2025年探傷工（三級(jí)）技術(shù)等級(jí)考試題庫(kù)考試時(shí)間：______分鐘總分：______分姓名：______一、單項(xiàng)選擇題（本部分共30題，每題2分，共60分。每題只有一個(gè)正確答案，請(qǐng)將正確答案的序號(hào)填在括號(hào)內(nèi)。）1.在進(jìn)行射線探傷時(shí)，為了提高圖像對(duì)比度，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.增加膠片感光速度D.使用鉛屏保護(hù)2.探傷人員在進(jìn)行超聲波探傷前，需要對(duì)探頭進(jìn)行校準(zhǔn)，校準(zhǔn)的主要目的是（）。A.檢查探頭是否損壞B.確保探傷數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性C.提高探傷效率D.檢查探傷設(shè)備是否正常3.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷波形有（）。A.縱波B.橫波C.表面波D.以上都是4.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用屏蔽材料C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度5.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷方法有（）。A.垂直探傷B.斜角探傷C.水平探傷D.以上都是6.射線探傷時(shí)，為了提高圖像的清晰度，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.使用屏蔽材料D.增加膠片感光速度7.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探頭類型有（）。A.直探頭B.斜探頭C.探頭架D.以上都是8.射線探傷時(shí)，為了防止輻射對(duì)操作人員的影響，通常采用的方法是（）。A.使用鉛屏保護(hù)B.增加曝光時(shí)間C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度9.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的耦合劑有（）。A.油基耦合劑B.水基耦合劑C.化學(xué)耦合劑D.以上都是10.射線探傷時(shí)，為了提高圖像的對(duì)比度，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.使用屏蔽材料D.增加膠片感光速度11.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷技術(shù)有（）。A.縱波探傷B.橫波探傷C.表面波探傷D.以上都是12.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用屏蔽材料C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度13.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探頭類型有（）。A.直探頭B.斜探頭C.探頭架D.以上都是14.射線探傷時(shí)，為了防止輻射對(duì)操作人員的影響，通常采用的方法是（）。A.使用鉛屏保護(hù)B.增加曝光時(shí)間C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度15.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的耦合劑有（）。A.油基耦合劑B.水基耦合劑C.化學(xué)耦合劑D.以上都是16.射線探傷時(shí)，為了提高圖像的對(duì)比度，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.使用屏蔽材料D.增加膠片感光速度17.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷技術(shù)有（）。A.縱波探傷B.橫波探傷C.表面波探傷D.以上都是18.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用屏蔽材料C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度19.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探頭類型有（）。A.直探頭B.斜探頭C.探頭架D.以上都是20.射線探傷時(shí)，為了防止輻射對(duì)操作人員的影響，通常采用的方法是（）。A.使用鉛屏保護(hù)B.增加曝光時(shí)間C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度21.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的耦合劑有（）。A.油基耦合劑B.水基耦合劑C.化學(xué)耦合劑D.以上都是22.射線探傷時(shí)，為了提高圖像的對(duì)比度，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.使用屏蔽材料D.增加膠片感光速度23.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷技術(shù)有（）。A.縱波探傷B.橫波探傷C.表面波探傷D.以上都是24.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用屏蔽材料C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度25.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探頭類型有（）。A.直探頭B.斜探頭C.探頭架D.以上都是26.射線探傷時(shí)，為了防止輻射對(duì)操作人員的影響，通常采用的方法是（）。A.使用鉛屏保護(hù)B.增加曝光時(shí)間C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度27.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的耦合劑有（）。A.油基耦合劑B.水基耦合劑C.化學(xué)耦合劑D.以上都是28.射線探傷時(shí)，為了提高圖像的對(duì)比度，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.使用屏蔽材料D.增加膠片感光速度29.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷技術(shù)有（）。A.縱波探傷B.橫波探傷C.表面波探傷D.以上都是30.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，通常采用的方法是（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用屏蔽材料C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度二、多項(xiàng)選擇題（本部分共20題，每題3分，共60分。每題有多個(gè)正確答案，請(qǐng)將正確答案的序號(hào)填在括號(hào)內(nèi)。）1.在進(jìn)行射線探傷時(shí)，為了提高圖像對(duì)比度，可以采用的方法有（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.使用屏蔽材料D.增加膠片感光速度2.探傷人員在進(jìn)行超聲波探傷前，需要對(duì)探頭進(jìn)行校準(zhǔn)，校準(zhǔn)的主要目的有（）。A.檢查探頭是否損壞B.確保探傷數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性C.提高探傷效率D.檢查探傷設(shè)備是否正常3.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷波形有（）。A.縱波B.橫波C.表面波D.以上都是4.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，可以采用的方法有（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用屏蔽材料C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度5.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷方法有（）。A.垂直探傷B.斜角探傷C.水平探傷D.以上都是6.射線探傷時(shí)，為了提高圖像的清晰度，可以采用的方法有（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.使用屏蔽材料D.增加膠片感光速度7.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探頭類型有（）。A.直探頭B.斜探頭C.探頭架D.以上都是8.射線探傷時(shí)，為了防止輻射對(duì)操作人員的影響，可以采用的方法有（）。A.使用鉛屏保護(hù)B.增加曝光時(shí)間C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度9.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的耦合劑有（）。A.油基耦合劑B.水基耦合劑C.化學(xué)耦合劑D.以上都是10.射線探傷時(shí)，為了提高圖像的對(duì)比度，可以采用的方法有（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.使用屏蔽材料D.增加膠片感光速度11.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷技術(shù)有（）。A.縱波探傷B.橫波探傷C.表面波探傷D.以上都是12.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，可以采用的方法有（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用屏蔽材料C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度13.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探頭類型有（）。A.直探頭B.斜探頭C.探頭架D.以上都是14.射線探傷時(shí)，為了防止輻射對(duì)操作人員的影響，可以采用的方法有（）。A.使用鉛屏保護(hù)B.增加曝光時(shí)間C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度15.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的耦合劑有（）。A.油基耦合劑B.水基耦合劑C.化學(xué)耦合劑D.以上都是16.射線探傷時(shí)，為了提高圖像的對(duì)比度，可以采用的方法有（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用高能量射線C.使用屏蔽材料D.增加膠片感光速度17.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探傷技術(shù)有（）。A.縱波探傷B.橫波探傷C.表面波探傷D.以上都是18.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，可以采用的方法有（）。A.增加曝光時(shí)間B.使用屏蔽材料C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度19.在進(jìn)行超聲波探傷時(shí)，常用的探頭類型有（）。A.直探頭B.斜探頭C.探頭架D.以上都是20.射線探傷時(shí)，為了防止輻射對(duì)操作人員的影響，可以采用的方法有（）。A.使用鉛屏保護(hù)B.增加曝光時(shí)間C.使用高能量射線D.增加膠片感光速度三、判斷題（本部分共20題，每題2分，共40分。請(qǐng)判斷下列敘述的正誤，正確的填“√”，錯(cuò)誤的填“×”。）1.射線探傷時(shí)，曝光時(shí)間越長(zhǎng)，圖像的對(duì)比度就越高?！獭?.超聲波探傷時(shí)，直探頭主要用于檢測(cè)板狀試件中的缺陷?！獭?.射線探傷時(shí)，使用高能量射線可以提高圖像的清晰度?！獭?.超聲波探傷時(shí)，斜探頭主要用于檢測(cè)焊縫中的缺陷。√×5.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，可以使用鉛屏保護(hù)?！獭?.超聲波探傷時(shí)，耦合劑的作用是提高探頭的耦合效率?！獭?.射線探傷時(shí)，增加膠片感光速度可以提高圖像的對(duì)比度。√×8.超聲波探傷時(shí)，縱波和橫波的傳播速度在相同的介質(zhì)中是相同的?！獭?.射線探傷時(shí)，為了防止輻射對(duì)操作人員的影響，可以使用鉛屏保護(hù)?！獭?0.超聲波探傷時(shí)，表面波主要用于檢測(cè)試件表面的缺陷。√×11.射線探傷時(shí)，曝光時(shí)間越長(zhǎng)，圖像的清晰度就越高。√×12.超聲波探傷時(shí)，探頭架的作用是固定探頭。√×13.射線探傷時(shí)，使用屏蔽材料可以提高圖像的清晰度。√×14.超聲波探傷時(shí)，橫波探傷主要用于檢測(cè)焊縫中的缺陷?！獭?5.射線探傷時(shí)，為了防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響，可以使用濾波材料?！獭?6.超聲波探傷時(shí)，耦合劑的作用是提高探頭的靈敏度?！獭?7.射線探傷時(shí)，增加膠片感光速度可以提高圖像的對(duì)比度?！獭?8.超聲波探傷時(shí)，縱波和橫波的傳播速度在相同的介質(zhì)中是不同的。√×19.射線探傷時(shí)，為了防止輻射對(duì)操作人員的影響，可以使用鉛屏保護(hù)?！獭?0.超聲波探傷時(shí)，表面波主要用于檢測(cè)試件內(nèi)部的缺陷。√×四、簡(jiǎn)答題（本部分共10題，每題5分，共50分。請(qǐng)簡(jiǎn)要回答下列問(wèn)題。）1.簡(jiǎn)述射線探傷的基本原理。射線探傷的基本原理是利用射線穿透試件，由于缺陷和基體的密度不同，射線穿過(guò)時(shí)的吸收程度也不同，從而在膠片上形成不同的圖像，通過(guò)分析圖像可以檢測(cè)試件中的缺陷。2.簡(jiǎn)述超聲波探傷的基本原理。超聲波探傷的基本原理是利用超聲波在試件中傳播，當(dāng)超聲波遇到缺陷時(shí)會(huì)發(fā)生反射，通過(guò)接收反射波的時(shí)間和強(qiáng)度可以判斷缺陷的位置和大小。3.簡(jiǎn)述射線探傷和超聲波探傷的優(yōu)缺點(diǎn)。射線探傷的優(yōu)點(diǎn)是可以直接獲得缺陷的圖像，缺點(diǎn)是輻射對(duì)人體有害，且對(duì)微小缺陷的檢測(cè)能力較差。超聲波探傷的優(yōu)點(diǎn)是對(duì)微小缺陷的檢測(cè)能力較強(qiáng)，缺點(diǎn)是難以獲得直觀的缺陷圖像。4.簡(jiǎn)述探傷人員在進(jìn)行超聲波探傷前需要做哪些準(zhǔn)備工作。探傷人員在進(jìn)行超聲波探傷前需要檢查探傷設(shè)備是否正常，校準(zhǔn)探頭，選擇合適的耦合劑，并確保試件表面清潔。5.簡(jiǎn)述射線探傷時(shí)如何防止輻射對(duì)操作人員的影響。射線探傷時(shí)可以通過(guò)使用鉛屏保護(hù)、增加距離、減少曝光時(shí)間等方法來(lái)防止輻射對(duì)操作人員的影響。6.簡(jiǎn)述超聲波探傷時(shí)如何提高探傷的靈敏度。超聲波探傷時(shí)可以通過(guò)選擇合適的探頭、使用合適的耦合劑、增加探頭的頻率等方法來(lái)提高探傷的靈敏度。7.簡(jiǎn)述射線探傷時(shí)如何提高圖像的對(duì)比度。射線探傷時(shí)可以通過(guò)增加曝光時(shí)間、使用高能量射線、使用屏蔽材料等方法來(lái)提高圖像的對(duì)比度。8.簡(jiǎn)述超聲波探傷時(shí)如何檢測(cè)缺陷的位置和大小。超聲波探傷時(shí)通過(guò)測(cè)量反射波的時(shí)間和強(qiáng)度，結(jié)合試件的尺寸和材質(zhì)，可以判斷缺陷的位置和大小。9.簡(jiǎn)述射線探傷時(shí)如何防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響。射線探傷時(shí)可以通過(guò)使用濾波材料、增加距離、使用屏蔽材料等方法來(lái)防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量的影響。10.簡(jiǎn)述超聲波探傷時(shí)如何選擇合適的探頭。超聲波探傷時(shí)需要根據(jù)試件的形狀、尺寸和材質(zhì)選擇合適的探頭，常用的探頭有直探頭、斜探頭和表面波探頭等。五、論述題（本部分共2題，每題10分，共20分。請(qǐng)?jiān)敿?xì)回答下列問(wèn)題。）1.論述射線探傷和超聲波探傷在工業(yè)檢測(cè)中的應(yīng)用。射線探傷和超聲波探傷在工業(yè)檢測(cè)中都有廣泛的應(yīng)用。射線探傷主要用于檢測(cè)焊縫、鑄件等材料中的缺陷，通過(guò)射線穿透試件，可以在膠片上形成缺陷的圖像，從而判斷缺陷的位置和大小。超聲波探傷主要用于檢測(cè)金屬材料中的缺陷，通過(guò)超聲波在試件中傳播，當(dāng)遇到缺陷時(shí)會(huì)發(fā)生反射，通過(guò)接收反射波的時(shí)間和強(qiáng)度可以判斷缺陷的位置和大小。射線探傷和超聲波探傷在工業(yè)檢測(cè)中的應(yīng)用可以提高產(chǎn)品的質(zhì)量和安全性，減少因缺陷造成的損失。2.論述探傷人員在進(jìn)行探傷操作時(shí)應(yīng)注意的安全事項(xiàng)。探傷人員在進(jìn)行探傷操作時(shí)應(yīng)注意的安全事項(xiàng)包括：首先，探傷人員應(yīng)接受專業(yè)的培訓(xùn)，熟悉探傷設(shè)備的操作和注意事項(xiàng)；其次，探傷人員應(yīng)佩戴適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)用品，如鉛屏、鉛衣等，以防止輻射對(duì)身體的傷害；再次，探傷人員應(yīng)確保探傷環(huán)境的安全，避免無(wú)關(guān)人員進(jìn)入探傷區(qū)域；最后，探傷人員應(yīng)定期檢查探傷設(shè)備，確保設(shè)備的正常運(yùn)行。通過(guò)注意這些安全事項(xiàng)，可以有效防止輻射對(duì)探傷人員的傷害，確保探傷操作的安全進(jìn)行。本次試卷答案如下一、單項(xiàng)選擇題1.B解析：提高圖像對(duì)比度的常用方法是使用高能量射線，因?yàn)楦吣芰可渚€穿透能力強(qiáng)，對(duì)缺陷和基體的吸收差異更明顯，從而提高圖像對(duì)比度。2.B解析：校準(zhǔn)探頭的主要目的是確保探傷數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，通過(guò)校準(zhǔn)可以修正探頭的頻率響應(yīng)、聲束指向性等參數(shù)，保證探傷結(jié)果的可靠性。3.D解析：超聲波探傷常用的波形包括縱波、橫波和表面波，以上都是常用的探傷波形。4.B解析：防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量影響的常用方法是使用屏蔽材料，屏蔽材料可以有效吸收或反射散射輻射，提高圖像的清晰度。5.D解析：超聲波探傷常用的方法包括垂直探傷、斜角探傷和水平探傷，以上都是常用的探傷方法。6.B解析：提高圖像清晰度的常用方法是使用高能量射線，高能量射線穿透能力強(qiáng)，圖像細(xì)節(jié)更清晰。7.D解析：超聲波探傷常用的探頭類型包括直探頭、斜探頭和探頭架，以上都是常用的探頭類型。8.A解析：防止輻射對(duì)操作人員影響的常用方法是使用鉛屏保護(hù)，鉛屏可以有效阻擋輻射，保護(hù)操作人員的安全。9.D解析：超聲波探傷常用的耦合劑包括油基耦合劑、水基耦合劑和化學(xué)耦合劑，以上都是常用的耦合劑。10.B解析：提高圖像對(duì)比度的常用方法是使用高能量射線，高能量射線穿透能力強(qiáng)，對(duì)缺陷和基體的吸收差異更明顯，從而提高圖像對(duì)比度。11.D解析：超聲波探傷常用的探傷技術(shù)包括縱波探傷、橫波探傷和表面波探傷，以上都是常用的探傷技術(shù)。12.B解析：防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量影響的常用方法是使用屏蔽材料，屏蔽材料可以有效吸收或反射散射輻射，提高圖像的清晰度。13.D解析：超聲波探傷常用的探頭類型包括直探頭、斜探頭和探頭架，以上都是常用的探頭類型。14.A解析：防止輻射對(duì)操作人員影響的常用方法是使用鉛屏保護(hù)，鉛屏可以有效阻擋輻射，保護(hù)操作人員的安全。15.D解析：超聲波探傷常用的耦合劑包括油基耦合劑、水基耦合劑和化學(xué)耦合劑，以上都是常用的耦合劑。16.B解析：提高圖像對(duì)比度的常用方法是使用高能量射線，高能量射線穿透能力強(qiáng)，對(duì)缺陷和基體的吸收差異更明顯，從而提高圖像對(duì)比度。17.D解析：超聲波探傷常用的探傷技術(shù)包括縱波探傷、橫波探傷和表面波探傷，以上都是常用的探傷技術(shù)。18.B解析：防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量影響的常用方法是使用屏蔽材料，屏蔽材料可以有效吸收或反射散射輻射，提高圖像的清晰度。19.D解析：超聲波探傷常用的探頭類型包括直探頭、斜探頭和探頭架，以上都是常用的探頭類型。20.A解析：防止輻射對(duì)操作人員影響的常用方法是使用鉛屏保護(hù)，鉛屏可以有效阻擋輻射，保護(hù)操作人員的安全。21.D解析：超聲波探傷常用的耦合劑包括油基耦合劑、水基耦合劑和化學(xué)耦合劑，以上都是常用的耦合劑。22.B解析：提高圖像對(duì)比度的常用方法是使用高能量射線，高能量射線穿透能力強(qiáng)，對(duì)缺陷和基體的吸收差異更明顯，從而提高圖像對(duì)比度。23.D解析：超聲波探傷常用的探傷技術(shù)包括縱波探傷、橫波探傷和表面波探傷，以上都是常用的探傷技術(shù)。24.B解析：防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量影響的常用方法是使用屏蔽材料，屏蔽材料可以有效吸收或反射散射輻射，提高圖像的清晰度。25.D解析：超聲波探傷常用的探頭類型包括直探頭、斜探頭和探頭架，以上都是常用的探頭類型。26.A解析：防止輻射對(duì)操作人員影響的常用方法是使用鉛屏保護(hù)，鉛屏可以有效阻擋輻射，保護(hù)操作人員的安全。27.D解析：超聲波探傷常用的耦合劑包括油基耦合劑、水基耦合劑和化學(xué)耦合劑，以上都是常用的耦合劑。28.B解析：提高圖像對(duì)比度的常用方法是使用高能量射線，高能量射線穿透能力強(qiáng)，對(duì)缺陷和基體的吸收差異更明顯，從而提高圖像對(duì)比度。29.D解析：超聲波探傷常用的探傷技術(shù)包括縱波探傷、橫波探傷和表面波探傷，以上都是常用的探傷技術(shù)。30.B解析：防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量影響的常用方法是使用屏蔽材料，屏蔽材料可以有效吸收或反射散射輻射，提高圖像的清晰度。二、多項(xiàng)選擇題1.A,B,C解析：提高圖像對(duì)比度的常用方法包括增加曝光時(shí)間、使用高能量射線和使用屏蔽材料。2.B,C,D解析：探傷人員在進(jìn)行超聲波探傷前需要確保探傷數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性、提高探傷效率、檢查探傷設(shè)備是否正常。3.A,B,C,D解析：超聲波探傷常用的波形包括縱波、橫波和表面波，以上都是常用的探傷波形。4.B,C,D解析：防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量影響的常用方法包括使用屏蔽材料、增加距離和使用濾波材料。5.A,B,C,D解析：超聲波探傷常用的探傷方法包括垂直探傷、斜角探傷和水平探傷，以上都是常用的探傷方法。6.A,B,C,D解析：提高圖像清晰度的常用方法包括增加曝光時(shí)間、使用高能量射線、使用屏蔽材料和增加膠片感光速度。7.A,B,C,D解析：超聲波探傷常用的探頭類型包括直探頭、斜探頭和探頭架，以上都是常用的探頭類型。8.A,B,C,D解析：防止輻射對(duì)操作人員影響的常用方法包括使用鉛屏保護(hù)、增加距離、減少曝光時(shí)間和使用高能量射線。9.A,B,C,D解析：超聲波探傷常用的耦合劑包括油基耦合劑、水基耦合劑和化學(xué)耦合劑，以上都是常用的耦合劑。10.A,B,C,D解析：提高圖像對(duì)比度的常用方法包括增加曝光時(shí)間、使用高能量射線、使用屏蔽材料和增加膠片感光速度。11.A,B,C,D解析：超聲波探傷常用的探傷技術(shù)包括縱波探傷、橫波探傷和表面波探傷，以上都是常用的探傷技術(shù)。12.B,C,D解析：防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量影響的常用方法包括使用屏蔽材料、增加距離和使用濾波材料。13.A,B,C,D解析：超聲波探傷常用的探頭類型包括直探頭、斜探頭和探頭架，以上都是常用的探頭類型。14.A,B,C,D解析：防止輻射對(duì)操作人員影響的常用方法包括使用鉛屏保護(hù)、增加距離、減少曝光時(shí)間和使用高能量射線。15.A,B,C,D解析：超聲波探傷常用的耦合劑包括油基耦合劑、水基耦合劑和化學(xué)耦合劑，以上都是常用的耦合劑。16.A,B,C,D解析：提高圖像對(duì)比度的常用方法包括增加曝光時(shí)間、使用高能量射線、使用屏蔽材料和增加膠片感光速度。17.A,B,C,D解析：超聲波探傷常用的探傷技術(shù)包括縱波探傷、橫波探傷和表面波探傷，以上都是常用的探傷技術(shù)。18.B,C,D解析：防止散射輻射對(duì)圖像質(zhì)量影響的常用方法包括使用屏蔽材料、增加距離和使用濾波材料。19.A,B,C,D解析：超聲波探傷常用的探頭類型包括直探頭、斜探頭和探頭架，以上都是常用的探頭類型。20.A,B,C,D解析：防止輻射對(duì)操作人員影響的常用方法包括使用鉛屏保護(hù)、增加距離、減少曝光時(shí)間和使用高能量射線。三、判斷題1.×解析：曝光時(shí)間越長(zhǎng)，圖像的對(duì)比度不一定越高，過(guò)長(zhǎng)的曝光時(shí)間可能導(dǎo)致圖像過(guò)曝，反而降低對(duì)比度。2.√解析：直探頭主要用于檢測(cè)板狀試件中的缺陷，因?yàn)橹碧筋^產(chǎn)生的超聲波束在板狀試件中傳播時(shí)，更容易檢測(cè)到垂直于表面的缺陷。3.×解析：使用高能量射線可以提高圖像的清晰度，但并不是唯一的因素，曝光時(shí)間、膠片類型等也會(huì)影響圖像的清晰度。4.√解析：斜探頭主要用于檢測(cè)焊縫中的缺陷，因?yàn)樾碧筋^可以產(chǎn)生傾斜的超聲波束，更容易檢測(cè)到焊縫中的缺陷。5.√解析：使用鉛屏保護(hù)可以有效阻擋輻射，防止輻射對(duì)操作人員的傷害。6.√解析：耦合劑的作用是提高探頭的耦合效率，減少超聲波在探頭和試件之間的損失。7.×解析：增加膠片感光速度可以提高圖像的清晰度，但并不是唯一的因素，曝光時(shí)間、膠片類型等也會(huì)影響圖像的清晰度。8.×解析：縱波和橫波的傳播速度在相同的介質(zhì)中是不同的，縱波的傳播速度通常比橫波快。9.√解析：使用鉛屏保護(hù)可以有效阻擋輻射，防止輻射對(duì)操作人員的傷害。10.√解析：表面波主要用于檢測(cè)試件表面的缺陷，因?yàn)楸砻娌ㄖ荒茉谠嚰砻鎮(zhèn)鞑ァ?1.×解析：曝光時(shí)間越長(zhǎng)，圖像的清晰度不一定越高，過(guò)長(zhǎng)的曝光時(shí)間可能導(dǎo)致圖像過(guò)曝，反而降低清晰度。12.√解析：探頭架的作用是固定探頭，確保探頭的位置和方向正確。13.×解析：使用屏蔽材料可以提高圖像的清晰度，但并不是唯一的因素，曝光時(shí)間、膠片類型等也會(huì)影響圖像的清晰度。14.√解析：橫波探傷主要用于檢測(cè)焊縫中的缺陷，因?yàn)闄M波可以更容易地檢測(cè)到焊縫中的缺陷。15.√解析：使用濾波材料可以有效吸收或反射散射輻射，提高圖像的清晰度。16.√解析：耦合劑的作用是提高探頭的耦合效率，減少超聲波在探頭和試件之間的損失。17.×解析：增加膠片感