1無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)第2部分：穿透技術(shù)——高衰減材料；——薄工件。本文件規(guī)定的穿透技術(shù)側(cè)重于基于測(cè)量超聲穿透被檢件后信號(hào)衰減程度的傳輸衰減技GB/T20737無(wú)損檢測(cè)通用術(shù)語(yǔ)和定義(GB/T20737—22GB/T27664.1無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與驗(yàn)證第1部分：儀器GB/T27664.2無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與驗(yàn)證第2部分：GB/T12604.1和GB/T20737界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于4檢測(cè)人員無(wú)損檢測(cè)(NDT)人員應(yīng)符合GB/T392435.2.1總則——待檢測(cè)材料的厚度、形狀和表面狀況；——待檢測(cè)材料缺欠的類型、位置和方向。a)選擇應(yīng)確保聲束特性通過(guò)以下因素的折中達(dá)到檢測(cè)的最優(yōu)效果：3)對(duì)于單晶探頭設(shè)置，聲束散度應(yīng)足夠大以檢測(cè)到走向較差的平面b)除上述考慮外，頻率選擇還應(yīng)確認(rèn)材料中的聲衰減和缺欠反射率的影響。頻率越高，軸向分辨力越好，但聲波衰減更大45.2.4盲區(qū)探頭選擇還應(yīng)考慮阻尼對(duì)軸向分辨力和頻譜的與非聚焦單晶探頭相比，其優(yōu)點(diǎn)是具有更高的橫向分a)其聲束應(yīng)由焦點(diǎn)區(qū)域描述（焦距、焦區(qū)長(zhǎng)度和焦區(qū)寬度）。5——水，可能含有潤(rùn)濕劑、防凍劑、防腐劑等；——漿糊；——含水纖維素糊劑。b)在校驗(yàn)、設(shè)備調(diào)節(jié)和檢測(cè)過(guò)程中，耦合介質(zhì)的特性應(yīng)保持一致。c)如果在設(shè)置和檢測(cè)之間無(wú)法保證特性恒定，可進(jìn)行傳輸修正。d)檢測(cè)完成后，如果耦合介質(zhì)的存在會(huì)對(duì)試件的后續(xù)操作或使5.4標(biāo)準(zhǔn)試塊6f)反射體的位置和數(shù)量應(yīng)與整個(gè)檢測(cè)區(qū)域的掃查相關(guān)。1)與聲束軸線垂直的大平面反射體（相對(duì)于聲束寬4)不同截面的刻槽。h)當(dāng)參考試塊液浸時(shí)（如：液浸法檢），i)應(yīng)考慮試件、探頭和參考試塊之間的溫度差異，并與檢測(cè)7表面或被檢件底面反射回來(lái)，見(jiàn)表1a）～d）。另一種是使用兩個(gè)探頭8于發(fā)射信號(hào)、另一個(gè)探頭用于接收穿透被檢件后的信號(hào)，見(jiàn)表），926.2缺欠檢測(cè)能力面積之比達(dá)到25%~50%才能觀察到明顯的信號(hào)幅度變化。因此，該技術(shù)僅適用于蓋區(qū)域相比較大的缺欠（或缺欠組如板材分層。6.3幾何形狀和接觸面的要求不論被檢件表面是否存在界面反射，傳輸衰減技術(shù)要求被檢件幾何形狀及表面應(yīng)能放置兩個(gè)聲束6.4探頭耦合、角度和位置變化的影響傳輸衰減技術(shù)對(duì)表面不規(guī)則引起的探頭耦合和角度的變化特別敏感，會(huì)導(dǎo)致穿透信號(hào)幅值明顯降本章規(guī)定了缺欠的檢測(cè)、缺欠尺寸的確定（如適用）以及材料超聲衰減系數(shù)的測(cè)7.2靈敏度設(shè)定7.3掃查應(yīng)按檢測(cè)規(guī)程掃查，探頭之間及與被檢件之間始終保持正確的7,4缺欠評(píng)定1)確認(rèn)信號(hào)幅值的降低不是由于耦合損2)測(cè)量穿透信號(hào)幅度的最大下降值。當(dāng)引起穿透信號(hào)幅度低于評(píng)定等級(jí)的區(qū)域小于聲束寬5)如果因單個(gè)缺欠使穿透信號(hào)幅度降低或消失，采用穿透信號(hào)幅度相對(duì)于被檢件完好區(qū)域型（如縱波、橫波）和超聲波頻率等。三種測(cè)定衰減系數(shù)的技術(shù)見(jiàn)7.5.2、7.5該技術(shù)基于兩個(gè)回波幅度的差異測(cè)定衰減系數(shù)。該技術(shù)可采用一個(gè)探頭既作為發(fā)射器又作為接收器（單探頭法，見(jiàn)表3a)），也可采用放置在被檢件或參考試塊相對(duì)表面上的兩個(gè)探頭，一個(gè)作為發(fā)第一個(gè)回波是待測(cè)衰減系數(shù)a1的被檢件的穿透回波，第二個(gè)回波是已知衰減系數(shù)a2的參考試塊的a1——被檢件衰減系數(shù)，單位為分貝每米（dBa2——參考試塊衰減系數(shù)，單位為分貝每米（dB/mB——被檢件聲程長(zhǎng)度，單位為米（m行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度(B1或Bn)為滿刻度的50%，記錄此時(shí)儀器的增益值讀數(shù)，再調(diào)節(jié)儀器增益，使第二次底面回波幅度(B2或Bm)為滿刻度的50%，兩次儀器增益讀數(shù)之差即為(B2-B1)或(Bm-Bn)的dB差值(不考慮底面適用于衰減型儀器，公式（5）適用于增益型儀器:a——被檢件衰減系數(shù)，單位為分貝每米（dB/mBm-Bn——兩次衰減器的讀數(shù)之差，dB；a=(B1-B2-6)/2d·································································(6)a=(B2-B1-6)/2d·································································(7)a——被檢件衰減系數(shù)，單位為分貝每米（dB/mB2-B1——為兩次儀器增益的讀數(shù)之差，單位：dB；取工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件該技術(shù)除使用7.5.2規(guī)定的探頭配置外，還a）用于測(cè)量的回波聲程應(yīng)大于3倍近場(chǎng)長(zhǎng) a——被檢件衰減系數(shù)，單位為分貝每米（dB/m第m次回波的等效液體聲程，單位為米（