1光熱透鏡法弱吸收率測試儀本文件給出了光熱透鏡法弱吸收率測試儀（PLI）的原理、要求、試驗方法、檢驗標準、標志、下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用則GB/T25480-2010儀器儀表運GB/T25915.1-2021潔凈室及相關受控環(huán)境第1GB/T29252-2012實驗室儀器和RB/T047-2020檢驗檢測機構(gòu)管理和技術(shù)能力評價設施和環(huán)ISO23701:2023Opticsandphotonics—Lasforabsorptionmeasurementandmappingofoptical3.1光熱透鏡法弱吸收率測試儀Photothermal-LensingAbsorptionMeasuringInstr測量的吸收（3.1）/吸收率（3.2）與樣用相同的方法、相同的式樣，在相同的條件下測得的一系列結(jié)果之間的一致程度，用相對標準體內(nèi)折射率梯度分布，形成熱透鏡效應。同時用另一束探測激光照射在樣品同一區(qū)域時，探測激光透射構(gòu)型的光熱透鏡法弱吸收率測試儀使泵浦光束與探測光束圖1透射式PLI光路圖a)泵浦光路系統(tǒng)、探測光路系統(tǒng)、樣品位移平臺、光電探測系統(tǒng)；b)設定PLI控制單元中的各項控制參數(shù)：激光參數(shù)、運動掃描參數(shù)、校驗參數(shù)；d)儀器校準和故障診斷測試；4b)功率通過衰減器可連續(xù)調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)過程光斑輪廓不改變，使熱變形引起的光熱信號被探測c)光路中的功率計在長時間掃描測量過程實時監(jiān)控激光功率；d)泵浦光斑聚焦尺寸根據(jù)掃描測量區(qū)域大小、吸收掃描測量的空間分辨率和光熱信號信噪比c)探測光斑在被測樣品表面或內(nèi)部鎖相放大器的頻率應與泵浦光束的調(diào)制頻率設置一致，時間常數(shù)根據(jù)時間分辨率要求和光熱信儀器穩(wěn)定性用極差RR表示，即測量過程最大值與最小值的差與平均值之比。R5.8儀器外觀b)噴漆或噴塑表面應色澤均勻，不應有明顯吸收儀在包裝狀態(tài)下，貯存地點及周圍環(huán)境不應有腐蝕性氣體，環(huán)境溫度、空氣相對濕度符合b)實驗前儀器配置激光器應開機至少預熱30min，保持輸出穩(wěn)定；泵浦激光校準。泵浦光束與探測光束調(diào)至同一高度，泵浦光束與探測與被測樣品相同實驗條件下，重復5次測量標片，結(jié)果取平均值，與標稱吸收通過電控掃描平移臺控制被測樣品的位置。在控制軟件中設置被測樣品的掃描測量區(qū)域和分布代表了被測樣品的吸收分布。對標片進行校準后，用已知絕對吸收率值的標片對光S=?I∕IDC IDC表示探測光的直流量A0標片吸收率6N)2(NN)2RSD= i=1RSD=N測量次數(shù)； N測量過程中的測量結(jié)果平均值。b)正式生產(chǎn)后，如結(jié)構(gòu)、材料、工藝有g(shù))用戶提出進行型式檢驗的要求時。表1PLI出廠檢驗和型式檢驗序號項目對應條款檢驗方案出廠檢驗型式檢驗1重復性（RSD）.42穩(wěn)定性（RR）.53安全防護5.84儀器外觀5.95儀器成套性5.10每臺吸收儀應在主機外殼的明顯位置固定銘牌(標志)，其內(nèi)容包括下8.2.1儀器包裝應符合GB/T13384中防潮吸收儀在包裝狀態(tài)下，貯存地點及周圍環(huán)境不應有腐蝕性氣體，環(huán)境溫度、空氣相對濕度符合GB/T25480-2010第3章的規(guī)定。室內(nèi)保持空氣流通，地面干凈。在用戶遵守保管和使用原則的條件下，儀器自發(fā)貨之日起12個月內(nèi)，因制造質(zhì)量不良而不能正[5]RB∕T047-2020檢驗檢測[7]GB/T25915.1-202techniqueforabsorptionmeasurementandmappingofopticallasercomponents[13]GB/T25480-2010儀器儀表運輸、貯存基本[15]李斌成,王靜,RISTAUDetlev.激光薄膜特性參數(shù)測試方法標準化進展(特邀)[J].光子學報,2022,51(9):10.[16]AlexandrovskiA,FejerM,MarkosianA,etal.Photothermalcommon-pathinterferometry(PCnewdevelopments[J].ProceedingsofSPIE-TheInternational2009,7193.DOI:10.1117/12.81[17]胡海洋,范正修,趙強.表面熱透鏡技術(shù)探測光學薄膜的微弱吸收[J].光學學報,2001,21(2):5.DOI:10.3321/