代替GB/T26642—2011成像板的工業(yè)計算機射線照相檢測金屬材料X射線和伽瑪射線檢測總則國家市場監(jiān)督管理總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會發(fā)布國家市場監(jiān)督管理總局 I 1 1 2 5 6 6 7 8 附錄B(規(guī)范性)由信噪比測定值SNRcdura確定歸一化信噪比SNR 附錄C(規(guī)范性)最小灰度值的確定 24 27I本文件代替GB/T26642—2011《無損檢測金屬材料計算機射線照相檢測方法》,與a)更改了范圍(見第1章，2011年版的第1章);c)增加了符號和縮略語(見第4章);d)更改了人員資格(見第5章，2011年版的第4章);i)更改了CR系統(tǒng)與金屬屏的要求(見8.3,201)刪除了計算機射線照相的最小讀出強度的要求(見2011年版的7.9);1GB/T21355—2022無損檢測基于存儲磷光成像板的工業(yè)計算機射線照相檢測系統(tǒng)分類ISO5579無損檢測金屬材料X和伽馬射線照相檢測基本規(guī)則(Non-destructivetesting—RadiographictestingofmetallicmaterialsusingfilmandX-oISO5580無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求(Non-destructivetesting—Industrialradio-graphicilluminators—MISO9712無損檢測人員資格鑒定和認證(Non-destructivetesting—Qualificationandcertifica-tionofNDTpersonnel)ISO16371-1無損檢測基于存儲磷光成像板的工業(yè)計算機射線照相檢測第1部分：系統(tǒng)分類(Non-destructivetesting—IndustrialcomputedraISO19232-1無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：絲型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定(Non-de-2ISO19232-2無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第2部分：階梯孔型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定(Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part2:DeterminationoftheimagequalityISO19232-3無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第3部分：像質(zhì)分類(Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part3:ImagequaliISO19232-5無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第5部分：雙絲型像質(zhì)計圖像不清晰度的測定(Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part5:Determinationofthenessandbasicspatialresolutionvalueusingduplexwire-typeimagequEN12543(所有部分)無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性(Non-destructivetesting—Charac-teristicsoffocalspotsinindustrialX-raysystemsforuseinnon-destructiEN12679無損檢測射線照相方法工業(yè)射線伽瑪源尺寸的測定(Non-destructivetesting一Radiographictesting—Determinationofthesizeofindustrialradiographicgammasources)由存儲磷光成像板(IP)和相應(yīng)的信息讀出單元(掃描儀或讀取器)及系統(tǒng)軟3CR系統(tǒng)基本空間分辨率basicspatialresolutionofCRsystem系統(tǒng)在幾何放大倍數(shù)為1時數(shù)字圖像中可顯示分辨的最小幾何細節(jié)。數(shù)字圖像空間分辨率basicspatialresolutionofadigitalimage信噪比signal-to-noiseratio從數(shù)字圖像中直接測量和/或由測量的信噪比SNRmaswad按數(shù)字圖像兩個區(qū)域之間平均信號的差值與信號水平的平均標(biāo)準(zhǔn)4GB/T26642—2022/IS從數(shù)字圖像中直接測量和/或由測量的對比度噪聲比CNR(3.10)按公式(2)經(jīng)歸一化計算得到，即由基本空間分辨率SR。歸一化的對比度噪聲比。混疊aliasing當(dāng)輸入信號的空間頻率高于輸出信號的空間頻率時，在數(shù)字圖像上顯示的附加圖樣。公稱厚度nominalthicknesst檢測區(qū)域內(nèi)的材料名義厚度。透照厚度penetratedthicknessW按材料公稱厚度(3.13)確定的射線透照方向上的材料厚度。源尺寸sourcesized射線源尺寸或射線管焦點尺寸。工件-探測器距離object-to-detectordistanceb沿射線束中心線測出的射線源側(cè)被檢工件表面至探測器表面的最大距離。射線源-探測器距離source-to-detectordistance沿射線束中心線測出的射線源(或焦點)至探測器表面的距離。 (3)f——射線源-工件距離(3.18);射線源-工件距離source-to-objectdistancef沿射線束中心線測出的射線源(或焦點)至射線源側(cè)被檢工件表面的距離。5GB/T26642—2022/ISUb歸一化對比度噪聲比dD探測器(成像板)fS歸一化信噪比基本空間分辨率。根據(jù)使用環(huán)境可是系統(tǒng)基本空間分辨率或數(shù)t公稱厚度幾何不清晰度探測器系統(tǒng)固有不清晰度。在雙絲型像質(zhì)計直接放置于探測器表面獲得圖像不清晰度。在雙絲型像質(zhì)計直接放置于源側(cè)工件表面獲得的數(shù)字圖像上測量vw6GB/T26642—2022/IS5人員資格按照本文件進行無損檢測的人員，應(yīng)按照ISO9712或合同各方認可的體系進行資格鑒定與認證，取得相關(guān)工業(yè)門類的資格等級證書，并由雇主或代理對其進行崗位培訓(xùn)和操作授權(quán)。檢測人員應(yīng)提供證明經(jīng)歷過在數(shù)字射線照相技術(shù)的培訓(xùn)和資格鑒定。6計算機射線照相技術(shù)的分類與補償原則計算機射線照相技術(shù)分為兩個等級：當(dāng)A級技術(shù)的靈敏度不能滿足要求時，采用B級技術(shù)。存在比B級更優(yōu)的技術(shù)，當(dāng)使用更優(yōu)的技術(shù)時，可由合同各方在文件中規(guī)定全部適宜的檢測參數(shù)。射線照相技術(shù)的選擇應(yīng)由合同各方商定。計算機射線照相的A級、B級技術(shù)與膠片射線照相的A級、B級技術(shù)應(yīng)具有同等的缺陷可識別性?？勺R別性應(yīng)采用ISO19232-1、ISO19232-2和ISO19232-5規(guī)定的像質(zhì)計驗證。當(dāng)由于技術(shù)原因不能滿足B級規(guī)定的透照條件時(例如射線源類型、射線源-工件距離f等),經(jīng)合同各方商定后，可選用A級技術(shù)規(guī)定的透照條件。靈敏度損失應(yīng)通過提高最小灰度值和歸一化信噪比SNR、補償(推薦歸一化信噪比SNR、提高影響因子大于1.4倍)。由于比A級技術(shù)提高了靈敏度，若達到了B級技術(shù)規(guī)定的像質(zhì)計靈敏度，可認為工件是按B級技術(shù)檢測的。6.2補償原則CPI和CPⅡ6.2.1概述為獲得足夠的對比度靈敏度，本文件對CR規(guī)定了兩個補償原則(見6.2.2和6.2.3)。使用補償規(guī)則的目的在于獲得最小歸一化對比度噪聲比CNRN,歸一化到可檢材料厚度差△w的探測器基本空間分辨率。當(dāng)CNRy/△w因下列某個參數(shù)值不足而未達到要求時，可通過提高信噪比SNR進行補償。針對對比度不足(如因管電壓增高造成),通過提高信噪比SNR進行補償(如增加管電流或曝光時間)。針對探測器固有不清晰度大(SR.t值大于規(guī)定值),通過提高信噪比SNR進行補償(通過增加常規(guī)絲型像質(zhì)值或階梯孔型像質(zhì)值),補償雙絲型像質(zhì)計識別損失(不清晰度引起的對比度損失)。6.2.4補償理論補償原則基于小尺寸缺陷(△w《w)的近似公式見公式(4): (4)7間分辨率(見表5)。單壁單影透照時的透照厚度對應(yīng)于工件的工程厚度。雙壁雙影透照(見89GB/T26642—2022/ISO1伽瑪射線和1MeV以上的X射線推薦的透照厚度范圍見表2。經(jīng)合同各方商定，如圖像質(zhì)量滿足ISO對于較薄的工件，Ir192和Co60等伽瑪射線數(shù)字圖像的檢測靈敏度低于X射線，但由于使用存儲磷光成像板系統(tǒng)進行伽瑪射線檢測時，輸送射線源的往返時間不應(yīng)超過總曝光時間的10%?！︿X和鈦，透照厚度：A級時，10≤w≤70;B級時，25≤w≤55。數(shù)字射線檢測的最小歸一化信噪比SNRn值或最小灰度值，應(yīng)滿足表3和表4的規(guī)定。附錄C為習(xí)慣測定非歸一化信噪比SNR的用戶提供了一個SNR與SNRN的轉(zhuǎn)換表。根據(jù)使用IP和掃描儀，按附錄C確定表2和表3規(guī)定最小歸一化信噪比SNRn,可采用等效最小灰度值代替最小歸一化信噪比SNRN值。歸一化信噪比SNR、值應(yīng)在被檢工件厚度和圖像灰度值均勻且靠近絲型像質(zhì)計或階梯孔型像質(zhì)計的區(qū)域測定。由于材料表面粗糙產(chǎn)生的噪聲影響圖像歸一化信噪比SNR,表3和表4中的值僅為推薦值。如果圖像質(zhì)量滿足ISO19232-3的要求，則SNR、可比表3和表4的規(guī)定值下降20%。屏與IP之間的間隙宜導(dǎo)致圖像不清晰度增大。對于IP,鉛箔增感屏的增感作用明顯小于對膠片的增多數(shù)IP對低能量背散射線和背散射線防護鉛板發(fā)出的X射線熒光非常敏感，這將導(dǎo)致影像邊界背防護鉛板與IP間插入鋼或銅防護板，可改善圖像質(zhì)量。在設(shè)計制造IP暗盒時可考慮將銅或鋼防護不用屏鉛屏0～0.1鉛屏0～0.1鉛屏0～0.1鉛屏0～0.1使用多種材料金屬增感屏?xí)r(如鋼十鉛),應(yīng)將鋼屏放置在IP與鉛增感屏之可以使用銅屏、鎢屏代替鋼或鋼十鉛屏，但需通過驗證試驗確認圖像質(zhì)·可完全或部分采用鋼或銅屏替代鉛屏，此時鋼或銅屏的等效厚度是鉛屏的3倍。鉛屏≤0.3°·可在IP暗盒外使用一個0.1mm鉛屏和一個0.1mm鉛濾波板替代一個0.2mm鉛屏。GB/T26642—2022/ISO1最大值)及雙絲型像質(zhì)計像質(zhì)值的下限值(允許的最小值，或最低數(shù)值)。CR系統(tǒng)不應(yīng)大于表5規(guī)定的最大不清晰度和基本空間分辨率，或不應(yīng)小于表5規(guī)定CR系統(tǒng)的不清晰度和基本空間分辨率應(yīng)經(jīng)過比對驗證確定型像質(zhì)計測定像質(zhì)值來確定，從而測定探測器基本空間分辨率SR,etetor。如果幾何放大倍數(shù)大于1.2,如果采用補償原則Ⅱ,則能選擇不清晰度超過表5規(guī)定值的CR系統(tǒng)。的對比度靈敏度和雙絲型像質(zhì)計的不清晰度)不能同時達到表5規(guī)定值，應(yīng)通過提高常規(guī)絲型像質(zhì)計像的表3)不能同時滿足，則認為D11和W17提供了等價的檢測靈敏度。補償限制在最多提高絲型像質(zhì)表5A級和B級技術(shù)允許的最大不清晰度(規(guī)定達到的最小識別情況)雙絲型像質(zhì)計像質(zhì)值的下限值(允許的最小值，(允許的最大值)(ISO19232-5)允許的圖像空間分辨率(允許的最大值)(等效絲徑和間距)雙絲型像質(zhì)計像質(zhì)值的下限值(允許的最小值，(允許的最大值)(ISO19232-5)允許的圖像空間分辨率(允許的最大值)(等效絲徑和間距)注：D13+是指獲得的雙絲型像質(zhì)計圖像獲得表A.1規(guī)定的D14線對所顯示的像質(zhì)值，或D13線對所顯示的調(diào)·對于雙壁單影透照技術(shù)，應(yīng)用公稱厚度t替代透照厚度w.采用直接接觸透照技術(shù)時，雙絲型像質(zhì)計最小線對識別方法見附錄B。采用幾何放大透照技測試試驗確定可識別的雙絲型像質(zhì)計最小線對值。通過調(diào)整檢測工藝設(shè)計和硬件參數(shù)，修正SR,detector。如采用幾何放大透照技術(shù)時，應(yīng)采用放置在工件上的雙絲型像質(zhì)計測定數(shù)字圖像空間分辨率GB/T26642—2022/IS每一種新工件進行CR檢測時，應(yīng)在IP暗盒后背貼上鉛字“B”(高度大于或等于10mm,厚度大于或等于1.5mm),以驗證背散射的的錫板。同時厚度約0.5mm的鋼屏或銅屏應(yīng)放置在鉛防護屏與IP暗盒之間，減少X射線熒光對數(shù)字射線源-工件距離的最小值fmi與源尺寸d和工件-探測器(IP)距離b有關(guān)。源尺寸應(yīng)按EN比值(即f/d)滿足公式(5)和公式(6): (5) (6)當(dāng)b小于1.2t時，公式(5)和公式(6)及圖2中的b應(yīng)由公稱厚度t取代。為了確定射線源-工件距離的最小值fmin,可使用圖3的諾模圖。使用A級技術(shù)檢測平面型缺欠時，為使幾何不清晰度減小為原來的1/2,射線源-工件距離的最小值fmin應(yīng)按B級技術(shù)的要求確定。8.7.3采用含IP的暗盒檢測曲面工件(即f/d)滿足公式(7)和公式(8):GB/T26642—2022/IS使用A級技術(shù)檢測平面型缺欠時，為使幾何不清晰度減小為原來的1/2,射線源-工件距離的最小值fmin應(yīng)按B級技術(shù)的要求確定。采用幾何放大技術(shù)檢測時，未經(jīng)正確校正CR系統(tǒng)的固有不清晰度(U?=2SRgtetor)和幾何不清晰Ur=√U2+Ui宜通過增加射線源-工件距離的最小值fmm降低CR系統(tǒng)獲得數(shù)字圖像的總不清晰度。更多要求使用幾何放大技術(shù)檢測時，幾何放大倍數(shù)v大于1.2時，則圖像不清晰度ULm應(yīng)按公式(10)計算，代替表5中的Ur:的20%”。采用中心透照IP在管外側(cè)時，如果像質(zhì)計靈敏度滿足要求時，該允許比值可以提高，同時CR系統(tǒng)測定的雙絲值可小于表5的規(guī)定(見注)。但是，bmin減少值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。如果像質(zhì)a)用曲面IPb)用平面IPB級；射線經(jīng)過厚度均勻評定區(qū)外端的斜向穿透厚度與中心束的透照厚度之比，A級不應(yīng)大于1.2,B級由于射線穿透厚度變化而產(chǎn)生的歸一化信噪比差值不宜低于表2或表3的規(guī)定。CR檢測可使用(規(guī)范性)數(shù)字圖像以一定的灰度顯示是正確測定基本空間分辨率的前提條件。數(shù)字圖像的灰度與射線曝光應(yīng)采用ISO19232-5規(guī)定的雙絲型像質(zhì)計測定數(shù)字探測器基本空間分辨率SR,detector,應(yīng)將雙絲型當(dāng)發(fā)現(xiàn)第一對不能清晰地識別的絲對時(見ISO19232-5),應(yīng)采用以調(diào)制度值20%為基準(zhǔn)的測定在數(shù)字檢測圖像的調(diào)制傳遞函數(shù)曲線上，應(yīng)將第一對雙峰調(diào)制度值小于20%(見圖C.1)的線對記錄為基本空間分辨率雙絲型像質(zhì)計測定結(jié)果(見圖A.1c)的D8所示為不可分辨線對]。在具有調(diào)制傳遞函數(shù)曲線識別調(diào)制度值小于20%的絲對(見圖A.1b)和c)],調(diào)制度測算方法見圖A.1d)。雙絲型像質(zhì)計影像上截取的輪廓應(yīng)至少具有21行像素寬度(宜為雙絲長度的30%～60%之間),以提高輪廓區(qū)1)管電壓90kV,2)前置濾波1mm的鋁。1)管電壓160kV,2)前置濾波1mm的銅。1)管電壓220kV,2)前置濾波2mm的銅。d)伽瑪射線或高能X射線檢測：1)規(guī)定的伽瑪射線源或大于1MeV的X射線源，前置濾波4mm的銅或8mm的鋼。雙絲型像質(zhì)計應(yīng)直接放置在探測器表面或暗盒表面上。射線源-探測器距離數(shù)字圖像中的平均灰度值應(yīng)大于最大灰度值的50%。對于像素尺寸大于或等于80μm的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)，數(shù)字圖像的信噪比SNR應(yīng)超過100;對于像素值小于80μm的高超過70?；跀?shù)字檢測系統(tǒng)的參考數(shù)字圖像測定的基本空間分辨率[見公式(A.1)]和相關(guān)系統(tǒng)設(shè)置均應(yīng)記錄在測試報告中。CR檢測系統(tǒng)的探測器IP基本空間分辨率應(yīng)在垂直和平行于激光掃描讀出的兩個方向測定；兩個CR檢測系統(tǒng)的探測器IP板基本空間分辨率應(yīng)在垂直和平行于激光掃描讀出的兩個方向測定；取兩個測定值的較高值作為探測器基本空間分辨率值SR。或SR?detector。YYXCCAB圖A.1以調(diào)制度20%為基準(zhǔn)測定雙絲型像質(zhì)計不可分辨線對(以D8線對為例)線，曲線確定調(diào)制度為20%對應(yīng)的值宜作為系統(tǒng)基本空間分辨率值。圖A.2顯示了高分辨率CR系統(tǒng)FFF調(diào)制(dip)與絲徑的依賴關(guān)系宜用一個二階多項式來擬合20%的交點，見圖C.2。大于零的調(diào)制值應(yīng)僅用于插值。如果在dip小于20%時沒有可用的值，則應(yīng)使用具有零傾角的下一對絲對值。如果所GB/T26642—2022/ISO1基本空間分辨率SR,士0.005士0.01WW士0.02注：本表數(shù)據(jù)基于ISO19232-5和ASTME2002-15.·Pt=鉑。W=鎢。為了將SR。值轉(zhuǎn)換為μm,將毫米單位乘以1000。(規(guī)范性)由信噪比測定值SNR定歸一化信噪比SNRN信噪比SNR按GB/T21355—2022的6.1測定。測定時，通常將數(shù)字圖像上一個20×55個像素區(qū)(需測定的典型部位)內(nèi)確定的線性平均灰度值與按GB/T21355—2022的6.1.1的標(biāo)準(zhǔn)差的比值確定不清晰的CR系統(tǒng)比清晰的CR系統(tǒng)獲得更高的SNRmaurd,但是其對細小缺欠的檢出能力比清晰系統(tǒng)低。因此，通過基本空間分辨率對SNRmcaurd測量進行歸一化。具有相同歸一化基本空間分辨率歸一化是基于制造商提供的CR系統(tǒng)基本空間分辨率(SR,dtctor)的值或由用戶按附錄A的測表B.1不同基本空間分辨率的CR系統(tǒng)非歸一化信噪比測定值與規(guī)定的歸一化信噪比對應(yīng)值高清晰度CR系統(tǒng)(見表3和表4) 2——濾光板-銅；圖C.1測定表3或表4所需最小歸一化信噪比SNRs值對應(yīng)CR等價灰度值透照圖圖C.2階梯楔形試樣圖像中測定階梯平均灰度值和歸一化信噪比SNR、值結(jié)果表C.1最小灰度值規(guī)范示例(見圖C.3)(SNRn)值增益設(shè)置1增益設(shè)置2YY21中位單線平均值：中位單線std