標準解讀

《GB/T 43774-2024 平板顯示器基板玻璃應力測試 點掃描法》是一項國家標準,旨在為平板顯示器基板玻璃中的應力測量提供一種基于點掃描的方法。該標準詳細規(guī)定了使用點掃描技術對平板顯示用基板玻璃進行內(nèi)部及表面應力檢測的具體步驟和技術要求。

首先,該標準明確了適用范圍,主要針對的是用于制造液晶顯示器(LCD)、有機發(fā)光二顯示器(OLED)等平板顯示設備的基板玻璃材料。它不僅適用于新生產(chǎn)的基板玻璃,也適用于經(jīng)過加工處理后的成品或半成品。

其次,在術語和定義部分,標準給出了與點掃描法相關的專業(yè)詞匯解釋,如“應力”、“雙折射”、“光程差”等,確保使用者能夠準確理解各項指標含義及其在實際操作中的應用。

接著是關于儀器設備的要求。為了保證測試結果的準確性與可靠性,《GB/T 43774-2024》規(guī)定了實施點掃描法所需的主要儀器設備類型、性能參數(shù)以及校準方法。其中包括光源系統(tǒng)、光學系統(tǒng)、探測器及數(shù)據(jù)處理軟件等關鍵組成部分,并強調(diào)所有設備均需定期維護以保持最佳工作狀態(tài)。

然后是對樣品準備的具體指導。包括但不限于樣品尺寸限制、清潔度要求以及如何正確放置待測樣本等內(nèi)容。此外,還特別指出了對于不同類型或厚度的基板玻璃可能需要采取不同的預處理措施。

再者,標準詳細描述了整個測試過程,從初始化設置到最終數(shù)據(jù)分析報告生成的每一步驟都有清晰的操作指南。這涵蓋了如何調(diào)整儀器參數(shù)、選擇合適的掃描模式、執(zhí)行精確測量直至利用專用軟件完成復雜的數(shù)據(jù)分析任務。同時,也提供了關于如何識別異常值并對其進行適當處理的建議。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2024-03-15 頒布
  • 2024-10-01 實施
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GB/T 43774-2024平板顯示器基板玻璃應力測試點掃描法_第1頁
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文檔簡介

ICS31030

CCSL.90

中華人民共和國國家標準

GB/T43774—2024

平板顯示器基板玻璃應力測試點掃描法

Testforstressofflatpaneldisplaysubstrateglass—Pointscanmethod

2024-03-15發(fā)布2024-10-01實施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標準化管理委員會

GB/T43774—2024

前言

本文件按照標準化工作導則第部分標準化文件的結構和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任

。。

本文件由全國半導體設備和材料標準化技術委員會提出并歸口

(SAC/TC203)。

本文件起草單位蚌埠中光電科技有限公司中建材玻璃新材料研究院集團有限公司中國建筑材

:、、

料科學研究總院有限公司武漢理工大學玻璃新材料創(chuàng)新中心安徽有限公司成都中光電科技有限

、、()、

公司中國電子技術標準化研究院東旭集團有限公司河北光興半導體技術有限公司深圳市一諾成電

、、、、

子有限公司深圳市思迪科科技有限公司

、。

本文件主要起草人彭壽張沖曹志強金良茂聶蘭艦沈玉國馬立云官敏錢學君段美江

:、、、、、、、、、、

任紅燦周鑫張曉東朱明柳成惠峰鄭際杰朱永遷王靜李佩悅符博吳怡然趙俊莎曹可慰

、、、、、、、、、、、、、

陳家睿李青胡恒廣張玉嬌聶達黃昊成

、、、、、。

GB/T43774—2024

平板顯示器基板玻璃應力測試點掃描法

1范圍

本文件給出了點掃描法測定平板顯示器基板玻璃應力的試驗原理描述了點掃描法的試驗裝置試

,、

驗條件試樣要求試驗步驟結果表示試驗報告

、、、、。

本文件適用于厚度為規(guī)格為代及以下的平板顯示器基板玻璃應力測試其

0.3mm~1.1mm、11,

他玻璃材料參考使用

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

無色光學玻璃測試方法第部分應力雙折射

GB/T7962.55:

電子數(shù)顯外徑千分尺

GB/T20919

平板玻璃應力檢測方法

GB/T36405

3術語和定義

界定的以及下列術語和定義適用于本文件

GB/T7962.5、GB/T36405。

31

.

點掃描法pointscanmethod

按照一定間距設定測量點對測量點逐點測試的方法

,。

4試驗原理

利用光彈調(diào)制器對線偏振光施加一定的相位差經(jīng)過存在應力的試樣形成光程差試樣應力為光程

,,

差與光彈常數(shù)的比值見公式

,(1)。

δ

σ=

B…………(1)

式中

:

σ應力值單位為兆帕

———,(MPa);

δ光程差單位為納米每厘米

———,(nm/cm);

B光彈常數(shù)單位為納米每厘米兆帕

———,[nm/(cm·MPa)]。

5試驗裝置

51應力儀

.

應力儀由測試平臺發(fā)射系統(tǒng)探測系統(tǒng)

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