承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第14部分：射線計(jì)算機(jī)輔助成像檢測(cè)目次前言 II范圍 1規(guī)范性引用文件 1術(shù)語(yǔ)和定義 1一般要求 3檢測(cè)工藝及其選擇 6圖像質(zhì)量要求 13數(shù)字圖像處理 17圖像存儲(chǔ) 17檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí) 18檢測(cè)記錄和報(bào)告 18附錄A（資料性附錄）最小灰度值測(cè)試方法 19附錄B（規(guī)范性附錄）分辨率（力）的測(cè)定 20附錄C（規(guī)范性附錄）歸一化信噪比的測(cè)定 22I承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第14部分：射線計(jì)算機(jī)輔助成像檢測(cè)范圍本文件規(guī)定了承壓設(shè)備金屬材料受壓元件的熔化焊焊接接頭的射線計(jì)算機(jī)輔助成像檢測(cè)（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“CR）技術(shù)和質(zhì)量分級(jí)要求。本文件適用于承壓設(shè)備受壓元件的制造、安裝、在用檢測(cè)中的焊接接頭的射線計(jì)算機(jī)輔助成像檢測(cè)。用于制作焊接接頭的金屬材料包括鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。本文件適用的射線源為XIr192Se75γX600kV。CR檢測(cè)，可參照使用。規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用（包括所有的修改單）適用于本文件。GBZ117 工業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GBZ132 工業(yè)γ射線探傷放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GB11533 標(biāo)準(zhǔn)對(duì)數(shù)視力表GB/T14058 γ射線探傷機(jī)GB18871 電離輻射防護(hù)及輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)GB/T21356 無(wú)損檢測(cè)計(jì)算機(jī)射線照相系統(tǒng)的長(zhǎng)期穩(wěn)定性與鑒定方法GB/T23901.1 無(wú)損檢測(cè)射線照相檢測(cè)圖像質(zhì)量第1部分：絲型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測(cè)定GB/T23901.5 無(wú)損檢測(cè)射線照相檢測(cè)圖像質(zhì)量第5部分：雙絲型像質(zhì)計(jì)圖像不清晰度的測(cè)定GB/T23910 無(wú)損檢測(cè)射線照相檢測(cè)用金屬增感屏GB/T26592 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)X射線探傷機(jī)性能測(cè)試方法GB/T26594 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)用X射線管性能測(cè)試方法JB/T7902 無(wú)損檢測(cè)射線照相檢測(cè)用線型像質(zhì)計(jì)JB/T11608 無(wú)損檢測(cè)儀器工業(yè)用x射線探傷裝置NB/T47013.1 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第1部分：通用要NB/T47013.2 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)第2部分：射線檢術(shù)語(yǔ)和定義NB/T47013.1和NB/T47013.2界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。3.1成像板IPimagingplate一種涂有稀土元素銪、鋇、氟化合物的柔性板，曝光后能以潛影形式儲(chǔ)存信息，簡(jiǎn)稱(chēng)成像板。13.2射線計(jì)算機(jī)輔助成像系統(tǒng)CRScomputedradiographysystem指由成像板、專(zhuān)用激光掃描儀、計(jì)算機(jī)硬件和專(zhuān)用軟件等組成，能將成像板上的信息轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像的系統(tǒng)。簡(jiǎn)稱(chēng)CR系統(tǒng)。3.3被檢工件-成像板距離bobject-to-IPdistance沿射線束中心線方向上測(cè)量的被檢工件表面（射線源側(cè)）至成像板之間的距離。3.4射線源-成像板距離F source-to-IPdistance沿射線束中心線方向上測(cè)量的射線源至成像板之間的距離，即焦距。3.5射線源-被檢工件距離f source-to-objectdistance沿射線束中心線方向上測(cè)量的射線源至被檢工件表面（射線源側(cè)）之間的直距離。3.6成像板的結(jié)構(gòu)噪聲structurenoiseofIP由于感光層和成像板表面的結(jié)構(gòu)不均勻?qū)е碌臄?shù)字圖像的固有噪聲。3.7像素pixel射線數(shù)字圖像的基本組成單元。射線數(shù)字圖像由點(diǎn)組成，組成圖像的每一個(gè)點(diǎn)稱(chēng)為像素。3.8灰度值GV greyvalue表征數(shù)字圖像中像素明暗程度的數(shù)值。3.9線性灰度GVlin linearizedgreyvalue與成像板的曝光量成正比的灰度值。3.10圖像靈敏度imagesensitivity檢測(cè)系統(tǒng)所能發(fā)現(xiàn)的被檢工件圖像中最小細(xì)節(jié)的能力，表征圖像對(duì)比度。3.11分辨率resolutionratio單位長(zhǎng)度上可分辨兩個(gè)相鄰細(xì)節(jié)間最小距離的能力，表征不清晰度，單位lp/mm。3.12分辨力resolution兩個(gè)相鄰細(xì)節(jié)間最小距離的分辨能力，單位mm。3.13系統(tǒng)分辨率SRb spatialresolution稱(chēng)為系統(tǒng)基本空間分辨率。3.14圖像分辨率SRbi spatialresolutionofadigitalimage2檢測(cè)系統(tǒng)所能分辨的被檢工件圖像中單位長(zhǎng)度上兩個(gè)相鄰細(xì)節(jié)間最小距離的能力，也稱(chēng)為圖像空間分辨率。3.15掃描分辨率scanningresolution由掃描決定的數(shù)字圖像的像素幾何尺寸，取決于激光掃描儀掃描成像板的行間距，以及激光點(diǎn)掃描行走速度與模數(shù)轉(zhuǎn)換器工作頻率之比。3.16信噪比SNR signal-to-noiseratio在數(shù)字圖像中，選定區(qū)域的灰度平均值與標(biāo)準(zhǔn)差的比值。3.17歸一化信噪比SNRn normalizedsignal-to-noiseratio基于系統(tǒng)的分辨率，經(jīng)歸一化處理后的信噪比。3.18一次透照長(zhǎng)度Leff Seffectiveareaofasingleexposure符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的單次曝光最大有效檢測(cè)長(zhǎng)度。3.19數(shù)字圖像處理digitalimageprocessing提高射線數(shù)字圖像的對(duì)比度、分辨率和細(xì)節(jié)識(shí)別能力的數(shù)字變換方法。3.20標(biāo)樣Standardsample用于標(biāo)定圖像中特征大小的已知尺寸的試樣。3.21原始圖像rawimage成像板形成的潛影經(jīng)掃描儀掃描后的圖像。一般要求檢測(cè)人員從事射線計(jì)算機(jī)輔助成像檢測(cè)的人員（應(yīng)滿足NB/T47013.1的有關(guān)規(guī)定，并取得射線數(shù)字成像檢測(cè)項(xiàng)目的資格。檢測(cè)人員應(yīng)了解與射線數(shù)字成像技術(shù)相關(guān)的計(jì)算機(jī)知識(shí)、數(shù)字圖像處理知識(shí)，掌握相應(yīng)的計(jì)算機(jī)基本操作方法。檢測(cè)人員應(yīng)在上崗前接受輻射安全知識(shí)，并按照有關(guān)法規(guī)的要求取得相應(yīng)證書(shū)。檢測(cè)人員未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的近（距（距視力應(yīng)不低于5.（小數(shù)記錄值為1.0測(cè)試方法應(yīng)符合GB11533的規(guī)定。從事數(shù)字圖像評(píng)定的人員應(yīng)每年接受一次視力檢查。檢測(cè)系統(tǒng)和器材X射線機(jī)應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度、材質(zhì)和焦距大小，選擇射線機(jī)的能量范圍。采用的X射線機(jī)，其性能指標(biāo)應(yīng)滿足JB/T11608的規(guī)定，使用性能測(cè)試條件及測(cè)試方法參考GB/T26594GB/T26592的規(guī)定。供應(yīng)商應(yīng)提供X射線管的焦點(diǎn)尺寸和輻射角度的測(cè)試報(bào)告。3γ射線機(jī)應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度、材質(zhì)和焦距大小，選擇γ射線源類(lèi)型及活度。采用的γ射線機(jī)，其性能指標(biāo)應(yīng)滿足GB/T14058的規(guī)定。CR系統(tǒng)應(yīng)根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和技術(shù)要求選擇適用的CR系統(tǒng)。系統(tǒng)性能測(cè)試條件及測(cè)試方法按GB/T21356的規(guī)定執(zhí)行。系統(tǒng)至少應(yīng)滿足以下性能指標(biāo)：圖像幾何畸變應(yīng)小于±2%；掃描儀和成像板之間不應(yīng)存在抖動(dòng)、滑動(dòng)，或抖動(dòng)低于系統(tǒng)噪聲水平；c）圖像同一水平線上，中心區(qū)域與邊緣背景灰度變化應(yīng)不超過(guò)±10%；d）其它性能指標(biāo)包括：信噪比、激光束功能、陰影、影像擦除、偽影等；成像板供應(yīng)商應(yīng)提供成像板的質(zhì)量證明文件，內(nèi)容至少中至少應(yīng)包括成像板的類(lèi)型和規(guī)格、動(dòng)態(tài)范圍、并避免不必要的照射。掃描儀應(yīng)提供激光掃描儀質(zhì)量證明文件，內(nèi)容至少包括規(guī)格、掃描尺寸、輸入電壓、掃描分辨率、激光束焦點(diǎn)尺寸、掃描步進(jìn)速度等主要性能參數(shù)，且其功能和性能至少滿足以下要求：a）掃描儀應(yīng)具有掃描和擦除功能，擦除后殘留潛影灰度值不得高于系統(tǒng)最大灰度的5%；b）掃描激光功率應(yīng)滿足信號(hào)采集的要求；掃描儀的光電倍增管電壓或增益、掃描分辨率應(yīng)可調(diào)；激光束應(yīng)無(wú)顫動(dòng)、且不存在偽影和掃描線丟失現(xiàn)象。顯示器應(yīng)滿足以下最低要求：最低亮度250cd/m2；顯示器至少256灰度級(jí)；可顯示的最低光強(qiáng)比1∶250；顯示至少1M像素，像素尺寸小于0.3mm。系統(tǒng)專(zhuān)用軟件應(yīng)至少包括如下功能：測(cè)量功能：包括灰度測(cè)量、空間分辨率測(cè)量、信噪比測(cè)量、幾何尺寸測(cè)量等；調(diào)整功能：包括灰度變換、對(duì)比度調(diào)節(jié)、圖像縮放等；標(biāo)記功能。像質(zhì)計(jì)像質(zhì)計(jì)包括線型像質(zhì)計(jì)和雙線型像質(zhì)計(jì)。像質(zhì)計(jì)供貨商應(yīng)提供相應(yīng)質(zhì)量證明文件。線型像質(zhì)計(jì)線型像質(zhì)計(jì)用于測(cè)定圖像質(zhì)量，包括通用線型像質(zhì)計(jì)和等徑線型像質(zhì)計(jì)兩種，其型號(hào)和規(guī)格應(yīng)分別符合GB/T23901.1JB/T7902的規(guī)定；線型像質(zhì)計(jì)的材料代號(hào)、材料和不同材料的線型像質(zhì)計(jì)適用的被檢工件材料范圍可按表14的規(guī)定執(zhí)行，線型像質(zhì)計(jì)材料的吸收系數(shù)應(yīng)盡可能的接近或等同于被檢材料的吸收系數(shù)，任何情況下不能高于被檢材料的吸收系數(shù)。表1不同材料的線型像質(zhì)計(jì)適用的材料范圍線型像質(zhì)計(jì)材料代號(hào)AlTiFeNiCu線型像質(zhì)計(jì)材料工業(yè)純鋁工業(yè)純鈦碳素鋼鎳－鉻合金3#純銅適用材料范圍鋁，鋁合金鈦，鈦合金鋼鎳，鎳合金銅，銅合金雙線型像質(zhì)計(jì)雙線型像質(zhì)計(jì)用于測(cè)量系統(tǒng)分辨率和圖像分辨率；雙線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.5的要求。檢測(cè)系統(tǒng)和器材的功能及性能應(yīng)符合上述要求，且應(yīng)提供相應(yīng)的證明文件；檢測(cè)系統(tǒng)的使用性能應(yīng)滿足本部分規(guī)定的圖像質(zhì)量要求。校準(zhǔn)或運(yùn)行核查每年至少對(duì)系統(tǒng)性能中的幾何畸變、抖動(dòng)、均勻性、激光束功能、陰影、偽影等進(jìn)行1次校準(zhǔn)或核查并記錄。每年至少應(yīng)對(duì)使用中的曝光曲線進(jìn)行1次核查。當(dāng)射線機(jī)重要部件更換或經(jīng)過(guò)修理后，應(yīng)重新制作曝光曲線。運(yùn)行核查存在如下情況應(yīng)進(jìn)行系統(tǒng)核查并記錄，核查方法可參照GB/T21356。a）系統(tǒng)改變時(shí)（包括各部件的維修、更換、軟件升級(jí)等；在系統(tǒng)停止使用3個(gè)月以上，重新使用時(shí)；正常使用條件下，用戶可根據(jù)產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)和使用頻率，在工藝文件中規(guī)定核查頻次，并按規(guī)定實(shí)施核查。檢測(cè)技術(shù)等級(jí)本文件規(guī)定的射線計(jì)算機(jī)輔助成像檢測(cè)技術(shù)等級(jí)分為三級(jí)：A級(jí)——低靈敏度技術(shù)；AB級(jí)——中靈敏度技術(shù)；B級(jí)——高靈敏度技術(shù)。檢測(cè)技術(shù)等級(jí)選擇應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求。對(duì)承壓設(shè)備對(duì)接焊縫，一般推薦采用AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)重要設(shè)備和結(jié)構(gòu)以及特殊材料和特殊焊接工藝制作的對(duì)接焊縫，宜采用B級(jí)檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)某些檢測(cè)條件不能滿足AB級(jí)（或B級(jí)）檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)合同雙方商定，在采取有效補(bǔ)償措施（例如增加曝光量或選用信噪比更高的系統(tǒng)等）的前提下，若數(shù)字圖像質(zhì)量達(dá)到了AB級(jí)（或B級(jí)）檢測(cè)技術(shù)的規(guī)定，則可認(rèn)為按AB級(jí)（B級(jí)）檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了檢測(cè)。如果檢測(cè)中射線源至被檢工件表面的距離f不滿足5.6的要求，則4.3.3規(guī)定不適用。如果在用承壓設(shè)備檢測(cè)的某些條件不能滿足AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)的要求時(shí)，經(jīng)合同雙方商定，在采取有效補(bǔ)償措施（例如增加曝光量或選用信噪比更高的系統(tǒng)等前提下可采用A級(jí)檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)，宜同時(shí)采用其他無(wú)損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。檢測(cè)工藝文件檢測(cè)工藝文件包括工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書(shū)。工藝規(guī)程除滿足NB/T47013.1的要求外，還應(yīng)規(guī)定下列相關(guān)因素的具體范圍或要求，如相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時(shí)，應(yīng)重新編制或修訂工藝規(guī)程：5被檢測(cè)工件的類(lèi)型、規(guī)格（形狀、尺寸、壁厚和材質(zhì)）適用的結(jié)構(gòu)、材料類(lèi)別及厚度；檢測(cè)設(shè)備器材（種類(lèi)、規(guī)格、主要技術(shù)參數(shù)；檢測(cè)技術(shù)等級(jí)；檢測(cè)工藝（透照方式、透照參數(shù)、幾何參數(shù)圖像質(zhì)量評(píng)定；工藝試驗(yàn)。應(yīng)根據(jù)工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢工件的檢測(cè)要求編寫(xiě)操作指導(dǎo)書(shū)，其內(nèi)容除滿足NB/T47013.1的要求外，至少還應(yīng)包括：檢測(cè)設(shè)備器材：射線源（種類(lèi)、規(guī)格、焦點(diǎn)或源尺寸、成像板、金屬屏（種類(lèi)和厚度、像質(zhì)計(jì)（種類(lèi)和型號(hào)、背散射屏蔽鉛板、標(biāo)記、掃描儀和觀察設(shè)備等；檢測(cè)技術(shù)等級(jí)；檢測(cè)工藝：透照方式、透照參數(shù)（包括：管電壓、曝光量、幾何參數(shù)、掃描儀參數(shù)；檢測(cè)標(biāo)識(shí)；圖像質(zhì)量要求：灰度范圍、圖像分辨率、圖像靈敏度、歸一化信噪比、標(biāo)樣等；驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。工藝驗(yàn)證首次使用的操作指導(dǎo)書(shū)應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，以驗(yàn)證數(shù)字圖像質(zhì)量是否能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。為依據(jù)的驗(yàn)證圖像均應(yīng)做出標(biāo)識(shí)。工藝驗(yàn)證時(shí)應(yīng)擺放線型和雙線型像質(zhì)計(jì)，線型像質(zhì)計(jì)的放置與實(shí)際檢測(cè)一致。雙線型像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在靠近焊縫的母材上，且在成像中心區(qū)域上下（垂直焊縫）左右（平行焊縫）放置，四個(gè)方位的圖像分辨率均應(yīng)滿足要求。二個(gè)方位的圖像分辨率均應(yīng)滿足要求。安全要求檢測(cè)環(huán)境應(yīng)滿足系統(tǒng)運(yùn)行對(duì)環(huán)境（溫度、濕度、接地、電磁輻射、振動(dòng)等）的要求。輻射防護(hù)應(yīng)符合GB18871、GBZ117或GBZ132的有關(guān)規(guī)定?，F(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行射線數(shù)字成像檢測(cè)時(shí)，應(yīng)按GBZ117或GBZ132的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)，設(shè)置警告標(biāo)志，檢測(cè)作業(yè)時(shí)，應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測(cè)定輻射水平。檢測(cè)人員應(yīng)佩戴個(gè)人劑量計(jì)，并攜帶劑量報(bào)警儀。檢測(cè)工藝及其選擇檢測(cè)時(shí)機(jī)檢測(cè)時(shí)機(jī)應(yīng)滿足相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求。24h后進(jìn)行檢測(cè)。檢測(cè)區(qū)檢測(cè)區(qū)寬度應(yīng)滿足相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求，檢測(cè)區(qū)包括焊縫金屬及相對(duì)于焊縫邊緣至少為5mm的相鄰母材區(qū)域。6對(duì)于電渣焊對(duì)接焊縫，其檢測(cè)區(qū)寬度應(yīng)由合同雙方商定或通過(guò)實(shí)際測(cè)量熱影響區(qū)確定。表面要求在檢測(cè)之前，對(duì)接焊縫的表面應(yīng)經(jīng)目視檢測(cè)合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在數(shù)字圖像上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應(yīng)對(duì)表面作適當(dāng)修整。成像板和金屬屏對(duì)厚度較小的被檢工件應(yīng)選擇感光速度較慢的成像板，對(duì)厚度較大的被檢工件可選擇感光速度較快的成像板。應(yīng)根據(jù)被檢工件材質(zhì)、透照厚度和管電壓選擇合適的成像板和金屬屏。表2和表3分別給出了常用金屬材料檢測(cè)時(shí)前金屬屏的材料和厚度選擇要求，金屬屏應(yīng)符合GB/T23910的要求。當(dāng)使用金屬屏?xí)r，成像板涂層面和前屏之間應(yīng)當(dāng)良好接觸；成像板背面可使用鉛屏，當(dāng)被檢工件較薄或平面工件時(shí)，推薦使用鋼或銅屏。表2前金屬屏的材料和厚度——鋼、銅及銅合金、鎳及鎳合金射線能量前金屬屏的類(lèi)型和厚度/mm管電壓≤50kV無(wú)管電壓＞50kV至250kV≤0.1（Pb）管電壓＞250kV至600kV≤0.3（Pb）Se75≤0.3（Pb）Ir192透照厚度≤50mm≤0.3（Pb）透照厚度＞50mm0.1～0.3（Pb）注：鉛屏可完全或部分由Fe或Cu屏代替，厚度為鉛屏的3倍。表3前金屬屏的材料和厚度——鋁及鋁合金、鈦及鈦合金射線能量前金屬屏的類(lèi)型和厚度/mm管電壓≤150kV≤0.03（Pb）管電壓＞150kV至600kV≤0.2（Pb）Se75≤0.3（Pb）注：可在被檢工件與成像板暗盒之間使用0.1mm鉛質(zhì)濾光板，暗盒內(nèi)使用0.1mm鉛金屬屏，替代0.2mm鉛金屬屏。透照布置透照方式應(yīng)根據(jù)被檢工件特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式，典型的透照方式參見(jiàn)NB/T47013.2。除小徑管允許選擇雙壁透照或合同各方商定選擇雙壁透照方式的特殊情況外，具備單壁透照條件時(shí)，應(yīng)選擇單壁透照方式。透照方向透照時(shí)，射線束中心通常垂直指向透照區(qū)中心，并與工件表面法線重合，需要時(shí)也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。一次透照長(zhǎng)度一次透照長(zhǎng)度通過(guò)透照厚度比KK值應(yīng)符合表4的規(guī)定。通過(guò)K值確定的整條環(huán)向?qū)雍缚p所需的透照次數(shù)可參照NB/T47013.2的相7關(guān)曲線圖確定。采用射線源在內(nèi)偏心透照（F<Do/2）時(shí)，透照次數(shù)參照NB/T47013.2的相關(guān)公式進(jìn)行計(jì)算。橢圓形封頭、碟形封頭小r區(qū)的焊縫，小徑管以及其他曲率連續(xù)變化的焊縫可不以K值確定一次透照長(zhǎng)度，圖像質(zhì)量應(yīng)滿足5.16的要求。表4允許的透照厚度比K檢測(cè)技術(shù)等級(jí)A級(jí)、AB級(jí)B級(jí)縱向?qū)雍缚pK≤1.03K≤1.01環(huán)向?qū)雍缚pK≤1.1aK≤1.06a對(duì)100mm＜Do≤400mm的環(huán)向?qū)雍附咏宇^（包括曲率相同的曲面焊接接頭，A級(jí)、AB級(jí)允許采用K≤1.2。有效評(píng)定區(qū)搭接有效評(píng)定區(qū)是指滿足本文件對(duì)于透照厚度比和圖像質(zhì)量要求的成像區(qū)域。焊縫進(jìn)行全部檢測(cè)時(shí)，采取的曝光次數(shù)和有效評(píng)定區(qū)的重疊應(yīng)能保證檢測(cè)到被檢測(cè)區(qū)的整個(gè)體積范圍。如果采用暗盒直接搭接透照的方式，也應(yīng)保證整個(gè)有效評(píng)定區(qū)圖像質(zhì)量滿足5.16的要求。小徑管雙壁雙影透照小徑管環(huán)向?qū)雍缚p可采用雙壁雙影透照布置。透照布置同時(shí)滿足下列兩條件時(shí)應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像：——T（壁厚）≤8mm；——g（焊縫寬度）≤Do/4。應(yīng)控制影像的開(kāi)口寬度（上下焊縫投影最大間距）在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時(shí)，可采用垂直透照方式重疊成像。透照次數(shù)小徑管環(huán)向?qū)雍缚p100%檢測(cè)的透照次數(shù)：采用傾斜透照橢圓成像時(shí)，當(dāng)T/Do≤0.12時(shí)，相隔90°透照2次；當(dāng)T/Do＞0.12時(shí)，相隔120°或60°透照3次。垂直透照重疊成像時(shí)，一般應(yīng)相隔120°或60°透照3次。按照上述規(guī)定進(jìn)行多次透照時(shí)，相鄰數(shù)字圖像有效評(píng)定區(qū)的重疊應(yīng)保證覆蓋被檢測(cè)區(qū)的整個(gè)體積范圍，如最少曝光次數(shù)不能滿足100%覆蓋要求，則應(yīng)增加曝光次數(shù)。特殊情況由于結(jié)構(gòu)原因不能按5.5.5.2規(guī)定的間隔角度進(jìn)行多次透照，經(jīng)合同雙方商定，可不再?gòu)?qiáng)制執(zhí)行5.5.5.2規(guī)定的透照間隔角度，但應(yīng)采取措施盡量擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，同時(shí)應(yīng)保證在評(píng)定范圍內(nèi)圖像質(zhì)量滿足本文件要求，并在檢測(cè)報(bào)告中對(duì)有關(guān)情況進(jìn)行說(shuō)明。5.5.5.4局部檢測(cè)不要求100%檢測(cè)的小徑管環(huán)向焊接接頭的透照次數(shù)由合同雙方商定。射線源至被檢工件表面的最小距離所選用的射線源至被檢工件表面的距離f應(yīng)滿足如下要求：——A級(jí)檢測(cè)技術(shù)：f≥7.5d·b2/3；8——AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)：f≥10d·b2/3；——B級(jí)檢測(cè)技術(shù)：f≥15d·b2/3。圖1是A級(jí)和B級(jí)檢測(cè)技術(shù)確定f的諾模圖，圖2是AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)確定f的諾模圖。有效焦點(diǎn)或源尺寸d按NB/T47013.2的規(guī)定計(jì)算。采用射線源在被檢工件內(nèi)中心透照方式周向曝光時(shí)，只要得到的數(shù)字圖像質(zhì)量符合5.16的要求，f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的50%。采用射線源在被檢工件內(nèi)偏心透照方式周向曝光時(shí)，只要得到的數(shù)字圖像質(zhì)量符合5.16的要求，f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的20%。圖1A級(jí)和B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定焦點(diǎn)或源至被檢工件表面距離的諾模圖9圖2AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)確定焦點(diǎn)或源至被檢工件表面距離的諾模圖成像板與被檢工件之間的距離曝光期間成像板應(yīng)緊貼被檢工件，除非有特殊規(guī)定或透照布置能使被檢區(qū)域得到更好的數(shù)字圖像。射線能量X在保證穿透力的前提下，宜選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時(shí)，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬俊D3為不同材料、不同透照厚度建議采用的最高Ｘ射線管電壓。對(duì)截面厚度變化大的承壓設(shè)備，在保證數(shù)字圖像質(zhì)量滿足5.16要求的前提下，允許采用超過(guò)圖350kV；對(duì)鈦及鈦合金材料，管電壓增量應(yīng)不超過(guò)40kV；對(duì)鋁及鋁合金材料，管電壓增量應(yīng)不超過(guò)30kV。按B級(jí)檢測(cè)技術(shù)檢測(cè)時(shí)，宜選用結(jié)構(gòu)噪聲較低的成像板。如選用結(jié)構(gòu)噪聲較高的成像板，10采用的最高Ｘ射線管電壓宜比圖3所示值低20%。透照厚度，透照厚度，W/mm說(shuō)明：1——銅及銅合金、鎳及鎳合金； 3——鈦及鈦合金；2——鋼； 4——鋁及鋁合金。圖3不同透照厚度允許的最高X射線管電壓Ir192Se75γ射線源Ir192和Se75γ射線源推薦的透照厚度范圍見(jiàn)表5。表5Ir192和Se75對(duì)鋼、銅和鎳基合金材料所適用的透照厚度范圍γ射線源透照厚度w/mmA級(jí)AB級(jí)B級(jí)Se7510≤w≤4010≤w≤4014≤w≤40Ir19220≤w≤10020≤w≤9020≤w≤80注1：采用Se75射線源透照鋁和鈦合金，透照厚度：A級(jí)和AB級(jí)時(shí)，35≤w≤120；B級(jí)時(shí)，25≤w≤55。在保證圖像質(zhì)量滿足要求的前提下，且信噪比應(yīng)高于表12和表13的1.4倍，經(jīng)合同雙方商定，γ射線源透照厚度檢測(cè)下限如下：a）A級(jí)、AB級(jí)Ir192透照厚度可降至10mm；b）Se75透照厚度可低于10mm。使用Ir192和Se7510%。曝光量X射線檢測(cè)的曝光量等于曝光時(shí)間和管電流的乘積，單位mA·s表示；γ射線檢測(cè)的曝光量等于曝光時(shí)間射線源當(dāng)前活度的乘積，單位Ci?s。增加曝光量可提高信噪比、提高圖像質(zhì)量?？砂凑崭戒汚的規(guī)定通過(guò)最小灰度值試驗(yàn)確定合適的曝光量。無(wú)用射線和散射線屏蔽宜采用金屬屏、周邊遮擋鉛板、準(zhǔn)直器等適當(dāng)措施，屏蔽散射線和無(wú)用射線，限制照射場(chǎng)范11圍。檢查背散射防護(hù)的方法是在暗盒背面貼附“B”鉛字標(biāo)記，一般B鉛字的高度為13mm、厚度1.6mm，按檢測(cè)工藝的規(guī)定進(jìn)行透照和掃描處理。若在數(shù)字圖像（負(fù)片）上出現(xiàn)灰度高于周?chē)尘盎叶鹊摹癇”字影像（淺色影像，則說(shuō)明背散射防護(hù)不夠，應(yīng)增大背散射防護(hù)鉛板的厚度。若數(shù)字圖像上不出現(xiàn)“B”字影像或出現(xiàn)灰度低于周?chē)尘盎叶鹊摹癇”字影像（深色影像，則說(shuō)明背散射防護(hù)符合要求。在背散射輕微或后金屬屏足以屏蔽背散射線的情況下，可不使用背散射防護(hù)鉛板或金屬屏。Se75Ir1920.2mm～1mm之間選擇。線型像質(zhì)計(jì)的使用線型像質(zhì)計(jì)放置原則線型像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長(zhǎng)度的1/4左右位置，金屬線應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)線置于外側(cè)，當(dāng)一張成像板上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí)，線型像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。線型像質(zhì)計(jì)放置還應(yīng)滿足以下規(guī)定：?jiǎn)伪谕刚找?guī)定像質(zhì)計(jì)放置在射線源側(cè)。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在成像板側(cè)。雙壁雙影透照像質(zhì)計(jì)可放置在射線源側(cè)，也可放置在成像板側(cè)；單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無(wú)法放置射線源側(cè)，允許放置在成像板側(cè)；單壁透照中像質(zhì)計(jì)放置在成像板側(cè)時(shí)，應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)。對(duì)比試驗(yàn)方法是在射線源側(cè)和成像板側(cè)各放一個(gè)像質(zhì)計(jì)，用與被檢工件相同的條件透照，測(cè)定出像質(zhì)計(jì)放置在射線源側(cè)和當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在成像板側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在數(shù)字圖像上，且應(yīng)在檢測(cè)報(bào)告中注明。線型像質(zhì)計(jì)數(shù)量原則上每張數(shù)字圖像上都應(yīng)有像質(zhì)計(jì)的影像。當(dāng)一次曝光完成多張成像板成像時(shí)，使用的像質(zhì)計(jì)數(shù)量允許減少，但應(yīng)符合以下要求：環(huán)形對(duì)接焊接接頭采用射線源置于中心周向曝光時(shí)，至少在圓周上等間隔地放置3個(gè)像質(zhì)計(jì)；一次曝光連續(xù)排列多張成像板時(shí)，至少在第一張、中間一張和最后一張成像板處各放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)。小徑管對(duì)接焊縫使用的線型像質(zhì)計(jì)和放置要求小徑管使用通用線型和專(zhuān)用等徑線型像質(zhì)計(jì)時(shí)，金屬絲應(yīng)垂直或平行焊縫放置。不等厚或不同種類(lèi)材料之間對(duì)接焊縫如果焊接接頭的幾何形狀允許，厚度不同或材料類(lèi)型不同的部位應(yīng)分別采用與被檢工件厚度或類(lèi)型相匹配的線型像質(zhì)計(jì)，并分別放置在焊接接頭相對(duì)應(yīng)部位。線型像質(zhì)計(jì)影像識(shí)別使用線型像質(zhì)計(jì)時(shí)，圖像上能夠識(shí)別的最細(xì)線的編號(hào)即為像質(zhì)計(jì)靈敏度值。圖像灰度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)的金屬絲影像連續(xù)可見(jiàn)長(zhǎng)度不小于10mm時(shí)，則認(rèn)為該絲是可識(shí)別的。12專(zhuān)用等徑絲型像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識(shí)別兩根金屬線。對(duì)于小徑管檢測(cè)，當(dāng)線型像質(zhì)計(jì)平行放置時(shí)，金屬絲影像可見(jiàn)長(zhǎng)度應(yīng)不小于外徑的20%。雙線型像質(zhì)計(jì)的使用雙線型像質(zhì)計(jì)放置方法見(jiàn)附錄B。對(duì)每一種檢測(cè)對(duì)象和工藝，應(yīng)采用雙線型像質(zhì)計(jì)測(cè)量其圖像分辨率，在驗(yàn)證符合要求后，進(jìn)行檢測(cè)時(shí)可不放置雙線型像質(zhì)計(jì)。測(cè)定數(shù)字圖像分辨率時(shí)，雙線型像質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射線源側(cè)被檢工件表面且“”值較大部位；當(dāng)對(duì)接焊縫的材料類(lèi)型不同時(shí)，應(yīng)放置于衰減系數(shù)最大的材料的射線源側(cè)被檢工件表面。標(biāo)記透照部位的標(biāo)記由識(shí)別標(biāo)記和定位標(biāo)記組成。標(biāo)記一般由適當(dāng)尺寸的鉛（或其他適宜的重金屬）制數(shù)字、拼音字母和符號(hào)等構(gòu)成。標(biāo)記應(yīng)能清晰顯示且不至于對(duì)圖像的評(píng)定帶來(lái)影響，標(biāo)記的材料和厚度應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度來(lái)選擇，應(yīng)能保證標(biāo)記影像不模糊。識(shí)別標(biāo)記一般包括：產(chǎn)品編號(hào)、焊縫編號(hào)、部位編號(hào)和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)記，擴(kuò)大檢測(cè)比例的透照應(yīng)有擴(kuò)大檢測(cè)標(biāo)記。定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記、搭接標(biāo)記、檢測(cè)區(qū)標(biāo)記等。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號(hào)的方向，一般用十字箭頭“↑”表示。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測(cè)時(shí)的透照分段標(biāo)記，可（如數(shù)字等表示。檢測(cè)區(qū)標(biāo)記采取的方式能夠清晰標(biāo)識(shí)檢測(cè)區(qū)范圍即可。當(dāng)焊縫內(nèi)外余高均磨平，從數(shù)字圖像上不能確定檢測(cè)區(qū)位置和寬度時(shí)，應(yīng)采用適當(dāng)?shù)亩ㄎ粯?biāo)記（如采用鉛質(zhì)窄條）進(jìn)行標(biāo)識(shí)。定位標(biāo)記應(yīng)放在被檢工件上，其擺放應(yīng)符合NB/T47013.2的相關(guān)規(guī)定。所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評(píng)定區(qū)的影像。當(dāng)由于結(jié)構(gòu)原因或難于實(shí)施時(shí)，應(yīng)放置于射線源側(cè)的定位標(biāo)記需要放置于成像板側(cè)時(shí)，檢測(cè)記錄和報(bào)告應(yīng)標(biāo)注實(shí)際的評(píng)定范圍。識(shí)別標(biāo)記允許放置于射線源側(cè)或成像板側(cè)，所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)干擾有效評(píng)定區(qū)的影像。為了能精確的辨別實(shí)際檢測(cè)位置，以被檢工件上永久標(biāo)識(shí)或部位作為參考點(diǎn)；如果因材料性質(zhì)和使用條件而不能進(jìn)行永久標(biāo)識(shí)時(shí)，應(yīng)采用其他方法（如透照布置圖）確定。標(biāo)樣標(biāo)樣作為圖像中特征（缺陷）測(cè)量時(shí)的尺寸標(biāo)定試樣，具體使用見(jiàn)7.2條。標(biāo)樣應(yīng)放置在成像板側(cè)，標(biāo)樣的長(zhǎng)度方向宜與焊縫方向平行，在有效評(píng)定范圍內(nèi)成像，且不干擾有效評(píng)定區(qū)范圍內(nèi)的影像。標(biāo)樣長(zhǎng)度應(yīng)不低于15mm。掃描儀參數(shù)選擇掃描儀光電倍增管電壓或增益的選擇應(yīng)與曝光量匹配，使數(shù)字圖像灰度值處于適當(dāng)范圍（5%~90%掃描分辨率的選擇應(yīng)保證數(shù)字圖像分辨率達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求，且應(yīng)與成像板特性匹配。圖像評(píng)定環(huán)境要求圖像評(píng)定應(yīng)在專(zhuān)用的評(píng)定室內(nèi)進(jìn)行，評(píng)定室應(yīng)整潔、溫濕度適宜、光線柔和。圖像質(zhì)量要求13一般要求圖像上的標(biāo)記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。圖像有效評(píng)定區(qū)不應(yīng)存在干擾缺陷識(shí)別的劃痕、壓痕、折痕、脫膜、異物粘附以及金屬屏缺陷等造成的偽缺陷影像。圖像質(zhì)量滿足規(guī)定的要求后，方可進(jìn)行被檢工件質(zhì)量的等級(jí)評(píng)定。應(yīng)在光線柔和的環(huán)境下觀察圖像，顯示器屏幕應(yīng)清潔、無(wú)明顯的光線反射。圖像質(zhì)量評(píng)定應(yīng)在原始圖像中進(jìn)行，不得采用濾波處理方法。圖像靈敏度要求單壁透照、線型像質(zhì)計(jì)置于射線源側(cè)時(shí)應(yīng)符合表6的規(guī)定；雙壁雙影透照、線型像質(zhì)計(jì)置于射線源側(cè)時(shí)應(yīng)符合表7的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、線型像質(zhì)計(jì)置于成像板側(cè)時(shí)應(yīng)符合表8的規(guī)定。對(duì)于帶墊板的焊接接頭，透照厚度應(yīng)包括墊板厚度。表6圖像靈敏度——單壁透照、線型像質(zhì)計(jì)置于射線源側(cè)應(yīng)識(shí)別線號(hào)（線徑/mm）公稱(chēng)厚度（T）范圍/mmA級(jí)AB級(jí)B級(jí)19（0.050）——≤1.518（0.063）—≤1.2＞1.5～2.517（0.080）≤1.2＞1.2～2.0＞2.5～4.016（0.100）≤1.2～2.0＞2.0～3.5＞4.0～6.015（0.125）＞2.0～3.5＞3.5～5.0＞6.0～8.014（0.160）＞3.5～5.0＞5.0～7.0＞8.0～1213（0.20）＞5.0～7.0＞7.0～10＞12～2012（0.25）＞7.0～10＞10～15＞20～3011（0.32）＞10～15＞15～25＞30～3510（0.40）＞15～25＞25～32＞35～459（0.50）＞25～32＞32～40＞45～658（0.63）＞32～40＞40～55＞65～1007（0.80）＞40～55＞55～85—6（1.00）＞55～85＞85～100—5（1.25）＞85～100——表7圖像靈敏度——雙壁雙影透照、線型像質(zhì)計(jì)置于射線源側(cè)應(yīng)識(shí)別線號(hào)（線徑/mm）透照厚度（W）范圍/mmA級(jí)AB級(jí)B級(jí)19（0.050）——≤1.518（0.063）—≤1.2＞1.5～2.517（0.080）≤1.2≤1.2～2.0＞2.5～4.016（0.100）≤1.2～2.0＞2.0～3.5＞4.0～6.015（0.125）＞2.0～3.5＞3.5～5.0＞6.0～8.014（0.160）＞3.5～5.0＞5.0～7.0＞8.0～151413（0.20）＞5.0～7.0＞7.0～12＞15～2512（0.25）＞7.0～12＞12～18＞25～3811（0.32）＞12～18＞18～30＞38～4510（0.40）＞18～30＞30～40＞45～559（0.50）＞30～40＞40～50＞55～708（0.63）＞40～50＞50～60＞70～1007（0.80）＞50～60＞60～85—6（1.00）＞60～85＞85～100—5（1.25）＞85～100——表8圖像靈敏度——雙壁單影或雙壁雙影透照、線型像質(zhì)計(jì)置于成像板側(cè)應(yīng)識(shí)別線號(hào)（線徑/mm）透照厚度（W）范圍/mmA級(jí)AB級(jí)B級(jí)19（0.050）——≤1.518（0.063）—≤1.2＞1.5～2.517（0.080）≤1.2＞1.2～2.0＞2.5～4.016（0.100）＞1.2～2.0＞2.0～3.5＞4.0～6.015（0.125）＞2.0～3.5＞3.5～5.0＞6.0～1214（0.160）＞3.5～5.0＞5.0～10＞12～1813（0.20）＞5.0～10＞10～15＞18～3012（0.25）＞10～15＞15～22＞30～4511（0.32）＞15～22＞22～38＞45～5510（0.40）＞22～38＞38～48＞55～709（0.50）＞38～48＞48～60＞70～1008（0.63）＞48～60＞60～85—7（0.80）＞60～85＞85～100—6（1.00）＞85～100——分辨率要求檢測(cè)技術(shù)等級(jí)A級(jí)、AB級(jí)和B級(jí)的圖像分辨率應(yīng)分別符合表9~表規(guī)定。使用雙線型像質(zhì)計(jì)測(cè)量分辨率的方法見(jiàn)附錄B。對(duì)于帶墊板的焊接接頭，透照厚度應(yīng)包括墊板厚度。9A級(jí)檢測(cè)技術(shù)應(yīng)達(dá)到的最低分辨率公稱(chēng)厚度（T）或透照厚度（W）范圍/mm線號(hào)分辨力（mm）分辨率（lp/mm）≤1.0D130.0510.0015＞1.0～1.5D120.0637.94＞1.5～2D110.086.25＞2～5D100.105.00＞5～10D90.133.85＞10～25D80.163.125＞25～55D70.202.50＞55～100D60.252.00注：對(duì)于雙壁單影透照方式，應(yīng)取公稱(chēng)厚度T。對(duì)于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度可取管徑。表10AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)應(yīng)達(dá)到的最低分辨率公稱(chēng)厚度（T）或透照厚度（W）范圍/mm線號(hào)分辨力（mm）分辨率（lp/mm）≤1.0D140.0412.50＞1.0～1.5D130.0510.00＞1.5～2D120.0637.94＞2～5D110.086.25＞5～10D100.105.00＞10～25D90.133.85＞25～55D80.163.125＞55～100D70.202.50注：對(duì)于雙壁單影透照方式，應(yīng)取公稱(chēng)厚度T。對(duì)于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度可取管徑。表11B級(jí)檢測(cè)技術(shù)應(yīng)達(dá)到的最低分辨率公稱(chēng)厚度（T）或透照厚度（W）范圍/mm線號(hào)分辨力（mm）分辨率（lp/mm）≤1.5D140.0412.50＞1.5～4D130.0510.00＞4～8D120.0637.94＞8～12D110.086.25＞12～40D100.105.00＞40～100D90.133.85注：對(duì)于雙壁單影透照方式，應(yīng)取公稱(chēng)厚度T。對(duì)于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度可取管徑。如果圖像分辨率達(dá)不到表9~表11這種補(bǔ)償只允許1個(gè)等級(jí)，即當(dāng)靈敏度提高一個(gè)等級(jí)時(shí)，允許分辨率降低一個(gè)等級(jí)。歸一化信噪比圖像的歸一化信噪比應(yīng)滿足表12和表13的要求，歸一化信噪比的測(cè)量和計(jì)算見(jiàn)附錄C。16檢測(cè)厚度不均勻的試件時(shí)，允許采用最小灰度值代替最小SNRN，等價(jià)于最小SNRN的最小灰度值的測(cè)定見(jiàn)附錄A。表12允許的最小SNRn——鋼、銅及銅合金、鎳及鎳合金射線能量透照材料厚度W/mm最小SNRNA級(jí)AB級(jí)B級(jí)管電壓≤50kV—140170210管電壓＞50kV~150kV100140170管電壓＞150kV~250kV100120140管電壓＞250kV~350kV≤50100120140＞50100120140管電壓＞350kV~600kV≤50100120140＞50100100100Se75—100120140Ir192≤50100120140＞50100100100注：若在焊縫測(cè)量SNRn,則表中數(shù)值應(yīng)除以1.4,除非焊縫無(wú)余高且焊縫根部與母材齊平。表13允許的最小SNRn——鋁及鋁合金、鈦及鈦合金射線能量最小SNRnA級(jí)AB級(jí)B級(jí)管電壓≤150kV100140170管電壓＞150kV~250kV100120140管電壓＞250kV~600kV100120140Se75100120140注：若在焊縫測(cè)量SNRn,則表中數(shù)值應(yīng)除以1.4,除非焊縫無(wú)余高且焊縫根部與母材齊平。缺陷的識(shí)別與測(cè)量缺陷的識(shí)別缺陷的識(shí)別可采用人工識(shí)別或計(jì)算機(jī)輔助識(shí)別方法。缺陷的評(píng)定可采用人工評(píng)定或計(jì)算機(jī)輔助評(píng)定方法。缺陷人工識(shí)別要求圖像不低于100%顯示。人工識(shí)別可通過(guò)系統(tǒng)軟件工具對(duì)圖像進(jìn)行線性拉伸來(lái)改變圖像顯示的灰度范圍，達(dá)到人眼識(shí)別的最佳效果。在缺陷評(píng)定時(shí)，若對(duì)原始圖像采用濾波等圖像處理，應(yīng)經(jīng)合同雙方協(xié)商同意，并有相關(guān)文檔記錄。缺陷的測(cè)量在缺陷測(cè)量前，應(yīng)按照實(shí)際檢測(cè)工藝，采集含標(biāo)樣的檢測(cè)圖像，并進(jìn)行幾何尺寸標(biāo)定。17（標(biāo)定因子過(guò)測(cè)量得到缺陷的像素個(gè)數(shù)乘以標(biāo)定因子，得到實(shí)際缺陷尺寸。當(dāng)系統(tǒng)及透照參數(shù)改變時(shí)，應(yīng)重新進(jìn)行標(biāo)定。圖像存儲(chǔ)和保存圖像存儲(chǔ)圖像存儲(chǔ)格式宜按照DICONDE或TIF格式執(zhí)行。當(dāng)采用數(shù)字圖像處理技術(shù)時(shí)，處理后的圖像應(yīng)進(jìn)行標(biāo)識(shí)，并與原始數(shù)字圖像一起保存。圖像保存圖像應(yīng)存儲(chǔ)在數(shù)字存儲(chǔ)介質(zhì)中并存檔。檢測(cè)圖像應(yīng)備份不少于兩份，相應(yīng)的原始記錄和檢測(cè)報(bào)告也應(yīng)同期保存。圖像應(yīng)長(zhǎng)期保存，在有效保存期內(nèi)，圖像數(shù)據(jù)不得丟失和更改。檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)承壓設(shè)備熔化焊焊接接頭、承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向焊接接頭CR檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)參照NB/T47013.2執(zhí)行。檢測(cè)記錄和報(bào)告應(yīng)按照現(xiàn)場(chǎng)操作的實(shí)際情況詳細(xì)記錄檢測(cè)過(guò)程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)。檢測(cè)記錄除符合NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：委托單位或制造單位；被檢工件：名稱(chēng)、檢測(cè)部位、焊縫坡口型式、焊接方法；檢測(cè)設(shè)備器材：射線源（種類(lèi)，焦點(diǎn)或源尺寸、成像板、金屬屏（類(lèi)型、數(shù)量和厚度、像質(zhì)計(jì)（種類(lèi)和型號(hào)、背散射屏蔽鉛板、掃描和觀察設(shè)備、標(biāo)識(shí)；工藝驗(yàn)證；檢測(cè)工藝參數(shù)：檢測(cè)技術(shù)等級(jí)、透照方式、透照參數(shù)、掃描參數(shù)；f）圖像質(zhì)量：靈敏度、分辨率、歸一化信噪比、灰度范圍、標(biāo)樣等；g）缺陷位置、性質(zhì)和大??；h）其他需要說(shuō)明或記錄的事項(xiàng)。應(yīng)依據(jù)檢測(cè)記錄出具檢測(cè)報(bào)告。檢測(cè)報(bào)告除符合NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：委托單位或制造單位；被檢工件：名稱(chēng)、檢測(cè)部位、焊縫坡口型式、焊接方法；檢測(cè)設(shè)備器材：射線源（種類(lèi)，焦點(diǎn)或源尺寸、成像板、金屬屏（類(lèi)型、數(shù)量和厚度、像質(zhì)計(jì)（種類(lèi)和型號(hào)、掃描和觀察設(shè)備；檢測(cè)工藝參數(shù)：檢測(cè)技術(shù)等級(jí)、透照方式、透照參數(shù)、掃描參數(shù)；數(shù)字圖像質(zhì)量：靈敏度、分辨率、歸一化信噪比、灰度范圍；缺陷位置、性質(zhì)和大??；檢測(cè)工藝文件驗(yàn)證情況。18附錄A（資料性附錄）最小灰度值測(cè)試方法最小灰度值測(cè)試原則當(dāng)檢測(cè)厚度不均勻的試件時(shí)，可以采用最小灰度值代替最小SNRn?；叶群蚐NRn之間的關(guān)系適用于特定的設(shè)置，包括掃描類(lèi)型、掃描參數(shù)和相同品牌、型號(hào)的成像板。任何掃描參數(shù)（掃描分辨率、掃描速度、光電倍增