學(xué)期《傳感器與檢測(cè)技術(shù)》試卷(B)本試卷適用于班級(jí)考試形式：閉卷考試時(shí)間：120分鐘1判斷對(duì)錯(cuò)2單項(xiàng)選擇3名詞解釋4問答5論述分?jǐn)?shù)總計(jì)一判斷對(duì)錯(cuò)（每題2分，共30分）產(chǎn)生誤差的原因不包括人為誤差。×檢測(cè)裝置的靈敏度是描述最小檢測(cè)值的度量?！粱魻栃烷_關(guān)量傳感器主要利用的電場(chǎng)與電容的轉(zhuǎn)換關(guān)系?！翑?shù)顯表的主要功能是將測(cè)量值進(jìn)行數(shù)字顯示?！淘陔娮璩咧?，一般使用導(dǎo)電塑料作為變阻器材料?！淘隽渴焦怆娋幋a器中，為了實(shí)現(xiàn)定位，增加了Z相作為基準(zhǔn)，由Z相發(fā)出零位脈沖，作為轉(zhuǎn)動(dòng)的起始點(diǎn)?！坦鈻懦咿D(zhuǎn)換原理主要依據(jù)于莫爾條紋的放大原理?！坦I(yè)上，對(duì)于精密位移檢測(cè)方法一般采用的絕對(duì)方法。×為了提高線性程度，電感式精密位移傳感器一般采用差動(dòng)結(jié)構(gòu)。√加速度計(jì)的轉(zhuǎn)換原理主要依據(jù)于某些材料的壓電效應(yīng)?！屉娮钁?yīng)變檢測(cè)為了消除溫度漂移現(xiàn)象，多采用電橋測(cè)量方法?！虦囟葯z測(cè)一般選用熱電阻和熱電偶。√Pt100型熱電阻的基準(zhǔn)電阻值是100歐姆?！蘈abVIEW語言中，多使用前面板進(jìn)行程序編寫。×RS232可以通過3根芯線實(shí)現(xiàn)全雙工通信?！潭雾?xiàng)選擇（每題2分，共20分）如果對(duì)同一個(gè)直徑進(jìn)行測(cè)量，得到結(jié)果如：，,,。則需要從中剔除的數(shù)值是A，；B，；C，；D，使用光柵尺測(cè)量，為了辨別方向和零點(diǎn)，通常會(huì)采用組光柵：A，1；B，2；C，3；D，4感應(yīng)型接近開關(guān)能夠檢測(cè)的物體是：銅塊鉛塊木塊鐵塊工業(yè)中，檢測(cè)工件的合格范圍，則選擇的數(shù)顯表類型為：B，C,D,如右圖所示為絕對(duì)式光電編碼器，能夠區(qū)分的最小度數(shù)為：A，50度B，度C，60度D，15度工業(yè)中的高精度位移測(cè)量一般采用LVDT測(cè)量，主要原因是：A，可以在很惡劣的情況下長(zhǎng)期穩(wěn)定工作B，可以在高溫下工作C，可以在水里工作D，可以采用藍(lán)寶石的測(cè)量頭在異步測(cè)速發(fā)電機(jī)中，為解決轉(zhuǎn)子漏抗對(duì)輸出特性的影響，異步測(cè)速發(fā)電機(jī)多采用：A,磁性轉(zhuǎn)子B,非磁性空心杯轉(zhuǎn)子C,電機(jī)轉(zhuǎn)子D,光軸轉(zhuǎn)子如右圖所示為加速度振動(dòng)測(cè)量，如果使得測(cè)量速度最大，加速度計(jì)應(yīng)該放在：A,左端B,右端C,正中間D,隨便放置右圖所示的電阻應(yīng)變片可以放大應(yīng)變的倍數(shù)為：A,3B,5C,7D,8一般使用的RS232標(biāo)準(zhǔn)串口引線數(shù)量為：A,3B,22C,25D,9三名字解釋（每題4分，共20分）誤差檢測(cè)值與真實(shí)值之差稱為誤差。由于不可能事先知道被檢測(cè)的真實(shí)值，誤差值多由統(tǒng)計(jì)估計(jì)值和實(shí)際檢測(cè)值的差表示。數(shù)模轉(zhuǎn)換時(shí)間連續(xù)函數(shù)的模擬量轉(zhuǎn)換成計(jì)算機(jī)能夠識(shí)別的數(shù)字量和其相反過程，稱為數(shù)模轉(zhuǎn)換。光電編碼器光電編碼器是一種通過光電轉(zhuǎn)換將輸出軸上的機(jī)械幾何位移量轉(zhuǎn)換成脈沖或數(shù)字量的傳感器，是目前角位移檢測(cè)中應(yīng)用最多的傳感器。激光三角法激光三角法是利用激光源發(fā)射一束激光照射到被測(cè)物體的表面時(shí),形成一小光斑,通過漫反射后在光學(xué)檢測(cè)器件上成像,當(dāng)物體的位置發(fā)生改變時(shí),其所成的像在光學(xué)檢測(cè)器件上也隨之發(fā)生改變,根據(jù)其像點(diǎn)位置的變化和檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)參數(shù)可求出被測(cè)點(diǎn)的位移信息"由于入射光線和反射光線構(gòu)成一個(gè)三角形,所以該方法被稱為激光三角法。壓阻效應(yīng)當(dāng)力作用于某些硅晶體時(shí)，晶體的晶格產(chǎn)生變形,使載流子從一個(gè)能谷向另一個(gè)能谷散射,引起載流子的遷移率發(fā)生變化，擾動(dòng)了載流子縱向和橫向的平均量，從而使硅的電阻率發(fā)生變化。四問答題（每題5分，共20分）試述傳感器與檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)不斷拓展檢測(cè)范圍，努力提高檢測(cè)精度和可靠性；傳感器逐漸向集成化、組合式、數(shù)字化方向發(fā)展；重視非接觸式檢測(cè)技術(shù)研究；檢測(cè)系統(tǒng)智能化。簡(jiǎn)述接近開關(guān)的分類接近開關(guān)種類眾多，按照傳感原理，一般有霍爾、感應(yīng)、光電、電容等形式，適應(yīng)于不同工業(yè)環(huán)境，均有連接螺紋或者螺紋孔，便于安裝調(diào)試，多直接從傳感器本體給出信號(hào)引線，連接電源和負(fù)載。3.試述光柵尺的辨向原理為了判斷方向，可以來用兩套光電轉(zhuǎn)換裝置。令它們?cè)诳臻g的相對(duì)位置有一定的關(guān)系，從而保證它們產(chǎn)生的信號(hào)在相位上相差1/4周期。當(dāng)光柵正向移動(dòng)時(shí)，光敏元件2比光敏元件1先感光，反轉(zhuǎn)時(shí)，光敏元件1比光敏元件2先感光。則A相位在B相位前1/4周期，光柵正向移動(dòng)，反之則反向移動(dòng)。這樣根據(jù)加減法計(jì)數(shù)既能區(qū)別方向又能自動(dòng)進(jìn)行加法或減法計(jì)數(shù)，每次反映的都是相對(duì)于上次的柵距增量，所以這種檢測(cè)屬于增量式。4.試述LabVIEW的程序特征一般的LabVIEW程序由前面板、流程圖和工具箱組成。其中，前面板是在程序運(yùn)行時(shí)顯示的狀態(tài)，可以看作為人間界面，流程圖是程序運(yùn)行流程，設(shè)計(jì)程序只需要從工具箱中將相應(yīng)的部件移至面板中加以連線并設(shè)置參數(shù)即可完成。圖形化的程序語言又稱為“Ｇ”語言。使用這種語言編程時(shí)，基本上不寫程序代碼，取而代之的是流程圖或流程圖。五論述題（10分）帶串口的數(shù)顯表頭和LabVIEW程序記錄水的溫升曲線。試述解決方案和程序流程。解決方案：首先使用串口線連接數(shù)顯表頭和