時按照TSG21-2016-2016第8.9條要求進行安全評估（合于使用評價經(jīng)過使用單位主要負責(zé)人批準(zhǔn)后，辦理使用登記證書變更，方可繼續(xù)使用。5檢驗前的準(zhǔn)備工作5.1損傷模式識別檢驗前，檢驗人員應(yīng)充分了解受檢的超高壓水晶釜所處的工藝及工況，分析有可能發(fā)生的損傷模式。5.2檢驗方案檢驗前，檢驗機構(gòu)應(yīng)按照TSG21-2016-2016第8.2.1款要求，根據(jù)超高壓水晶釜的使用情況、損傷模式，制定檢驗方案。5.3資料審查5.3.1檢驗前，檢驗人員一般審查以下資料：a)設(shè)計資料，包括設(shè)計單位資質(zhì)，設(shè)計、安裝、使用說明書，設(shè)計圖樣，強度計算書；b)制造資料，包括制造單位資質(zhì)證明、產(chǎn)品合格證、質(zhì)量證明文件、竣工圖以及監(jiān)檢證書；c)安裝竣工資料；d)改造或重大修理資料，包括施工方案和竣工資料，以及改造、重大修理監(jiān)檢證書；e)使用管理資料，包括《使用登記證》和《使用登記表》，以及運行記錄、開停車記錄、運行條件變化情況以及運行中出現(xiàn)異常情況的記錄等；f)檢驗、檢查資料，包括定期檢驗周期內(nèi)的年度檢查報告和上次的定期檢驗報告。5.3.2本條第a）項至第d）項的資料，在超高壓水晶釜投用后的首次定期檢驗時必須進行審查，以后的檢驗視需要（如發(fā)生移裝、改造及重大修理等）進行審查。5.3.3資料審查發(fā)現(xiàn)使用單位未按照要求對超高壓水晶釜進行年度檢查，以及發(fā)生使用單位變更、更名使超高壓水晶釜的現(xiàn)實狀況與《使用登記表》內(nèi)容不符，而未按照要求辦理使用登記變更的，檢驗機構(gòu)應(yīng)當(dāng)向使用登記機關(guān)報告。5.3.4資料審查發(fā)現(xiàn)超高壓水晶釜未按照規(guī)定實施制造監(jiān)督檢驗或者無《使用登記證》，檢驗機構(gòu)應(yīng)當(dāng)停止檢驗，并且向使用登記機關(guān)報告。5.4設(shè)備儀器檢定校準(zhǔn)檢驗檢測用的設(shè)備、儀器和測量工具應(yīng)當(dāng)在有效的檢定或者校準(zhǔn)期內(nèi)，并可正常使用。5.5現(xiàn)場條件使用單位和相關(guān)的輔助單位，應(yīng)當(dāng)按照TSG21-2016-2016第8.2.3款要求做好停機后的技術(shù)性處理和檢驗前的安全檢查，確認現(xiàn)場條件符合檢驗工作要求，做好以下有關(guān)的準(zhǔn)備工作：a)按操作規(guī)程的要求緩慢對超高水晶釜降溫，使之滿足檢驗工作的要求；b)拆除與釜體連接的卡箍、壓環(huán)、密封環(huán)、密封塞、壓套等影響檢驗的連接部件；c)將釜體內(nèi)部排除干凈，并采用煮釜或機械處理的方法去除內(nèi)表面影響檢驗的附著物；d)將待檢釜體放在便于檢驗的位置，并固定牢靠防止?jié)L動；4需要進行檢驗的釜體和主要零部件表面，特別是腐蝕部位和可能產(chǎn)生缺陷的部位，徹底清理干凈，露出金屬本體；進行無損檢測的表面達到NB/T47013的有關(guān)要求。5.6檢驗工作安全要求檢驗工作安全要求應(yīng)當(dāng)滿足TSG21-2016-2016第8.2.6的要求。6檢驗項目與方法6.1檢驗項目超高壓水晶釜的定期檢驗項目，以宏觀檢驗、外徑測量、壁厚測定、硬度檢測、表面無損檢測、超聲波檢測和安全附件檢驗為主，必要時增加金相檢測、耐壓試驗、衍射時差法超聲檢測、相控陣超聲檢測、聲發(fā)射檢測及其它檢測方法；此外，當(dāng)設(shè)計文件對超高壓水晶釜定期檢驗項目、方法有特殊要求的，還應(yīng)當(dāng)遵從其規(guī)定。6.2宏觀檢驗6.2.1檢查釜體、卡箍等受壓元件的鋼印號。6.2.2檢查釜體外表面的腐蝕、裂紋、變形、機械接觸損傷、過熱情況，主要受壓元件螺紋（如釜體上端部內(nèi)外螺紋、卡箍螺紋、上法蘭螺紋、卡箍螺栓螺紋）和卡箍螺栓部位變形、磨損情況，必要時采用專用牙型模具檢查。6.2.3檢查釜口密封面及內(nèi)表面腐蝕、劃傷、變形、裂紋等缺陷，采用強光燈進行檢查，對有懷疑部位或必要時采用內(nèi)窺鏡、管道爬行器等進一步檢查。6.2.4檢查測溫孔數(shù)量、位置、深度、直徑。測溫孔直徑及深度不得大于設(shè)計的規(guī)定。設(shè)計無規(guī)定時，測溫孔直徑和深度以第一次檢查數(shù)據(jù)或出廠數(shù)據(jù)為準(zhǔn)，不得私自加工。6.2.5檢查堵底密封、泄露情況。6.2.6對上述檢查情況進行記錄。6.3外徑測量6.3.1外徑測量，采用外徑千分尺等方法進行測量。6.3.2測量部位包括釜體下部高溫區(qū)、局部變形部位、宏觀檢驗有懷疑的部位及上次檢驗發(fā)現(xiàn)有外徑增大傾向或變化的部位。6.3.3外徑測量應(yīng)避開打磨部位、測溫孔、鋼印等部位。6.4壁厚測定6.4.1壁厚測定，采用超聲波測厚等方法。6.4.2宏觀檢驗和外徑測量有懷疑的部位應(yīng)增加測厚點。6.4.3內(nèi)外表面腐蝕部位、表面缺陷修磨部位應(yīng)增加壁厚測定，以確定剩余壁厚。6.5硬度檢測6.5.1檢測部位至少包括一個高溫區(qū)和一個非高溫區(qū)。6.5.2必要時對宏觀檢驗和外徑測量有懷疑部位、缺陷部位和釜體局部變形部位進行硬度檢測。6.5.3當(dāng)HB≥400或HB≤300時應(yīng)當(dāng)進行金相分析。6.5.4硬度檢測數(shù)值與上次檢驗數(shù)值或出廠數(shù)值比較異常變化時應(yīng)當(dāng)進行金相分析。5注：異常變化是指檢測數(shù)值與出廠數(shù)值或上次檢驗數(shù)值的差值大于30HB，或兩次以上的檢測6.6金相分析6.6.1超高壓水晶釜首次檢驗、使用每超過5年時應(yīng)進行金相分析。6.6.2檢驗時發(fā)現(xiàn)釜體有局部變形、過熱或外徑測量有懷疑的部位應(yīng)進行金相分析。6.6.3檢驗人員和使用單位認為有必要時應(yīng)進行金相分析。6.7表面無損檢測6.7.1釜體外表面高溫區(qū)、釜口臺階及密封面、測溫孔、修磨部位進行100%磁粉檢測，檢測靈敏度應(yīng)滿足NB/T47013.4靈敏度試片A1：30/100要求。6.7.2對宏觀檢驗有懷疑的主要受壓元件的螺紋（釜體螺紋、卡箍螺紋、上法蘭螺紋）進行磁粉或滲透檢測，磁粉檢測靈敏度應(yīng)滿足NB/T47013.4靈敏度試片C：15/50要求，滲透檢測靈敏度應(yīng)滿足NB/T47013.5鍍鉻試塊C級要求。6.7.3當(dāng)卡箍螺栓外觀檢驗發(fā)現(xiàn)變形、損傷或檢驗人員有懷疑時，應(yīng)對卡箍螺栓進行磁粉檢測。6.7.4檢測中發(fā)現(xiàn)裂紋時，應(yīng)當(dāng)擴大檢測比例或檢測部位。6.7.5磁粉檢測按附錄D《在役超高壓水晶釜磁粉檢測工藝指導(dǎo)書》執(zhí)行。6.8超聲波檢測6.8.1對釜體（除螺紋部位）進行100%周向超聲波檢測，釜體高溫區(qū)進行軸向檢測；6.8.2對上次檢驗發(fā)現(xiàn)的缺陷部位應(yīng)重點復(fù)查，對釜體內(nèi)表面出現(xiàn)的缺陷反射波幅進行宏觀復(fù)核；6.8.3超聲波檢測發(fā)現(xiàn)≥1/2DAC的缺陷反射波幅且缺陷性質(zhì)難以判定時，應(yīng)采用衍射時差法超聲檢測和相控陣超聲檢測等檢測方法進行補充檢測；6.8.4超聲波檢測按附錄B《在役超高壓水晶釜筒體超聲波檢測工藝指導(dǎo)書》、附錄C《在役超高壓水晶釜底部臺階及退刀槽超聲波檢測工藝指導(dǎo)書》和附錄E《在役超高壓水晶釜筒體橫波對比試塊》執(zhí)行。6.9耐壓試驗6.9.1使用單位或檢驗機構(gòu)對超高壓水晶釜的安全狀況等級有懷疑時，應(yīng)當(dāng)進行耐壓試驗。6.9.2耐壓試驗的試驗壓力、試驗準(zhǔn)備、安全防護、試驗介質(zhì)、試驗過程、合格要求等按照TSG21-2016-2016以及設(shè)計文件的相關(guān)規(guī)定執(zhí)行。6.9.3耐壓試驗后應(yīng)當(dāng)測量釜體殘余變形（測量位置與外徑測量位置相同），其值不得超過耐壓試驗前釜體外徑的萬分之一，且不超過0.05mm。6.9.4耐壓試驗后，應(yīng)對釜體進行超聲波檢測和磁粉檢測。檢測比例與耐壓試驗前檢測比例相同。磁粉檢測和超聲波檢測應(yīng)分別滿足第6.7條和第6.8條的要求。6.10衍射時差法超聲檢測6.10.1衍射時差法超聲檢測對超聲波檢測發(fā)現(xiàn)的≥1/2DAC缺陷進行補充檢測。6.10.2衍射時差法超聲檢測對超聲波檢測發(fā)現(xiàn)的缺陷、確定缺陷類型及變化情況判斷。6.10.3衍射時差法超聲檢測按附錄F《在役超高壓水晶釜TOFD檢測工藝指導(dǎo)書》執(zhí)行。6.11相控陣超聲檢測6.11.1相控陣超聲檢測對超聲波檢測發(fā)現(xiàn)的≥1/2DAC缺陷進行補充檢測。6.11.2相控陣超聲檢測對超聲波檢測發(fā)現(xiàn)的缺陷確定缺陷類型及變化情況進行判斷。6.11.3相控陣超聲檢測按附錄G《在役超高壓水晶釜筒體相控陣超聲檢測工藝指導(dǎo)書》執(zhí)行。66.12聲發(fā)射檢測6.12.1在耐壓試驗過程中采用聲發(fā)射檢測對超聲波檢測發(fā)現(xiàn)的缺陷變化情況進行判斷。6.12.2聲發(fā)射檢測按附錄H《在役超高壓水晶釜筒體聲發(fā)射檢測工藝指導(dǎo)書》執(zhí)行。6.12.3安全附件檢查6.12.4檢查是否按設(shè)計要求安裝爆破片裝置。6.12.5爆破片應(yīng)由使用單位或爆破片制造單位制定更換周期，檢查爆破片是否按期更換。6.12.6檢查壓力表是否在校驗有效期內(nèi)。6.12.7檢查測溫儀表是否在使用單位或制造單位規(guī)定的校驗期內(nèi)使用。7安全狀況等級評定7.1評定原則7.1.1安全狀況等級根據(jù)超高壓水晶釜的檢驗結(jié)果綜合評定，以其中項目等級最低者為評定等級，進行單項評定時，同等情況下宜趨嚴(yán)把握。7.1.2需要改造或者修理的超高壓水晶釜，按照改造或者修理結(jié)果進行安全狀況等級評定。7.1.3安全附件檢驗不合格的超高壓水晶釜不允許投入使用。7.2材料問題主要受壓元件材料與設(shè)計不符、材質(zhì)不明或者材質(zhì)劣化時，按照以下要求進行安全狀況等級評定：a)用材與原設(shè)計不符且經(jīng)過校核不滿足使用要求以及材質(zhì)不明的壓力容器，定為5級；b)金相檢驗結(jié)果應(yīng)按照附錄A，將在用超高壓水晶釜釜體材質(zhì)劣化程度進行分級，共分為5級。金相評定準(zhǔn)則：1～2級為合格組織（不影響安全狀況等級評級4級及以上為不合格組織（安全狀況等級評定為5級），3級為基本合格組織（安全狀況等級應(yīng)綜合評定，其它檢測項目結(jié)果為無缺陷的可評為4級，存在其他缺陷的評為5級）。7.3結(jié)構(gòu)問題在以任意點為中心，以50mm為半徑的范圍內(nèi)，測溫孔的數(shù)量多于2個或者兩孔邊緣間距大于30mm，經(jīng)過檢驗未發(fā)現(xiàn)新生缺陷（不包括正常的均勻腐蝕）的，可以定為3級，否則定為5級。7.4變形、機械接觸損傷、工卡具焊跡及電弧灼傷變形、機械接觸損傷、工卡具焊跡、電弧灼傷等，按照以下要求評定安全狀況等級：a)釜體各測量斷面的外徑測量差值小于等于所測最小外徑的0.5%的，不影響評級；釜體各測量斷面的外徑測量差值大于所測最小外徑的0.5%的，定為5級；b)機械接觸損傷、工卡具焊跡、電弧灼傷等，打磨后按照本文件7.7的規(guī)定定級。（這句寫的很好，其余按照這種寫法寫）7.5腐蝕有腐蝕的壓力容器，按照以下要求評定安全狀況等級：a)分散的點腐蝕，如果腐蝕深度和點腐蝕面積不超過TSG21-2016-2016第8.5.7款范圍，定為3級；超過此范圍的，應(yīng)參照GB/T35013相應(yīng)條款進行評價，符合1級或2級評價要求的，且經(jīng)相應(yīng)的無損檢測未發(fā)現(xiàn)新生缺陷的，定為3級，否則應(yīng)定為4級或5級；7均勻腐蝕，如果剩b)余壁厚符合TSG21-2016-2016第8.5.7要求的，定為3級；超過此范圍的，應(yīng)參照GB/T35013相應(yīng)條款進行評價，符合1級或2級評價要求的，定為3級，否則應(yīng)定為c)局部腐蝕，腐蝕深度超過壁厚余量的，應(yīng)當(dāng)確定腐蝕坑形狀和尺寸，并且充分考慮檢驗周期內(nèi)腐蝕坑尺寸的變化，可以按照本文件第7.4款的規(guī)定定級。7.6機械損傷存在機械損傷現(xiàn)象的超高壓水晶釜，發(fā)現(xiàn)裂紋，應(yīng)當(dāng)打磨消除，并且按照本文件第7.7款的要求進行處理，在規(guī)定的操作條件下和檢驗周期內(nèi)滿足安全使用要求的，定為3級，否則定為4級或者5級。7.7表面缺陷未發(fā)現(xiàn)影響安全運行的表面缺陷，定為3級。對于影響安全運行的表面缺陷應(yīng)打磨消除，且缺陷邊緣應(yīng)圓滑過渡：a)釜口密封面：打磨后影響密封性能，定為5級；打磨后不影響密封性能，定為3級；b)非釜口密封面：打磨深度小于等于6mm，定為3級；打磨深度大于6mm且剩余壁厚滿足強度計算要求的最小壁厚，定為4級；打磨深度大于6mm以及剩余壁厚不滿足強度計算要求的最小壁厚，定為5級。7.8埋藏缺陷a)判定為裂紋類缺陷和缺陷反射波幅≥DAC的非裂紋類缺陷，定為5級；b)檢測發(fā)現(xiàn)缺陷反射波幅＜DAC的非裂紋類缺陷時按表1進行評定（注1）：表1缺陷反射波幅＜DAC的非裂紋類缺陷安全狀況等級注1：表中H是指缺陷在厚度方向的尺寸，亦稱缺陷高度；L是指7.9耐壓試驗屬于壓力容器本身原因，導(dǎo)致耐壓試驗不合格的，定為5級。8結(jié)論及報告8.1檢驗結(jié)論綜合評定安全狀況等級為1～3級的超高壓水晶釜，檢驗結(jié)論為符合要求，可以繼續(xù)使用，安全狀況等級為4級的，檢驗結(jié)論為基本符合要求，有條件的監(jiān)控使用；安全狀況等級為5級的，檢驗結(jié)論為不符合要求，不得繼續(xù)使用。88.2檢驗報告8.2.1檢驗機構(gòu)應(yīng)當(dāng)保證檢驗工作質(zhì)量，檢驗時應(yīng)有記錄，檢驗工作結(jié)束后對檢驗結(jié)果進行綜合評定后出具檢驗報告，報告的格式應(yīng)當(dāng)符合規(guī)程TSG21-2016的要求（單項檢驗報告的格式由檢驗機構(gòu)在其質(zhì)量管理體系文件中規(guī)定）。檢驗記錄應(yīng)當(dāng)詳盡、真實、準(zhǔn)確，檢驗記錄記載的信息量不得少于檢驗報告的信息量。檢驗機構(gòu)應(yīng)當(dāng)妥善保管檢驗方案、檢驗記錄和報告，保存期至少6年。8.2.2檢驗報告的出具應(yīng)當(dāng)符合以下要求：a)檢驗工作結(jié)束后，檢驗機構(gòu)一般在30個工作日內(nèi)出具報告，交付使用單位存入壓力容器技術(shù)檔案；b)超高壓水晶釜檢驗結(jié)論報告應(yīng)當(dāng)有編制、審核、批準(zhǔn)三級人員簽字，批準(zhǔn)人員為檢驗機構(gòu)的技術(shù)負責(zé)人或者其授權(quán)簽字人；將檢驗初步結(jié)論書面通知使用單位，檢驗人員對檢驗意見的正確性負責(zé)；d)檢驗發(fā)現(xiàn)設(shè)備存在需要處理的缺陷，由使用單位負責(zé)進行處理，檢驗機構(gòu)可以利用《特種設(shè)備定期檢驗意見通知書（2）》將缺陷情況通知使用單位。處理完成并且經(jīng)過檢驗機構(gòu)確認后，再出具檢驗報告；使用單位在約定的時間內(nèi)未能完成缺陷處理工作的，檢驗機構(gòu)可以按照實際檢驗情況先行出具檢驗報告，處理完成并且經(jīng)過檢驗機構(gòu)確認后再次出具報告（替換原檢驗報告）；經(jīng)檢驗發(fā)現(xiàn)嚴(yán)重事故隱患，檢驗機構(gòu)應(yīng)當(dāng)使用《特種設(shè)備定期檢驗意見通知書（2）》將情況及時告知使用登記機關(guān)。8.3檢驗信息管理8.3.1使用單位、檢驗機構(gòu)應(yīng)當(dāng)嚴(yán)格執(zhí)行本文件的規(guī)定，做好超高壓水晶釜的檢驗工作，并且按照特種設(shè)備信息化工作規(guī)定，及時將所有的檢驗更新數(shù)據(jù)上傳至特種設(shè)備使用登記和檢驗信息系統(tǒng)；8.3.2檢驗機構(gòu)應(yīng)當(dāng)按照規(guī)定將檢驗結(jié)果匯總上報使用登記機關(guān)。8.4檢驗案例凡在檢驗過程中，發(fā)現(xiàn)超高壓水晶釜存在影響安全的缺陷或者損壞，需要重大修理或者不允許使用的，檢驗機構(gòu)按照有關(guān)規(guī)定逐臺填寫檢驗案例，并且及時上報、歸檔。8.5檢驗標(biāo)志檢驗結(jié)論意見為符合要求或者基本符合要求時，檢驗機構(gòu)應(yīng)當(dāng)按規(guī)定出具檢驗標(biāo)志。9（規(guī)范性附錄）金相分級方法A.11級組織回火索氏體（或回火貝氏體）組織，無碳化物析出，測定的硬度值無明顯變化（參見圖譜1～6圖譜1組織：回火索氏體圖譜3組織：回火索氏體圖譜5組織：回火索氏體A.22級組織圖譜2組織：回火索氏體圖譜4組織：回火索氏體圖譜6組織：回火索氏體回火索氏體（或回火貝氏體）組織，無碳化物析出，但在顯微組織中保留有馬氏體或貝氏體位向。測定的硬度值無明顯變化（參見圖譜7～10圖譜7組織：回火索氏體（部分保留位向）圖譜9組織：回火索氏體（部分保留位向）A.33級組織圖譜8組織：回火索氏體（部分保留位向）圖譜10組織：回火索氏體（部分保留位向）回火索氏體（或回火貝氏體）組織，析出少量碳化物，其碳化物呈細條狀（參見圖譜11～13）。這時材料的沖擊功顯著下降，材料的韌性塑性降低，即材料脆化。而測定的硬度值仍無明顯變化；圖譜11組織：回火索氏體+晶界少量碳化物圖譜12組織：回火索氏體+晶界少量碳化物圖譜13組織：回火索氏體+晶界少量碳化物A.44級組織回火索氏體（或回火貝氏體）組織，碳化物出現(xiàn)聚集，其碳化物呈細粗條狀，且在回火索氏體基體上出現(xiàn)白色的塊狀鐵素體（參見圖譜14～18）。測定的硬度值明顯下降，即材料的強度明顯降低；圖譜14組織：回火索氏體（白色塊狀鐵素體增多及碳化物聚集成條狀）A.55級組織回火索氏體（或回火貝氏體）組織，碳化物出現(xiàn)球化，甚至完全球化，即碳化物呈粒狀、球狀（參見圖譜19～25球狀碳化物多沿晶界呈鏈狀分布。完全球化時回火索氏體組織變?yōu)殍F素體+球狀碳化物（參見圖譜26）。所測定的硬度值遠低于規(guī)定值，材料抗拉強度和屈服強度大大下降，已遠低于標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定值。圖譜23組織：碳化物球化（規(guī)范性附錄）在役超高壓水晶釜筒體超聲波檢測工藝指導(dǎo)書B.1總則B.1.1適用范圍本工藝指導(dǎo)書適用于內(nèi)徑Di≤400mm，容器外徑內(nèi)徑之比Z大于1.25的在役超高壓水晶釜筒體超聲波檢測，直探頭縱波，軸向超聲橫波檢測方法按NBT47013.3-2015執(zhí)行。B.1.1.1檢測人員無損檢測人員應(yīng)按照《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》要求取得超聲檢測的Ⅱ級或Ⅱ級以上資格，并具有壓力容器鍛件的無損檢測經(jīng)驗，檢測報告簽發(fā)應(yīng)當(dāng)取得Ⅲ級資格證書。B.2儀器、探頭、試塊與耦合劑B.2.1儀器B.2.1.1采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz～10MHz。B.2.1.2儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示，探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器,步進級每檔不大于2dB,其精度為任意相鄰12dB的誤差在±1dB以內(nèi),最大累計誤差不超過1dB。B.2.1.3水平線性誤差不大于1%，垂直線性誤差不大于5%。其余應(yīng)符合JB/T10061標(biāo)準(zhǔn)要求。B.2.1.4推薦采用帶曲面定位功能的數(shù)字超聲檢測儀進行檢驗。B.2.2探頭B.2.2.1橫波周向檢測采用斜探頭K值應(yīng)滿足：K≤r（R2-r2）-1/2，以保證檢測用波型的聲束中心線掃查到水晶釜內(nèi)壁，橫波軸向檢測采用斜探頭K1，晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2，且任一邊長原則上不大于25mm；縱波檢測推薦采用標(biāo)稱頻率為2～2.5MHz，晶片直徑為φ20~φ25mm的直探頭。必要時，也可使用其它頻率和尺寸的探頭。B.2.2.2橫波周向檢測用斜探頭楔塊應(yīng)磨弧，保證探頭與工件外表面吻合良好。B.2.2.3推薦使用的探頭類型表B.1探頭選用推薦表B.2.3超聲波探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能B.2.3.1在達到所探工件的最大檢測聲程時,其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。B.2.3.2儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于±10%。B.2.4試塊B.2.4.1橫波縱向檢測斜探頭試塊采用NB/T47013.3標(biāo)準(zhǔn)中CSK-IA試塊和縱向V形槽對比試塊，縱波直探頭試塊采用NB/T47013.3標(biāo)準(zhǔn)中CS試塊。B.2.4.2橫波斜探頭檢測專用對比試塊：a)在役超高壓水晶釜筒體橫波檢測V型校正槽的型式、分布及尺寸見圖B.1；b)圖B.1中（2δ+100）mm范圍區(qū)域為探頭校正掃查區(qū)，該區(qū)應(yīng)無臺階等影響探頭移動的結(jié)構(gòu)；c)試塊的材質(zhì)、熱處理組織狀態(tài)、規(guī)格尺寸、參數(shù)應(yīng)與被檢筒體相同或相似，并且軸向尺寸應(yīng)保 證為（2δ+100）mm。圖B.1超高壓水晶釜筒體橫波對比試塊V型校正槽示意圖注2：槽深范圍：t～t。當(dāng)-2t%﹤-0.03時，取-0.0B.2.4.3在役超高壓水晶釜筒體橫波檢測橫通孔,V型校正槽的型式、分布及尺寸見圖B.2。圖B.2超高壓水晶釜筒體橫波檢測橫通孔V型槽對比試塊注2：槽深范圍：t～t。當(dāng)-2t%﹤-0.03時，取-0.0注6：橫孔為φ2×50橫通孔，深度分別為20%T,40%T,60%T,80%T，對比試塊應(yīng)選取與被檢工件規(guī)格相同，材質(zhì)、B.2.5耦合劑采用20#～50#機油或其它符合標(biāo)準(zhǔn)要求的耦合劑。B.3檢測B.3.1檢測靈敏度校正B.3.1.1縱波直探頭檢測靈敏度校正：縱波直探頭檢測靈敏度為φ2mm平底孔當(dāng)量。靈敏度調(diào)節(jié)可用試塊（CS試塊）法，也可用AVG法。B.3.1.2橫波斜探頭V形槽檢測靈敏度校正：a)將橫波斜探頭置于專用對比試塊外圓表面，探測位于試樣內(nèi)表面的V型校正槽，調(diào)整增益或衰減器，使V型校正槽上的最大反射信號為80%滿刻度；b)不改變儀器的旋鈕，探測試樣外表面V型校正槽，找出外表面V型校正槽最大回波，在示波屏上記下兩槽反射波峰值點，用一直線連接該兩峰值點，該直線就作為橫波斜探頭檢測的DAC線或參考驗收線。掃查靈敏度為DAC+6dB。B.3.1.3橫波斜探頭橫通孔檢測靈敏度校正：a)使用對比試塊的橫通孔調(diào)整檢測靈敏度，使用相應(yīng)的檢測用波形，先從外圓面將探頭用直射法分別對準(zhǔn)試塊離外表面深度位置為10%，20%T,40%T,60%T,80%T的φ2×40橫通，記錄各個反射體的波幅值，將上述各點連接，繪出距離-波幅曲線（判廢線）作為缺陷驗收的判廢線。檢測時將判廢線提高8dB作為檢測基準(zhǔn)靈敏度(1/2DAC定量線）；b)V形槽檢測靈敏度為檢測基準(zhǔn)靈敏度，對V形槽比試塊發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷反射信號應(yīng)用橫通孔對比試塊靈敏度進行缺陷的指示長度、埋藏深度、自身高度、位置及波幅的測定，V形槽對比試塊和橫通孔對比試塊分別作為釜體表層部位和釜體內(nèi)部的缺陷定量檢測使用。B.3.1.4DAC線應(yīng)根據(jù)釜體實際表面狀況計入表面補償值。B.3.1.5為了發(fā)現(xiàn)運行過程中可能產(chǎn)生的小裂紋，掃查靈敏度應(yīng)提高到晶粒草狀回波高達5～10%滿刻度。B.3.2檢測時機及檢測表面要求釜體溫度應(yīng)降至常溫,檢測面（筒體外表面）應(yīng)經(jīng)打磨符合超聲檢測要求。B.3.3掃查方式B.3.3.1規(guī)定。B.3.3.2B.3.3.3橫波周向掃查時,應(yīng)從圓周面分別沿順時針和逆時針方向掃查,斜探頭K值應(yīng)符合B.2.2.1條的橫波軸向掃查采用斜探頭K1，應(yīng)先后沿180方向掃查。掃查時，探頭移動速度不應(yīng)超過100mm/s，掃查時相鄰兩次掃查應(yīng)相互重疊約為晶片尺寸的1圖a)橫波周向掃查示意圖圖b)橫波軸向掃查示意圖圖B.3橫波掃查示意圖B.3.4檢測部位與抽檢率釜體周向100%檢測，軸向30%檢測(螺紋部份除外)。對于釜體在制造過程中或上次定期檢驗中存在的記錄缺陷，應(yīng)采用縱波直探頭或橫波斜探頭檢測核實，確認缺陷是否擴展。B.3.5釜體底部臺階和退刀槽的檢測B.3.5.1釜體底部臺階和退刀槽的檢測采用K1探頭。B.3.5.2釜體底部臺階和退刀槽的檢測方法見附錄C。B.4缺陷記錄B.4.1記錄大于或等于1/2參考驗收線（DAC）的缺陷反射信號（指示長度、埋藏深度、自身高度、位置及波幅缺陷指示長度和高度按6dB法和端點6dB法測定，當(dāng)相鄰兩個缺陷間距小于或等于25mm時，按單個缺陷處理（中間間距不計）。B.4.2對V形槽檢測發(fā)現(xiàn)的釜體內(nèi)部缺陷應(yīng)根據(jù)橫通孔深度校核靈敏度確定缺陷的深度，當(dāng)量，位置等信息,并根據(jù)對比試塊的校準(zhǔn)結(jié)果確定缺陷的深度位置，從圓周面順時針和逆時針兩個方向進行掃查分別確定缺陷的弧長度，采用對稱定位法確定缺陷的具體位置。B.4.3對于內(nèi)表面的反射信號應(yīng)采用內(nèi)窺鏡或其它有效的其他方法進行驗證。B.5質(zhì)量評級B.5.1判定為裂紋缺陷的反射信號不允許存在。B.5.2釜體內(nèi)外表面20mm范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)的反射信號按V形槽對比試塊校正靈敏度進行評定，釜體內(nèi)外表面20mm范圍以外直射波發(fā)現(xiàn)的反射信號按橫通孔對比試塊校正靈敏度進行評定，并按直探頭檢測來確定缺陷的邊界范圍。B.5.3縱波直探頭檢測結(jié)果，應(yīng)符合NB/T47013.3的要求。B.5.4橫波斜探頭檢測:a)大于或等于參考驗收線（DAC）的缺陷反射信號的質(zhì)量等級評為Ⅲ級；b)單個缺陷指示長度最大不得超過30mm。注：相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的缺陷長度時，應(yīng)c)波幅在距離-波幅曲線50%-100%的缺陷按表分級：表B.2超高壓水晶釜筒體超聲波檢測質(zhì)量分級ⅠⅡⅢB.6檢測報告及原始記錄檢測過程中應(yīng)認真做好記錄，檢測完畢后，及時出具檢測報告，檢測報告應(yīng)當(dāng)由取得UT-Ⅲ級資格證書者復(fù)核后簽發(fā)。（規(guī)范性附錄）在役超高壓水晶釜底部臺階及退刀槽超聲波檢測工藝指導(dǎo)書C.1檢測范圍本附錄規(guī)定了超高壓水晶釜底部臺階及退刀槽的超聲波檢測方法。超高壓水晶釜底部臺階及退刀槽結(jié)構(gòu)如圖C.1所示，通過幾何測量，在筒體外表面標(biāo)記出退刀槽和臺階的位置。C.2探頭選擇推薦使用頻率2.5MHz、K1斜探頭。C.3靈敏度調(diào)節(jié)C.3.1首先從釜體上部向釜底方向掃查（圖C.1中探頭位置1分別找出退刀槽和臺階的最大反射回波，在儀器屏幕上確認其位置。C.3.2提高增益，把對應(yīng)退刀槽或臺階處的儀器雜波信號調(diào)至滿刻度的5以此作為檢測靈敏度。C.4裂紋檢測C.4.1退刀槽處裂紋檢測從釜底向釜體上部方向掃查（圖C.1中探頭位置2若出現(xiàn)來自螺紋以外的反射信號，應(yīng)采用周向移動探頭等方法進行確認，若信號反射位置為退刀槽尖角處，則按檢測不合格處理。C.4.2臺階處裂紋檢測從釜底向釜體上部方向掃查（圖C.1中探頭位置2若出現(xiàn)反射信號，應(yīng)采用周向移動探頭等方法進行確認，若信號反射位置為臺階尖角處，則按檢測不合格處理。位置2位置1圖C.1超高壓水晶釜底部臺階及退刀槽結(jié)構(gòu)示意（規(guī)范性附錄）在役超高壓水晶釜磁粉檢測工藝指導(dǎo)書D.1總則D.1.1適用范圍本工藝指導(dǎo)書適用于在役超高壓水晶釜現(xiàn)場釜體及受壓部件螺紋磁粉檢測。D.1.2檢測人員無損檢測人員應(yīng)按照《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》要求取得磁粉檢測的Ⅱ級或Ⅱ級以上資格。D.2器材及檢測參數(shù)D.2.1D.2.2D.2.3D.2.4D.2.5D.2.6a)b)D.2.7儀器型號：采用磁粉檢測儀，其性能應(yīng)符合NB/T47013.4的規(guī)定。檢測方法：交叉磁軛法、磁軛法。磁化通電方式：連續(xù)法、濕法。磁化電流：交流電磁化方向：對被檢部位的每一區(qū)域應(yīng)進行相互垂直的兩次磁化。磁化規(guī)范:交流電磁軛至少應(yīng)有45N的提升力；交叉磁軛至少應(yīng)有118N的提升力（磁極與試件表面間隙為0.5mm）；D.2.6.2采用NB/T47013.4的靈敏度試片A1－30／100,A1-15/100或7/50靈敏度試片校驗。磁化通電時間及施加磁懸液：采用連續(xù)法時，被檢部位的磁化、施加磁懸液的工藝及觀察磁痕顯示都應(yīng)在磁化通電時間內(nèi)完成，通電時間為1～3秒，停施磁懸液至少1s后方可停止磁化。為保證磁化效果應(yīng)至少反復(fù)磁化兩次。D.2.8磁軛磁極間距：磁軛磁極間距為75～200mm。D.2.9磁懸液施加方式：采用噴灑法。D.2.10磁懸液種類：磁膏加水或其它標(biāo)準(zhǔn)要求的配置方法。D.2.11磁懸液濃度：磁懸液配制濃度為10～25g/L；磁懸液沉淀濃度（含固體量）為1.2～2.4mL/100mL。D.2.12反差增強劑：選用白色反差增強劑。D.2.13磁粉（膏）、磁懸液、靈敏度試片、磁粉檢測反差增強劑等，應(yīng)有質(zhì)量證明書（合格證）。D.3表面準(zhǔn)備被檢工件表面應(yīng)徹底去除污垢、油污，100%露出金屬基體，再擦洗干凈，特別是螺紋溝槽處。D.4檢測操作D.4.1待被檢表面處理完畢并干燥后，噴涂反差增強劑，待反差增強劑完全干燥后方可進行檢測。D.4.2檢測系統(tǒng)靈敏度校驗：將A1-30/100試片置于螺紋溝槽處（或釜體表面按實際檢測時噴灑磁懸液的方式噴灑磁懸液。A1-30/100試片磁痕顯示清晰，方可進行檢測。D.4.3每一區(qū)域進行磁力線相互垂直的兩個方向磁化，磁化區(qū)域每次應(yīng)有不少于15mm重迭區(qū)域。D.5檢測部位超高壓水晶釜釜體螺紋及相關(guān)受壓部件螺紋100%、釜體外表面30%抽查（抽查部位由釜體底部向上）、所有測溫孔及釜體外表面修磨處100%，釜頂端口內(nèi)表面臺階處100%。D.6磁痕辯認及缺陷磁痕評定D.6.1區(qū)分相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示和偽顯示。D.6.2缺陷磁痕顯示：a)不允許有裂紋、白點、氣孔和折皺等缺陷存在；b)不允許存在長度大于2mm的線性缺陷或者直徑大于4mm的圓形缺陷（注：線性缺陷：是指長度與寬度之比大于3的缺陷磁痕；圓形缺陷：是指長度與寬度之比不大于3的缺陷磁痕）；c)非相關(guān)顯示、偽顯示可不記錄。（規(guī)范性附錄）在役超高壓水晶釜筒體橫波對比試塊E.1超高壓水晶釜筒體橫波檢測V型校正槽專用對比試塊E.1.1在役超高壓水晶釜筒體橫波檢測V型校正槽的型式、分布及尺寸見圖E.1。E.1.2圖E.1中（2δ+100）mm范圍區(qū)域為探頭校正掃查區(qū)，該區(qū)應(yīng)無臺階等影響探頭移動的結(jié)構(gòu)。E.1.3試塊的材質(zhì)、熱處理組織狀態(tài)、尺寸、參數(shù)應(yīng)與被檢筒體相同或相似，并且軸向尺寸應(yīng)保證為（2δ+100）mm。注2：槽深范圍：t～t。當(dāng)-2t%﹤-0.03時，取-0.0圖E.1超高壓水晶釜筒體橫波對比試塊V型校正槽示意圖E.2超高壓水晶釜筒體橫波檢測橫通孔V型校正槽對比試塊在役超高壓水晶釜筒體橫波檢測橫通孔，V形槽校正槽的型式、分布及尺寸見圖E.2。圖E.2超高壓水晶釜筒體橫波檢測橫通孔V型槽對比試塊注2：槽深范圍：t～t。當(dāng)-2t%﹤-0.03時，取-0.0對比試塊應(yīng)選取與被檢工件規(guī)格相同，材質(zhì)、熱處理組織狀態(tài)和表面狀況相同或相似的筒形件制備，對比試塊不得有大于或等于φ2mm當(dāng)量的自然缺陷，試塊寬度為50mm。（規(guī)范性附錄）在役超高壓水晶釜衍射時差法超聲檢測工藝指導(dǎo)書F.1范圍本工藝指導(dǎo)書適用于外徑內(nèi)徑之比大于1.25整體鍛造的在役超高壓水晶釜釜體的衍射時差法超聲檢測（以下簡稱“TOFD”）檢測。F.2一般規(guī)定F.2.1檢測人員F.2.1.1從事TOFD檢測的人員應(yīng)當(dāng)按照相關(guān)安全技術(shù)規(guī)范要求，獲得特種設(shè)備無損檢測人員超聲檢測TOFD專項資格，方可從事相應(yīng)資格等級規(guī)定的檢測工作，并負相應(yīng)技術(shù)責(zé)任。F.2.1.2TOFD檢測人員應(yīng)熟悉所使用的TOFD檢測設(shè)備器材。F.2.1.3應(yīng)由TOFD檢測專項資質(zhì)II級及以上人員編寫檢測工藝、數(shù)據(jù)分析、判讀TOFD圖像。F.2.2檢測設(shè)備F.2.2.1檢測設(shè)備性能指標(biāo)應(yīng)滿足NB/T47013.10附錄B（規(guī)范性附錄）的要求。F.2.2.2檢測人員在實際檢測時應(yīng)根據(jù)被檢工件的結(jié)構(gòu)形式和壁厚等要求選擇合適的掃查裝置實施檢測。F.2.3檢測條件F.2.3.1水晶釜檢測表面應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測表面應(yīng)平整光滑，便于探頭的移動，探頭移動區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)，其表面粗糙度Ra≤6.3um。F.2.3.2在探頭和檢測面之間，應(yīng)選用機油等透聲性好且不損傷檢測表面的耦合劑。F.2.3.3探頭夾持部分能調(diào)整和設(shè)置探頭中心間距，在掃查時保持探頭中心間距和相對角度不變；導(dǎo)向部分應(yīng)能在掃查時使探頭運動軌跡與擬掃查線保持不變。F.3檢測實施本工藝指導(dǎo)書主要用于檢測釜體中的縱向缺陷，周向缺陷的檢測工藝與平板對接焊縫的TOFD檢測工藝一致。F.3.1檢測區(qū)域根據(jù)檢測區(qū)域和探頭設(shè)置確定的掃查路徑在檢測前應(yīng)在釜體上予以標(biāo)記，標(biāo)記內(nèi)容至少包括掃查起始點和掃查方向（有缺陷顯示時，應(yīng)在缺陷中心線位置畫出平行于釜體軸向中心線的一條參考線，以確保探頭的運動軌跡）。F.3.2探頭、楔塊的選取和PCS設(shè)置F.3.2.1探頭選取包括探頭型式、參數(shù)的選擇。TOFD檢測一般選擇寬角度縱波斜探頭，對于每一組探頭對的兩個探頭，其標(biāo)稱頻率應(yīng)相同，聲束角度和晶片直徑宜相同。F.3.2.2檢測釜體內(nèi)部缺陷時，根據(jù)缺陷的深度值按照圖F.1的規(guī)定選擇探頭和楔塊，PCS按探頭發(fā)射的聲波主聲束交點接近于缺陷位置來確定。F.3.2.3檢測內(nèi)表面縱向缺陷時，應(yīng)使探頭發(fā)射的聲波主聲束交點位于內(nèi)表面附近，按照圖F.1的規(guī)定選擇探頭和楔塊,PCS按探頭發(fā)射的聲波主聲束交點位于內(nèi)表面位置來確定。圖F.1超高壓水晶釜TOFD檢測探頭推薦性選擇和設(shè)置F.3.2.4當(dāng)缺陷深度t≤50mm時，可采用一組探頭對檢測；當(dāng)缺陷深度t＞50mm時，應(yīng)在厚度方向分若干區(qū)域進行檢測，也可調(diào)整PCS值，采用一組探頭對缺陷進行檢測。F.3.3靈敏度校準(zhǔn)試塊F.3.3.1制作試塊所用材質(zhì)、熱處理工藝、表面粗糙度和內(nèi)外徑尺寸應(yīng)與被檢超高壓水晶釜基本相同，不得有影響人工缺陷正常顯示的缺陷。圖F.2超高壓水晶釜TOFD檢測靈敏度校準(zhǔn)試塊F.3.3.2試塊規(guī)格如圖F.2，在筒體內(nèi)外表面各加工一個60°V型槽，槽長20mm，槽深為2mm。F.3.3.3試塊加工應(yīng)符合GB23905標(biāo)準(zhǔn)要求。F.3.4檢測系統(tǒng)設(shè)置和校準(zhǔn)F.3.4.1A掃描時間窗口設(shè)置和深度校準(zhǔn)。F.3.4.2檢測前應(yīng)采用圖F.2所示校準(zhǔn)試塊根據(jù)缺陷深度設(shè)置A掃描時間窗口和深度校準(zhǔn)，具體設(shè)置和校準(zhǔn)方法按NB/T47013.10中5.10條執(zhí)行。F.3.5靈敏度設(shè)置用圖F.2所示校準(zhǔn)試塊根據(jù)缺陷深度根據(jù)校準(zhǔn)塊上的反射體設(shè)置靈敏度，需要將較弱的衍射信號波幅設(shè)置為滿屏高的40～80%，并在實際工件表面掃查時進行表面耦合補償。F.3.6檢測F.3.6.1對已知缺陷的掃查方式一般采用非平行掃查，探頭對稱布置于缺陷兩側(cè)沿釜體軸向方向運動。F.3.6.2檢測時探頭相對于水晶釜的掃查速度不應(yīng)超過150㎜/s。F.4缺陷評定F.4.1評定內(nèi)容包括缺陷深度、缺陷長度、缺陷高度以及缺陷的類型（點狀缺陷、條狀缺陷）。F.4.2不允許危害性表面開口缺陷和裂紋類缺陷的存在。F.4.3質(zhì)量安全等級評定按NB/T47013.10第8條進行；安全狀況等級評定按本規(guī)程第7.8條進行。F.5檢測記錄和報告內(nèi)容檢測記錄和報告至少應(yīng)包括以下內(nèi)容:a)委托單位；b)被檢工件：名稱、編號、規(guī)格、材質(zhì)、坡口型式、焊接方法和熱處理狀況；c)檢測設(shè)備：儀器、探頭（探頭種類、頻率、角度、晶片尺寸等參數(shù)）、試塊、耦合劑；d)檢測工藝：探頭布置、檢測設(shè)置、校準(zhǔn)方法、掃查方式、定位裝置；e)檢測部位、檢測區(qū)域及相關(guān)顯示的類型、位置、尺寸和分布應(yīng)在草圖上予以標(biāo)明；f)檢測數(shù)據(jù)：數(shù)據(jù)文件名稱、缺欠位置與尺寸及缺欠部位TOFD圖像；g)檢測數(shù)據(jù)分析及結(jié)論；h)檢測人員和責(zé)任人員簽字及其技術(shù)資格；i)檢測日期、、報告日期。（規(guī)范性附錄）在役超高壓水晶釜筒體相控陣超聲檢測工藝指導(dǎo)書G.1總則G.1.1適用范圍本文件適用于內(nèi)徑Di≤400mm，容器外徑內(nèi)徑之比Z大于1.25的在役超高壓水晶釜筒體斜入射法相控陣超聲檢測。G.1.2檢測人員檢測人員一般應(yīng)符合NB/T47013.1的規(guī)定，須取得特種設(shè)備行業(yè)超聲波Ⅱ(中)級及以上資格證書，熟悉相控陣超聲設(shè)備的使用、調(diào)試和結(jié)果評定。G.2設(shè)備和器材G.2.1相控陣超聲儀器應(yīng)當(dāng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或制造廠出具的合格文件，具有超聲波發(fā)射、接收、放大、數(shù)據(jù)自動采集、記錄、顯示和分析功能，且其性能應(yīng)滿足GB/T32563第6.2條的要求。相控陣儀器性能應(yīng)定期進行校準(zhǔn)，校準(zhǔn)周期由使用單位決定。G.2.2探頭及楔塊探頭中心頻率范圍一般為2.5MHz～5MHz，陣元數(shù)一般為32或以上，性能指標(biāo)應(yīng)滿足GB/T32563第6.4條的要求。楔塊應(yīng)采用曲面楔塊，使其與檢測面相吻合。G.2.3試塊分為標(biāo)準(zhǔn)試塊和對比試塊，試塊應(yīng)采用與被檢測工件聲學(xué)性能相同或相似的材料制成。試塊的材料用直探頭檢測時，不得出現(xiàn)大于Φ2mm平底孔回波幅度1/4的缺陷信號。試塊的制作要求應(yīng)符合GB/T23905的規(guī)定。G.2.3.1標(biāo)準(zhǔn)試塊用于評定和校準(zhǔn)相控陣超聲檢測設(shè)備，即用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)的試塊，本文件采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為CSK-ⅠA試塊和聲束控制評定試塊。CSK-ⅠA試塊具體形狀、尺寸見NB/T47013.3，聲束控制評定試塊見圖G.1。G.2.3.2對比試塊對比試塊是用以調(diào)節(jié)超聲檢測設(shè)備的幅度和聲程，以將所檢出的缺陷信號與已知反射體所產(chǎn)生的信號相比較，即用于檢測校準(zhǔn)的試塊。本文件采用的對比試塊為CSK-ⅡA系列、RB-C試塊和橫通孔V型槽對比試塊。CSK-ⅡA系列試塊和RB-C試塊具體形狀、尺寸見NB/T47013.3，橫通孔V型槽對比試塊見圖G.2。圖G.1聲束控制評定試塊圖G.2超高壓水晶釜筒體橫波檢測橫通孔V型槽對比試塊G.2.4耦合劑應(yīng)采用透聲性較好且不損傷被檢件表面的耦合劑，如機油、甘油等，實際檢測采用的耦合劑應(yīng)與檢測系統(tǒng)設(shè)置和校準(zhǔn)時的耦合劑相同。G.3檢測實施G.3.1掃查方式和掃描方式的選擇推薦采用沿線掃查+扇掃描的方式，根據(jù)現(xiàn)場情況也可選用其他方式。G.3.2顯示方式一般應(yīng)采用按實際幾何結(jié)構(gòu)顯示成像的方式，根據(jù)聚焦法則的參數(shù)，用相控陣超聲檢測設(shè)備中的理論模擬軟件進行演示，通過調(diào)整聲束角度和探頭位置等，使所選用的檢測聲束完全覆蓋檢測區(qū)域。G.3.3掃查速度采用沿線掃查時應(yīng)保證掃查速度小于或等于最大掃查速度vmax，同時應(yīng)保證耦合效果和數(shù)據(jù)采集的要求。最大掃查速度按下式計算：式中：νmax——最大掃查速度，mm/s；PRF——脈沖重復(fù)頻率，Hz；PRF<c/2S；c—聲速，mm/s；S—最大檢測聲程，mm。N——設(shè)置的信號平均次數(shù)；M——延遲法則的數(shù)量（如扇掃描時，角度范圍為40°~70°,角度步進為1°,則M=31；線掃描時，總體晶片數(shù)量64個，激發(fā)晶片數(shù)量16個，掃查步進為1，則M=49）；△X——設(shè)置的掃查步進值，mm。G.3.4掃查覆蓋扇掃描所使用的聲束角度步進最大值為1°或能保證相鄰聲束重疊至少為50%，掃查步進最大值ΔXmax為1.0mm。G.3.5聚焦法則根據(jù)所采用的掃查方式確定，設(shè)置時應(yīng)考慮如下因素：a)陣元參數(shù)：標(biāo)稱頻率、陣元數(shù)量、陣元寬度、陣元間隙及陣元高度；b)楔塊參數(shù)：楔塊尺寸、楔塊角度及楔塊聲速；c)陣元數(shù)量：設(shè)定延遲法則使用的陣元數(shù)量，一般為32或以上；d)陣元位置：設(shè)定激發(fā)陣元的起始位置；e)角度參數(shù)：設(shè)定在工件中所用聲束的固定角度、聲束的角度范圍，確保聲束能覆蓋檢測區(qū)域；f)距離參數(shù)：設(shè)定在工件中的聲程或深度；g)聲速參數(shù)：設(shè)定在工件中的聲速，例如橫波聲速、縱波聲速；h)工件厚度：設(shè)定被檢件的厚度；i)探頭位置：設(shè)定探頭前端距或掃查起始位置；j)采用聚焦聲束檢測時，聚焦深度可以設(shè)置在最大聲程處。在對缺陷進行精確定量時，可將焦點設(shè)置在缺陷區(qū)域以提高靈敏度和分辨力。G.3.6靈敏度設(shè)置本文件周向掃查時采用橫通孔V型槽對比試塊制作靈敏度曲線，軸向掃查時采用RB-C試塊?？蛇x用TCG和DAC兩種方式設(shè)置靈敏度。在整個檢測范圍內(nèi)，靈敏度曲線不得低于熒光屏滿刻度的20%。當(dāng)采用扇掃描時，為避免角度靈敏度差異，應(yīng)進行ACG修正，可采用在CSK-ⅠA試塊上進行。G.3.6.1DAC曲線制作方法根據(jù)理論模擬軟件演示結(jié)果來確定所采用的制作DAC曲線的角度，該角度對于扇掃描一般選在接近扇掃描角度范圍內(nèi)的中間角度，將聚焦深度設(shè)置在所采用的最大檢測聲程的位置。將相控陣探頭放在試塊上所選擇的第一個基準(zhǔn)孔（10%T孔）上，移動探頭找到該反射體最大波，“調(diào)節(jié)增益”，使第一基準(zhǔn)孔的反射波為熒光屏滿幅度的80%(±5%），該波高為基準(zhǔn)波高，記錄該反射體的波高；然后保持靈敏度不變，依次探測其他反射體（20%T,40%T,60%T,80%Tφ2×40橫通孔和內(nèi)表面V形槽），找到最大波高，并記錄各反射體的最大波高；將記錄的不同深度的反射體及其對應(yīng)的最大波高連接起來，即成為周向檢測DAC曲線。G.3.6.2TCG曲線制作方法G.3.6.2.1確定扇掃描角度范圍，然后將聚焦深度設(shè)置在最大檢測聲程的位置。將探頭放在第一個基準(zhǔn)孔（10%T孔）上，找到最大波高，調(diào)節(jié)增益，使其達到滿屏高度的70%，移動探頭使扇掃描角度范圍內(nèi)的每個角度都要掃查到該反射體，此時形成一個幅度的包絡(luò)線，該包絡(luò)線不能有超過滿屏高度100%的信號，也不能有低于滿屏高度0%的信號。完成后，點擊增加點（20%T,40%T,60%T,80%Tφ2×40橫通孔和內(nèi)表面V形槽然后再次在試塊上移動探頭，會出現(xiàn)一個幅度的包絡(luò)線，該包絡(luò)線的波高應(yīng)在滿屏高度的80%±5%。若包絡(luò)線的波高超出滿屏高度的80%±5%的范圍，則刪除該點重新制作。若符合要求，依次進入下一點的制作，直到最后一點制作完畢，確定并形成TCG曲線。G.3.6.2.2同理采用RB-C試塊可以制作軸向檢測DAC和TCG曲線。G.3.6.3DAC或TCG曲線靈敏度選擇以DAC或TCG曲線(φ2×40橫通孔和內(nèi)表面V形槽）作為缺陷驗收的判廢線。檢測時將判廢線提高6dB作為掃查靈敏度。G.4質(zhì)量評級G.4.1判定反射信號為白點、裂紋等危害性缺陷不允許存在；G.4.2缺陷波幅大于或等于參考驗收線（DAC或TCG曲線）的質(zhì)量等級評為Ⅲ級；G.4.3波幅在距離-波幅曲線50%-100%的缺陷按表G.1分級。表G.1超高壓水晶釜筒體相控陣超聲檢測質(zhì)量分級ⅠⅡⅢ（規(guī)范性附錄）在役超高壓水晶釜筒體聲發(fā)射檢測工藝指導(dǎo)書H.1總則H.1.1適用范圍本細則適用于設(shè)計壓力大于或等于100MPa，且內(nèi)直徑小于或等于400mm的在役超高壓水晶釜定期檢驗中的耐壓試驗的活性缺陷的聲發(fā)射檢測。H.1.2聲發(fā)射檢測人員從事聲發(fā)射檢測工作的人員應(yīng)當(dāng)按《特種設(shè)備無損檢測人員考核規(guī)則》進行考核，取得國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局（以下稱國家質(zhì)檢總局）統(tǒng)一頒發(fā)的聲發(fā)射檢測Ⅱ級及以上級別資格。取得聲發(fā)射檢測Ⅰ級人員可在聲發(fā)射檢測Ⅱ級及以上級別人員的指導(dǎo)下參與作業(yè)。H.2聲發(fā)射儀器H.2.1傳感器傳感器的響應(yīng)頻率推薦在100kHz~400kHz范圍內(nèi),其靈敏度不小于60dB[表面波聲場?；?相對于1V/（m?s－1）]或-77dB〔縱波聲場校準(zhǔn),相對于IV/μbar〕.當(dāng)選用其他頻帶范圍內(nèi)的傳感器時,應(yīng)考慮靈敏度的變化,以確保所選頻帶范圍內(nèi)有足夠的接收靈釹度。應(yīng)能屏蔽無線電波或電磁噪聲干擾。傳感器在響應(yīng)頻率和工作溫度范圍內(nèi)靈敏度變化應(yīng)不大于3dC.傳感器與被檢件表面之間應(yīng)保持電絕緣。H.2.2信號電纜前置放大器到系統(tǒng)主機之間的信號電纜應(yīng)能屏蔽電磁噪聲干擾。信號電纜衰減損失應(yīng)小于1dB/30m.信號電纜長度不宜超過150m。H.2.3系統(tǒng)主機H.2.3.1聲發(fā)射系統(tǒng)主機應(yīng)有覆蓋檢驗區(qū)域的足夠通道數(shù),應(yīng)至少能實時顯示和存儲聲發(fā)射信號的參數(shù)（包括到達時間、門檻、幅度、振鈴計數(shù)、能量、上升時間、持續(xù)時間、撞擊數(shù)),宜具有接收和記錄壓力、溫度等外部電信號的功能。H.2.3.2H.2.3.3H.2.3.4H.2.3.5各個通道的獨立采樣頻率應(yīng)不低于傳感器響應(yīng)頻率中心點頻率的10倍。門檻精度控制在±1dB的范圍內(nèi)。聲發(fā)射信號計數(shù)測量值的精度應(yīng)在±5%范圍內(nèi)。從信號撞擊開始算起10s之內(nèi)，聲發(fā)射系統(tǒng)應(yīng)對每個通道具有采集、處理、記錄和顯示不少于每秒20個聲發(fā)射撞擊信號的短時處理能力；當(dāng)連續(xù)監(jiān)測時，聲發(fā)射系統(tǒng)對每個通道在采集、處理、記錄和顯示過程中應(yīng)具有處理不少于每秒10人聲發(fā)射撞擊信號的能力。當(dāng)出現(xiàn)大量數(shù)據(jù)以致發(fā)生堵塞情況，系統(tǒng)應(yīng)能發(fā)出報警信號。H.2.3.6峰值幅度測量值的精度應(yīng)在±2dB范圍內(nèi)，同時要滿足信號不失真的動態(tài)范圍不低于65dB。H.2.3.7能量測量值的精度應(yīng)在±5%范圍內(nèi)。H.2.3.8時差定位聲發(fā)射檢測系統(tǒng)，每個通道的上升時間、持續(xù)時間和到達時間的分辨率應(yīng)不大于0.25μs，精度應(yīng)在±1μs范圍內(nèi)，各通道之間的誤差應(yīng)不大于平均值的±3μs。H.2.3.9系統(tǒng)測量外接參數(shù)電壓值的精度應(yīng)不低于滿量程的2%。H.2.3.10聲發(fā)射采集軟件應(yīng)能實時顯示聲發(fā)射信號的參數(shù)、聲發(fā)射信號參數(shù)之間和參數(shù)隨壓力或時間的關(guān)聯(lián)圖，以及聲發(fā)射定位源的線定位和平面定位圖，實時顯示的滯后時間應(yīng)不超過5s。H.2.3.11聲發(fā)射分析軟件應(yīng)能回放原始聲發(fā)射檢測數(shù)據(jù)，并能根據(jù)重新設(shè)定的條件對聲發(fā)射檢測數(shù)據(jù)進行濾波、定位、關(guān)聯(lián)和識別等分析處理。H.2.4耦合劑耦合劑應(yīng)能在試驗期間內(nèi)保持良好的聲耦合效果。應(yīng)根據(jù)設(shè)備壁溫選用無氣泡、黏度適宜的耦合劑?？蛇x用真空脂、凡士林及黃油。H.3檢測實施H.3.1傳感器陣列的確定根據(jù)被檢水晶釜幾何尺寸的大小以及檢測部位的要求，確定傳感器布置的陳列。其中水晶釜聲發(fā)射檢測所需傳感器數(shù)量，取決于水晶釜大小和所選傳感器間距。水晶釜的檢測中傳感器間距一般約為300~1500mm。H.3.2傳感器的安裝傳感器的安裝應(yīng)滿足如下要求：a)按照確定的傳感器陳列在水晶釜上確定傳感器安裝的具體位置。傳感器的安裝部位盡量遠離支座、墊板部位；局部檢測時，水晶釜被檢測部位應(yīng)盡量位于傳感器陳列中間；b)對傳感器的安裝部位進行表面處理，使其表面平整并露出金屬光澤；c)在傳感器的安裝部位涂上耦合劑，耦合劑應(yīng)采用聲耦合性能良好的材料，推薦采用真空脂、凡士林、黃油等材料，選用耦合劑的使用溫度等級應(yīng)與被檢件設(shè)備表面溫度相匹配。d)將傳感器壓在水晶釜的表面，使傳感器與水晶釜表面達到良好的聲耦合狀態(tài)。e)采用磁夾具方式將傳感器牢固固定在水晶釜上,并保持傳感器與水晶釜和固定裝置的絕緣；H.3.3檢測校準(zhǔn)H.3.3.1模擬源用模擬源來測試檢測靈敏度和校準(zhǔn)定位。模擬源可以采用聲發(fā)射信號發(fā)生器作為模擬源，也可以采用Φ0.3mm，硬度為2H的鉛筆芯折斷信號作為模擬源。鉛芯伸出長度約為2.5mm，與被檢件表面的夾角為30°左右，離傳感器中心100(±5）mm處折斷。其響應(yīng)幅度值應(yīng)取三次以上響應(yīng)平均值。H.3.3.2通道靈敏度測試在檢測開始之前和結(jié)束之后應(yīng)進行通道靈敏度的測試。要求對每一個通道進行模擬源聲發(fā)射幅度值響應(yīng)測試，每個通道響應(yīng)的幅度值與所有通道的平均幅度值之差應(yīng)不大于±4dB。H.3.3.3衰減測量應(yīng)進行與聲發(fā)射檢測條件相同的衰減特性測量。衰減測量應(yīng)選擇遠離結(jié)構(gòu)不連續(xù)的部位，使用模擬源進行測量。如果已有檢測條件相同的衰減特性數(shù)據(jù)，可不再進行衰減特性測量，但應(yīng)把該衰減特性數(shù)據(jù)在本次檢驗記錄和報告中注明。H.3.3.4定位校準(zhǔn)H.3.3.4.1采用計算定位時，在被檢水晶釜上傳感器陣列的任何部位，聲發(fā)射模擬源產(chǎn)生的彈性波至少能被該定位陣列收到，并得到唯一定位結(jié)果，定位部位與理論位置的偏差不超過該傳感器陣列中最大傳感器間距±5%。H.3.3.4.2采用區(qū)域定位時