代替GB/T26140—2010國家市場監(jiān)督管理總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會GB/T26140—2023/ISO21432:2 I 1 5 7測量準(zhǔn)備 9應(yīng)力計算 22 25附錄A(資料性)測量和分析方法 附錄B(資料性)被測物理量不確定度的測定 Ig)更改了結(jié)果可靠性要求(見第10章，2010年版的第10章);ⅡGB/T26140—2023/ISO1無損檢測殘余應(yīng)力測量的中子衍射方法EN13925-3:2015無損檢測多晶和無定形材料的X射線衍射第3部分：裝置(Non-destructivetesting—X-raydiffractionfrompolycrystallineandamorphousmaterials—Par2GB/T26140—2023/ISOE3衍射譜diffractionpattern半高寬fullwidthathalfmaximum;FWHM全譜分析fullpatternanalysis從測得的多晶材料(多峰)衍射譜(3.15)中確定晶體結(jié)構(gòu)和/或應(yīng)變的方法。規(guī)范體積gaugevolume晶格間距l(xiāng)atticespacingI類應(yīng)力TypeIstress4多色中子束polychromaticneutronbeam以一種互不相關(guān)的方式散射中子，由此產(chǎn)生很強(qiáng)的本底(3.5)信號且無布拉格峰(3.8)或僅有一些飛行時間time-of-flight既定速度的中子穿行定義起點(diǎn)至探測器之間距離測量不確定度uncertaintyinameasurement5Bdgh在峰位處的本底晶面間距宏觀彈性模量與(hkl)衍射晶面有關(guān)的彈性模量普朗克常數(shù)晶體學(xué)晶面指數(shù) HINQtTuaEv六方結(jié)構(gòu)可選用的晶體學(xué)晶面指數(shù)扣除本底后布拉格峰的中子積分強(qiáng)度從中子源到探測器的路徑長度中子總計數(shù)溫度樣品坐標(biāo)軸熱膨脹系數(shù)泊松比nm-ms6GB/T26140—2023/ISO與(hkl)衍射晶面相關(guān)的泊松比應(yīng)力應(yīng)力張量的分量屈服應(yīng)力衍射角4.2下標(biāo)hkl、hkil表示晶體學(xué)(hkl)或(hkil)晶面0(零)表示有關(guān)量的無應(yīng)力值ref表示有關(guān)量的參考值4.3縮略語TOF飛行時間IGV裝置規(guī)范體積NGV標(biāo)稱規(guī)范體積SGV樣品規(guī)范體積5方法概要5.1概述當(dāng)晶體材料的晶格受到與其晶面間距相近波長的穿透性中子射線照射時，射線將被衍射從而形成0——布拉格角。衍射峰觀察位置與入射束方向成20m角，見圖1。7GB/T26140—2023/ISO4——晶面間距d;θ——衍射角的一半。圖1布拉格衍射幾何示意圖5.3中子源同波譜的短脈沖組成，根據(jù)中子飛行至探測器的距離和飛行這段距離所用的時間[稱為飛行時間5.4應(yīng)變測量根據(jù)布拉格定律可知，若實(shí)驗(yàn)測得λ和0,則能確定晶格間距d。將d相對于無應(yīng)力晶格間距d。當(dāng)樣品受到已知波長的單色中子束照射時，由測得的布拉格角0能確定其晶格間距。將布拉格定8GB/T26140—2023/ISO矢量垂直的晶面將中子衍射至探測器。每個(hkl)峰對應(yīng)的衍射產(chǎn)生于不同的晶粒族。根據(jù)德布羅意由于20角固定，解出公式(4)中的d和do,a并代入應(yīng)變方程[見公式(2)],即通過飛行時間變化能計算得到彈性應(yīng)變[見公式(5)]:或者，采用全譜分析方法(如里特沃爾德峰形精修[2)將所有晶面取平均得到彈性應(yīng)變(見7.3.2和5.5中子衍射儀穩(wěn)態(tài)反應(yīng)堆源上用于測量應(yīng)變的典型單色裝置見圖2。首先，用合適的單色器衍射多色中子束得到特定波長的單色中子束；然后利用限束光學(xué)系統(tǒng)對該單色中子束進(jìn)行空間限定，得到所需尺寸的束飛行時間衍射儀主要用在脈沖源上，每個脈沖都產(chǎn)生一個跨越大范圍晶格間距的衍射譜。脈沖源裝置使用了徑向準(zhǔn)直器。這比利用狹縫系統(tǒng)獲得更寬的立體角，進(jìn)而確保大多數(shù)被探測中子來自于確定的規(guī)范體積(見7.5)。根據(jù)不同角度位置將探測器各個單元獲得的信號進(jìn)行合并。帶徑向準(zhǔn)直器的顯示了里特沃爾德峰形精修的結(jié)果，該方法基于最小二乘法將晶體學(xué)模型結(jié)構(gòu)與衍射數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合(見關(guān)于衍射數(shù)據(jù)擬合的更多信息見9.5。應(yīng)力和彈性應(yīng)變是通過固體彈性常數(shù)相聯(lián)系的二階張量。由于中子衍射能測量晶態(tài)固體一定體積測量至少六個獨(dú)立方向的彈性應(yīng)變。如果主應(yīng)變方向已知，沿三個正交方向的測量足以確定主應(yīng)力。在平面應(yīng)力或平面應(yīng)變情況下，則能進(jìn)一步減少為兩個方向。對于單軸加載的情況，測量一個方向即可。由應(yīng)變計算應(yīng)力方面的更多細(xì)節(jié)見第9章和附錄A中A.9。通過逐步移動樣品穿過入射束和衍射束相交所形成的空間體積(稱為規(guī)范體積，見7.5),測量不同91——從源出射的中子束；圖2基于穩(wěn)態(tài)反應(yīng)堆源的彈性應(yīng)變測量衍射儀示意圖GB/T26140—2023/ISO8888.58989.590xGB/T26140—2023/ISO21432:2019圖4基于脈沖源飛行時間模式的彈性應(yīng)變測量衍射儀示意圖6.1概述測量準(zhǔn)備時應(yīng)了解和關(guān)注樣品的尺寸與形狀。GB/T26140—2023/ISOGB/T26140—2023/ISO(10ī2)、(1013)(錐面)(0002)(基面)(1010)、(1210)(柱面)(2021)、(1122)(次級錐面)(1012)、(1013)(基面、柱面和初級錐面)0圖6鎳基合金不同晶面的彈性響應(yīng)[4YY0X X——記錄的晶格應(yīng)變；圖7屈服對鎳基合金拉伸棒加載和卸載過程不同晶面響應(yīng)的影響[4]7.3.2飛行時間裝置當(dāng)使用全譜分析方法(里特沃爾德精修程序[2)時，根據(jù)定義單胞尺寸的晶格參數(shù)變化計算得到應(yīng)變。GB/T26140—2023/ISOa——應(yīng)變條件下從全譜分析得到晶格參數(shù)值[它代替了公式(2)中的晶格間距d];e——彈性應(yīng)變；初始校正過程應(yīng)確定IGV質(zhì)心的位置(見7.5和圖9)。規(guī)定該位置為所有實(shí)驗(yàn)測量的參考點(diǎn)，理應(yīng)按照A.3所述過程進(jìn)行精確的樣品定位。要求的精度水平一定程度上依賴于測量對象。在大7.5規(guī)范體積平行的入射和衍射中子束穿過限定光圈(例如狹縫、準(zhǔn)直器)后(見圖8),由兩者相交部分所占的空間體積定義為標(biāo)稱規(guī)范體積(NGV)。標(biāo)稱規(guī)范體對使用徑向準(zhǔn)直器的系統(tǒng)，標(biāo)稱規(guī)范體積的概念與上述相同，只是每個徑向準(zhǔn)直狹縫都對它有影響。考慮到束流發(fā)散和束流強(qiáng)度分布(見圖9),實(shí)際中子束通過限束光圈后所形成的空間體積稱為裝置規(guī)范體積(IGV)。使用散射單元確定IGV的方法見A.5.1。根據(jù)束流強(qiáng)度分布的半高寬(FWHM)最后，樣品規(guī)范體積(SGV)是IGV和被測樣品之間的交叉部分(見圖10),即空間上取決于被測樣另外，SGV質(zhì)心(即散射強(qiáng)度權(quán)重的中心)可能處于相對IGV質(zhì)心的不同位置(見圖10),取決于以 衍射測量能確定晶格間距(見5.4和7.3.2),為確定彈性應(yīng)變，應(yīng)獲得晶格間距參考值(相對于該值格間距dm(即用于和其他測量進(jìn)行比較的晶格間距)。只有根據(jù)d。計算應(yīng)變才能得到實(shí)際的應(yīng)力值?！ㄟ^力平衡和力矩平衡確定d?(宜盡最好確認(rèn)測量的應(yīng)力結(jié)果在跨越部件某個截面內(nèi)滿足力和力矩平衡。應(yīng)準(zhǔn)確地將參考樣品中心置于IGV質(zhì)心位置。2——入射中子束4——中子強(qiáng)度分布圖8標(biāo)稱規(guī)范體積的平面示意圖圖9裝置規(guī)范體積的平面示意圖8.1通則驗(yàn)考慮見附錄A。關(guān)于被測物理量不確定度測定的論述見附錄B。8.2.2基本信息裝置c)溫度及變化；a)峰位20及不確定度；2)峰形的不對稱性；b)采取的本底擬合方式；c)關(guān)于如何考慮織構(gòu)和彈塑性各向異性的描述。應(yīng)根據(jù)裝置參考點(diǎn)確定樣品位置(見7.4)。樣品坐標(biāo)系的方向應(yīng)與定義Q的坐標(biāo)系相關(guān)聯(lián)。應(yīng)準(zhǔn)確地確定參考點(diǎn)位置。詳細(xì)信息見A.3。更多細(xì)節(jié)見A.4。規(guī)范體積由入射束和衍射束上的限束光學(xué)系統(tǒng)以及束流的方向與發(fā)散度確定。規(guī)范體積的選擇應(yīng)與關(guān)注的應(yīng)變分布部位的形狀和尺寸相關(guān)，以及與材料參數(shù)(如晶粒尺寸和衰減長度)相關(guān)。更多細(xì)節(jié)見A.5。應(yīng)根據(jù)裝置的束流發(fā)散和衰減確定SGV質(zhì)心位置。掃描表面和界面時應(yīng)特別加以注意。更多細(xì)節(jié)見A.6。GB/T26140—2023/ISO9應(yīng)力計算9.1通則基本上所有衍射方法研究應(yīng)力和應(yīng)變均基于連續(xù)力學(xué)，并通過胡克定律計算應(yīng)力。唯一不同就是采用了特定的衍射彈性常數(shù)而不是所有晶粒的平均值，見7.3。因此，采用合適的衍射彈性Vam)簡單地替換廣義胡克定律中的平均彈性常數(shù)。當(dāng)采用單晶彈性常數(shù)C,和合適模型進(jìn)行衍射彈性9.2正應(yīng)力測量由沿某點(diǎn)正交坐標(biāo)軸x、y和z方向的應(yīng)變能確定該點(diǎn)的正應(yīng)力。此時，應(yīng)力由公式(8)～公式下標(biāo)xr、yy和zz——獲得正應(yīng)變和正應(yīng)力的坐標(biāo)軸。0m=VAz(o+oy)強(qiáng)宏觀各向異性時的應(yīng)力計算見A.9。9.3應(yīng)力狀態(tài)的確定φ和業(yè)——方位角(見圖11);Ed——由方位角更和業(yè)定義方向的正應(yīng)變。GB/T26140—2023/ISO公式(14)中的下標(biāo)xy、zz和yz分別對應(yīng)剪應(yīng)力分量。Y中φx oy為零，公式(14)可簡化為公式(15)。此時，依據(jù)公式(15)即可能計算x-y平面內(nèi)給定方向的正應(yīng)力 (15) (16)廣泛應(yīng)用于傳統(tǒng)的X射線衍射應(yīng)力測量[25]。角度業(yè)的范圍越寬，測量的應(yīng)力越可靠。當(dāng)有些方向不GB/T26140—2023/ISO程見A.7。 GB/T26140—2023/ISO(資料性)信息見參考文獻(xiàn)[31]~參考文獻(xiàn)[34]。A.2樣品坐標(biāo)系——延展后具有固定橫截面的樣品：軋制、拉拔和擠壓成型的部件可具有恒定但有時復(fù)雜的橫截A.2.3非規(guī)則形狀樣品A.3樣品定位應(yīng)精確地確定參考點(diǎn)位置，其精度最好在規(guī)范體積最小尺寸的10%以內(nèi)。在樣品臺旋轉(zhuǎn)中心位置進(jìn)行IGV質(zhì)心(即參考點(diǎn))的定位。定位宜盡可能準(zhǔn)確，其精度最好在規(guī)范體積尺寸的10%以內(nèi)。通過散射中子的強(qiáng)度分布(壁掃描)可確定測量平面內(nèi)規(guī)范體積的位置，見A.5.1。A.3.4樣品樣品的位置和取向宜選用合適坐標(biāo)系相對于參考點(diǎn)和散射矢量的方向進(jìn)行描述(見A.2)。樣品定4)。在樣品上標(biāo)明基準(zhǔn)標(biāo)識和方向?qū)悠范ㄎ挥兴鶐椭?biāo)識宜足夠細(xì)小和明銳以便能實(shí)現(xiàn)要求的定如果光學(xué)或機(jī)械方法不能滿足樣品的定位精度要求，宜采用表面(壁)掃描的方法確定IGV相對于樣品表面的位置。通過這些掃描得到一個峰強(qiáng)分布譜，稱為進(jìn)入曲線。由于掃描規(guī)范體積，它給出了樣品表面和規(guī)范體積位置關(guān)系的實(shí)驗(yàn)測量值。對于每個測量方向和沿表面平移的A.4.1概述樣品中的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)量和位置宜足以顯示明顯或特定的應(yīng)變變化。具體數(shù)量和位置取決于要求的細(xì)A.4.3應(yīng)變分布圖由于束流衰減或樣品與裝置不匹配，樣品幾何或形狀可使關(guān)注的特定位置難以或無法測量。在這種情況下，用戶可考慮從樣品中切除部分材料以克服這些限制。樣品或部件的任何修改均可能在關(guān)注區(qū)域改變或引入應(yīng)力。應(yīng)特別注意這些修改。應(yīng)采用應(yīng)變儀等實(shí)驗(yàn)技術(shù)和/或有限元分析等數(shù)學(xué)方對材料切除過程導(dǎo)致測量區(qū)域應(yīng)力變化的程A.5規(guī)范體積通過掃描細(xì)絲探針穿過規(guī)范截面，能獲得完整的IGV參數(shù)。在每個掃描位置記錄GB/T26140—2023/ISO21432:2細(xì)絲可能是布拉格散射體(如鋼或銅)或非相干散射體(如尼龍)。在單色裝置上采用前者，后者則狀依賴于探測器角度。因此，用于測量規(guī)范體積的衍射布拉格角宜盡可能地接近測量的反射角。探針裝置規(guī)范體積強(qiáng)度分布可用三個一維強(qiáng)度分布譜或一個三維強(qiáng)度等高線圖表示。該圖也表示了束寸宜對應(yīng)入射和衍射束強(qiáng)度分布的FWHM。為了薄金屬片能用于測量散射面內(nèi)的規(guī)范體積。掃描時分兩次通過規(guī)范體積，其中一次表面法向平行或者，將圓柱形散射體放置于首選的規(guī)范體積位置，使每個限束光學(xué)組件能被相應(yīng)的束流掃描穿A.5.3規(guī)范體積尺寸宜選取合適的規(guī)范體積尺寸以實(shí)現(xiàn)必要細(xì)節(jié)的獲取。如果規(guī)范體積尺寸超過了重要特征的大小或當(dāng)晶粒尺寸大于SGV時，統(tǒng)計抽樣可能過小以至于無法可靠測量散射體積內(nèi)晶粒的平均晶格間規(guī)范體積內(nèi)單個大晶?？赡軐ρ苌浞瀹a(chǎn)生非常強(qiáng)烈的偏倚貢獻(xiàn)。這可能導(dǎo)致沿著一條測量線的強(qiáng)于給定的測量位置，樣品關(guān)于IGV中心的旋轉(zhuǎn)也將導(dǎo)致大的角度與角度之間的強(qiáng)度漲落。解決方法：應(yīng)增加貢獻(xiàn)晶粒的數(shù)量以獲得良好的統(tǒng)計抽樣。這能通過更大的SGV、采用樣品關(guān)于IGV中心的角振蕩或空間振蕩來實(shí)現(xiàn)。通常其他因素促使選擇IGV,而角振蕩相比于空間振蕩更為于總路徑最短的SGV部分，SGV的質(zhì)心可能偏離IGV的質(zhì)心位置。這通常僅在反射幾何中加以考慮影響導(dǎo)致d間距和應(yīng)變的錯誤測量。在一些測量情形中，包括表面和界面測量(見A.A.5.6計數(shù)時間A.6.1SGV及其位置A.6.2裝置誤差未對其測量數(shù)據(jù)進(jìn)行合理解析，使用PSD探測器可能在應(yīng)變測量中引入誤差。原因在于，其探測的衍射峰位易受SGV質(zhì)心偏移的影響。相反，相比于PSD探測器裝置，高分辨單計數(shù)管裝置通常對SGV在使用晶體單色器的單色裝置上，中子進(jìn)入規(guī)范體積的角度與其波長有關(guān)。當(dāng)穿過表面或界面掃描時，規(guī)范體積并不完全沉浸在被測相中。入射束的限定狹縫覆蓋了單色器局部，減小了中子進(jìn)入在TOF裝置上，由于衰減效應(yīng)或SGV內(nèi)衍射晶粒非均勻分布，如果SGV質(zhì)心偏離了束的中心GB/T26140—2023/ISO于是，5℃~10℃小范圍內(nèi)的溫度變化將導(dǎo)致(50～200)×10-?的應(yīng)變。因此，在中子衍射應(yīng)變測量過A.9宏觀材料各向異性A'——A′=1-vzyVyrVz-VaVzyVy-VaVz-VyVy-VyxVzy。彈性常數(shù)的選取見9.4。X——20;圖A.1衍射峰小部分重疊時能獨(dú)立確定峰形參數(shù)的示例◆——模擬數(shù)據(jù)圖A.2衍射峰大部分重疊時無法獨(dú)立確定峰形參數(shù)的示例(資料性)被測物理量不確定度的測定B.1引言測量參數(shù)不確定度是對參數(shù)真值不能被確定程度的估計。在修正了已知的系統(tǒng)誤差后，還有許多實(shí)驗(yàn)人員應(yīng)對測量不確定度的潛在影響因素進(jìn)行評估。如果評估表明該因素可能對不確定度產(chǎn)生顯著影響，則應(yīng)報告說明并宜估算不確定度大小。關(guān)于不確定度測定的詳細(xì)描述見參考文獻(xiàn)[26]和參根據(jù)對測量有貢獻(xiàn)的所有獨(dú)立不確定度值u(x),得到估計參數(shù)y的累積不確定度u,見公式(B.1):xi——y所依賴的N個參數(shù)；u2——方差。B.2應(yīng)力測量的不確定度應(yīng)力取決于應(yīng)變和彈性常數(shù)(見第9章)。因此，通過應(yīng)變和彈性常數(shù)的不確定度來評定所報告的B.3應(yīng)變測量的不確定度——入射束波長的不確定度；基于公式(B.1),應(yīng)變的估計方差u2(e)由公式(B.3)給出：GB/T26140—2023/ISO21432:2019x;——影響應(yīng)變的N個參數(shù)；基于公式(2),由公式(B.3)得到公式(B.4):根據(jù)布拉格定律[公式(1)],由公式(B.1)得到公式(B.6):此外，位置x和溫度T的不確定度也可能影響晶格間距的測量不確定度。因此，所測量晶格間距對立方材料，可將公式(B.6)和公式(B.7)中的晶格間距d替換為晶格參數(shù)溫度不確定度對d不確定度的貢獻(xiàn)與材料的熱膨脹系數(shù)a成正比。B.5舉例——波長為0.30000nm±0.00001nm,認(rèn)為0.00001nm的不確定度包含了所有的裝置不確 ——x方向上的應(yīng)變梯度g估計為500×10-?mm-1,y和z方向上的應(yīng)變梯度忽略不計；——熱膨脹系數(shù)α為24×10-?K-1;對獨(dú)立測量的do,有u(d?):GB/T26140—2023/ISOGB/T26140—2023/ISO[1]SEARSVF.Neutronscatteringlengthsandcrossse[2]RIETVELDHM.AprofilerefinementmetnalofAppliedCrystallography,1969,2:65-71.dependentattenuationonstrainmeasurementsbyneutron[4]EZEILOAN,WEBSTERGA,WEBSTERPJ,etal.Characterizationofelasticandplasticdeformationinanickelsuperalloyusin[5]REUSSA,ANGEWZ.Berechnungdelfliessgrenzevonmitizitatbedingungforeinkristalle[J].MathematicsandMe[6]VOIGTW.Lehrbuchderkristallphysik[M].Berlin:Teubner,1910.[7]NEERFELDH,EISENFORSments[J].Düsseldorf,1942,24:61-70.[8]HILLR.Theelasticbehaviourofacrystallineaggregate[J].ProceedingsofthePhciety.SectionA,1952,65(5):349-354.stalls[J].ZeitschriftfuerPhysik,1958,151:504-518.[10]VANHOUTTEP,DEBUYSERL.Theinfluenceofcrystallographictexturemeasurementsofresidualstress[J].ActaMetallurgicaetMaterialia,1993,41(2):323[12]KRAWITZAD,WINHOLTZRA.Useofposition-dependentstress-freestandardsforfractionstressmeasurements[J].MaterialsScienceEnstructuralweldmentsbymeansofneutrondiffraction[J].MaterialsScienc[14]HOLDENTM,CLARKEAP,HOLTRA.NeutrondiranularstrainsinMONEL-400[J].MetallurgicalandMaterialsTransactionsA,1997,28:2565-2576.[15]CLAUSENB,LORENTZENT,BOURKniaxialtensileloadingofstainlesssteel[J].MaterialsScience[16]CLAUSENB.Characterizationofpolycrystaldefotrondiffractionmeasurements[D].Roskilde:TechnicalUniversityofDenmark/RisóNationalLabora-tory,1997.anAl7050alloy[J].ActaMaterialia,1998,46[18]PANGJWL,HOLDENTM,MASONTE.Thedevelohigh-strengthsteel[J].TheJournalofStrainAnalysisforEngineeringDesign,1998,33(5):373-384.[19]PANGJWL,HOLDENTM,MAGB/T26140—2023/ISOZircaloyunderuniaxialloading[J].ProceedingsofFifthInt(ICRS-5),1997,2:610-615.[J].MaterialsScienceand[21]DAYMONDMR,BOURKEMAM,VONDREELERB.UseofRietvelahexagonalcrystalstructureinthepresenceofelasticandplastiPhysics,1999,85:739-747.[22]JAMESJA,SANTISTEBANJR,EDWARDSL,etal.Avirtuaandsynchrotronstrainscanning[J].Physi[23]HUTCHINGSM,WITHERSP,HOLDresidualstressbyneutrondiffraction[M].1sted.BocaRaton:CRCPress,2005.ticeparameterwhenusingdiffractiontodetermineresidualstress[phy,2007,40(5):891-904.[25]D?LLEH.Theinfluenceofmultiaxialstressstatontheevaluationof(residual)stressesbyX-rays[J].JournalofAppliedCrystall[26]TechnicalCommitteeonTechnicGuidetotheexpressionofuncertaintyinmeasurement(GUM1995):ISO/IECerland:InternationalOrganiza[27]TAYLORBN,KUYATTCE.GuidelinesforevaluatingNISTmeasurementresults:NISTTechnicalNote1297[R/OL].Gaithersburg:NationalInstituteofStandardsandTechnology,1994.http://physics[28]WEBSTERGA.Neutrondiffractionmeasurementsofandplug:VAMASReportNo.38[R].Teddington:NationalPhysicalLaborator[29]TechnicalCommitteeonRadiographicTesting.Polycrystallinematerials—Determinationofresidualstressesbyneutrondiffraction:ISO/TTA3[S].SwitzStandardization,2001.[30]YOUTSOSAG.ResidualstressstandardusingneutrondiffractionpeanProjectRESTAND[R].Netherlands:JointResearchCentreoftheEuropeanCommission,2002.[31]HUTCHINGSMT,KRAWITZAD.Measurementofresidualandappliedstresneutrondiffraction.NATOAsiSeries.SeriesE,AppliedSciences,No.216[C]ademicPublishers,1992.[32]KRAWITZAD.Introductiontodiffractioninmaterialssci[33]FITZPATRICKM,LODINIA.Analysisofresidualstressbydiffractionusingneutronandsynchrotronradiation[M].NewYork:Taylorand[M].NewYork:Springer-Verlag[35]BRANDPC,PRASKHJ.Newmethodsforalignmentofinstrumstressmeasurementsbymeansofneutrondiffraction[J].JournalofAppliedCrystallograph[36]PIRLINGT.AnewhighprecisionstrainGB/T26140—2023/ISO2000,312-324:206-211.[37]HOLDENTM,TRAOREY,JAMESJ,etal.Dettaintyofneutrondiffractionmeasurementsofresidualstraininlarge-grainedpoly[J].Journ