2025年無損檢測員(初級(jí))職業(yè)技能鑒定綜合試卷及答案一、單項(xiàng)選擇題（每題1分，共30分。每題只有一個(gè)正確答案，請將正確選項(xiàng)的字母填在括號(hào)內(nèi)）1.在射線照相中，決定影像對(duì)比度的主要因素是（）。A.射線能量??B.膠片類型??C.曝光時(shí)間??D.工件厚度差答案：D2.超聲波探傷時(shí)，若探頭與工件表面存在空氣層，將導(dǎo)致（）。A.回波幅度增大??B.聲能幾乎全反射??C.聲速提高??D.頻率升高答案：B3.磁粉檢測中，使用直流電磁化相比交流電磁化的主要優(yōu)點(diǎn)是（）。A.檢測速度快??B.設(shè)備輕便??C.可檢測近表面缺陷??D.剩磁小答案：C4.滲透檢測中，顯像劑的主要作用是（）。A.溶解缺陷內(nèi)的滲透液??B.吸收并析出缺陷中的滲透液??C.中和表面活性劑??D.降低表面張力答案：B5.在射線檢測中，使用鉛箔增感屏的主要目的是（）。A.降低散射??B.提高對(duì)比度??C.減少曝光時(shí)間??D.增加寬容度答案：C6.超聲波探傷儀中，抑制旋鈕的功能是（）。A.改變發(fā)射電壓??B.濾除低幅度雜波??C.調(diào)整掃描速度??D.改變探頭頻率答案：B7.磁粉檢測后，如需消除工件剩磁，最有效的方法是（）。A.敲擊??B.退磁處理??C.加熱至居里點(diǎn)??D.自然冷卻答案：B8.滲透檢測時(shí)，若清洗不足，最可能出現(xiàn)的偽缺陷顯示是（）。A.點(diǎn)狀??B.線狀??C.片狀??D.彌散背景答案：D9.射線照相中，幾何不清晰度Ug與焦點(diǎn)尺寸d、工件至膠片距離b、缺陷至膠片距離a的關(guān)系為（）。A.Ug=d·a/b??B.Ug=d·b/a??C.Ug=d·(a+b)/b??D.Ug=d·b/(a+b)答案：A10.A型超聲波探傷儀中，水平基線代表（）。A.回波幅度??B.時(shí)間或距離??C.頻率??D.增益答案：B11.磁粉檢測中，使用熒光磁粉的主要優(yōu)點(diǎn)是（）。A.成本低??B.對(duì)比度高，適于暗視場??C.無需紫外燈??D.顆粒大、沉降快答案：B12.在滲透檢測的乳化階段，過乳化會(huì)導(dǎo)致（）。A.缺陷漏檢??B.背景過亮??C.靈敏度提高??D.干燥時(shí)間縮短答案：A13.射線檢測中，曝光量E與管電流I、曝光時(shí)間t的關(guān)系為（）。A.E=I/t??B.E=I2t??C.E=It??D.E=√It答案：C14.超聲波探傷時(shí)，若材料聲速為5900m/s，回波時(shí)間間隔為10μs，則缺陷深度為（）。A.29.5mm??B.59mm??C.118mm??D.14.75mm答案：A15.磁粉檢測中，周向磁化最適合發(fā)現(xiàn)的缺陷方向是（）。A.與工件軸線平行??B.與電流方向平行??C.與電流方向垂直??D.與磁場方向成45°答案：C16.滲透檢測中，親水性乳化劑的H.L.B值范圍通常為（）。A.1–3??B.3–6??C.8–18??D.20–30答案：C17.射線照相中，膠片特性曲線直線部分的斜率稱為（）。A.寬容度??B.灰霧度??C.梯度??D.黑度答案：C18.超聲波探傷時(shí)，若探頭楔塊磨損，將導(dǎo)致（）。A.折射角增大??B.靈敏度提高??C.入射點(diǎn)偏移??D.頻率升高答案：C19.磁粉檢測中，采用剩磁法的前提條件是材料的（）。A.矯頑力大于1kA/m??B.磁導(dǎo)率小于1??C.電導(dǎo)率高??D.延伸率大答案：A20.滲透檢測中，干燥溫度過高會(huì)使（）。A.滲透液揮發(fā)??B.顯像劑失效??C.缺陷閉合??D.背景對(duì)比度提高答案：A21.射線檢測中，散射比n定義為（）。A.主射線強(qiáng)度/散射強(qiáng)度??B.散射強(qiáng)度/主射線強(qiáng)度??C.散射強(qiáng)度/總強(qiáng)度??D.總強(qiáng)度/主射線強(qiáng)度答案：B22.超聲波探傷時(shí)，若出現(xiàn)“草狀回波”，最可能的原因是（）。A.探頭阻尼大??B.材料晶粒粗大??C.頻率過高??D.耦合劑過稀答案：B23.磁粉檢測中，磁寫現(xiàn)象產(chǎn)生的顯示特征是（）。A.清晰線性??B.模糊帶狀，可重復(fù)??C.點(diǎn)狀聚集??D.樹枝狀答案：B24.滲透檢測中，熒光滲透液的亮度與下列哪項(xiàng)關(guān)系最大（）。A.粘度??B.表面張力??C.染料濃度??D.閃點(diǎn)答案：C25.射線照相中，使用雙膠片技術(shù)的主要目的是（）。A.提高清晰度??B.擴(kuò)大厚度寬容度??C.減少散射??D.降低灰霧答案：B26.超聲波探傷時(shí)，若缺陷直徑小于波長，其回波幅度主要與（）。A.缺陷面積成正比??B.缺陷體積成正比??C.缺陷周長成正比??D.缺陷深度成正比答案：B27.磁粉檢測中，交流電磁化時(shí)，磁通密度主要集中在（）。A.工件表面??B.工件中心??C.工件內(nèi)部??D.夾頭附近答案：A28.滲透檢測中，水洗型滲透液的去除壓力應(yīng)控制在（）。A.0.1–0.2MPa??B.0.2–0.3MPa??C.0.3–0.4MPa??D.0.5MPa以上答案：B29.射線檢測中，若底片黑度為2.5，測得階梯楔片第5階厚度差為4mm，則該射線照相的靈敏度為（）。A.1.6%??B.2.0%??C.2.5%??D.3.0%答案：A30.超聲波探傷時(shí)，若使用K2斜探頭檢測板厚30mm的焊縫，則一次波聲程約為（）。A.33mm??B.60mm??C.67mm??D.120mm答案：C二、判斷題（每題1分，共20分。正確打“√”，錯(cuò)誤打“×”）31.射線能量越高，膠片對(duì)比度越高。（×）32.超聲波在異質(zhì)界面上會(huì)發(fā)生波形轉(zhuǎn)換。（√）33.磁粉檢測可檢測所有非磁性材料。（×）34.滲透檢測對(duì)多孔材料不適用。（√）35.射線檢測中，增感屏厚度越大，影像越清晰。（×）36.超聲波頻率越高，衰減越大。（√）37.磁粉檢測中，磁化時(shí)間越長越好。（×）38.滲透檢測后，工件可不再清洗直接裝配。（×）39.射線底片黑度越大，靈敏度一定越高。（×）40.超聲波探傷時(shí)，耦合層厚度為λ/2時(shí)透聲效果最好。（√）41.磁粉檢測中，濕法比干法更適合檢測細(xì)微缺陷。（√）42.滲透檢測中，顯像時(shí)間越長，缺陷顯示越清晰。（×）43.射線檢測中，使用Ir192可檢測200mm厚鋼件。（×）44.超聲波探傷時(shí)，遲到波一定由缺陷引起。（×）45.磁粉檢測中，反向磁場法退磁效果優(yōu)于交流退磁。（×）46.滲透檢測中，熒光滲透液可在可見光下觀察。（×）47.射線檢測中，散射射線會(huì)降低對(duì)比度。（√）48.超聲波探傷時(shí)，探頭晶片直徑越大，近場長度越長。（√）49.磁粉檢測中，磁化規(guī)范可用試片驗(yàn)證。（√）50.滲透檢測中，乳化時(shí)間應(yīng)等于滲透時(shí)間。（×）三、填空題（每空1分，共20分）51.射線檢測中，曝光因子公式為________，當(dāng)焦距改變時(shí)，保持黑度不變需遵循________定律。答案：E=It/F2，平方反比52.超聲波探傷時(shí)，若材料聲速為3230m/s，2MHz縱波在鋁中波長為________mm。答案：1.61553.磁粉檢測中，圓形磁化規(guī)范NI=________（r為工件半徑）。答案：2r54.滲透檢測的基本步驟依次為預(yù)清洗、________、________、________、顯像、檢驗(yàn)、后清洗。答案：滲透、去除、干燥55.射線底片識(shí)別缺陷時(shí)，裂紋影像通常表現(xiàn)為________狀黑線，未熔合表現(xiàn)為________狀影像。答案：細(xì)線，直線或斷續(xù)線56.超聲波探傷儀發(fā)射電路產(chǎn)生的電脈沖稱為________脈沖，其寬度影響________分辨率。答案：始波，縱向57.磁粉檢測中，交流電的趨膚深度δ=________（μ磁導(dǎo)率，f頻率）。答案：√(1/πfμσ)58.滲透檢測中，熒光亮度單位是________，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定最小亮度為________cd/m2。答案：坎德拉每平方米，100059.射線檢測中，使用Co60時(shí)，半價(jià)層厚度約12mm鋼，則線性衰減系數(shù)μ=________cm?1。答案：0.57860.超聲波探傷時(shí)，若缺陷回波高度為滿屏80%，提高增益6dB后高度為________%。答案：160四、簡答題（每題6分，共30分）61.簡述射線檢測中“寬容度”與“對(duì)比度”的區(qū)別與聯(lián)系。答案：寬容度指膠片可記錄的黑度范圍，即線性區(qū)對(duì)應(yīng)的厚度差；對(duì)比度指影像中相鄰區(qū)域黑度差。二者均受膠片特性、射線能量影響：寬容度大則對(duì)比度低，反之亦然。實(shí)際檢測需兼顧，采用雙膠片技術(shù)或合適能量，使厚度變化位于線性區(qū)且對(duì)比度滿足識(shí)別要求。62.超聲波斜探頭K值測量步驟及注意事項(xiàng)。答案：步驟：1.選用CSKⅠA試塊，找到φ50mm圓弧最高波；2.測量探頭前端至試塊邊緣距離L；3.計(jì)算K=(L+l35)/30，l為探頭前沿長度。注意事項(xiàng)：耦合良好、壓力恒定、溫度20±5℃、重復(fù)三次取平均、避免側(cè)壁干擾。63.磁粉檢測中出現(xiàn)“非相關(guān)顯示”的常見原因及判別方法。答案：原因：截面突變、磁寫、冷作硬化、焊縫余高。判別：觀察顯示位置是否與幾何形狀對(duì)應(yīng)；退磁后復(fù)驗(yàn)，若消失則為磁寫；打磨后重新磁化，若顯示消失則為表面狀態(tài)引起；相關(guān)顯示通常與缺陷方向一致且重復(fù)出現(xiàn)。64.滲透檢測中，如何驗(yàn)證乳化時(shí)間是否合適？答案：在同等條件下，對(duì)帶裂紋試塊進(jìn)行不同乳化時(shí)間試驗(yàn)，觀察背景與裂紋顯示：乳化不足則背景過重，裂紋被掩蓋；乳化過度則裂紋被洗掉。最佳時(shí)間為背景剛干凈而裂紋顯示仍清晰，記錄并用于工藝卡。65.計(jì)算題：用X射線透照20mm厚鋼焊縫，已知黑度2.0時(shí)曝光量E?=15mA·min，若透照30mm厚鋼，求所需曝光量E?（假設(shè)在膠片直線部分，且μ不變）。答案：根據(jù)黑度相同則μΔT相等，即μ?·20=μ?·30，因μ不變，故E?=E?·e^(μΔT)=15·e^(μ·10)。由μ=ln2/12≈0.0578cm?1，ΔT=1cm，得E?=15·e^(0.578)=15×1.783≈26.7mA·min。五、綜合應(yīng)用題（每題10分，共20分）66.某壓力容器筒體環(huán)縫，材質(zhì)16MnR，板厚36mm，要求射線檢測，采用Ir192源，焦點(diǎn)3×3mm，焦距600mm，單壁單影，焊縫余高2mm，求：(1)透照厚度范圍；(2)按JB/T4730AB級(jí)，所需像質(zhì)計(jì)絲號(hào)；(3)若底片黑度要求1.8–3.5，已知該源在鋼中半價(jià)層12mm，求最小曝光量（已知黑度2.0時(shí)E?=20mA·min，μ=0.578cm?1）。答案：(1)透照厚度=36+2=38mm；(2)查表得AB級(jí)38mm需絲號(hào)W10（0.40mm）；(3)設(shè)最小黑度1.8對(duì)應(yīng)厚度T?，最大3.5對(duì)應(yīng)T?，則ΔT=T?T?=ln(3.5/1.8)/μ=1.18cm，最小曝光量Emin=E?·(1.8/2.0)·e^(μ·0)=18mA·min，實(shí)際取20mA·min即可滿足。67.超聲波檢測板厚40mm的對(duì)接焊縫，采用K2探頭，在示波屏上發(fā)現(xiàn)一缺陷波，聲程85mm，水平距離60mm，深度顯示