中華人民共和國地方計(jì)量技術(shù)規(guī)范JJF(京)30—20022002-10-31發(fā)布2003-01-01實(shí)施北京市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布檢測規(guī)范本規(guī)范經(jīng)北京市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局于2002年10月31日批準(zhǔn)，并自2003年01月01日起施行。本規(guī)范主要起草人：郭洪濤(北京市計(jì)量科學(xué)研究所)彭明辰(首都醫(yī)科大學(xué)醫(yī)學(xué)儀器質(zhì)量控制技術(shù)研究中心)參加起草人：白玫(首都醫(yī)科大學(xué)醫(yī)學(xué)儀器質(zhì)量控制技術(shù)研究中心) 2引用文獻(xiàn) 3.1術(shù)語 3.2計(jì)量單位 5.1信噪比(SNR) 5.2圖像的均勻性 5.3空間線性 5.4空間分辨力 5.6層厚 5.7縱橫比 5.8層位置 6通用技術(shù)要求 7計(jì)量器具的控制 7.1檢測條件 8.2檢測周期 附錄A檢測證書背面格式 附錄B磁共振計(jì)量模體 四、斷層(層厚)測試面示意圖 (12) (13)七、幾何失真(空間線性)測試面示意圖 1本規(guī)范適用于新安裝、使用中和影響成像性能的部件修理后的醫(yī)用磁共振成像系統(tǒng)(MRI)的檢測。2引用文獻(xiàn)本規(guī)范引用下列文獻(xiàn)：[1]QualityassurancemethodsandphantomforMagneticReNo.28,1990[2]Determinationofsignal-to-noiseratio(SNR)inDiaImages.NEMAstandarddardsPublicationNo.Ms3,在使用本規(guī)范時(shí)，應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本。3術(shù)語和計(jì)量單位3.1術(shù)語3.1.1信噪比信號為感興趣區(qū)中像素信號強(qiáng)度的平均值減去背景區(qū)域像素的信號強(qiáng)度平均值。噪聲為感興趣區(qū)內(nèi)像素信號強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)偏差。信噪比為信號強(qiáng)度與噪聲的比值。3.1.2圖像的均勻性圖像的均勻性是指當(dāng)成像物體具有均勻的磁共振(MR)特性時(shí)，磁共振成像系統(tǒng)在掃描整個(gè)物體過程中產(chǎn)生一個(gè)均勻信號響應(yīng)的能力。3.1.3空間線性任何圖像系統(tǒng)的圖像中出現(xiàn)的幾何變形的程度。幾何變形可以是圖像中所顯示的點(diǎn)相對于已知位置的偏移或圖像中任意處兩點(diǎn)之間距離測量值相對于實(shí)際值的偏差。3.1.4空間分辨力在沒有嚴(yán)重噪聲時(shí)測量成像系統(tǒng)對兩個(gè)相鄰物體的分辨能力。3.1.5低對比分辨力當(dāng)物體產(chǎn)生的信號強(qiáng)度與背景信號強(qiáng)度相近時(shí)，成像系統(tǒng)對物體的分辨能力。3.1.6層厚斷層分布的半高全寬值(dFwHM)。斷層分布的定義為磁共振成像系統(tǒng)對于垂直穿過2在特定的空間位置上圖像信號的改變(增強(qiáng)或減弱)。可表現(xiàn)為在不包括信號產(chǎn)生3.2計(jì)量單位1)長度2)分辨力醫(yī)用磁共振成像系統(tǒng)主要由可變磁場或固定磁場、發(fā)射線圈、接受線圈、控制線5.1信噪比(SNR)5.1.1頭部和腹部的一次攝影圓的直徑分別為200mm和300mm,磁共振計(jì)量模體見附1.5T的磁共振成像系統(tǒng)的信噪比應(yīng)不小于150;1.0T的磁共振成像系統(tǒng)的信噪比應(yīng)不小于100;0.9T以下(含0.9T)的磁共振成像系統(tǒng)的信噪比應(yīng)不小于80。5.1.2同一位置，選取掃描區(qū)域75%,間隔5min掃描兩次，所呈現(xiàn)的兩幅圖像相減。1.5T的磁共振成像系統(tǒng)的信噪比應(yīng)不小于150;1.0T的磁共振成像系統(tǒng)的信噪比應(yīng)不小于100;0.9T以下(含0.9T)的磁共振成像系統(tǒng)的信噪比應(yīng)不小于80。5.2.1頭部掃描的有效視野(FOV)為250mm,選取圓的直徑為200mm,其圖像的均勻性不小于85%。5.2.2腹部掃描的有效視野(FOV)為480mm,選取圓的直徑為300mm,其圖像的均勻性不小于85%。5.3空間線性5.3.1在有效視野(FOV)不小于250mm時(shí)，1.0T以上(含1.0T)的磁共振成像系統(tǒng)的空間線性變化應(yīng)小于2.0%。5.3.2在有效視野(FOV)不小于250mm時(shí)，1.0T以下的磁共振成像系統(tǒng)的空間線性變化應(yīng)小于5.0%。5.4.1新安裝的磁共振成像系統(tǒng)，在有效視野(FOV)為250mm時(shí)，要達(dá)到廠家的標(biāo)準(zhǔn)并高于5.4.2條款的要求。5.4.2運(yùn)行的磁共振成像系統(tǒng)，在有效視野(FOV)為250mm時(shí)，用256×256采集矩JJF(京)30--20023在有效視野(FOV)不小于200mm時(shí)，用256×256采集矩陣，低對比分辨力應(yīng)能5.6.2當(dāng)2.0mm≤標(biāo)稱層厚<5.0mm時(shí)，實(shí)際值與標(biāo)稱值之差的絕對值不大于0.5mm。在有效視野(FOV)為250mm時(shí)，圖像模體的圓截面的縱方向與橫方向之比在90%～110%之間。小于總的層間隔的20.0%,或絕對值小于1.0mm。6.1醫(yī)用磁共振成像系統(tǒng)(MRI)上必須清晰地標(biāo)有制造廠名稱、型號、編號和出廠6.2醫(yī)用磁共振成像系統(tǒng)(MRI)的電氣、機(jī)械以及防護(hù)性能，應(yīng)分別符合相應(yīng)的國b)相對濕度：小于85%。磁共振計(jì)量模體，見附錄B。7.2.1信噪比(SNR)1)對充滿均勻液體的模體進(jìn)行掃描，所測量的感興趣區(qū)為100個(gè)像素點(diǎn)，其位置2)一次攝影信噪比，應(yīng)按式(1)計(jì)算。JJF(京)30—20024式中：M——感興趣區(qū)內(nèi)信號強(qiáng)度均值減去周圍背景的信號強(qiáng)度均值；SD——感興趣區(qū)內(nèi)信號強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)偏差。7.2.1.2二次攝影1)對充滿均勻液體的模體進(jìn)行掃描，所測量的感興趣區(qū)是圖像信號所產(chǎn)生面積的75%,其位置在圖像的中心。2)將同一掃描參數(shù)做兩次連續(xù)掃描，然后將兩幅圖像相減，得到點(diǎn)對點(diǎn)相減的第三幅圖像。對于減影圖像(即第三幅圖像),二次攝影信噪比應(yīng)按式(2)計(jì)算。式中：S——第三幅減影圖像的信號強(qiáng)度均值。7.2.2圖像的均勻性7.2.2.1對充滿均勻液體的模體進(jìn)行掃描，在感興趣區(qū)里選取9個(gè)測量區(qū)，分別為感興趣區(qū)中心區(qū)域和邊緣0°,45°,90°,135°,180°,225°,270°和315°,所測量區(qū)為100個(gè)像素點(diǎn)，確定每個(gè)測量區(qū)的信號強(qiáng)度均值。7.2.2.2分別選取上述9個(gè)測量區(qū)的信號強(qiáng)度均值的最大值和最小值，分別按下式計(jì)算差值、中值及圖像的均勻性：式中：△——信號強(qiáng)度最大值和最小值的差值；S'——信號強(qiáng)度最大值和最小值的中值；U——圖像的均勻性。7.2.3空間線性7.2.3.1在有效視野(FOV)不小于250mm時(shí)，測量模體中縱、橫、斜圖像的尺寸。7.2.3.2根據(jù)所測量的結(jié)果，按式(6)計(jì)算空間線性。D——測量尺寸，mm。7.2.4空間分辨力7.2.4.1用256×256采集矩陣，有效視野(FOV)不小于200mm,測量模體中的高對比分辨力組件。7.2.4.2將窗寬調(diào)至最小，窗位調(diào)至測量區(qū)與背景區(qū)之和的一半，分辨出最小的一組線對。57.2.5.1用256×256采集矩陣，有效視野(FOV)不小于200mm,測量模體中的低對1)拍攝兩塊獨(dú)立的楔子板(用塑料等不發(fā)出信號的材質(zhì)組成),如圖1所示。2)將與楔子底邊平行的方向作為x軸，攝影面內(nèi)與x軸垂直的方向作為y軸。楔3)在包含傾斜面的與x-y平面平行的斷面處拍得如圖2所示的畫像。4)將上述信號強(qiáng)度按順序用式(7)進(jìn)行差分，用消波原理求出dwHM值。7.2.6.2傾斜板法用傾斜板測量，示意圖如圖3所示。JJF(京)30—200267.2.7縱橫比7.2.7.1在有效視野(FOV)不小于250mm時(shí)，將窗寬調(diào)至最小，調(diào)節(jié)窗位至最佳時(shí)，測量模體中掃描的圓截面縱向直徑和橫向直徑的示值。7.2.7.2根據(jù)測量的結(jié)果，按式(8)計(jì)算縱橫比。式中：H——縱橫比，%;L,——縱向示值，mm;7.2.8層位置7.2.8.1用與測量層厚相同的體模測量層位置。體模包括參考針，用于定方向和中心的外部標(biāo)記，或外部定位裝置的參考點(diǎn)。7.2.8.2確定感興趣的斷層分布的中點(diǎn)。測量從每層中點(diǎn)到一個(gè)保持靜止的標(biāo)記的距7.2.8.3至少測量一個(gè)梯度方向上不同位置的兩個(gè)點(diǎn)。8檢測結(jié)果處理和檢測周期8.1檢測結(jié)果處理按本規(guī)范的規(guī)定和要求，滿足本規(guī)范要求的發(fā)檢測合格的證書；不滿足本規(guī)范要求的發(fā)檢測不合格的報(bào)告。8.2檢測周期醫(yī)用磁共振成像系統(tǒng)(MRI)檢測周期為一年。凡是新安裝或調(diào)試修理后的醫(yī)用磁共振成像系統(tǒng)(MRI)必須及時(shí)進(jìn)行檢測。7附錄A檢測證書背面格式一、檢測條件溫度：氣壓：濕度：檢測設(shè)備：掃描條件：線圈(coil)頭部/腹部脈沖序列(Pulsesequence)自旋回波(SE)顯示矩陣重復(fù)時(shí)間(TR)視野(FOV)回波時(shí)間(TE)平均次數(shù)(NEX)2層間矩(Slicegap)一二、檢測項(xiàng)目和結(jié)果測試項(xiàng)目橫段面(Trs)矢狀面(Sag)冠狀面(Cor)信噪比相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向圖像均勻性相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向空間分辨力相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向空間線性相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向縱橫比相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向測試項(xiàng)目洞直徑/洞深橫段面(Trs)矢狀面(Sag)冠狀面(Cor)低對比分辨力相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向相位和頻率編碼正方向相位和頻率編碼反方向*表示在格中可分辨的填Y,不可分辨的填三測量擴(kuò)展不確定度為10%。附錄B磁共振計(jì)量模體一、計(jì)量模體結(jié)構(gòu)示意圖斜置帶斜置帶第一測試面測試體支撐盤第二測試面測試體圖B.1結(jié)構(gòu)示意圖(一)8間蓋間蓋圖B.2結(jié)構(gòu)示意圖(二)9JJF(京)30—2002二、計(jì)量模體掃描定位示意圖中心定位像正確校準(zhǔn)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)(太高)逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)(太低)體模校準(zhǔn)偏差(有角度變化)圖B.5幾何定位示意圖(一)圖B.6幾何定位示意圖(二)四、斷層(層厚)測試面示意圖成像斷層的厚度d(mm)是由4個(gè)成像斜置帶中的任一方向的半值寬度(dWHM)乘以0.25得到的，即若計(jì)量圖像中的斜置帶的半值寬度，首先測量結(jié)果圖像中的斜置帶圖像的最大值和結(jié)果圖像的背景值。測量最大值的方法是減小顯示圖像的窗寬，移動窗位，直至斜置帶圖像消失，這時(shí)的窗位值就是斜置帶圖像的最大值。測量背景值的方法是在斜置帶圖像的附近選擇一個(gè)感興趣區(qū)，這個(gè)感興趣區(qū)的灰階的平均值就是背景值。在獲取上面的測量結(jié)果的基礎(chǔ)上計(jì)算斜置帶圖像的峰值：峰值=斜置帶圖像的最大值-背景值計(jì)算峰值的半值：半值=峰值/2JJF(京)30-2002計(jì)算最大值的半值：最大值的半值=背景值+峰值的半值然后在顯示窗寬很小的情況下，使顯示窗位等于最大值