晶體學(xué)基礎(chǔ)試題一、選擇題1.晶體具有規(guī)則的幾何外形，其內(nèi)部微粒（原子、離子或分子）在空間按一定規(guī)律做周期性重復(fù)排列。下列哪種物質(zhì)不屬于晶體？（）[單選題]*A.玻璃B.食鹽（NaCl）C.鉆石D.冰答案：A。原因：玻璃是非晶態(tài)物質(zhì)，其內(nèi)部微粒排列是無序的。而食鹽是離子晶體，鉆石是原子晶體，冰是分子晶體，它們的內(nèi)部微粒在空間按一定規(guī)律做周期性重復(fù)排列。2.在晶體學(xué)中，晶胞是描述晶體結(jié)構(gòu)的基本單元。晶胞的形狀和大小可以用幾個(gè)參數(shù)來表示，以下哪個(gè)不是表示晶胞的參數(shù)？（）[單選題]*A.晶胞的邊長B.晶胞的體積C.晶胞的顏色D.晶胞的夾角答案：C。原因：晶胞的邊長、體積和夾角都是描述晶胞形狀和大小的重要參數(shù)，而晶胞的顏色與晶胞的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)并無直接關(guān)聯(lián)，不是描述晶胞的參數(shù)。3.下面關(guān)于晶體對(duì)稱性的描述，正確的是（）[單選題]*A.所有晶體都具有相同的對(duì)稱性B.晶體的對(duì)稱性只與晶體的外觀有關(guān)C.晶體的對(duì)稱性是指晶體在某些操作（如旋轉(zhuǎn)、反映等）下，其外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)保持不變D.晶體的對(duì)稱性與晶體內(nèi)部微粒的排列無關(guān)答案：C。原因：不同晶體具有不同的對(duì)稱性，A錯(cuò)誤；晶體的對(duì)稱性不僅與外觀有關(guān)，更與內(nèi)部結(jié)構(gòu)有關(guān)，B錯(cuò)誤；晶體的對(duì)稱性是指在某些操作下，外觀和內(nèi)部結(jié)構(gòu)保持不變，C正確；晶體的對(duì)稱性與內(nèi)部微粒排列密切相關(guān)，D錯(cuò)誤。4.下列晶系中，晶胞的三條邊長度不相等，且三個(gè)夾角也不相等的是（）[單選題]*A.立方晶系B.四方晶系C.單斜晶系D.三斜晶系答案：D。原因：立方晶系晶胞三條邊相等且夾角都為90°；四方晶系晶胞兩條邊相等，夾角為90°；單斜晶系晶胞三條邊不等，有兩個(gè)夾角為90°；三斜晶系晶胞三條邊不等，三個(gè)夾角也不等。5.晶體中微粒間的作用力有多種類型，在離子晶體中起主要作用的是（）[單選題]*A.共價(jià)鍵B.范德華力C.離子鍵D.氫鍵答案：C。原因：離子晶體是由陰陽離子通過離子鍵結(jié)合而成的，共價(jià)鍵主要存在于原子晶體中，范德華力存在于分子晶體中，氫鍵也是分子間的一種特殊作用，在離子晶體中主要作用力是離子鍵。6.對(duì)于面心立方晶胞，其所含的原子數(shù)為（）[單選題]*A.1B.2C.4D.8答案：C。原因：面心立方晶胞頂點(diǎn)的原子為8個(gè)晶胞共用，每個(gè)頂點(diǎn)原子對(duì)晶胞的貢獻(xiàn)為1/8，面心原子為2個(gè)晶胞共用，每個(gè)面心原子對(duì)晶胞的貢獻(xiàn)為1/2。則原子數(shù)為8×(1/8)+6×(1/2)=4。7.以下哪種晶體結(jié)構(gòu)中原子的配位數(shù)為8？（）[單選題]*A.簡(jiǎn)單立方B.體心立方C.面心立方D.六方最密堆積答案：A。原因：簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)中原子的配位數(shù)為6，體心立方結(jié)構(gòu)中原子配位數(shù)為8，面心立方結(jié)構(gòu)中原子配位數(shù)為12，六方最密堆積中原子配位數(shù)為12。8.晶體的密堆積結(jié)構(gòu)中，哪種堆積方式的空間利用率最高？（）[單選題]*A.簡(jiǎn)單立方堆積B.體心立方堆積C.面心立方最密堆積和六方最密堆積D.金剛石型堆積答案：C。原因：簡(jiǎn)單立方堆積的空間利用率為52.4%，體心立方堆積空間利用率為68%，面心立方最密堆積和六方最密堆積的空間利用率均為74%，金剛石型堆積空間利用率低于74%。9.下列關(guān)于晶體缺陷的說法，正確的是（）[多選題]*A.晶體缺陷會(huì)影響晶體的物理性質(zhì)B.點(diǎn)缺陷包括空位、間隙原子等C.線缺陷主要是指位錯(cuò)D.晶體中不允許有缺陷存在E.面缺陷會(huì)改變晶體的對(duì)稱性答案：ABCE。原因：晶體缺陷會(huì)對(duì)晶體的物理性質(zhì)如導(dǎo)電性、硬度等產(chǎn)生影響，A正確；點(diǎn)缺陷包括空位和間隙原子等，B正確；線缺陷主要是位錯(cuò)，C正確；實(shí)際晶體中不可避免地存在缺陷，D錯(cuò)誤；面缺陷會(huì)改變晶體的對(duì)稱性，E正確。10.在研究晶體結(jié)構(gòu)時(shí)，常用的分析方法有（）[多選題]*A.X-射線衍射B.電子顯微鏡C.光學(xué)顯微鏡D.核磁共振E.紅外光譜答案：AB。原因：X-射線衍射是研究晶體結(jié)構(gòu)最常用的方法，可以確定晶體內(nèi)部原子的排列方式；電子顯微鏡也可用