(19)國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局(12)發(fā)明專利專利權(quán)人江油川一精機(jī)有限公司(普通合伙)51429一種工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)及高質(zhì)量加工及一種工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)及高質(zhì)量加工自源發(fā)射出的特征光束依次經(jīng)各個(gè)反射柱的反射件反射后能夠投射至光束接收模塊的光束感測(cè)2所述測(cè)試柱的數(shù)量大于或等于3根，所述測(cè)試柱均平行于所述基準(zhǔn)軸設(shè)置；沿所述基準(zhǔn)軸的周向，所述測(cè)試柱之間均勻間隔設(shè)置；每根所述測(cè)試柱均對(duì)應(yīng)設(shè)置有所述定位座，所述定位座沿所述基準(zhǔn)軸的徑向設(shè)置并連接于所述基準(zhǔn)軸；所述定位座遠(yuǎn)離所述基準(zhǔn)軸的一端設(shè)置有運(yùn)動(dòng)件；沿所述定位座的軸向，所述運(yùn)動(dòng)件滑動(dòng)配合于所述定位座；所述運(yùn)動(dòng)件配合有回彈機(jī)構(gòu)，所述回彈機(jī)構(gòu)用于驅(qū)使所述運(yùn)動(dòng)件朝所述定位座遠(yuǎn)離所述基準(zhǔn)軸的一端端部運(yùn)動(dòng)；所述測(cè)試柱安裝于所述運(yùn)動(dòng)件；所述測(cè)試柱中的任意一者被構(gòu)造為光源柱，其余的所述測(cè)試柱被構(gòu)造為反射柱；以所述測(cè)試柱和所述基準(zhǔn)軸二者的中心軸線所在平面為參考面；所述光源柱設(shè)置有第一光源和光束接收模塊；所述第一光源朝所述參考面的一側(cè)設(shè)置，所述光束接收模塊朝所述參考面的另一側(cè)設(shè)置；所述反射柱設(shè)置有反射件；檢測(cè)時(shí)，所述基準(zhǔn)軸用于伸入待測(cè)工件的加工孔當(dāng)中并用于與所述加工孔同軸設(shè)置，所述測(cè)試柱用于抵接于所述加工孔的孔壁，以使由所述第一光源發(fā)射出的特征光束依次經(jīng)各個(gè)所述反射柱的所述反射件反射后能夠投射至所述光束接收模塊的光束感測(cè)部位；所述光束感測(cè)部位與所述處理器電性連接，以用于在所述基準(zhǔn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)過程中將光束檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至所述處理器；所述處理器用于根據(jù)所述光束檢測(cè)數(shù)據(jù)判斷所述加工孔是否合格。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述測(cè)試柱包括芯體和轉(zhuǎn)動(dòng)套；所述轉(zhuǎn)動(dòng)套為圓筒狀，所述轉(zhuǎn)動(dòng)套可轉(zhuǎn)動(dòng)地套設(shè)于所述芯體；所述測(cè)試柱通過所述芯體與所述運(yùn)動(dòng)件配合；所述轉(zhuǎn)動(dòng)套由透光材料制成；在所述光源柱中，所述第一光源和所述光束接收模塊均嵌設(shè)于所述芯體當(dāng)中且二者均沿所述轉(zhuǎn)動(dòng)套的徑向設(shè)置；在所述反射柱中，所述反射件設(shè)于所述芯體，所述反射件的反射面垂直于所述參考面設(shè)置，且所述反射柱的中心軸線位于所述反射件的反射面所對(duì)應(yīng)的平面內(nèi)；當(dāng)所述加工孔為標(biāo)準(zhǔn)圓孔時(shí)，所述特征光束依次投射至各個(gè)所述反射柱時(shí)，所述特征光束與對(duì)應(yīng)的所述反射柱的中心軸線相交。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，在所述反射柱中，所述芯體呈圓柱狀，所述芯體與所述轉(zhuǎn)動(dòng)套同軸設(shè)置，且所述芯體的外側(cè)壁與所述轉(zhuǎn)動(dòng)套的內(nèi)側(cè)壁貼合；所述反射柱的所述芯體也由透光材料制成，所述反射件內(nèi)嵌于所述芯體當(dāng)中。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，在所述光源柱中，所述芯體呈圓柱狀，所述芯體與所述轉(zhuǎn)動(dòng)套同軸設(shè)置，且所述芯體的外側(cè)壁與所述轉(zhuǎn)動(dòng)套的內(nèi)側(cè)壁貼合；所述光源柱的所述芯體開設(shè)有安裝孔，所述安裝孔沿所述芯體的徑向設(shè)置，所述第一光源和所述光束接收模塊分別安裝于不同的所述安裝孔內(nèi)。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述定位座包括：兩組桿體；兩組所述桿體均沿所述基準(zhǔn)軸的軸向間隔設(shè)置且二者均沿所述基準(zhǔn)軸的徑向設(shè)置，所3述測(cè)試柱位于兩組所述桿體之間；所述桿體遠(yuǎn)離所述基準(zhǔn)軸的一端均開設(shè)有滑槽，所述滑槽內(nèi)均滑動(dòng)配合有所述運(yùn)動(dòng)所述芯體的兩端均設(shè)置有第一配合柱和第二配合柱；所述第一配合柱和所述第二配合柱同軸固定連接且二者均沿所述測(cè)試柱的軸向設(shè)置，所述第一配合柱與所述芯體固定連接，所述第二配合柱的外徑小于所述第一配合柱；所述運(yùn)動(dòng)件開設(shè)有配合通孔，所述配合通孔的孔徑與所述第二配合柱的外徑相適配，所述第二配合柱配合于所述配合通孔當(dāng)中；當(dāng)所述測(cè)試柱與所述基準(zhǔn)軸平行時(shí)，所述芯體兩端的所述第一配合柱均與所述運(yùn)動(dòng)件貼合。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述定位座還包括：連接臂；所述連接臂固定連接于同一個(gè)所述定位座的兩組所述桿體之間；所述桿體還具有沿其軸向延伸設(shè)置的容納腔，所述容納腔位于所述滑槽靠近所述基準(zhǔn)軸的一側(cè)，所述容納腔延伸至所述滑槽的槽腔連通；所述運(yùn)動(dòng)件靠近所述容納腔的一側(cè)固定連接有滑動(dòng)塊，所述滑動(dòng)塊延伸至所述容納腔中并滑動(dòng)配合于所述容納腔，所述滑動(dòng)塊與所述容納腔之間滑動(dòng)密封；所述連接臂具有安裝內(nèi)腔；所述回彈機(jī)構(gòu)包括：依次連通的第一管體、第二管體和第三管體；所述第一管體和所述第三管體均沿所述連接臂的長度方向設(shè)置，所述第二管體沿所述連接臂的寬度方向設(shè)置；所述第一管體與所述容納腔連通，所述第三管體內(nèi)滑動(dòng)配合有檢測(cè)桿，所述檢測(cè)桿與所述第三管體之間滑動(dòng)密封；所述檢測(cè)桿靠近所述第二管體的一端固定連接有回彈桿，所述回彈桿的外徑小于所述第三管體的內(nèi)徑，所述回彈桿沿所述第三管體的軸向延伸并貫穿至所述第三管體之外；所述回彈桿遠(yuǎn)離所述檢測(cè)桿的一端與所述第三管體之間抵接有彈性件，所述彈性件配合有用于檢測(cè)其彈力的壓力檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述壓力檢測(cè)機(jī)構(gòu)與所述處理器電性連接；所述容納腔、所述第一管體、所述第二管體和所述第三管體中容置有液態(tài)介質(zhì)；所述處理器用于根據(jù)所述壓力檢測(cè)機(jī)構(gòu)的檢測(cè)數(shù)據(jù)判斷所述加工孔是否合格。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述第三管體內(nèi)的流通面積小于所述容納腔內(nèi)的流通面積。8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述基準(zhǔn)軸開設(shè)有調(diào)節(jié)槽，所述調(diào)節(jié)槽沿所述基準(zhǔn)軸的徑向進(jìn)行開設(shè)，且所述調(diào)節(jié)槽沿所述基準(zhǔn)軸的軸向進(jìn)行延伸；沿所述基準(zhǔn)軸的徑向，所述定位座滑動(dòng)配合于所述調(diào)節(jié)槽中并由驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其特征在于，全部所述定位座由所述驅(qū)動(dòng)器同步驅(qū)動(dòng)。10.一種高質(zhì)量加工自動(dòng)化機(jī)床，其特征在于，包括：如權(quán)利要求1~9任一項(xiàng)所述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)。4一種工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)及高質(zhì)量加工自動(dòng)化機(jī)床技術(shù)領(lǐng)域[0001]本發(fā)明涉及工件質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)及高質(zhì)量加工自動(dòng)化機(jī)床。背景技術(shù)[0002]在工件加工中，對(duì)于加工孔的加工質(zhì)量的檢測(cè)，通常采用測(cè)孔徑來完成，在實(shí)際操明顯漏洞，無法對(duì)加工孔進(jìn)行連續(xù)檢測(cè)，檢測(cè)位置對(duì)加工孔內(nèi)表面的覆蓋率低，無法對(duì)加工孔進(jìn)行全面檢測(cè)，檢測(cè)結(jié)果的可靠度較低。發(fā)明內(nèi)容[0004]本發(fā)明的第一個(gè)目的在于提供一種工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，其能夠有效地提高對(duì)加工孔內(nèi)表面的檢測(cè)全面性，克服了傳統(tǒng)檢測(cè)方式的局限性，可以更合理地反映加工孔的實(shí)際加工質(zhì)量，對(duì)于進(jìn)一步提高加工精度而言具有積極意義。[0005]本發(fā)明的第二個(gè)目的在于提供一種高質(zhì)量加工自動(dòng)化機(jī)床，其能夠有效地提高對(duì)加工孔內(nèi)表面的檢測(cè)全面性，克服了傳統(tǒng)檢測(cè)方式的局限性，在加工過程中，可以更合理地評(píng)估加工孔的實(shí)際加工質(zhì)量，從而進(jìn)一步提高了加工孔的加工精度。[0006]本發(fā)明的實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的：[0008]測(cè)試柱的數(shù)量大于或等于3根，測(cè)試柱均平行于基準(zhǔn)軸設(shè)置。沿基準(zhǔn)軸的周向，測(cè)試柱之間均勻間隔設(shè)置。[0009]每根測(cè)試柱均對(duì)應(yīng)設(shè)置有定位座，定位座沿基準(zhǔn)軸的徑向設(shè)置并連接于基準(zhǔn)軸。[0010]定位座遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸的一端設(shè)置有運(yùn)動(dòng)件。沿定位座的軸向，運(yùn)動(dòng)件滑動(dòng)配合于定位座。運(yùn)動(dòng)件配合有回彈機(jī)構(gòu)，回彈機(jī)構(gòu)用于驅(qū)使運(yùn)動(dòng)件朝定位座遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸的一端端部[0011]測(cè)試柱中的任意一者被構(gòu)造為光源柱，其余的測(cè)試柱被構(gòu)造為反射柱。以測(cè)試柱和基準(zhǔn)軸二者的中心軸線所在平面為參考面。[0012]光源柱設(shè)置有第一光源和光束接收模塊。第一光源朝參考面的一側(cè)設(shè)置，光束接收模塊朝參考面的另一側(cè)設(shè)置。反射柱設(shè)置有反射件。[0013]檢測(cè)時(shí)，基準(zhǔn)軸用于伸入待測(cè)工件的加工孔當(dāng)中并用于與加工孔同軸設(shè)置，測(cè)試柱用于抵接于加工孔的孔壁，以使由第一光源發(fā)射出的特征光束依次經(jīng)各個(gè)反射柱的反射件反射后能夠投射至光束接收模塊的光束感測(cè)部位。[0014]光束感測(cè)部位與處理器電性連接，以用于在基準(zhǔn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)過程中將光束檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至處理器。處理器用于根據(jù)光束檢測(cè)數(shù)據(jù)判斷加工孔是否合格。[0015]進(jìn)一步的，測(cè)試柱包括芯體和轉(zhuǎn)動(dòng)套。轉(zhuǎn)動(dòng)套為圓筒狀，轉(zhuǎn)動(dòng)套可轉(zhuǎn)動(dòng)地套設(shè)于芯5體。測(cè)試柱通過芯體與運(yùn)動(dòng)件配合。轉(zhuǎn)動(dòng)套由透光材料制成。[0016]在光源柱中，第一光源和光束接收模塊均嵌設(shè)于芯體當(dāng)中且二者均沿轉(zhuǎn)動(dòng)套的徑向設(shè)置。[0017]在反射柱中，反射件設(shè)于芯體，反射件的反射面垂直于參考面設(shè)置，且反射柱的中心軸線位于反射件的反射面所對(duì)應(yīng)的平面內(nèi)。[0018]當(dāng)加工孔為標(biāo)準(zhǔn)圓孔時(shí)，特征光束依次投射至各個(gè)反射柱時(shí)，特征光束與對(duì)應(yīng)的反射柱的中心軸線相交。[0019]進(jìn)一步的，在反射柱中，芯體呈圓柱狀，芯體與轉(zhuǎn)動(dòng)套同軸設(shè)置，且芯體的外側(cè)壁與轉(zhuǎn)動(dòng)套的內(nèi)側(cè)壁貼合。[0020]反射柱的芯體也由透光材料制成，反射件內(nèi)嵌于芯體當(dāng)中。[0021]進(jìn)一步的，在光源柱中，芯體呈圓柱狀，芯體與轉(zhuǎn)動(dòng)套同軸設(shè)置，且芯體的外側(cè)壁與轉(zhuǎn)動(dòng)套的內(nèi)側(cè)壁貼合。[0022]光源柱的芯體開設(shè)有安裝孔，安裝孔沿芯體的徑向設(shè)置，第一光源和光束接收模塊分別安裝于不同的安裝孔內(nèi)。[0024]兩組桿體均沿基準(zhǔn)軸的軸向間隔設(shè)置且二者均沿基準(zhǔn)軸的徑向設(shè)置，測(cè)試柱位于兩組桿體之間。[0025]桿體遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸的一端均開設(shè)有滑槽，滑槽內(nèi)均滑動(dòng)配合有運(yùn)動(dòng)件。[0026]芯體的兩端均設(shè)置有第一配合柱和第二配合柱。第一配合柱和第二配合柱同軸固定連接且二者均沿測(cè)試柱的軸向設(shè)置，第一配合柱與芯體固定連接，第二配合柱的外徑小于第一配合柱。[0027]運(yùn)動(dòng)件開設(shè)有配合通孔，配合通孔的孔徑與第二配合柱的外徑相適配，第二配合柱配合于配合通孔當(dāng)中。[0028]當(dāng)測(cè)試柱與基準(zhǔn)軸平行時(shí)，芯體兩端的第一配合柱均與運(yùn)動(dòng)件貼合。[0029]進(jìn)一步的，定位座還包括：連接臂。連接臂固定連接于同一個(gè)定位座的兩組桿體之[0030]桿體還具有沿其軸向延伸設(shè)置的容納腔，容納腔位于滑槽靠近基準(zhǔn)軸的一側(cè)，容納腔延伸至滑槽的槽腔連通。[0031]運(yùn)動(dòng)件靠近容納腔的一側(cè)固定連接有滑動(dòng)塊，滑動(dòng)塊延伸至容納腔中并滑動(dòng)配合于容納腔，滑動(dòng)塊與容納腔之間滑動(dòng)密封。[0032]連接臂具有安裝內(nèi)腔421。[0033]回彈機(jī)構(gòu)包括：依次連通的第一管體、第二管體和第三管體。第一管體和第三均沿連接臂的長度方向設(shè)置，第二管體沿連接臂的寬度方向設(shè)置。[0034]第一管體與容納腔連通，第三管體內(nèi)滑動(dòng)配合有檢測(cè)桿，檢測(cè)桿與第三管體之間滑動(dòng)密封。檢測(cè)桿靠近第二管體的一端固定連接有回彈桿，回彈桿的外徑小于第三管體的內(nèi)徑，回彈桿沿第三管體的軸向延伸并貫穿至第三管體之外。[0035]回彈桿遠(yuǎn)離檢測(cè)桿的一端與第三管體之間抵接有彈性件，彈性件配合有用于檢測(cè)其彈力的壓力檢測(cè)機(jī)構(gòu)，壓力檢測(cè)機(jī)構(gòu)與處理器電性連接。6[0037]處理器用于根據(jù)壓力檢測(cè)機(jī)構(gòu)的檢測(cè)數(shù)據(jù)判斷加工孔是否合格。[0038]進(jìn)一步的，第三管體內(nèi)的流通面積小于容納腔內(nèi)的流通面積。[0039]進(jìn)一步的，基準(zhǔn)軸開設(shè)有調(diào)節(jié)槽，調(diào)節(jié)槽沿基準(zhǔn)軸的徑向進(jìn)行開設(shè)，且調(diào)節(jié)槽沿基準(zhǔn)軸的軸向進(jìn)行延伸。沿基準(zhǔn)軸的徑向，定位座滑動(dòng)配合于調(diào)節(jié)槽中并由驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)。[0040]進(jìn)一步的，全部定位座由驅(qū)動(dòng)器同步驅(qū)動(dòng)。[0042]本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案的有益效果包括：[0043]本發(fā)明實(shí)施例提供的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)能夠有效地提高對(duì)加工孔內(nèi)表面的檢測(cè)全面性，克服了傳統(tǒng)檢測(cè)方式的局限性，可以更合理地反映加工孔的實(shí)際加工質(zhì)量，對(duì)于進(jìn)一步提高加工精度而言具有積極意義。[0044]本發(fā)明實(shí)施例提供的高質(zhì)量加工自動(dòng)化機(jī)床能夠有效地提高對(duì)加工孔內(nèi)表面的檢測(cè)全面性，克服了傳統(tǒng)檢測(cè)方式的局限性，在加工過程中，可以更合理地評(píng)估加工孔的實(shí)際加工質(zhì)量，從而進(jìn)一步提高了加工孔的加工精度。附圖說明[0045]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，應(yīng)當(dāng)理解，以下附圖僅示出了本發(fā)明的某些實(shí)施例，因此不應(yīng)被看作是對(duì)范圍的限定，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他相關(guān)的附圖。[0046]圖1為本發(fā)明實(shí)施例一提供的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)配合至待檢測(cè)的加工孔時(shí)的示意圖；[0047]圖2為本發(fā)明實(shí)施例一提供的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖；[0048]圖3為桿體遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸一端的結(jié)構(gòu)示意圖；[0049]圖4為工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)的第一光源的光路示意圖；[0050]圖5為反射柱的結(jié)構(gòu)示意圖；[0051]圖6為光源柱的結(jié)構(gòu)示意圖；[0052]圖7為測(cè)試柱與定位座的配合示意圖(自然狀態(tài)下);[0053]圖8為圖7中連接臂處的結(jié)構(gòu)示意圖；[0054]圖9為測(cè)試柱與定位座的配合示意圖(測(cè)試柱被向基準(zhǔn)軸所在一側(cè)推動(dòng)時(shí));[0055]圖10為圖9中連接臂處的結(jié)構(gòu)示意圖；[0056]圖11為本發(fā)明實(shí)施例二提供的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)的連接臂處的結(jié)構(gòu)示意圖(檢測(cè)桿未運(yùn)動(dòng)時(shí));[0057]圖12為本發(fā)明實(shí)施例二提供的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)的連接臂處的結(jié)構(gòu)示意圖(檢測(cè)桿運(yùn)動(dòng)時(shí));[0058]圖13為輔助機(jī)構(gòu)中第二光源的光路示意圖；[0059]圖14為輔助機(jī)構(gòu)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖；[0060]圖15為限制環(huán)的剖面結(jié)構(gòu)示意圖；[0061]圖16為限制環(huán)的整體結(jié)構(gòu)示意圖。[0062]附圖標(biāo)記說明：7[0063]基準(zhǔn)軸100;調(diào)節(jié)槽110;測(cè)試柱200;參考面210;芯體220;第一配合柱221;第二配合柱222;轉(zhuǎn)動(dòng)套230;第一光源310;光束接收模塊320;安裝孔330;反射件340;定位座400;桿體410;滑槽411;容納腔412;連接臂420;安裝內(nèi)腔421;運(yùn)動(dòng)件500;滑動(dòng)塊510;配合塊520;第一管體610;第二管體620;第三管體630;檢測(cè)桿640;回彈桿650;彈性件660;加工孔2000;驅(qū)動(dòng)齒條700;輔助機(jī)構(gòu)800;基準(zhǔn)環(huán)810;投射幕811;第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820;第二光源821;視覺組件822;第一光線段823;第二光線段824;基板825;清潔刷826;第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830;中心柱831;限制環(huán)832;透光缺口833;第一端壁834;第二端壁835。具體實(shí)施方式[0064]為使本發(fā)明實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。通常在此處附圖中描述和示出的本發(fā)明實(shí)施例的組件可以以各種不同的配置來布置和設(shè)計(jì)。[0065]因此，以下對(duì)在附圖中提供的本發(fā)明的實(shí)施例的詳細(xì)描述并非旨在限制要求保護(hù)的本發(fā)明的范圍，而是僅僅表示本發(fā)明的選定實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范個(gè)附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對(duì)其進(jìn)行進(jìn)一步定義和解釋。接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。[0070]實(shí)施例一[0071]為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，請(qǐng)參照?qǐng)D1-圖7,本實(shí)施例提供一種工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，該工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括：基準(zhǔn)軸100、測(cè)試柱200、定位座400和處理器(圖中未示出)。[0072]在實(shí)際使用過程中，基準(zhǔn)軸100可以安裝于基座(圖中未示出),基座可以由位置調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)(圖中未示出，位置調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)包括但不限于：機(jī)械臂)來進(jìn)行位置調(diào)控，以實(shí)現(xiàn)對(duì)基準(zhǔn)[0073]測(cè)試柱200的數(shù)量大于或等于3根，具體數(shù)量可以根據(jù)實(shí)際需要靈活設(shè)置。本實(shí)施例以3根測(cè)試柱200為例進(jìn)行說明，并不作為對(duì)申請(qǐng)技術(shù)方案的限定。[0074]測(cè)試柱200均平行于基準(zhǔn)軸100設(shè)置，測(cè)試柱200與基準(zhǔn)軸100間隔設(shè)置。沿基準(zhǔn)軸100的周向，3根測(cè)試柱200之間均勻間隔設(shè)置。8[0075]每根測(cè)試柱200均對(duì)應(yīng)設(shè)置有定位座400,定位座400沿基準(zhǔn)軸100的徑向設(shè)置，定位座400的一端連接于基準(zhǔn)軸100。[0076]定位座400遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100的一端設(shè)置有運(yùn)動(dòng)件500.沿定位座400的軸向，運(yùn)動(dòng)件500滑動(dòng)配合于定位座400。運(yùn)動(dòng)件500配合有回彈機(jī)構(gòu)，回彈機(jī)構(gòu)用于驅(qū)使運(yùn)動(dòng)件500朝定位座400遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100的一端端部運(yùn)動(dòng)，即回彈機(jī)構(gòu)用于為運(yùn)動(dòng)座持續(xù)提供一個(gè)向定位座400遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100的一端運(yùn)動(dòng)的驅(qū)動(dòng)力。自然狀態(tài)下，在回彈機(jī)構(gòu)的作用下，運(yùn)動(dòng)件500會(huì)運(yùn)動(dòng)至定位座400遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100的一端。[0077]測(cè)試柱200安裝于運(yùn)動(dòng)件500。[0078]全部的測(cè)試柱200中的任意一者被構(gòu)造為光源柱，其余的測(cè)試柱200被構(gòu)造為反射柱。為了便于進(jìn)行結(jié)構(gòu)描述，將測(cè)試柱200和基準(zhǔn)軸100二者的中心軸線所在的平面作為參考面210。[0079]在光源柱中，光源柱設(shè)置有第一光源310和光束接收模塊320。第一光源310用于發(fā)射特征光束，光束接收模塊320用于接收由第一光源310發(fā)出的特征光束。第一光源310可選[0080]在光源柱中，第一光源310和光束接收模塊320分設(shè)于光源柱的參考面210的相對(duì)兩側(cè)，第一光源310朝向參考面210的一側(cè)設(shè)置并同時(shí)朝向與該光源柱相鄰的測(cè)試柱200,光束接收模塊320朝參考面210的另一側(cè)設(shè)置并同時(shí)朝向與該光源柱相鄰的另一測(cè)試柱200。[0081]反射柱設(shè)置有反射件340。[0082]自然狀態(tài)下，在回彈機(jī)構(gòu)的作用下，運(yùn)動(dòng)件500均位于定位座400遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100的一端，該狀態(tài)下，全部測(cè)試柱200與基準(zhǔn)軸100之間的距離是相同的，本實(shí)施例中的3根測(cè)試柱200就構(gòu)成了三角關(guān)系。[0083]此時(shí)，光源柱的第一光源310若發(fā)射特征光束，特征光束會(huì)照射至與該光源柱相鄰的測(cè)試柱200,測(cè)試柱200的反射件340則用于對(duì)光源柱的第一光源310射向反射柱的特征光束進(jìn)行反射，并將特征光束反射至位于當(dāng)前反射柱遠(yuǎn)離特征光束入射一側(cè)的相鄰反射柱。在特征光束傳播的過程中，對(duì)于最后一根反射柱而言，其在反射特征光束時(shí)，就是將特征光束反射至光源柱的光束接收模塊320,如圖4所示。[0084]進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，基準(zhǔn)軸100則用于伸入待測(cè)工件的加工孔2000當(dāng)中并用于與加工孔2000同軸設(shè)置，也就是說，在檢測(cè)時(shí)，需要將基準(zhǔn)軸100伸入到加工孔2000中，并使基準(zhǔn)軸100與加工孔2000同軸設(shè)置。[0085]在實(shí)際加工過程中，可以通過以下方式將基準(zhǔn)軸100準(zhǔn)確伸入到加工孔2000中：在機(jī)床將加工孔2000剛剛加工完畢后，將基準(zhǔn)軸100的中心軸線與機(jī)床加工這個(gè)加工孔2000時(shí)孔的預(yù)設(shè)中心軸線重合，再將基準(zhǔn)軸100沿孔的預(yù)設(shè)中心軸線伸入加工孔2000當(dāng)中。且不限于此。[0086]光束感測(cè)部位與處理器電性連接，以用于在基準(zhǔn)軸100轉(zhuǎn)動(dòng)過程中將光束檢測(cè)數(shù)據(jù)發(fā)送至處理器。處理器用于根據(jù)光束檢測(cè)數(shù)據(jù)判斷加工孔2000是否合格。[0087]具體的，可以通過選擇合適長度的定位座400,使基準(zhǔn)軸100在進(jìn)入加工孔2000當(dāng)中后，測(cè)試柱200是抵接于加工孔2000的孔壁的，即：通過選擇合適長度的定位座400,使在自然狀態(tài)下測(cè)試柱200遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100的一側(cè)壁面與基準(zhǔn)軸100的中心軸線之間的距離大于所要檢測(cè)的加工孔2000的半徑，換句話說，就是在基準(zhǔn)軸100準(zhǔn)確伸入到加工孔2000中后，9加工孔2000的孔壁能夠?qū)y(cè)試柱200向基準(zhǔn)軸100所在的一側(cè)推動(dòng)一段距離，這個(gè)過程中，運(yùn)動(dòng)件500會(huì)克服回彈機(jī)構(gòu)的彈力朝基準(zhǔn)軸100運(yùn)動(dòng)相應(yīng)的距離，且運(yùn)動(dòng)件500還保留有繼續(xù)朝基準(zhǔn)軸100運(yùn)動(dòng)的空間。[0088]此時(shí)，若光束接收模塊320仍然能夠順利接收到第一光源310發(fā)出的特征光束，就說明當(dāng)前的光路還是與圖4所示的光路類似，該狀態(tài)下，3根測(cè)試柱200所在位置對(duì)應(yīng)的加工孔2000的半徑就是相同的。這說明，在當(dāng)前的測(cè)試柱200的初始位置處，加工孔2000的半徑是均勻的。[0089]隨后，可以控制基準(zhǔn)軸100按預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)速(可以根據(jù)實(shí)際情況靈活設(shè)置)轉(zhuǎn)動(dòng)起來，并持續(xù)監(jiān)控光束接收模塊320是否能夠持續(xù)接收到第一光源310發(fā)出的特征光束。若測(cè)試柱200在當(dāng)前插入深度下，遍歷加工孔2000的孔壁的過程中，光束接收模塊320均能夠持續(xù)接收到第一光源310發(fā)出的特征光束，就說明在當(dāng)前測(cè)試柱200遍歷了的加工孔2000的內(nèi)壁范圍內(nèi)，加工孔2000的孔徑是均勻的。但是，若光束接收模塊320出現(xiàn)了無法接收到第一光源310發(fā)出的特征光束的情況，這個(gè)情況出現(xiàn)時(shí)測(cè)試柱200所在的位置就存在孔徑不均勻的問[0090]當(dāng)前插入深度的孔徑均勻性檢測(cè)完畢后，改變基準(zhǔn)軸100插入加工孔2000的深度，就可以繼續(xù)對(duì)加工孔2000剩余的部位進(jìn)行檢測(cè)了?？蛇x的，也可以將測(cè)試柱200的長度設(shè)置為與加工孔2000的孔深度相適配，以提高檢測(cè)效率。[0091]可以理解，工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)更適合檢測(cè)加工孔2000類型為通孔時(shí)的孔徑均[0092]需要說明的是，可以通過調(diào)節(jié)光束接收模塊320在接收特征光束時(shí)的接收精度(即：特征光束偏移多少距離后光束接收模塊320就無法順利對(duì)其進(jìn)行接收)來調(diào)整工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)的檢測(cè)精度。[0093]通過以上設(shè)計(jì)，就實(shí)現(xiàn)了對(duì)加工孔2000內(nèi)表面均勻性的全面檢測(cè)，提高了對(duì)加工孔2000的加工質(zhì)量把控的全面性。[0094]總體而言，本實(shí)施例提供的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)能夠有效地提高對(duì)加工孔2000內(nèi)表面的檢測(cè)全面性，克服了傳統(tǒng)檢測(cè)方式的局限性，可以更合理地反映加工孔2000的實(shí)際加工質(zhì)量，對(duì)于進(jìn)一步提高加工精度而言具有積極意義。[0095]在本實(shí)施例中，測(cè)試柱200包括芯體220和轉(zhuǎn)動(dòng)套230。[0096]轉(zhuǎn)動(dòng)套230為圓筒狀，轉(zhuǎn)動(dòng)套230可轉(zhuǎn)動(dòng)地套設(shè)于芯體220。測(cè)試柱200通過芯體220與運(yùn)動(dòng)件500配合。轉(zhuǎn)動(dòng)套230由透光材料制成，具體材料可以根據(jù)實(shí)際情況靈活選擇。[0097]在光源柱中，第一光源310和光束接收模塊320均嵌設(shè)于芯體220當(dāng)中且二者均沿轉(zhuǎn)動(dòng)套230的徑向設(shè)置。[0098]在反射柱中，反射件340設(shè)于芯體220,反射件340的反射面垂直于參考面210設(shè)置，且反射柱的中心軸線位于反射件340的反射面所對(duì)應(yīng)的平面內(nèi)。[0099]在反射柱中，芯體220呈圓柱狀，芯體220與轉(zhuǎn)動(dòng)套230同軸設(shè)置，且芯體220的外側(cè)壁與轉(zhuǎn)動(dòng)套230的內(nèi)側(cè)壁貼合。[0100]反射柱的芯體220也由透光材料制成，反射件340內(nèi)嵌于芯體220當(dāng)中。[0101]在光源柱中，芯體220呈圓柱狀，芯體220與轉(zhuǎn)動(dòng)套230同軸設(shè)置，且芯體220的外側(cè)壁與轉(zhuǎn)動(dòng)套230的內(nèi)側(cè)壁貼合。[0102]光源柱的芯體220開設(shè)有安裝孔330,安裝孔330沿芯體220的徑向設(shè)置，第一光源310和光束接收模塊320分別安裝于不同的安裝孔330內(nèi)。[0103]工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)在自然狀態(tài)下，或基準(zhǔn)軸100伸入為標(biāo)準(zhǔn)圓孔的加工孔2000當(dāng)中時(shí)，特征光束沿光源柱的徑向射出，并沿反射柱的徑向射向反射件340,同時(shí)特征光束還與反射柱的中心軸線相交。[0104]若加工孔2000的孔壁存在不均勻，當(dāng)光源柱和/或反射柱運(yùn)動(dòng)至不均勻處時(shí)，就會(huì)導(dǎo)致光源柱和/或反射柱發(fā)生一定的偏轉(zhuǎn)，從而破壞原來的光路，導(dǎo)致光束接收模塊320無法接收到特征光束。以此作為對(duì)加工孔2000的孔壁上不均勻位置的檢測(cè)依據(jù)。[0106]兩組桿體410均沿基準(zhǔn)軸100的軸向間隔設(shè)置且二者均沿基準(zhǔn)軸100的徑向設(shè)置，測(cè)試柱200位于兩組桿體410之間。[0107]桿體410遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100的一端均開設(shè)有滑槽411,運(yùn)動(dòng)件500滑動(dòng)配合于滑槽411[0108]芯體220的兩端均設(shè)置有第一配合柱221和第二配合柱222。第一配合柱221和第二配合柱222同軸固定連接且二者均沿測(cè)試柱200的軸向設(shè)置，第一配合柱221與芯體220固定連接，第一配合柱221的外徑小于芯體220的外徑，第二配合柱222的外徑小于第一配合柱[0109]運(yùn)動(dòng)件500開設(shè)有配合缺口，配合缺口中轉(zhuǎn)動(dòng)配合有配合塊520,配合塊520的轉(zhuǎn)動(dòng)軸心線垂直于基準(zhǔn)軸100的中心軸線，且配合塊520的轉(zhuǎn)動(dòng)軸心線還垂直于桿體410設(shè)置。[0110]運(yùn)動(dòng)件500的配合塊520開設(shè)有配合通孔，配合通孔的孔徑與第二配合柱222的外徑相適配，第二配合柱222配合于配合通孔當(dāng)中。[0111]當(dāng)測(cè)試柱200與基準(zhǔn)軸100平行時(shí)，芯體220兩端的第一配合柱221均與運(yùn)動(dòng)件500的配合塊520貼合，第二配合柱222延伸超出配合塊520,即第二配合柱222有一部分延伸到了配合塊520遠(yuǎn)離芯體220的一側(cè)。沿芯體220的周向的長度方向，第二配合柱222與配合塊520滑動(dòng)配合；沿芯體220的周向，第二配合柱222與配合塊520固定配合，即第二配合柱222不會(huì)相對(duì)配合塊520轉(zhuǎn)動(dòng)。[0112]檢測(cè)時(shí)，基準(zhǔn)軸100伸入加工孔2000當(dāng)中，測(cè)試柱200與加工孔2000的孔壁貼合，隨后，還可以控制基準(zhǔn)軸100轉(zhuǎn)動(dòng)，以使測(cè)試柱200沿加工孔2000的周向在加工孔2000的孔壁上運(yùn)動(dòng)，從而在周向上對(duì)加工孔2000進(jìn)行檢測(cè)。此外，調(diào)整基準(zhǔn)軸100伸入加工孔2000中的插入深度，就可以實(shí)現(xiàn)對(duì)加工孔2000的全部內(nèi)壁的檢測(cè)。[0113]在基準(zhǔn)軸100轉(zhuǎn)動(dòng)的過程中，芯體220由于受到配合塊520的限制，芯體220不會(huì)轉(zhuǎn)動(dòng)，從而轉(zhuǎn)動(dòng)套230會(huì)相對(duì)芯體220轉(zhuǎn)動(dòng)。由于轉(zhuǎn)動(dòng)套230和芯體220的特殊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，轉(zhuǎn)動(dòng)套230沿加工孔2000的孔壁運(yùn)動(dòng)的過程中，并不會(huì)影響第一光源310的光路。[0114]通過該設(shè)計(jì)，工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)更適用于機(jī)床對(duì)加工孔2000加工完畢后的自動(dòng)化檢測(cè)，與自動(dòng)化生產(chǎn)的適配性更高。[0115]進(jìn)一步的，請(qǐng)結(jié)合圖7-圖10,定位座400還包括：連接臂420。連接臂420固定連接于同一個(gè)定位座400的兩組桿體410之間。連接臂420沿基準(zhǔn)軸100的軸向設(shè)置，連接臂420固定連接于桿體410靠近基準(zhǔn)軸100的一端端部。[0116]桿體410還具有沿其軸向延伸設(shè)置的容納腔412,容納腔412位于滑槽411靠近基準(zhǔn)11[0117]運(yùn)動(dòng)件500靠近容納腔412的一側(cè)固定連接有滑動(dòng)塊510,滑動(dòng)塊510延伸至容納腔與第三管體630之間滑動(dòng)密封。檢測(cè)桿640靠近第二管體620的一端固定連接有回彈桿650,[0122]第一管體610、第二管體620和第三管體630三者的內(nèi)徑均與容納腔412的內(nèi)徑相[0123]回彈桿650遠(yuǎn)離檢測(cè)桿640的一端與第三管體630之間抵接有彈性件660,彈性件660配合有用于檢測(cè)其彈力的壓力檢測(cè)機(jī)構(gòu)(圖中未示出),壓力檢測(cè)機(jī)構(gòu)與處理器電性連640向第三管體630內(nèi)運(yùn)動(dòng)，進(jìn)而通過液態(tài)介質(zhì)將滑動(dòng)塊510向容納腔412遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100的動(dòng)至不均勻處時(shí)，若全部測(cè)試柱200是沿基準(zhǔn)軸100的徑向同步朝靠近基準(zhǔn)軸100一側(cè)運(yùn)動(dòng)了相同的距離，或者全部測(cè)試柱200是沿基準(zhǔn)軸100的徑向同步朝遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100一側(cè)運(yùn)動(dòng)向同步朝靠近基準(zhǔn)軸100一側(cè)運(yùn)動(dòng)了相同的距離，回彈桿650就會(huì)進(jìn)一步向第三管體630內(nèi)的檢測(cè)桿640的位移方向和位移量來確定測(cè)試柱200的兩端是朝基準(zhǔn)軸100所在一側(cè)偏轉(zhuǎn)還是朝遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100的一側(cè)偏轉(zhuǎn)，并可以通過比較檢測(cè)桿640的位移量差異來確定測(cè)試柱200的兩端的偏移量的差異，從而確定偏轉(zhuǎn)過程中，測(cè)試柱200話，就說明在測(cè)試柱200的這一端對(duì)應(yīng)的位置，加工孔2000的孔壁存在凸起(相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)圓孔的孔壁而言)。若測(cè)試柱200的一端在偏移時(shí)更遠(yuǎn)離基準(zhǔn)柱的話，就說明在測(cè)試柱200的這一端對(duì)應(yīng)的位置，加工孔2000的孔壁存在凹陷(相對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)圓孔的孔壁而言)。[0130]基于此，就可以對(duì)加工孔2000的內(nèi)壁上的不均勻位置進(jìn)行輔助性定位。[0131]可選的，第三管體630內(nèi)的流通面積小于容納腔412內(nèi)的流通面積從而提高檢測(cè)桿640和回彈桿650的運(yùn)動(dòng)靈敏度，進(jìn)而提高壓力檢測(cè)機(jī)構(gòu)的檢測(cè)靈敏度。[0132]基準(zhǔn)軸100開設(shè)有調(diào)節(jié)槽110,調(diào)節(jié)槽110沿基準(zhǔn)軸100的徑向進(jìn)行開設(shè)，且調(diào)節(jié)槽110沿基準(zhǔn)軸100的軸向進(jìn)行延伸。沿基準(zhǔn)軸100的徑向，定位座400滑動(dòng)配合于調(diào)節(jié)槽110中并由驅(qū)動(dòng)器(圖中未示出)驅(qū)動(dòng)?？蛇x的，全部定位座400由驅(qū)動(dòng)器同步驅(qū)動(dòng)。[0133]本實(shí)施例還提供一種高質(zhì)量加工自動(dòng)化機(jī)床，其包括：孔加工機(jī)構(gòu)和上述的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)。高質(zhì)量加工自動(dòng)化機(jī)床可以在利用孔加工機(jī)構(gòu)對(duì)孔進(jìn)行加工過程中，或者加工完畢后，利用工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)其加工的加工孔2000進(jìn)行檢測(cè)，以確定加工孔2000的均勻性是否合格，以及是否還需要對(duì)加工孔2000進(jìn)行修正。[0134]可選的，反射件340沿測(cè)試柱(反射柱)的軸向連續(xù)延伸設(shè)置，反射件340的兩端分別延伸至芯體220的兩端端部。相適配的，第一光源310和光束接收模塊320二者均為多個(gè)，每個(gè)第一光源310均對(duì)應(yīng)設(shè)置有一個(gè)光束接收模塊320,一個(gè)第一光源310與一個(gè)光束接收模塊320構(gòu)成光束“發(fā)射+接收”的組合，多組光束“發(fā)射+接收”的組合沿測(cè)試柱(光源柱)的軸向均勻間隔布置。[0135]通過該設(shè)計(jì)，可以進(jìn)一步提高檢測(cè)靈敏度和檢測(cè)精度，此外，這樣更便于對(duì)測(cè)試柱200進(jìn)行校準(zhǔn)，即在未進(jìn)行檢測(cè)時(shí)(自然狀態(tài)下)能夠更方便地將測(cè)試柱200調(diào)節(jié)為與基準(zhǔn)軸100相平行。[0136]實(shí)施例二[0137]請(qǐng)結(jié)合圖11-圖16,與實(shí)施例一提供的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)相比，本實(shí)施例提供的工件加工質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)的檢測(cè)桿640遠(yuǎn)離回彈桿650的一端均固定連接有驅(qū)動(dòng)齒條700,驅(qū)動(dòng)齒條700沿檢測(cè)桿640的長度方向延伸，驅(qū)動(dòng)齒條700的外徑小于第三管體630的內(nèi)徑。[0138]連接臂420的安裝內(nèi)腔421中還設(shè)置有輔助機(jī)構(gòu)800,輔助機(jī)構(gòu)800包括：基準(zhǔn)環(huán)810、第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830。[0139]基準(zhǔn)環(huán)810呈圓環(huán)形，第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830均為圓形輪?；鶞?zhǔn)環(huán)810固定安裝于安裝內(nèi)腔421中，基準(zhǔn)環(huán)810的內(nèi)環(huán)壁設(shè)置有投射幕811,投射幕811沿基準(zhǔn)環(huán)810的周向連續(xù)延伸成環(huán)形，投射幕811上標(biāo)注有沿基準(zhǔn)環(huán)810的周向設(shè)置的尺度標(biāo)記。尺度標(biāo)記[0140]第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830分設(shè)于基準(zhǔn)環(huán)810的相對(duì)兩側(cè)，基準(zhǔn)環(huán)810、第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830三者同軸設(shè)置，第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830二者均可轉(zhuǎn)動(dòng)地配合于基準(zhǔn)環(huán)810。在本實(shí)施例中，第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830均與基準(zhǔn)環(huán)810貼合。[0141]第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830靠近基準(zhǔn)環(huán)810的一側(cè)固定連接有中心柱831和限制環(huán)832,中心柱831為圓柱，限制環(huán)832呈圓環(huán)形。限制環(huán)832的內(nèi)徑大于中心柱831的外徑，中心柱831設(shè)于限制環(huán)832之內(nèi)。中心柱831、限制環(huán)832和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830三者同軸設(shè)置。中心柱831和限制環(huán)832均延伸至基準(zhǔn)環(huán)810當(dāng)中。[0142]中心柱831的側(cè)壁做鏡面處理。[0143]限制環(huán)832開設(shè)有透光缺口833,透光缺口833由限制環(huán)832的外環(huán)壁貫穿至其內(nèi)環(huán)壁。沿中心柱831的軸向，透光缺口833位于限制環(huán)832的中部；沿限制環(huán)832的周向，透光缺口833連續(xù)延伸，且透光缺口833未延伸成完整的環(huán)形，也就是說，透光缺口833的兩端沒有相交。[0144]在限制環(huán)832的周向上，將透光缺口833的兩端端壁分別作為第一端壁834和第二端壁835。沿透光缺口833的長度方向，由第一端壁834指向第二端壁835的方向(即如圖13中的K方向),透光缺口833的寬度呈遞增變化。在本實(shí)施例中，透光缺口833的兩側(cè)內(nèi)壁在限制環(huán)832上呈對(duì)稱分布，如圖15和圖16所示。[0145]第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820靠近基準(zhǔn)環(huán)810的一側(cè)固定連接有第二光源821和視覺組件822,第二光源821和視覺組件822均延伸至基準(zhǔn)環(huán)810當(dāng)中。[0146]第二光源821朝向中心柱831設(shè)置，以用于向中心柱831的側(cè)壁(鏡面)發(fā)射檢測(cè)光束，以使檢測(cè)光束能夠經(jīng)限制環(huán)832的透光缺口833照射至中心柱831的側(cè)壁，并由中心柱831的側(cè)壁反射后再次經(jīng)限制環(huán)832的透光缺口833投射至投射幕811上。第二光源821為線光源，即第二光源821發(fā)射出的檢測(cè)光束的投影呈線條形，且第二光源821的線性光束沿中心柱831的長度方向設(shè)置。第二光源821的線性光束的長度大于透光缺口833的最大寬度。[0147]其中，第二光源821在發(fā)射檢測(cè)光束時(shí)，檢測(cè)光束中射向中心柱831的光線段作為第一光線段823,檢測(cè)光束中射向投射幕811的光線段作為第二光線段824,第一光線段823位于第二光線段824靠近透光缺口833的第一端壁834的一側(cè)。[0148]自然狀態(tài)下，即運(yùn)動(dòng)件500位于滑槽411遠(yuǎn)離容納腔412的一端端部時(shí)，第一光線段823和第二光線段824位于透光缺口833的中間區(qū)域。[0149]視覺組件822用于獲取檢測(cè)光線在投射幕811上的投影圖像，視覺組件822與處理器電性連接。[0150]第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830二者均具有外齒圈，位于連接臂420一端的檢測(cè)桿640的驅(qū)動(dòng)齒條700與第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820嚙合，位于連接臂420另一端的檢測(cè)桿640的驅(qū)動(dòng)齒條700與第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830嚙合。當(dāng)連接臂420兩端的檢測(cè)桿640的驅(qū)動(dòng)齒條700均朝遠(yuǎn)離回彈桿650的一側(cè)運(yùn)動(dòng)時(shí)，第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830二者被朝同一方向驅(qū)動(dòng)。[0151]在本實(shí)施例中，對(duì)于連接臂420兩端的兩個(gè)運(yùn)動(dòng)件500,當(dāng)兩個(gè)運(yùn)動(dòng)件500沿滑槽411朝相同方向滑動(dòng)相同的距離時(shí)，兩個(gè)運(yùn)動(dòng)件500對(duì)應(yīng)的檢測(cè)桿640會(huì)對(duì)應(yīng)進(jìn)行運(yùn)動(dòng)，兩個(gè)檢測(cè)桿640的運(yùn)動(dòng)距離也是相同的，且兩個(gè)檢測(cè)桿640通過驅(qū)動(dòng)齒條700驅(qū)動(dòng)第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830轉(zhuǎn)動(dòng)的角度也是相同的。[0152]通過該設(shè)計(jì)，當(dāng)加工孔2000為標(biāo)準(zhǔn)的圓孔時(shí)，在基準(zhǔn)軸100轉(zhuǎn)動(dòng)過程中，運(yùn)動(dòng)件500不會(huì)進(jìn)一步推動(dòng)滑動(dòng)塊510,檢測(cè)桿640不會(huì)運(yùn)動(dòng)，第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830均不會(huì)轉(zhuǎn)動(dòng)，第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830之間不存在相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)。此時(shí)，投射幕811上的投影圖像在投射幕811上的位置不會(huì)發(fā)生變化，投射幕811上的投影圖像的長度也不會(huì)發(fā)生變化。[0153]而當(dāng)測(cè)試柱200是沿基準(zhǔn)軸100的徑向整體同步朝靠近或遠(yuǎn)離基準(zhǔn)軸100一側(cè)運(yùn)動(dòng)時(shí)，兩個(gè)驅(qū)動(dòng)齒條700的運(yùn)動(dòng)距離是相同的，第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830沿相同方向轉(zhuǎn)動(dòng)相同的角度，第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830之間也不存在相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)。此時(shí)，以第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830均沿圖13中所示的P方向轉(zhuǎn)動(dòng)相同距離為例，第一光源和限制環(huán)832不同轉(zhuǎn)動(dòng)，二者的相對(duì)位置關(guān)系不會(huì)發(fā)生變化，投射幕811上的投影圖像在投射幕811上的位置會(huì)發(fā)生變化，位置變化量與第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830二者的轉(zhuǎn)動(dòng)角度相對(duì)應(yīng)，但投射幕811上的投影圖像的長度不會(huì)發(fā)生變化。[0154]只有當(dāng)測(cè)試柱200的兩端相對(duì)基準(zhǔn)軸100的運(yùn)動(dòng)距離不同時(shí)，第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830之間才會(huì)存在相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)。當(dāng)?shù)谝晦D(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830之間存在相對(duì)轉(zhuǎn)[0155](1)第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820沒有相對(duì)基準(zhǔn)環(huán)810轉(zhuǎn)動(dòng)，只有第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830相對(duì)基準(zhǔn)環(huán)810轉(zhuǎn)動(dòng)：投射幕811上的投影圖像在投射幕811上的位置不會(huì)發(fā)生變化，但投射幕811上的投影圖像的長度會(huì)發(fā)生變化，且第一轉(zhuǎn)動(dòng)輪820和第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830之間的相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)量與投影圖像的長度變化量相對(duì)應(yīng)。[0156](2)第二轉(zhuǎn)動(dòng)輪830沒有相對(duì)基準(zhǔn)環(huán)810轉(zhuǎn)動(dòng)，只有第一