大功率白光LED的可靠性研究及失效機(jī)理分析的開題報(bào)告一、研究背景及意義目前，LED（lightemittingdiode）以其高亮度、節(jié)能、環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)逐漸成為照明領(lǐng)域主流產(chǎn)品。其中，大功率白光LED的應(yīng)用廣泛，但其可靠性問題也越來(lái)越引起人們的關(guān)注，尤其是在一些高端場(chǎng)合如航空、汽車等場(chǎng)合的應(yīng)用。大功率白光LED的可靠性研究是保證其長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行的關(guān)鍵，其意義體現(xiàn)在以下兩個(gè)方面:1.提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低維護(hù)成本。大功率白光LED應(yīng)用于一些特殊場(chǎng)合，其故障可能會(huì)帶來(lái)很高的后果，嚴(yán)重影響產(chǎn)品質(zhì)量和品牌形象，而可靠性研究能對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量控制和改進(jìn)，及時(shí)減少維護(hù)成本，提高使用壽命。2.推進(jìn)行業(yè)技術(shù)發(fā)展。LED技術(shù)正在不斷發(fā)展，LED產(chǎn)品亦不斷更新?lián)Q代，研究LED產(chǎn)品的可靠性問題，有利于加深對(duì)其失效機(jī)理的理解，促進(jìn)不斷提高LED技術(shù)水平，推進(jìn)行業(yè)技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展。二、研究?jī)?nèi)容及方法本研究計(jì)劃從大功率白光LED的可靠性問題以及其失效機(jī)理兩個(gè)方面入手，研究?jī)?nèi)容主要包括以下幾個(gè)方面：1.大功率白光LED的可靠性評(píng)估。采用國(guó)際慣用的可靠性評(píng)價(jià)方法，對(duì)大功率白光LED進(jìn)行可靠性測(cè)試，建立可靠性模型，分析其壽命特性和失效機(jī)理。2.大功率白光LED的失效機(jī)理分析。通過對(duì)大功率白光LED進(jìn)行掃描電鏡、X射線探測(cè)等技術(shù)手段的分析，結(jié)合現(xiàn)有的LED失效機(jī)理研究，分析大功率白光LED失效的原因和機(jī)理，探究其使用壽命與失效機(jī)理之間的關(guān)系。3.大功率白光LED的可靠性改進(jìn)方法研究。在對(duì)大功率白光LED的失效機(jī)理研究基礎(chǔ)上，分析其可靠性不足的原因，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造的方面加以改進(jìn)，提高其可靠性。本研究采用實(shí)驗(yàn)比較法和實(shí)物觀察法，建立LED可靠性評(píng)價(jià)模型，結(jié)合FSMEA和FTA方法對(duì)其失效原因進(jìn)行分析研究。同時(shí)，對(duì)樣品進(jìn)行精細(xì)化分析，考慮LED運(yùn)行時(shí)涉及到的與其他環(huán)境參數(shù)相關(guān)因素，如溫度、電壓、電流等，優(yōu)化實(shí)驗(yàn)方案，提高實(shí)驗(yàn)的可靠性。通過分析實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，對(duì)失效機(jī)理進(jìn)行分析研究，并提出可靠性改進(jìn)方案。三、預(yù)期成果及意義1.建立大功率白光LED可靠性評(píng)價(jià)模型，并分析其失效原因和機(jī)理。2.提出并驗(yàn)證對(duì)大功率白光LED可靠性的改進(jìn)方案，提高產(chǎn)品的可靠性和使用壽命。3.加深對(duì)LED燈失效機(jī)理的理解，促進(jìn)行業(yè)技術(shù)發(fā)展。4.為L(zhǎng)ED新產(chǎn)品研發(fā)提供技術(shù)支持和參考依據(jù)。四、研究進(jìn)度及時(shí)間安排本研究總計(jì)預(yù)計(jì)需要1年左右，具體時(shí)間安排如下：第1-3個(gè)月：文獻(xiàn)調(diào)研，研究方案設(shè)計(jì)和實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備。第4-6個(gè)月：進(jìn)行可靠性測(cè)試，獲取原始實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，建立可靠性評(píng)價(jià)模型。第7-9個(gè)月：分析大功率白光LED的失效原因和機(jī)制。第10-12個(gè)月：提出可靠性改進(jìn)方案，并進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，撰寫論文。五、參考文獻(xiàn)1.王衛(wèi)華等.LED照明產(chǎn)品的可靠性研究.科技致富導(dǎo)刊，2011(7):37-38.2.黃顯明，龍方業(yè).關(guān)于LED可靠性及穩(wěn)定性研究進(jìn)展.光電子.激光，2011，22(11)，PP