計(jì)算機(jī)三級(jí)嵌入式功能測(cè)試試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.下列關(guān)于嵌入式系統(tǒng)硬件的特點(diǎn)，錯(cuò)誤的是：

A.高性能

B.低功耗

C.高可靠性

D.強(qiáng)擴(kuò)展性

2.下列關(guān)于嵌入式系統(tǒng)軟件的特點(diǎn)，錯(cuò)誤的是：

A.實(shí)時(shí)性

B.面向特定應(yīng)用

C.可移植性差

D.可維護(hù)性強(qiáng)

3.嵌入式系統(tǒng)開發(fā)中，以下哪個(gè)不是常用的硬件開發(fā)平臺(tái)？

A.ARM

B.MIPS

C.PPC

D.Windows

4.以下哪個(gè)不是嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的主要階段？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

5.下列關(guān)于嵌入式系統(tǒng)測(cè)試方法，錯(cuò)誤的是：

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試相結(jié)合

D.靜態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試

6.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中，以下哪個(gè)不是常見的測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法？

A.等價(jià)類劃分

B.邊界值分析

C.決策表

D.需求分析

7.以下哪個(gè)不是嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的自動(dòng)化工具？

A.QEMU

B.GDB

C.CDT

D.Jenkins

8.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中，以下哪個(gè)不是測(cè)試報(bào)告的主要內(nèi)容？

A.測(cè)試目的

B.測(cè)試環(huán)境

C.測(cè)試用例執(zhí)行情況

D.測(cè)試結(jié)果

9.下列關(guān)于嵌入式系統(tǒng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，錯(cuò)誤的是：

A.IEC61508

B.ISO/IEC12207

C.IEEE802.11

D.IEEE802.3

10.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中，以下哪個(gè)不是測(cè)試過程中的常見問題？

A.測(cè)試用例設(shè)計(jì)不充分

B.測(cè)試環(huán)境配置錯(cuò)誤

C.測(cè)試工具選擇不當(dāng)

D.測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)不足

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.嵌入式系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)通常需要考慮以下哪些因素？

A.系統(tǒng)功耗

B.系統(tǒng)性能

C.系統(tǒng)成本

D.系統(tǒng)可靠性

E.系統(tǒng)可維護(hù)性

2.嵌入式系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)過程中，以下哪些是常見的軟件架構(gòu)？

A.微內(nèi)核架構(gòu)

B.客戶端-服務(wù)器架構(gòu)

C.狀態(tài)機(jī)架構(gòu)

D.軟件總線架構(gòu)

E.事件驅(qū)動(dòng)架構(gòu)

3.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中，以下哪些是測(cè)試用例設(shè)計(jì)的關(guān)鍵點(diǎn)？

A.覆蓋度

B.可執(zhí)行性

C.可讀性

D.可維護(hù)性

E.可復(fù)用性

4.以下哪些是嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法？

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.壓力測(cè)試

D.安全測(cè)試

E.兼容性測(cè)試

5.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中，以下哪些是測(cè)試環(huán)境配置的要素？

A.硬件設(shè)備

B.軟件工具

C.網(wǎng)絡(luò)連接

D.測(cè)試數(shù)據(jù)

E.測(cè)試人員

6.以下哪些是嵌入式系統(tǒng)測(cè)試報(bào)告的組成部分？

A.測(cè)試目的和范圍

B.測(cè)試環(huán)境和配置

C.測(cè)試用例執(zhí)行情況

D.測(cè)試結(jié)果分析

E.測(cè)試改進(jìn)建議

7.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中，以下哪些是測(cè)試自動(dòng)化工具的功能？

A.自動(dòng)化測(cè)試用例執(zhí)行

B.自動(dòng)化測(cè)試結(jié)果分析

C.自動(dòng)化測(cè)試報(bào)告生成

D.自動(dòng)化測(cè)試腳本管理

E.自動(dòng)化測(cè)試資源管理

8.以下哪些是嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的挑戰(zhàn)？

A.硬件和軟件的復(fù)雜性

B.系統(tǒng)資源的限制

C.測(cè)試環(huán)境的搭建和維護(hù)

D.測(cè)試用例的設(shè)計(jì)和執(zhí)行

E.測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性

9.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中，以下哪些是測(cè)試人員需要具備的技能？

A.熟悉嵌入式系統(tǒng)架構(gòu)

B.掌握測(cè)試方法和工具

C.具備良好的問題解決能力

D.熟悉編程語言和開發(fā)環(huán)境

E.具有團(tuán)隊(duì)合作精神

10.以下哪些是嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的常見目標(biāo)？

A.確保系統(tǒng)功能正確

B.提高系統(tǒng)性能

C.確保系統(tǒng)安全可靠

D.降低系統(tǒng)開發(fā)成本

E.提高用戶滿意度

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.嵌入式系統(tǒng)通常不需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。（×）

2.嵌入式系統(tǒng)的軟件設(shè)計(jì)應(yīng)該是可重用的。（√）

3.嵌入式系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)應(yīng)優(yōu)先考慮成本因素。（×）

4.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中，黑盒測(cè)試和灰盒測(cè)試是相互獨(dú)立的。（×）

5.嵌入式系統(tǒng)的測(cè)試用例應(yīng)該盡可能覆蓋所有可能的輸入和輸出組合。（√）

6.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中，靜態(tài)測(cè)試可以檢測(cè)代碼中的邏輯錯(cuò)誤。（√）

7.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試報(bào)告應(yīng)該包括所有測(cè)試用例的執(zhí)行結(jié)果。（√）

8.嵌入式系統(tǒng)的硬件測(cè)試通常比軟件測(cè)試更為復(fù)雜。（√）

9.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試過程中，測(cè)試人員不需要與開發(fā)人員溝通。（×）

10.嵌入式系統(tǒng)測(cè)試完成后，可以不進(jìn)行回歸測(cè)試。（×）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的主要階段和各自的目的。

2.解釋什么是等價(jià)類劃分，并說明其在嵌入式系統(tǒng)測(cè)試用例設(shè)計(jì)中的應(yīng)用。

3.簡(jiǎn)要描述嵌入式系統(tǒng)硬件測(cè)試和軟件測(cè)試的主要區(qū)別。

4.闡述嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中如何進(jìn)行性能測(cè)試，并說明性能測(cè)試的關(guān)鍵指標(biāo)。

5.簡(jiǎn)要說明嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中如何進(jìn)行安全性測(cè)試，并列舉幾種常見的安全漏洞。

6.討論嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中如何確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題

1.D

解析思路：嵌入式系統(tǒng)硬件通常具有較高的性能、低功耗、高可靠性和強(qiáng)擴(kuò)展性，因此選項(xiàng)D是錯(cuò)誤的。

2.C

解析思路：嵌入式系統(tǒng)軟件具有實(shí)時(shí)性、面向特定應(yīng)用、可移植性差和可維護(hù)性強(qiáng)的特點(diǎn)，因此選項(xiàng)C是錯(cuò)誤的。

3.D

解析思路：ARM、MIPS、PPC是常見的嵌入式系統(tǒng)硬件開發(fā)平臺(tái)，而Windows是操作系統(tǒng)，不是硬件平臺(tái)。

4.D

解析思路：嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的主要階段包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試，驗(yàn)收測(cè)試不屬于測(cè)試階段。

5.D

解析思路：嵌入式系統(tǒng)測(cè)試方法包括黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、灰盒測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試與動(dòng)態(tài)測(cè)試相結(jié)合，灰盒測(cè)試不是獨(dú)立的測(cè)試方法。

6.D

解析思路：嵌入式系統(tǒng)測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法包括等價(jià)類劃分、邊界值分析、決策表和場(chǎng)景法，需求分析不是測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法。

7.D

解析思路：QEMU、GDB和CDT是嵌入式系統(tǒng)開發(fā)工具，而Jenkins是自動(dòng)化測(cè)試工具。

8.D

解析思路：測(cè)試報(bào)告的主要內(nèi)容通常包括測(cè)試目的、測(cè)試環(huán)境、測(cè)試用例執(zhí)行情況和測(cè)試結(jié)果分析，不包括測(cè)試數(shù)據(jù)。

9.C

解析思路：IEC61508、ISO/IEC12207和IEEE802.3、IEEE802.11是測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和通信標(biāo)準(zhǔn)，IEC61508是關(guān)于安全標(biāo)準(zhǔn)。

10.D

解析思路：嵌入式系統(tǒng)測(cè)試中的常見問題包括測(cè)試用例設(shè)計(jì)不充分、測(cè)試環(huán)境配置錯(cuò)誤、測(cè)試工具選擇不當(dāng)和測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)不足。

二、多項(xiàng)選擇題

1.A,B,C,D,E

解析思路：嵌入式系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)需考慮功耗、性能、成本、可靠性和可維護(hù)性等因素。

2.A,B,C,D,E

解析思路：嵌入式系統(tǒng)軟件架構(gòu)包括微內(nèi)核、客戶端-服務(wù)器、狀態(tài)機(jī)、軟件總線和事件驅(qū)動(dòng)等。

3.A,B,C,D,E

解析思路：測(cè)試用例設(shè)計(jì)的關(guān)鍵點(diǎn)包括覆蓋度、可執(zhí)行性、可讀性、可維護(hù)性和可復(fù)用性。

4.A,B,C,D,E

解析思路：嵌入式系統(tǒng)動(dòng)態(tài)測(cè)試方法包括功能測(cè)試、性能測(cè)試、壓力測(cè)試、安全測(cè)試和兼容性測(cè)試。

5.A,B,C,D,E

解析思路：測(cè)試環(huán)境配置的要素包括硬件設(shè)備、軟件工具、網(wǎng)絡(luò)連接、測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試人員。

6.A,B,C,D,E

解析思路：測(cè)試報(bào)告的組成部分包括測(cè)試目的和范圍、測(cè)試環(huán)境、測(cè)試用例執(zhí)行情況、測(cè)試結(jié)果分析和改進(jìn)建議。

7.A,B,C,D,E

解析思路：自動(dòng)化測(cè)試工具的功能包括自動(dòng)化測(cè)試用例執(zhí)行、測(cè)試結(jié)果分析、報(bào)告生成、腳本管理和資源管理。

8.A,B,C,D,E

解析思路：嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的挑戰(zhàn)包括硬件和軟件復(fù)雜性、系統(tǒng)資源限制、測(cè)試環(huán)境搭建和維護(hù)、測(cè)試用例設(shè)計(jì)和測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性。

9.A,B,C,D,E

解析思路：嵌入式系統(tǒng)測(cè)試人員需要具備熟悉架構(gòu)、掌握測(cè)試方法和工具、問題解決能力、編程語言和開發(fā)環(huán)境知識(shí)以及團(tuán)隊(duì)合作精神。

10.A,B,C,D,E

解析思路：嵌入式系統(tǒng)測(cè)試的目標(biāo)包括確保系統(tǒng)功能正確、提高性能、安全可靠、降低開發(fā)成本和提高用戶滿意度。

三、判斷題

1.×

解析思路：嵌入式系統(tǒng)也需要進(jìn)行系統(tǒng)級(jí)測(cè)試以確保整體性能和穩(wěn)定性。

2.√

解析思路：軟件設(shè)計(jì)可重用性有助于提高開發(fā)效率和降低成本。

3.×

解析思路：嵌入式系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)應(yīng)優(yōu)先考慮性能、功耗和可靠性。

4.×

解析思路：黑盒測(cè)試和灰盒測(cè)試可以結(jié)合使用，以提供更全面的測(cè)試覆蓋。

5.√

解析思路：測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)覆蓋所有可能的輸入和輸出組合以確保功能正確。

6.√

解析思路：靜態(tài)測(cè)試可以檢測(cè)代碼中的邏輯錯(cuò)誤，是軟件測(cè)試的重要組成部分。

7.√

解析思路：測(cè)試報(bào)告應(yīng)包括所有測(cè)試用例的執(zhí)行結(jié)果以全面評(píng)估測(cè)試效果。

8.√

解析思路：嵌入式系統(tǒng)硬件測(cè)試通常比軟件測(cè)試更為復(fù)雜，因?yàn)橛布婕案嗟奈锢斫换ァ?/p>

9.×

解析思路：測(cè)試人員需要與開發(fā)人員溝通，以便解決問題和優(yōu)化測(cè)試。

10.×

解析思路：測(cè)試完成后應(yīng)進(jìn)行回歸測(cè)試以確保新修改不影響現(xiàn)有功能。

四、簡(jiǎn)答題

1.解析思路：主要階段包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試，目的分別是驗(yàn)證代碼的正確性、模塊間的兼容性、整個(gè)系統(tǒng)的功能和性能，以及最終產(chǎn)品的質(zhì)量。

2.解析思路：等價(jià)類劃分是一種測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法，通過將輸入數(shù)據(jù)分為具有相同效果的等價(jià)類，以減少測(cè)試