1進(jìn)行最小尺寸或最小對(duì)比度雜質(zhì)檢測(cè)的漿板，也不適用回用漿。本文件的反射光EBA目視法適用于所有類型的干漿或濕漿，也適用于回用漿。本文件的反射光EBA儀器法適用于雜質(zhì)等效黑面積在0.02mm2~注1：機(jī)械漿中的纖維束通常通過(guò)篩分或光學(xué)分析的方法進(jìn)行測(cè)定，某些等級(jí)的機(jī)械漿可注3：對(duì)于表面紋理明顯或緊度有變化的厚漿板，浸濕漿板會(huì)導(dǎo)致光學(xué)變化，會(huì)使所觀察注4：反射光EBA目視法和反射光EBA儀器法測(cè)定結(jié)果僅代表漿片表面或接近表面可見(jiàn)的雜GB/T462紙、紙板和紙漿分析試樣水分的測(cè)定（GB/T462—2023，ISO287:287、ISO638-1:2022、ISO638-GB/T740紙漿試樣的采?。℅B/T740—20GB/T8940.2紙漿亮度（白度）試樣的制備（GB/T8940.2-2002，ISO3688:19GB/T24324紙漿物理試驗(yàn)用實(shí)驗(yàn)室紙頁(yè)的制備常規(guī)紙頁(yè)成型器法（GB/T24324—2009，ISOGB/T24326紙漿物理試驗(yàn)用實(shí)驗(yàn)室紙頁(yè)的制備快速凱塞法（GB/T24326—2009，ISOGB/T24327紙漿實(shí)驗(yàn)室濕解離化學(xué)漿解離（GB/T24327—2009，ISO5263-1:20GB/T29285紙漿實(shí)驗(yàn)室濕解離機(jī)械漿解離（GB/T29285—2012，ISO5263-2:2004、ISO2等效黑面積equivalentblacka標(biāo)準(zhǔn)塵埃對(duì)比圖（附錄C）上某一圓形黑點(diǎn)（YC/2值為2.4%）的面積，該點(diǎn)在白色背景（YC/2值為81.5%）上進(jìn)行視覺(jué)檢查時(shí)，其表觀面積與嵌入特定試片上的塵埃斑點(diǎn)在相同視覺(jué)條件下的表觀面將紙漿解離后制備成實(shí)驗(yàn)室紙頁(yè)，在透射光下觀測(cè)，根據(jù)附錄B的標(biāo)準(zhǔn)塵埃對(duì)比圖，估算所有大于3德拉/米2),檢測(cè)時(shí)應(yīng)避免日光或任何外部光源的直射干擾。試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)避免紙漿受到污染。應(yīng)確保疏解器和紙頁(yè)成型器的表面和各部件清潔、無(wú)腐蝕675了一些紙漿推薦的定量和所需紙頁(yè)的最少數(shù)量。標(biāo)記紙頁(yè)的正面4紙頁(yè)的絕干物含量約為30%。如果干燥紙頁(yè)比較透明，能夠看清所有雜質(zhì)，也可使用干燥紙頁(yè)，注：抄造后如果紙頁(yè)沒(méi)有立即進(jìn)行檢測(cè)，紙頁(yè)有可能會(huì)干燥，用干凈4.4.2檢測(cè)使用觀測(cè)臺(tái)（4.2.1）對(duì)所抄紙頁(yè)進(jìn)行目視檢測(cè)，從正面檢測(cè)紙頁(yè)的一半，從網(wǎng)面檢測(cè)紙頁(yè)的通常只報(bào)告雜質(zhì)的總面積。如果需要，也可采用表2中的雜質(zhì)分組分別報(bào)告。如果經(jīng)協(xié)商同意，可[(Amax一Amin)/ln(Amax/Amin)]（mm2）1>52345X............................................................................(X——雜質(zhì)的總面積（或每組雜質(zhì)的總面積單位為平方毫米每千克（mm2/kg各組雜質(zhì)平均面積的對(duì)數(shù)值見(jiàn)表2。對(duì)雜質(zhì)面積超過(guò)5mm2的雜質(zhì)，應(yīng)測(cè)定每個(gè)雜質(zhì)的面積，公式5注2：計(jì)算示例，在第4組0.15mm2～0.39mm2中發(fā)現(xiàn)8個(gè)雜質(zhì)，其面積cini為8×0.251mm2=概述按照本方法，在同一個(gè)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)由同一操作人員，對(duì)1個(gè)漂白化學(xué)漿和1個(gè)化學(xué)熱磨機(jī)械漿（CTMP）在一項(xiàng)闊葉木磨木漿研究中，由同一操作人員對(duì)定量為150g/m2的25張實(shí)驗(yàn)室紙頁(yè)進(jìn)行了5次平行>5mm2纖維束0—>5mm2塵埃0—76按照本方法，在4個(gè)不同的實(shí)驗(yàn)室對(duì)1個(gè)漂白化學(xué)漿和1個(gè)將試片在透射光下觀測(cè)，根據(jù)附錄B的塵埃對(duì)比圖，估算所有大于規(guī)定尺寸且相對(duì)于試片表面周圍7質(zhì)的數(shù)量和面積。計(jì)算雜質(zhì)的總等效黑面積(EBA)，以試片單位面積的塵埃和纖維束的總個(gè)數(shù)（個(gè)/m2）8（白底）的反射率為(81.5±1.0)%，黑色斑點(diǎn)的反射率為(2.4±0.4)%。除列出的圓形所有圓形斑點(diǎn)的面積誤差均控制在10%或準(zhǔn)塵埃對(duì)比圖中指定面積改為括號(hào)中給出的面積：1.00(1.08)、0.30(0.31)、0.25(0.26)、0.20(0.21)、0.15(0.16)、0.10(0.11)、0.09(0.10)。EBA標(biāo)準(zhǔn)塵埃從每個(gè)待測(cè)樣品中選取10張或更多張漿片（宜為20），在本方法中，纖維束可定義為長(zhǎng)寬比至少為3:1的塵埃。當(dāng)纖維束垂直于試片表面觀察可見(jiàn)時(shí)，纖注：對(duì)于有凹槽的漿片，垂直觀察尤為重要，因?yàn)闈{片面積按簡(jiǎn)單幾何計(jì)算位記錄每個(gè)塵埃的EBA。當(dāng)估算白色或其他顏色試片上的黑色或其他顏色塵埃的EBA時(shí)，需從EBA標(biāo)準(zhǔn)塵9埃對(duì)比圖選擇相同視覺(jué)效果的黑色塵埃作為參照。如果試片和EBA標(biāo)準(zhǔn)塵埃對(duì)比圖的塵埃具有相同埃；使用遮罩檢測(cè)試片小于所選特定參照塵埃EBA且EBA≥0.04mm2的所有塵埃，以平方毫米（mm2）為用簡(jiǎn)單的幾何方法測(cè)量試片正反面的總面積，以平方米（m2)表示，忽略因試片凹槽增加的面積。用簡(jiǎn)單的幾何方法測(cè)量試片正反面的總面積，以平方米（m2)表示。計(jì)算按6.4.2檢測(cè)出的報(bào)告紙漿單位面積的雜質(zhì)總數(shù)（個(gè)/m2）和雜質(zhì)總面積（mm2/m2），結(jié)果取整數(shù)，當(dāng)雜質(zhì)總面積<同一個(gè)實(shí)驗(yàn)室對(duì)3批次塵埃含量1mm2/m2~5mm2/m2的紙漿進(jìn)行了測(cè)試，重復(fù)性為15%。四個(gè)不同的實(shí)驗(yàn)室對(duì)3批次塵埃含量1mm2/m2~5mm2/m2的紙漿進(jìn)行了測(cè)試，再現(xiàn)性為90%。表面反射的95%反射光處于380nm～7檢測(cè)精密度隨分辨率的提高而提高，宜根據(jù)最小雜質(zhì)尺寸采用實(shí)際可行的最高像素分辨率。但是，為了防止因紙漿微觀結(jié)構(gòu)而產(chǎn)生錯(cuò)誤檢測(cè)，有效最小物理像素分辨率不校準(zhǔn)板表面應(yīng)呈亞光狀態(tài)，并至少含一個(gè)純白色和一個(gè)純黑色區(qū)域。另外需設(shè)置2個(gè)至少包含1從每個(gè)待測(cè)樣品中選取10張或更多張漿片，試片總面積（正反面合計(jì)）不注：存在有效測(cè)試面積小于10m2的情況，如當(dāng)紙漿中的塵埃數(shù)量超過(guò)了所選計(jì)數(shù)精度水平所需的最小值(見(jiàn)將校準(zhǔn)板的黑色區(qū)域置于設(shè)備觀察區(qū)域中，掃描校準(zhǔn)板上的黑色區(qū)域，調(diào)整儀器以報(bào)告不小于255灰度級(jí)中的9灰度級(jí)或滿灰度級(jí)的3.5%。連續(xù)掃描黑色區(qū)域，確保結(jié)果波將校準(zhǔn)板的白色區(qū)域置于設(shè)備觀察區(qū)域中，掃描校準(zhǔn)板上的白色區(qū)域，調(diào)整儀器以報(bào)告255灰度級(jí)中的不大于220灰度級(jí)或滿灰度級(jí)的86.3%。連續(xù)掃描白色區(qū)域，確保結(jié)果波動(dòng)在±0.4%G.L。黑色注：Yc/2反射率百分比與灰度級(jí)（G.L.）呈線性關(guān)系（1%Yc/2=2.55G.L.）。要確定黑白校準(zhǔn)板的灰度值，需將校準(zhǔn)測(cè)試每塊校準(zhǔn)板，確保16個(gè)的塵埃斑點(diǎn)均被檢測(cè)，且測(cè)得的等效黑面積（EBA）結(jié)果與校準(zhǔn)板提供的16個(gè)的斑點(diǎn)數(shù)據(jù)平均值偏差不超過(guò)10%。計(jì)算校準(zhǔn)板上所有斑點(diǎn)的EBA時(shí)，需將附錄E中規(guī)定的標(biāo)稱面積乘以校準(zhǔn)板上證書(shū)報(bào)告的校正對(duì)比度差值。結(jié)果不匹配，需檢查硬件和/或校準(zhǔn)板的狀況。必要比度的最小斑點(diǎn)，可能會(huì)產(chǎn)生比實(shí)際EBA誤差大10%的結(jié)果，驗(yàn)證應(yīng)使用校準(zhǔn)板上16個(gè)斑點(diǎn)的平均E纖維屑，避免劃傷表面，否則會(huì)導(dǎo)致校準(zhǔn)板不符合要求。定期測(cè)量白色區(qū)域Yc/選擇一致的計(jì)數(shù)精密度（不確定度百分比）目標(biāo)，并測(cè)量足夠多的紙漿表面以達(dá)到該精密度要求。根據(jù)樣品隨機(jī)分布?jí)m埃的特性，若某張漿片上檢測(cè)到N個(gè)塵埃，同一批次的其他漿片三次數(shù)為(25±5)個(gè)，計(jì)數(shù)精密度為20%。因此，為達(dá)到塵埃計(jì)數(shù)不確定度始終為10%的目標(biāo)，需測(cè)量足夠大微小塵埃而虛增。為達(dá)到EBA的目標(biāo)精密度，至少需計(jì)數(shù)達(dá)到相同計(jì)數(shù)精密度所需塵埃數(shù)量的兩倍。例注：本方法規(guī)定適用于亮度至少為30%的樣品，因?qū)嶋H檢測(cè)中常采用本方法測(cè)試低亮度樣品，精密度研究中使用的均確保計(jì)數(shù)足夠數(shù)量的塵埃，以使計(jì)數(shù)不確定度百分比（重復(fù)性限r(nóng)重復(fù)性限r(nóng)下，均確保計(jì)數(shù)足夠數(shù)量的塵埃，以使計(jì)數(shù)不確定再現(xiàn)性限R再現(xiàn)性限Rh)方法四反射光EBA儀器法報(bào)告樣品測(cè)定采用的漿片或?qū)嶒?yàn)室紙頁(yè)，是否檢測(cè)了比0.02mm2更111112222233333———44———4———5————————————6————————————7————————————8————————————5—4———4———5—————————6—————————7———————————————8———————————6——4———4———5—————————6————————————7—7————————8——————————7———4———4———5————————————6————————————7————————————8———9—————————8999—————————————————B.1標(biāo)準(zhǔn)塵埃對(duì)比圖為一張透明膠片（如圖B.1），應(yīng)由標(biāo)準(zhǔn)化機(jī)構(gòu)提供。不應(yīng)使用標(biāo)準(zhǔn)塵埃對(duì)比圖B.2標(biāo)準(zhǔn)塵埃對(duì)比圖中的左側(cè)部分用于輔助目視檢查，標(biāo)明了各尺寸類別中需考慮的最小對(duì)比度EBA標(biāo)準(zhǔn)塵埃對(duì)比圖中的塵埃定義：任何嵌入紙漿內(nèi)的異物，在反射光（非透射光）下觀察時(shí)，與如果以像素(i，j)為中心的1.0mm2區(qū)域內(nèi)的平均背景像素強(qiáng)度=X（i，j）-Y（i，j）。估算背景像素強(qiáng)度Y（i，j）)的方法有很多種，但估算Y(i，j)時(shí)應(yīng)排除塵埃EBA=kΣ（i，j）>[I（i，j）≥T]I（i，j）.......................(D.該反射率差值為83%。用本方法的校準(zhǔn)板都有各自的背景和黑色標(biāo)點(diǎn)之間反射率差值，例如，其中一塊每個(gè)校準(zhǔn)板