2025年探傷工(四級(jí))模擬試題考核題庫(kù)(附答案)一、單項(xiàng)選擇題（共20題，每題2分，共40分）1.超聲波探傷中，當(dāng)檢測(cè)Q345R鋼板（厚度20mm）對(duì)接焊縫時(shí)，若采用斜探頭檢測(cè)，為確保聲束覆蓋整個(gè)焊縫截面，探頭K值（折射角正切值）的合理選擇范圍是（）。A.0.8~1.0B.1.0~1.5C.1.5~2.5D.2.5~3.0答案：C解析：根據(jù)GB/T11345-2013《焊縫無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)技術(shù)、檢測(cè)等級(jí)和評(píng)定》，厚度10~46mm的焊縫推薦K值1.5~2.5，確保一次波和二次波覆蓋焊縫。2.磁粉檢測(cè)中，對(duì)直徑Φ50mm、長(zhǎng)度300mm的圓鋼（表面無(wú)涂層）進(jìn)行周向磁化時(shí)，采用直接通電法，磁化電流I（單位：A）的計(jì)算公式應(yīng)為（）。A.I=8~15DB.I=12~20DC.I=2000~3000A（固定值）D.I=30~50L/D答案：A解析：周向磁化直接通電法的電流公式為I=8~15D（D為工件直徑，mm），適用于無(wú)涂層的鐵磁性材料。3.滲透檢測(cè)中，若檢測(cè)不銹鋼焊接件表面微裂紋，應(yīng)優(yōu)先選擇（）。A.水洗型熒光滲透劑（靈敏度1級(jí)）B.后乳化型熒光滲透劑（靈敏度3級(jí)）C.溶劑去除型著色滲透劑（靈敏度2級(jí)）D.水洗型著色滲透劑（靈敏度1級(jí)）答案：B解析：后乳化型熒光滲透劑靈敏度最高（3級(jí)），適用于檢測(cè)微裂紋；不銹鋼表面光滑，需高靈敏度檢測(cè)。4.射線檢測(cè)中，用Ir-192源透照厚度25mm的鋼質(zhì)對(duì)接焊縫（余高3mm），焦距600mm，若要求黑度2.5，曝光時(shí)間計(jì)算時(shí)，等效厚度應(yīng)為（）。A.25mmB.28mmC.30mmD.22mm答案：B解析：射線檢測(cè)等效厚度需考慮余高，通常取母材厚度+余高（25+3=28mm），用于計(jì)算曝光參數(shù)。5.超聲波探傷儀水平線性誤差的允許范圍是（）。A.≤1%B.≤2%C.≤5%D.≤10%答案：B解析：根據(jù)JB/T10061-1999《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件》，水平線性誤差應(yīng)≤2%。6.磁粉檢測(cè)中，使用交叉磁軛法檢測(cè)鋼板表面缺陷時(shí)，其有效磁化區(qū)域?yàn)椋ǎ?。A.磁極中心連線兩側(cè)各50mmB.磁極覆蓋區(qū)域外10mmC.磁極邊緣向外20mmD.磁極中心連線形成的矩形區(qū)域答案：A解析：交叉磁軛法有效磁化區(qū)域?yàn)榇艠O中心連線兩側(cè)各50mm，重疊區(qū)域應(yīng)≥25mm以保證檢測(cè)全覆蓋。7.滲透檢測(cè)中，顯像時(shí)間不足會(huì)導(dǎo)致（）。A.缺陷顯示過(guò)深B.缺陷顯示模糊或漏檢C.滲透劑殘留D.表面污染答案：B解析：顯像時(shí)間不足時(shí)，滲透劑從缺陷中回滲不充分，顯示痕跡不明顯，易漏檢。8.超聲波探傷中，若發(fā)現(xiàn)某缺陷回波位于Ⅱ區(qū)（定量線與判廢線之間），根據(jù)JB/T4730.3-2015，該缺陷的處理方式應(yīng)為（）。A.直接判廢B.記錄長(zhǎng)度，需結(jié)合其他檢測(cè)確認(rèn)C.無(wú)需處理D.打磨消除后復(fù)查答案：B解析：Ⅱ區(qū)為定量線與判廢線之間，缺陷需記錄長(zhǎng)度，必要時(shí)結(jié)合其他方法確認(rèn)是否超標(biāo)。9.射線檢測(cè)中，像質(zhì)計(jì)的放置位置應(yīng)（）。A.放在膠片側(cè)工件表面B.放在射線源側(cè)工件表面（與焊縫平行）C.放在焊縫中心上方D.放在工件邊緣答案：B解析：根據(jù)GB/T3323-2019，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在射線源側(cè)工件表面，與焊縫平行，以反映透照靈敏度。10.磁粉檢測(cè)中，濕磁粉的濃度應(yīng)控制在（）。A.1~2g/LB.10~20g/LC.15~30g/LD.40~50g/L答案：B解析：濕磁粉濃度一般為10~20g/L（熒光磁粉）或15~30g/L（非熒光磁粉），確保磁懸液流動(dòng)性和顯示效果。11.超聲波探傷中，檢測(cè)鋁制工件（聲速6320m/s）時(shí)，若探頭頻率為5MHz，波長(zhǎng)λ為（）。A.1.26mmB.1.58mmC.2.0mmD.0.89mm答案：A解析：波長(zhǎng)λ=聲速C/頻率f=6320m/s÷5×10?Hz=1.264×10?3m≈1.26mm。12.滲透檢測(cè)中，預(yù)清洗的主要目的是（）。A.去除表面油污，確保滲透劑滲透B.增加表面粗糙度C.提高工件溫度D.防止?jié)B透劑污染答案：A解析：預(yù)清洗需徹底去除油污、氧化皮等，避免堵塞缺陷開(kāi)口，影響滲透劑進(jìn)入。13.射線檢測(cè)中，散射線的主要來(lái)源是（）。A.工件內(nèi)部缺陷B.工件表面反射C.周圍空氣散射D.工件本身（康普頓效應(yīng)）答案：D解析：散射線主要由工件內(nèi)部物質(zhì)對(duì)射線的康普頓散射產(chǎn)生，降低底片對(duì)比度。14.磁粉檢測(cè)中，退磁的目的是（）。A.防止工件吸附鐵屑B.提高檢測(cè)靈敏度C.減少設(shè)備損耗D.延長(zhǎng)工件壽命答案：A解析：退磁可消除工件剩磁，避免后續(xù)加工或使用中吸附鐵屑，影響精度或引發(fā)故障。15.超聲波探傷中，若檢測(cè)面為曲面（如鋼管外表面），耦合劑的選擇應(yīng)優(yōu)先考慮（）。A.高粘度（如黃油）B.低粘度（如水）C.導(dǎo)電性D.腐蝕性答案：A解析：曲面檢測(cè)時(shí)，高粘度耦合劑（如黃油）可填補(bǔ)曲面與探頭間的間隙，減少耦合損失。16.滲透檢測(cè)中，若環(huán)境溫度低于5℃，應(yīng)采取的措施是（）。A.降低滲透時(shí)間B.加熱工件至15~50℃C.增加顯像時(shí)間D.使用低溫型滲透劑答案：D解析：低溫會(huì)降低滲透劑流動(dòng)性，應(yīng)使用低溫型滲透劑（適用于0~5℃），或加熱工件至15~50℃（但需避免滲透劑蒸發(fā)）。17.射線檢測(cè)中，底片上出現(xiàn)“偽缺陷”（如壓痕）的主要原因是（）。A.曝光時(shí)間過(guò)長(zhǎng)B.暗室處理時(shí)膠片受壓C.工件表面不平整D.射線能量過(guò)高答案：B解析：暗室操作中膠片受壓或摩擦?xí)?dǎo)致局部感光，形成壓痕狀偽缺陷。18.磁粉檢測(cè)中，采用交流磁化的優(yōu)點(diǎn)是（）。A.檢測(cè)深層缺陷B.退磁方便C.不受工件形狀影響D.靈敏度高答案：B解析：交流磁化產(chǎn)生的磁場(chǎng)集中在工件表面（趨膚效應(yīng)），適用于表面缺陷檢測(cè)，且退磁方便。19.超聲波探傷中，若儀器水平刻度按深度調(diào)節(jié)（深度1:1），某缺陷回波在刻度50處，探頭折射角60°（K=1.732），則缺陷水平距離為（）。A.50mmB.86.6mmC.35.3mmD.100mm答案：B解析：水平距離=深度×tanθ=50mm×tan60°≈50×1.732=86.6mm。20.滲透檢測(cè)中，若使用熒光滲透劑，觀察環(huán)境的黑光輻照度應(yīng)≥（）。A.500μW/cm2B.1000μW/cm2C.1500μW/cm2D.2000μW/cm2答案：A解析：根據(jù)GB/T18851-2012，熒光滲透檢測(cè)時(shí)，黑光輻照度應(yīng)≥500μW/cm2，環(huán)境白光≤20lx。二、多項(xiàng)選擇題（共10題，每題3分，共30分，少選得1分，錯(cuò)選不得分）1.超聲波探傷中，影響缺陷定位精度的因素有（）。A.儀器水平線性誤差B.探頭K值偏差C.耦合劑厚度D.工件表面粗糙度答案：ABCD解析：水平線性誤差影響刻度準(zhǔn)確性；探頭K值偏差導(dǎo)致聲束角度變化；耦合劑厚度會(huì)引入聲程誤差；表面粗糙度可能導(dǎo)致聲束散射，影響回波位置。2.磁粉檢測(cè)中，選擇磁化方法時(shí)需考慮的因素包括（）。A.工件形狀B.缺陷方向C.材料磁導(dǎo)率D.檢測(cè)效率答案：ABCD解析：工件形狀（如圓管、板材）決定磁化方式（周向、縱向）；缺陷方向（如橫向、縱向）需匹配磁場(chǎng)方向；材料磁導(dǎo)率影響磁化電流大??；檢測(cè)效率（如批量檢測(cè)）需選擇快速磁化方法。3.滲透檢測(cè)中，下列操作可能導(dǎo)致漏檢的是（）。A.滲透時(shí)間不足B.清洗過(guò)度（缺陷內(nèi)滲透劑被沖洗）C.顯像時(shí)間過(guò)長(zhǎng)D.預(yù)清洗不徹底（油污堵塞缺陷）答案：ABD解析：滲透時(shí)間不足，滲透劑未充分進(jìn)入缺陷；清洗過(guò)度會(huì)沖掉缺陷內(nèi)滲透劑；預(yù)清洗不徹底，油污堵塞缺陷開(kāi)口，均會(huì)導(dǎo)致漏檢。顯像時(shí)間過(guò)長(zhǎng)可能導(dǎo)致背景過(guò)深，但不會(huì)直接漏檢。4.射線檢測(cè)中，提高底片對(duì)比度的方法有（）。A.降低管電壓（減少散射線）B.使用鉛箔增感屏C.增加曝光時(shí)間D.減小焦距答案：AB解析：降低管電壓可減少散射線，提高主因?qū)Ρ榷?；鉛箔增感屏可吸收散射線，提高對(duì)比度。增加曝光時(shí)間影響黑度，不直接影響對(duì)比度；減小焦距會(huì)增加散射線，降低對(duì)比度。5.超聲波探傷儀日常維護(hù)需注意（）。A.定期校準(zhǔn)水平線性和垂直線性B.探頭耦合面保持清潔C.長(zhǎng)期不用時(shí)需充電（鋰電池）D.避免高溫、潮濕環(huán)境答案：ABCD解析：定期校準(zhǔn)確保檢測(cè)精度；探頭耦合面污染會(huì)導(dǎo)致耦合不良；鋰電池長(zhǎng)期不用需定期充電防止損壞；高溫、潮濕會(huì)影響電子元件性能。6.磁粉檢測(cè)中，下列缺陷可能顯示為連續(xù)細(xì)直線磁痕的是（）。A.焊縫橫向裂紋B.板材折疊C.鍛造發(fā)紋D.氣孔答案：ABC解析：裂紋、折疊、發(fā)紋均為線性缺陷，磁痕呈連續(xù)或斷續(xù)直線；氣孔為體積型缺陷，磁痕呈圓形或橢圓形。7.滲透檢測(cè)中，熒光滲透劑與著色滲透劑的主要區(qū)別是（）。A.檢測(cè)靈敏度（熒光更高）B.觀察條件（熒光需黑光，著色需白光）C.適用材料（熒光僅限金屬）D.清洗難度（熒光更易清洗）答案：AB解析：熒光滲透劑靈敏度高于著色滲透劑；熒光需在暗室黑光下觀察，著色在白光下觀察；兩者適用材料相同（金屬、非金屬）；清洗難度取決于類型（水洗型、后乳化型），與熒光/著色無(wú)關(guān)。8.射線檢測(cè)中，底片上“未焊透”的典型特征是（）。A.連續(xù)或斷續(xù)的直線狀黑度均勻條紋B.位置位于焊縫中心（根部或?qū)娱g）C.邊緣清晰D.形狀不規(guī)則答案：ABC解析：未焊透為規(guī)則的直線狀缺陷，位于焊縫中心（根部或?qū)娱g），黑度均勻，邊緣清晰；形狀不規(guī)則是裂紋的特征。9.超聲波探傷中，調(diào)節(jié)“抑制”旋鈕會(huì)影響（）。A.小缺陷回波高度B.儀器動(dòng)態(tài)范圍C.水平線性D.垂直線性答案：ABD解析：抑制會(huì)衰減小信號(hào)，降低動(dòng)態(tài)范圍，可能影響垂直線性（大信號(hào)非線性失真）；水平線性由時(shí)基電路決定，與抑制無(wú)關(guān)。10.磁粉檢測(cè)中，下列情況需要重新磁化的是（）。A.磁懸液噴灑中斷超過(guò)30秒B.工件表面被污染（如油污覆蓋）C.磁化電流波動(dòng)超過(guò)10%D.檢測(cè)區(qū)域重疊不足答案：ABCD解析：磁懸液噴灑中斷可能導(dǎo)致磁粉沉積不充分；表面污染會(huì)阻礙磁粉聚集；電流波動(dòng)影響磁場(chǎng)強(qiáng)度；重疊不足可能漏檢，均需重新磁化。三、判斷題（共10題，每題1分，共10分，正確打“√”，錯(cuò)誤打“×”）1.超聲波探傷中，橫波探頭只能檢測(cè)與檢測(cè)面垂直的缺陷。（）答案：×解析：橫波探頭可檢測(cè)與聲束方向垂直的缺陷，不一定與檢測(cè)面垂直（如焊縫斜裂紋）。2.磁粉檢測(cè)中，剩磁法適用于矯頑力大、剩磁高的材料（如高碳鋼）。（）答案：√解析：剩磁法依賴工件剩磁吸附磁粉，適用于矯頑力大、剩磁高的材料。3.滲透檢測(cè)中，顯像劑的作用是吸附缺陷中的滲透劑，形成可見(jiàn)顯示。（）答案：√解析：顯像劑通過(guò)毛細(xì)作用吸附缺陷內(nèi)的滲透劑，使其擴(kuò)散至表面，形成可見(jiàn)痕跡。4.射線檢測(cè)中，透照次數(shù)越多，檢測(cè)效率越低，但缺陷檢出率越高。（）答案：√解析：增加透照次數(shù)（如雙壁雙影法）可覆蓋更多角度，減少缺陷漏檢，但需多次曝光，效率降低。5.超聲波探傷儀的垂直線性誤差越大，對(duì)缺陷定量的準(zhǔn)確性越高。（）答案：×解析：垂直線性誤差大時(shí)，回波高度與缺陷大小的線性關(guān)系被破壞，定量準(zhǔn)確性降低。6.磁粉檢測(cè)中，交流電磁軛的提升力應(yīng)≥45N（非熒光磁粉）。（）答案：√解析：根據(jù)JB/T4730.4-2015，交流電磁軛提升力要求：非熒光磁粉≥45N，熒光磁粉≥118N。7.滲透檢測(cè)中，若工件表面有深孔，需用堵孔劑封閉，防止?jié)B透劑殘留。（）答案：√解析：深孔會(huì)儲(chǔ)存滲透劑，清洗時(shí)難以去除，殘留滲透劑可能污染后續(xù)檢測(cè)或工件，需用堵孔劑封閉。8.射線檢測(cè)中，增感屏的作用是縮短曝光時(shí)間，同時(shí)吸收部分散射線。（）答案：√解析：鉛箔增感屏通過(guò)電子激發(fā)提高膠片感光效率，縮短曝光時(shí)間，同時(shí)吸收低能散射線，提高對(duì)比度。9.超聲波探傷中，檢測(cè)奧氏體不銹鋼焊縫時(shí)，因晶粒粗大，應(yīng)選擇高頻探頭（如5MHz以上）。（）答案：×解析：奧氏體不銹鋼晶粒粗大，高頻探頭會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重散射（草狀回波），應(yīng)選擇低頻探頭（如2.5MHz以下）。10.磁粉檢測(cè)中，縱向磁化的有效磁場(chǎng)方向與工件軸線平行，用于檢測(cè)橫向缺陷。（）答案：√解析：縱向磁化產(chǎn)生的磁場(chǎng)與工件軸線平行，缺陷（如橫向裂紋）與磁場(chǎng)垂直時(shí)，漏磁場(chǎng)最強(qiáng)，顯示最清晰。四、簡(jiǎn)答題（共5題，每題6分，共30分）1.簡(jiǎn)述超聲波探傷中“距離-波幅曲線（DAC曲線）”的作用及繪制方法。答案：作用：用于缺陷定量（評(píng)價(jià)缺陷當(dāng)量大?。┖偷燃?jí)評(píng)定（確定缺陷是否超標(biāo)）。繪制方法：①選擇與被檢工件材質(zhì)、厚度相近的對(duì)比試塊（如CSK-ⅡA）；②在試塊上加工不同深度的平底孔（如Φ1×6、Φ2×6等）；③分別探測(cè)各孔，記錄回波高度；④以深度為橫坐標(biāo)，波幅為縱坐標(biāo)，繪制基準(zhǔn)線（如評(píng)定線、定量線、判廢線），并考慮表面耦合補(bǔ)償和材質(zhì)衰減修正。2.磁粉檢測(cè)中，如何選擇磁化電流類型（交流/直流）？舉例說(shuō)明。答案：選擇依據(jù)：①缺陷位置：表面缺陷選交流（趨膚效應(yīng)，表面磁場(chǎng)強(qiáng)）；近表面缺陷選直流（磁場(chǎng)滲透深）。②工件材料：高矯頑力材料（如高碳鋼）可選剩磁法（直流或整流電）；低矯頑力材料（如低碳鋼）選連續(xù)法（交流）。舉例：檢測(cè)鋼管表面橫向裂紋（表面缺陷），選交流電磁軛（連續(xù)法）；檢測(cè)軸類工件近表面縱向裂紋（深度2~3mm），選直流電磁化（連續(xù)法或剩磁法）。3.滲透檢測(cè)中，“后乳化型滲透劑”與“水洗型滲透劑”的主要區(qū)別及適用場(chǎng)景。答案：區(qū)別：后乳化型滲透劑含油基成分，需額外乳化劑去除表面滲透劑；水洗型滲透劑含乳化劑（可直接水洗）。適用場(chǎng)景：后乳化型靈敏度高（3級(jí)），適用于檢測(cè)微裂紋（如不銹鋼、鈦合金精密件）；水洗型靈敏度較低（1~2級(jí)），適用于表面粗糙、批量檢測(cè)的工件（如鑄鋼件）。4.射線檢測(cè)中，“透照厚度比K”的定義及控制要求（以對(duì)接焊縫為例）。答案：定義：透照厚度比K=最大透照厚度Tmax/最小透照厚度Tmin（Tmax為射線束邊緣處工件厚度，Tmin為中心處厚度）?？刂埔螅焊鶕?jù)GB/T3323-2019，A級(jí)檢測(cè)K≤1.1，AB級(jí)K≤1.06，B級(jí)K≤1.03。例如，厚度20mm的焊縫，采用雙壁單影透照時(shí)，若Tmax=22mm，Tmin=20mm，則K=1.1（符合A級(jí)要求）。5.超聲波探傷中，“草狀回波”產(chǎn)生的原因及抑制措施。答案：原因：工件晶粒粗大（如奧氏體不銹鋼、鑄件），高頻超聲波在晶界散射，形成大量雜亂小信號(hào)（草狀回波）。抑制措施：①降低探頭頻率（如2.5MHz→1MHz）；②減少耦合層厚度（降低界面反射）；③使用聚焦探頭（聲束集中，減少散射）；④調(diào)整儀器抑制（衰減小信號(hào)，但可能丟失小缺陷）。五、案例分析題（共2題，每題15分，共30分）案例1：某石化企業(yè)一臺(tái)Q345R制反應(yīng)釜（設(shè)計(jì)壓力10MPa，工作溫度300℃），筒體縱焊縫（厚度30mm）需進(jìn)行超聲波探傷，檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)為JB/T4730.3-2015（B級(jí)檢測(cè)）。檢測(cè)時(shí)使用2.5MHz、K2探頭（折