(2025)DLT6642008帶電設(shè)備紅外診斷應(yīng)用規(guī)范1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用紅外熱像儀和紅外熱電視等紅外檢測設(shè)備對帶電設(shè)備進(jìn)行紅外診斷的基本方法、判斷依據(jù)及缺陷處理措施。本標(biāo)準(zhǔn)適用于額定電壓為35kV及以上的交流電氣設(shè)備，其他電壓等級的交流電氣設(shè)備以及直流電氣設(shè)備可參照執(zhí)行。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T11022高壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的共用技術(shù)要求GB/T12604.9無損檢測術(shù)語紅外檢測GB/T16617設(shè)備及管道絕熱效果的測試與評價GB/T17626.2電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗GB/T17626.3電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗GB/T17626.4電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗GB/T17626.5電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌（沖擊）抗擾度試驗GB/T17626.6電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗GB/T17626.8電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗GB/T17626.9電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗GB/T17626.10電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗GB/T17626.11電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗GB/T17626.12電磁兼容試驗和測量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗GB/T17626.13電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口諧波、電壓波動和閃爍抗擾度試驗GB/T17626.14電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗GB/T17626.15電磁兼容試驗和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計規(guī)范GB/T17626.16電磁兼容試驗和測量技術(shù)0Hz～150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗GB/T17626.17電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗GB/T17626.18電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗GB/T17626.19電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗GB/T17626.20電磁兼容試驗和測量技術(shù)橫電磁波（TEM）小室輻射抗擾度試驗GB/T17626.21電磁兼容試驗和測量技術(shù)混響室輻射抗擾度試驗GB/T17626.22電磁兼容試驗和測量技術(shù)全電波暗室輻射抗擾度試驗GB/T17626.23電磁兼容試驗和測量技術(shù)輻射發(fā)射試驗輻射騷擾測量全電波暗室法GB/T17626.24電磁兼容試驗和測量技術(shù)輻射發(fā)射試驗輻射騷擾測量混響室法GB/T17626.25電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗GB/T17626.26電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗GB/T17626.27電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗GB/T17626.28電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗GB/T17626.29電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第2部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷GB/T17626.30電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第3部分：試驗方法電壓變化GB/T17626.31電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第1部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷GB/T17626.32電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第2部分：試驗方法電壓變化GB/T17626.33電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗GB/T17626.34電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第4部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗配置和試驗程序GB/T17626.35電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第5部分：試驗方法電壓變化試驗配置和試驗程序GB/T17626.36電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗配置和試驗程序GB/T17626.37電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗配置和試驗程序GB/T17626.38電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第6部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗結(jié)果的評定GB/T17626.39電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第7部分：試驗方法電壓變化試驗結(jié)果的評定GB/T17626.40電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的評定GB/T17626.41電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的評定GB/T17626.42電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第8部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗報告GB/T17626.43電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第9部分：試驗方法電壓變化試驗報告GB/T17626.44電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗報告GB/T17626.45電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗報告GB/T17626.46電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第10部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗設(shè)備GB/T17626.47電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第11部分：試驗方法電壓變化試驗設(shè)備GB/T17626.48電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗設(shè)備GB/T17626.49電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗設(shè)備GB/T17626.50電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第12部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗環(huán)境條件GB/T17626.51電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第13部分：試驗方法電壓變化試驗環(huán)境條件GB/T17626.52電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗環(huán)境條件GB/T17626.53電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗環(huán)境條件GB/T17626.54電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第14部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗結(jié)果的統(tǒng)計分析GB/T17626.55電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第15部分：試驗方法電壓變化試驗結(jié)果的統(tǒng)計分析GB/T17626.56電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的統(tǒng)計分析GB/T17626.57電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的統(tǒng)計分析GB/T17626.58電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第16部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗數(shù)據(jù)的記錄和存儲GB/T17626.59電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第17部分：試驗方法電壓變化試驗數(shù)據(jù)的記錄和存儲GB/T17626.60電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗數(shù)據(jù)的記錄和存儲GB/T17626.61電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗數(shù)據(jù)的記錄和存儲GB/T17626.62電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第18部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗結(jié)果的不確定性GB/T17626.63電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第19部分：試驗方法電壓變化試驗結(jié)果的不確定性GB/T17626.64電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的不確定性GB/T17626.65電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的不確定性GB/T17626.66電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第20部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗設(shè)備的校準(zhǔn)GB/T17626.67電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第21部分：試驗方法電壓變化試驗設(shè)備的校準(zhǔn)GB/T17626.68電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗設(shè)備的校準(zhǔn)GB/T17626.69電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗設(shè)備的校準(zhǔn)GB/T17626.70電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第22部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗環(huán)境條件的監(jiān)測GB/T17626.71電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第23部分：試驗方法電壓變化試驗環(huán)境條件的監(jiān)測GB/T17626.72電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗環(huán)境條件的監(jiān)測GB/T17626.73電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗環(huán)境條件的監(jiān)測GB/T17626.74電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第24部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗結(jié)果的質(zhì)量保證GB/T17626.75電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第25部分：試驗方法電壓變化試驗結(jié)果的質(zhì)量保證GB/T17626.76電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的質(zhì)量保證GB/T17626.77電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的質(zhì)量保證GB/T17626.78電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第26部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗結(jié)果的審核和批準(zhǔn)GB/T17626.79電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第27部分：試驗方法電壓變化試驗結(jié)果的審核和批準(zhǔn)GB/T17626.80電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的審核和批準(zhǔn)GB/T17626.81電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的審核和批準(zhǔn)GB/T17626.82電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第28部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗數(shù)據(jù)的管理GB/T17626.83電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第29部分：試驗方法電壓變化試驗數(shù)據(jù)的管理GB/T17626.84電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗數(shù)據(jù)的管理GB/T17626.85電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗數(shù)據(jù)的管理GB/T17626.86電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第30部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗結(jié)果的報告GB/T17626.87電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第31部分：試驗方法電壓變化試驗結(jié)果的報告GB/T17626.88電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的報告GB/T17626.89電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的報告GB/T17626.90電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第32部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗結(jié)果的存檔GB/T17626.91電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第33部分：試驗方法電壓變化試驗結(jié)果的存檔GB/T17626.92電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的存檔GB/T17626.93電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的存檔GB/T17626.94電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第34部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗結(jié)果的查詢GB/T17626.95電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第35部分：試驗方法電壓變化試驗結(jié)果的查詢GB/T17626.96電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的查詢GB/T17626.97電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的查詢GB/T17626.98電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第36部分：試驗方法電壓暫降和短時中斷試驗結(jié)果的分析GB/T17626.99電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗第37部分：試驗方法電壓變化試驗結(jié)果的分析GB/T17626.100電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的分析GB/T17626.101電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗試驗結(jié)果的分析3術(shù)語和定義GB/T12604.9確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。3.1紅外熱像儀infraredthermalimager利用紅外探測器、光學(xué)成像物鏡和光機掃描系統(tǒng)（目前先進(jìn)的焦平面技術(shù)則省去了光機掃描系統(tǒng)）接受被測目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測器的光敏元件上，在光學(xué)系統(tǒng)和紅外探測器之間，有一個光機掃描機構(gòu)（焦平面熱像儀無此機構(gòu)）對被測物體的紅外熱像進(jìn)行掃描，并聚焦在單元或分光探測器上，由探測器將紅外輻射能轉(zhuǎn)換成電信號，經(jīng)放大處理、轉(zhuǎn)換或標(biāo)準(zhǔn)視頻信號通過電視屏或監(jiān)測器顯示紅外熱像圖。這種熱像圖與物體表面的熱分布場相對應(yīng)。3.2紅外熱電視infraredthermaltelevision一種紅外成像裝置，它是把物體發(fā)出的不可見紅外輻射轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像，所顯示的熱圖像反映了物體表面的溫度分布。3.3相對溫差relativetemperaturedifference兩個對應(yīng)測點之間的溫差與其中較熱點的溫升之比的百分?jǐn)?shù)。3.4熱像特征thermalimagecharacteristic在紅外熱像圖中，反映設(shè)備發(fā)熱狀況的溫度分布、形狀、大小等特征。3.5正常運行溫度normaloperatingtemperature設(shè)備在正常運行工況下的溫度。3.6異常運行溫度abnormaloperatingtemperature設(shè)備在運行中出現(xiàn)的偏離正常運行溫度的溫度。3.7熱點hotspot設(shè)備表面溫度高于周圍環(huán)境溫度的區(qū)域。3.8熱缺陷thermaldefect設(shè)備由于內(nèi)部或外部原因?qū)е戮植堪l(fā)熱，其溫度超過正常運行溫度的缺陷。3.9一般缺陷generaldefect設(shè)備存在的熱缺陷，其溫度超過正常運行溫度，但對設(shè)備的安全運行影響較小，可在計劃檢修時安排處理的缺陷。3.10嚴(yán)重缺陷seriousdefect設(shè)備存在的熱缺陷，其溫度超過正常運行溫度較多，對設(shè)備的安全運行有較大影響，應(yīng)盡快安排處理的缺陷。3.11危急缺陷criticaldefect設(shè)備存在的熱缺陷，其溫度超過正常運行溫度很多，隨時可能導(dǎo)致設(shè)備損壞或發(fā)生安全事故，必須立即停止設(shè)備運行進(jìn)行處理的缺陷。4檢測儀器及要求4.1儀器的技術(shù)性能4.1.1紅外熱像儀a)工作波段：一般為8μm～14μm或3μm～5μm。b)溫度分辨率：應(yīng)不大于0.1℃。c)空間分辨率：應(yīng)不大于1mrad。d)熱像圖顯示：應(yīng)能清晰顯示被測設(shè)備的熱像特征，溫度顯示精度應(yīng)不低于±1℃或±1%（取大者）。e)圖像存儲：應(yīng)具備圖像存儲功能，可存儲一定數(shù)量的熱像圖，并能方便地進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸和處理。f)環(huán)境適應(yīng)性：應(yīng)能在20℃～50℃的環(huán)境溫度下正常工作，相對濕度不大于95%（無凝露）。g)電磁兼容性：應(yīng)符合GB/T17626系列標(biāo)準(zhǔn)的要求，能在變電站等強電磁干擾環(huán)境下正常工作。4.1.2紅外熱電視a)工作波段：一般為8μm～14μm。b)溫度分辨率：應(yīng)不大于0.2℃。c)圖像清晰度：應(yīng)能清晰顯示被測設(shè)備的輪廓和熱像特征。d)圖像記錄：應(yīng)具備圖像記錄功能，可記錄一定時間的熱像圖。e)環(huán)境適應(yīng)性：應(yīng)能在10℃～40℃的環(huán)境溫度下正常工作，相對濕度不大于90%（無凝露）。f)電磁兼容性：應(yīng)符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求，能在一定的電磁干擾環(huán)境下正常工作。4.2儀器的校準(zhǔn)4.2.1紅外檢測儀器應(yīng)定期進(jìn)行校準(zhǔn)，校準(zhǔn)周期一般不超過1年。4.2.2校準(zhǔn)應(yīng)在有資質(zhì)的計量機構(gòu)進(jìn)行，校準(zhǔn)結(jié)果應(yīng)符合儀器的技術(shù)性能要求。4.2.3校準(zhǔn)證書應(yīng)妥善保存，以備查詢。4.3儀器的維護(hù)和保管4.3.1儀器應(yīng)專人保管，定期進(jìn)行清潔和維護(hù)，確保儀器的性能良好。4.3.2儀器在使用前應(yīng)進(jìn)行檢查，確保儀器正常工作。4.3.3儀器在運輸和存放過程中，應(yīng)采取防震、防潮、防塵等措施，避免儀器受到損壞。5檢測條件及準(zhǔn)備5.1檢測條件5.1.1環(huán)境溫度：一般宜在20℃～50℃之間，當(dāng)環(huán)境溫度過低或過高時，可能會影響檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。5.1.2相對濕度：應(yīng)不大于95%（無凝露），潮濕的環(huán)境可能會導(dǎo)致設(shè)備表面結(jié)露，影響紅外輻射的傳輸。5.1.3風(fēng)速：一般不宜大于5m/s，大風(fēng)會使設(shè)備表面散熱加快，影響熱像圖的清晰度和溫度測量的準(zhǔn)確性。5.1.4天氣條件：應(yīng)選擇在晴天或陰天進(jìn)行檢測，避免在雨天、雪天、霧天等惡劣天氣條件下檢測。5.2檢測前的準(zhǔn)備5.2.1了解設(shè)備的運行情況，包括設(shè)備的型號、規(guī)格、運行參數(shù)、歷史檢測數(shù)據(jù)等。5.2.2制定檢測方案，明確檢測的設(shè)備范圍、檢測方法、檢測時間等。5.2.3檢查檢測儀器的性能和狀態(tài)，確保儀器正常工作。5.2.4準(zhǔn)備必要的安全防護(hù)用品，如絕緣手套、安全帽等。5.2.5與設(shè)備運行管理部門取得聯(lián)系，征得同意后進(jìn)行檢測。6檢測方法6.1一般檢測方法6.1.1全面掃描使用紅外檢測儀器對被測設(shè)備進(jìn)行全面掃描，觀察設(shè)備表面的溫度分布情況，發(fā)現(xiàn)可能存在的熱點和異常熱像特征。掃描時應(yīng)盡量覆蓋設(shè)備的所有部位，包括設(shè)備的本體、連接部位、觸頭、母線等。6.1.2重點檢測對于在全面掃描中發(fā)現(xiàn)的熱點或異常熱像特征部位，應(yīng)進(jìn)行重點檢測，測量其溫度值，記錄熱像圖，并分析熱像特征。重點檢測時應(yīng)選擇合適的檢測角度和距離，確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。6.2精確檢測方法6.2.1溫度測量使用紅外檢測儀器測量設(shè)備表面的溫度值，測量時應(yīng)選擇設(shè)備表面的代表性部位進(jìn)行測量，避免測量到設(shè)備表面的反射熱或其他干擾因素。對于熱點部位，應(yīng)測量其最高溫度值，并記錄測量時間、環(huán)境溫度、相對濕度等參數(shù)。6.2.2相對溫差測量當(dāng)發(fā)現(xiàn)設(shè)備存在發(fā)熱現(xiàn)象時，應(yīng)測量發(fā)熱部位與正常部位的相對溫差。相對溫差的測量應(yīng)在相同的環(huán)境條件下進(jìn)行，測量方法應(yīng)符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。6.2.3熱像圖分析對拍攝的熱像圖進(jìn)行分析，觀察熱像特征，判斷設(shè)備發(fā)熱的原因和嚴(yán)重程度。熱像圖分析應(yīng)結(jié)合設(shè)備的運行情況、歷史檢測數(shù)據(jù)等進(jìn)行綜合判斷。7判斷依據(jù)7.1表面溫度判斷法根據(jù)設(shè)備表面的溫度值與正常運行溫度進(jìn)行比較，判斷設(shè)備是否存在熱缺陷。當(dāng)設(shè)備表面溫度超過正常運行溫度一定范圍時，可判斷設(shè)備存在熱缺陷。具體的溫度判斷標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)根據(jù)設(shè)備的類型、運行工況等因素確定。7.2相對溫差判斷法當(dāng)設(shè)備表面溫度與環(huán)境溫度的差異較小，難以用表面溫度判斷法判斷時，可采用相對溫差判斷法。相對溫差判斷法是根據(jù)發(fā)熱部位與正常部位的相對溫差來判斷設(shè)備熱缺陷的嚴(yán)重程度。相對溫差的判斷標(biāo)準(zhǔn)如下：a)一般缺陷：相對溫差小于35%。b)嚴(yán)重缺陷：相對溫差在35%～70%之間。c)危急缺陷：相對溫