四級(jí)軟件測(cè)試考試常見(jiàn)誤區(qū)試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的基本原則？

A.全面性原則

B.經(jīng)濟(jì)性原則

C.隨機(jī)性原則

D.可重復(fù)性原則

2.在軟件測(cè)試中，黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試的區(qū)別是什么？

A.黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)，白盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能

B.黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能，白盒測(cè)試關(guān)注軟件的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)

C.黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的性能，白盒測(cè)試關(guān)注軟件的易用性

D.黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的可靠性，白盒測(cè)試關(guān)注軟件的穩(wěn)定性

3.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪種情況可能導(dǎo)致測(cè)試覆蓋率的提高？

A.增加測(cè)試用例數(shù)量

B.增加測(cè)試用例的執(zhí)行次數(shù)

C.增加測(cè)試用例的執(zhí)行時(shí)間

D.增加測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)

4.以下哪項(xiàng)不屬于軟件缺陷的分類？

A.功能缺陷

B.性能缺陷

C.可用性缺陷

D.需求缺陷

5.下列哪項(xiàng)不屬于軟件測(cè)試的生命周期？

A.軟件設(shè)計(jì)

B.軟件編碼

C.軟件測(cè)試

D.軟件維護(hù)

6.以下哪種測(cè)試方法可以檢測(cè)出程序中隱藏的錯(cuò)誤？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.性能測(cè)試

7.在軟件測(cè)試過(guò)程中，以下哪項(xiàng)不屬于測(cè)試管理的工作？

A.制定測(cè)試計(jì)劃

B.監(jiān)控測(cè)試進(jìn)度

C.確定測(cè)試策略

D.編寫(xiě)測(cè)試報(bào)告

8.以下哪種缺陷發(fā)現(xiàn)方法不適用于軟件測(cè)試？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.靜態(tài)測(cè)試

D.動(dòng)態(tài)測(cè)試

9.在軟件測(cè)試中，以下哪種方法可以評(píng)估軟件質(zhì)量？

A.缺陷密度

B.缺陷趨勢(shì)

C.缺陷嚴(yán)重性

D.缺陷數(shù)量

10.以下哪種測(cè)試方法主要關(guān)注軟件的易用性？

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.可用性測(cè)試

D.安全性測(cè)試

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.驗(yàn)證軟件是否滿足需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)

B.識(shí)別軟件中的缺陷

C.評(píng)估軟件質(zhì)量

D.優(yōu)化軟件性能

E.減少軟件維護(hù)成本

2.以下哪些是軟件測(cè)試的類型？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

E.靜態(tài)測(cè)試

3.軟件測(cè)試用例的設(shè)計(jì)原則包括哪些？

A.完整性

B.簡(jiǎn)潔性

C.可復(fù)用性

D.可維護(hù)性

E.可讀性

4.以下哪些是軟件缺陷的生命周期？

A.缺陷發(fā)現(xiàn)

B.缺陷報(bào)告

C.缺陷評(píng)估

D.缺陷修復(fù)

E.缺陷驗(yàn)證

5.以下哪些是軟件測(cè)試的工具？

A.JUnit

B.Selenium

C.QTP

D.LoadRunner

E.SonarQube

6.以下哪些是軟件測(cè)試的文檔？

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試用例

C.測(cè)試報(bào)告

D.需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)

E.設(shè)計(jì)文檔

7.軟件測(cè)試的局限性包括哪些？

A.時(shí)間和資源的限制

B.人類經(jīng)驗(yàn)的局限性

C.硬件和軟件的限制

D.測(cè)試用例的完備性

E.軟件復(fù)雜性的增加

8.以下哪些是軟件測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試策略？

A.功能測(cè)試自動(dòng)化

B.性能測(cè)試自動(dòng)化

C.安全測(cè)試自動(dòng)化

D.兼容性測(cè)試自動(dòng)化

E.可用性測(cè)試自動(dòng)化

9.軟件測(cè)試中的風(fēng)險(xiǎn)包括哪些？

A.測(cè)試覆蓋率不足

B.缺陷報(bào)告延遲

C.測(cè)試環(huán)境不穩(wěn)定

D.測(cè)試用例設(shè)計(jì)不當(dāng)

E.項(xiàng)目進(jìn)度延誤

10.以下哪些是軟件測(cè)試中的非功能性測(cè)試？

A.安全性測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.可用性測(cè)試

D.兼容性測(cè)試

E.易用性測(cè)試

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的最后一步。（）

2.黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試都是基于代碼的測(cè)試方法。（）

3.缺陷密度越高，說(shuō)明軟件質(zhì)量越好。（）

4.軟件測(cè)試用例應(yīng)該盡可能詳細(xì)，以確保測(cè)試的全面性。（）

5.軟件測(cè)試過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)缺陷的數(shù)量越多，說(shuō)明測(cè)試人員越優(yōu)秀。（）

6.靜態(tài)測(cè)試是一種通過(guò)執(zhí)行程序來(lái)檢測(cè)軟件缺陷的方法。（）

7.在軟件測(cè)試中，測(cè)試用例的執(zhí)行順序不影響測(cè)試結(jié)果。（）

8.軟件測(cè)試應(yīng)該覆蓋所有可能的輸入組合。（）

9.軟件測(cè)試的目的是為了找出軟件中的所有缺陷。（）

10.軟件測(cè)試可以保證軟件在所有環(huán)境下都能正常運(yùn)行。（）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的基本流程。

2.解釋什么是回歸測(cè)試，并說(shuō)明其在軟件測(cè)試中的作用。

3.描述如何設(shè)計(jì)有效的測(cè)試用例。

4.說(shuō)明性能測(cè)試與負(fù)載測(cè)試的區(qū)別。

5.簡(jiǎn)要介紹軟件測(cè)試中的缺陷管理流程。

6.解釋什么是測(cè)試覆蓋率，并討論如何提高測(cè)試覆蓋率。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題

1.C

解析思路：軟件測(cè)試的基本原則包括全面性、經(jīng)濟(jì)性、隨機(jī)性和可重復(fù)性，隨機(jī)性原則不是基本原則。

2.B

解析思路：黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能，不考慮內(nèi)部實(shí)現(xiàn)；白盒測(cè)試關(guān)注軟件的內(nèi)部實(shí)現(xiàn)，了解程序內(nèi)部邏輯。

3.A

解析思路：增加測(cè)試用例數(shù)量可以提高測(cè)試覆蓋率，從而提高測(cè)試的全面性。

4.D

解析思路：軟件缺陷分類通常包括功能缺陷、性能缺陷、可用性缺陷和兼容性缺陷。

5.D

解析思路：軟件測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)的一個(gè)階段，而軟件設(shè)計(jì)、編碼和維護(hù)是其他階段。

6.C

解析思路：系統(tǒng)測(cè)試是在軟件系統(tǒng)整體完成后的測(cè)試，目的是確保軟件系統(tǒng)滿足需求。

7.D

解析思路：測(cè)試管理包括制定測(cè)試計(jì)劃、監(jiān)控測(cè)試進(jìn)度、確定測(cè)試策略和編寫(xiě)測(cè)試報(bào)告。

8.C

解析思路：靜態(tài)測(cè)試是在不執(zhí)行程序的情況下進(jìn)行的測(cè)試，而動(dòng)態(tài)測(cè)試是通過(guò)執(zhí)行程序來(lái)檢測(cè)缺陷。

9.C

解析思路：缺陷嚴(yán)重性評(píng)估是評(píng)估缺陷對(duì)軟件質(zhì)量影響的重要指標(biāo)。

10.C

解析思路：可用性測(cè)試主要關(guān)注軟件的易用性，包括用戶界面和用戶體驗(yàn)。

二、多項(xiàng)選擇題

1.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的目的是驗(yàn)證軟件是否滿足需求、識(shí)別缺陷、評(píng)估質(zhì)量、優(yōu)化性能和減少維護(hù)成本。

2.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試。

3.A,B,C,D,E

解析思路：測(cè)試用例設(shè)計(jì)原則包括完整性、簡(jiǎn)潔性、可復(fù)用性、可維護(hù)性和可讀性。

4.A,B,C,D,E

解析思路：軟件缺陷的生命周期包括缺陷發(fā)現(xiàn)、報(bào)告、評(píng)估、修復(fù)和驗(yàn)證。

5.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試工具包括JUnit、Selenium、QTP、LoadRunner和SonarQube。

6.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試文檔包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試用例、測(cè)試報(bào)告、需求規(guī)格說(shuō)明書(shū)和設(shè)計(jì)文檔。

7.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的局限性包括時(shí)間資源限制、人類經(jīng)驗(yàn)限制、硬件軟件限制、測(cè)試用例完備性限制和軟件復(fù)雜性增加。

8.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的自動(dòng)化測(cè)試策略包括功能測(cè)試、性能測(cè)試、安全測(cè)試、兼容性測(cè)試和可用性測(cè)試自動(dòng)化。

9.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試中的風(fēng)險(xiǎn)包括測(cè)試覆蓋率不足、缺陷報(bào)告延遲、測(cè)試環(huán)境不穩(wěn)定、測(cè)試用例設(shè)計(jì)不當(dāng)和項(xiàng)目進(jìn)度延誤。

10.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試中的非功能性測(cè)試包括安全性測(cè)試、性能測(cè)試、可用性測(cè)試、兼容性測(cè)試和易用性測(cè)試。

三、判斷題

1.×

解析思路：軟件測(cè)試不是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的最后一步，通常在軟件交付前進(jìn)行。

2.×

解析思路：黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試都不是基于代碼的測(cè)試方法，黑盒測(cè)試關(guān)注外部行為，白盒測(cè)試關(guān)注內(nèi)部邏輯。

3.×

解析思路：缺陷密度高并不意味著軟件質(zhì)量好，高密度可能只是因?yàn)闇y(cè)試覆蓋率低。

4.√

解析思路：測(cè)試用例應(yīng)該盡可能詳細(xì)，以確保測(cè)試的全面性和準(zhǔn)確性。

5.×

解析思路：測(cè)試用例數(shù)量的多少不能直接反映測(cè)試人員的優(yōu)秀程度。

6.×

解析思路：靜態(tài)測(cè)試是在不執(zhí)行程序的情況下進(jìn)行的，動(dòng)態(tài)測(cè)試是通過(guò)執(zhí)行程序來(lái)檢測(cè)缺陷。

7.×