晶體管性能測試題及答案

一、單項(xiàng)選擇題1.晶體管的三個電極分別是（）A.基極、發(fā)射極、集電極B.正極、負(fù)極、接地極C.源極、漏極、柵極D.陽極、陰極、控制極答案：A2.對于NPN型晶體管，正常工作時，（）電位最高。A.基極B.發(fā)射極C.集電極D.無法確定答案：C3.晶體管的電流放大作用是指（）A.把小電流放大成大電流B.把小電壓放大成大電壓C.把小功率放大成大功率D.以上都不對答案：A4.晶體管的直流工作點(diǎn)是指（）A.基極電流、集電極電流和集電極-發(fā)射極電壓B.基極電壓、發(fā)射極電壓和集電極電壓C.基極電阻、集電極電阻和發(fā)射極電阻D.以上都不對答案：A5.當(dāng)晶體管處于放大狀態(tài)時，發(fā)射結(jié)和集電結(jié)的偏置情況是（）A.發(fā)射結(jié)正偏，集電結(jié)反偏B.發(fā)射結(jié)反偏，集電結(jié)正偏C.發(fā)射結(jié)和集電結(jié)都正偏D.發(fā)射結(jié)和集電結(jié)都反偏答案：A6.衡量晶體管放大能力的參數(shù)是（）A.電壓放大倍數(shù)B.電流放大倍數(shù)C.功率放大倍數(shù)D.以上都是答案：B7.某晶體管的集電極電流為1mA，基極電流為50μA，則發(fā)射極電流為（）A.0.95mAB.1.05mAC.1mAD.50μA答案：B8.晶體管的輸出特性曲線可分為三個區(qū)域，不包括以下哪個區(qū)域（）A.放大區(qū)B.飽和區(qū)C.截止區(qū)D.線性區(qū)答案：D9.若要使晶體管可靠截止，應(yīng)（）A.發(fā)射結(jié)正偏，集電結(jié)正偏B.發(fā)射結(jié)反偏，集電結(jié)反偏C.發(fā)射結(jié)正偏，集電結(jié)反偏D.發(fā)射結(jié)反偏，集電結(jié)正偏答案：B10.一個晶體管的β值為100，當(dāng)基極電流變化10μA時，集電極電流變化（）A.1mAB.0.1mAC.10mAD.100mA答案：A二、多項(xiàng)選擇題1.以下屬于晶體管性能參數(shù)的有（）A.電流放大倍數(shù)B.極間反向電流C.極限參數(shù)D.直流電阻答案：ABC2.影響晶體管電流放大倍數(shù)的因素有（）A.溫度B.頻率C.工作電壓D.管子的類型答案：ABCD3.晶體管的極限參數(shù)包括（）A.集電極最大允許電流ICMB.集電極-發(fā)射極反向擊穿電壓U(BR)CEOC.集電極最大允許耗散功率PCMD.基極最大電流IBM答案：ABC4.晶體管處于飽和狀態(tài)的特點(diǎn)有（）A.發(fā)射結(jié)正偏B.集電結(jié)正偏C.集電極電流大D.集電極-發(fā)射極電壓小答案：ABCD5.下列關(guān)于晶體管的說法正確的是（）A.晶體管有NPN和PNP兩種類型B.晶體管可以實(shí)現(xiàn)電流放大C.晶體管的性能與溫度有關(guān)D.晶體管在數(shù)字電路中可作為開關(guān)使用答案：ABCD6.要使晶體管工作在放大區(qū)，需要滿足的條件是（）A.合適的偏置電壓B.合適的負(fù)載電阻C.合適的信號源D.合適的環(huán)境溫度答案：AB7.晶體管的交流參數(shù)包括（）A.交流電流放大倍數(shù)B.輸入電阻C.輸出電阻D.直流電流放大倍數(shù)答案：ABC8.在測試晶體管性能時，常用的儀器有（）A.示波器B.萬用表C.信號發(fā)生器D.頻譜分析儀答案：ABC9.晶體管在電子電路中的應(yīng)用有（）A.放大電路B.振蕩電路C.開關(guān)電路D.整流電路答案：ABC10.以下關(guān)于晶體管極間反向電流的說法正確的是（）A.包括集電極-基極反向飽和電流ICBOB.包括集電極-發(fā)射極反向飽和電流ICEOC.ICEO比ICBO大D.溫度升高時，極間反向電流增大答案：ABCD三、判斷題1.晶體管是一種電流控制型器件。（√）2.晶體管的電流放大倍數(shù)β是一個固定不變的值。（×）3.只要晶體管的發(fā)射結(jié)正偏，晶體管就一定處于放大狀態(tài)。（×）4.集電極-發(fā)射極反向擊穿電壓U(BR)CEO是指基極開路時，集電極與發(fā)射極之間的最大允許電壓。（√）5.晶體管的輸入電阻越大越好，輸出電阻越小越好。（×）6.溫度升高時，晶體管的電流放大倍數(shù)β會減小。（×）7.在放大電路中，晶體管的靜態(tài)工作點(diǎn)設(shè)置不合適會導(dǎo)致輸出信號失真。（√）8.晶體管處于截止?fàn)顟B(tài)時，其集電極電流為零。（√）9.對于PNP型晶體管，正常工作時發(fā)射極電位最高。（√）10.測試晶體管性能時，示波器可以用來觀察信號的波形和幅度。（√）四、簡答題1.簡述晶體管的電流放大原理。晶體管的電流放大作用是基于它的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和工作時的偏置條件。以NPN型為例，當(dāng)發(fā)射結(jié)正偏時，發(fā)射區(qū)的多子電子向基區(qū)擴(kuò)散形成發(fā)射極電流IE，同時基區(qū)的多子空穴向發(fā)射區(qū)擴(kuò)散形成基極電流IB。由于基區(qū)很薄且摻雜濃度低，從發(fā)射區(qū)擴(kuò)散到基區(qū)的電子只有很少一部分與基區(qū)的空穴復(fù)合形成IB，大部分電子繼續(xù)向集電區(qū)擴(kuò)散，在集電結(jié)反偏電場作用下，形成集電極電流IC。IC遠(yuǎn)大于IB，從而實(shí)現(xiàn)電流放大。2.說明晶體管三個工作區(qū)域的特點(diǎn)。放大區(qū)：發(fā)射結(jié)正偏，集電結(jié)反偏。晶體管具有電流放大作用，集電極電流IC與基極電流IB近似成線性關(guān)系，IC=βIB，且集電極-發(fā)射極電壓UCE有一定范圍，可實(shí)現(xiàn)信號的線性放大。飽和區(qū)：發(fā)射結(jié)和集電結(jié)都正偏。此時晶體管失去電流放大作用，集電極電流IC達(dá)到最大值且基本不再隨IB增大而增大，集電極-發(fā)射極電壓UCE很小。截止區(qū)：發(fā)射結(jié)和集電結(jié)都反偏。晶體管各極電流近似為零，相當(dāng)于開關(guān)斷開。3.如何測量晶體管的電流放大倍數(shù)β？可以使用萬用表的hFE檔測量。將萬用表置于hFE檔，根據(jù)晶體管的類型（NPN或PNP）將其插入萬用表對應(yīng)的插孔中。此時萬用表顯示的數(shù)值即為該晶體管的直流電流放大倍數(shù)β。也可以搭建測試電路，在電路中設(shè)置合適的偏置，使晶體管工作在放大區(qū)，測量基極電流IB和集電極電流IC，然后通過公式β=IC/IB計算得到電流放大倍數(shù)。4.簡述溫度對晶體管性能的影響。溫度升高時，晶體管的參數(shù)會發(fā)生變化。首先，極間反向電流增大，如ICBO和ICEO都會隨溫度升高而顯著增大。其次，電流放大倍數(shù)β增大，導(dǎo)致集電極電流IC增大。此外，晶體管的發(fā)射結(jié)電壓UBE會減小，這也會影響其工作狀態(tài)。這些變化可能導(dǎo)致晶體管的靜態(tài)工作點(diǎn)發(fā)生偏移，若不進(jìn)行適當(dāng)調(diào)整，會影響放大電路的性能，甚至使電路無法正常工作。五、討論題1.在設(shè)計晶體管放大電路時，如何合理設(shè)置靜態(tài)工作點(diǎn)？在設(shè)計晶體管放大電路時，合理設(shè)置靜態(tài)工作點(diǎn)非常重要。首先要根據(jù)信號的大小和類型確定合適的靜態(tài)電流和電壓。通過選擇合適的偏置電阻，為晶體管提供合適的基極電流，進(jìn)而確定集電極電流和集電極-發(fā)射極電壓。要考慮晶體管的參數(shù)和特性，如β值等，不同的晶體管參數(shù)不同，會影響靜態(tài)工作點(diǎn)的設(shè)置。還需考慮溫度等環(huán)境因素對靜態(tài)工作點(diǎn)的影響，采用穩(wěn)定靜態(tài)工作點(diǎn)的電路，如分壓式偏置電路，以保證在不同條件下，晶體管都能穩(wěn)定工作在放大區(qū)，實(shí)現(xiàn)信號的有效放大。2.比較晶體管作為放大元件和開關(guān)元件時工作狀態(tài)的差異。當(dāng)晶體管作為放大元件時，工作在放大區(qū)，發(fā)射結(jié)正偏，集電結(jié)反偏。此時基極電流的微小變化會引起集電極電流較大的線性變化，通過合理設(shè)置靜態(tài)工作點(diǎn)，晶體管對輸入信號進(jìn)行線性放大，輸出信號與輸入信號保持相似的波形，只是幅度得到放大。而當(dāng)晶體管作為開關(guān)元件時，工作在截止區(qū)和飽和區(qū)。截止時，發(fā)射結(jié)和集電結(jié)都反偏，晶體管各極電流近似為零，相當(dāng)于開關(guān)斷開；飽和時，發(fā)射結(jié)和集電結(jié)都正偏，集電極電流達(dá)到最大值，集電極-發(fā)射極電壓很小，相當(dāng)于開關(guān)閉合。所以兩種工作狀態(tài)在偏置條件、電流電壓關(guān)系和功能上有明顯差異。3.討論在測試晶體管性能過程中可能遇到的問題及解決方法。測試過程中可能遇到的問題有：測量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，可能是儀器精度不夠或測量方法不正確。解決方法是選擇精度高的儀器，并嚴(yán)格按照操作規(guī)程進(jìn)行測量。晶體管工作狀態(tài)異常，比如無法進(jìn)入放大區(qū)，可能是偏置電路設(shè)置不當(dāng)，需要檢查偏置電阻等元件是否正確連接和取值。溫度影響測量結(jié)果，由于溫度會改變晶體管參數(shù)，可在測量時控制環(huán)境溫度，或者采用溫度補(bǔ)償電路。信號干擾問題，可能導(dǎo)致測量波形失真，可采取屏蔽措施，減少外界干擾對測試電路的影響。4.談?wù)劸w管在現(xiàn)代電子技術(shù)中的重要性及應(yīng)用領(lǐng)域。晶體管在現(xiàn)代電子技術(shù)中具有極其重要的地位。它是構(gòu)成各種電子電路的核心元件，能夠?qū)崿F(xiàn)信號的放大、處理