IC驗證工程師招聘筆試題及解答(某大型國企)_第1頁
IC驗證工程師招聘筆試題及解答(某大型國企)_第2頁
IC驗證工程師招聘筆試題及解答(某大型國企)_第3頁
IC驗證工程師招聘筆試題及解答(某大型國企)_第4頁
IC驗證工程師招聘筆試題及解答(某大型國企)_第5頁
已閱讀5頁,還剩12頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

招聘IC驗證工程師筆試題及解答(某大型國企)

一、單項選擇題(本大題有10小題,每小題2分,共20分)

1、ic驗證工程師在驗證流程中,以下哪個階段通常負責確保設(shè)計規(guī)格的正確性和

完整性?

A、功能驗證

B、形式驗證

C、靜態(tài)時序分析

D、后端驗證

答案:A

解析:在TC驗證流程中,功能驗證階段的主要任務(wù)是確保設(shè)計規(guī)格的正確性和完

整性,通過模擬和測試驗iE設(shè)計的功能是否符合預(yù)期。形式驗證主要關(guān)注邏輯垢構(gòu)的正

確性,靜態(tài)時序分析關(guān)注時序約束的滿足,后端驗證關(guān)注物埋層面的實現(xiàn)。

2、以下哪個工具通常用于檢查設(shè)計中的邏輯錯誤和冗余,而不需要運行仿真?

A、仿真軟件

B、形式驗證工具

C、靜態(tài)分析工具

D、功耗分析工具

答案:C

解析:靜態(tài)分析工具可以在不運行仿真的情況下檢查設(shè)計中的邏輯錯誤和冗余。這

些工具分析設(shè)計文件,查找潛在的錯誤和不一致性,面不需要實際運行設(shè)計來驗證其功

能。仿真軟件需要運行仿真來測試設(shè)計,形式驗證工具用于確保邏輯結(jié)構(gòu)的正確性,功

耗分析工具用于評估設(shè)計的功耗。

3、在數(shù)字電路中,以下哪種觸發(fā)器可以實現(xiàn)邊沿觸發(fā)的功能?

A.觸發(fā)器D

B.觸發(fā)器JK

C.觸發(fā)器T

D.觸發(fā)器RS

答案:B

解析?:JK觸發(fā)器是一種可以邊沿觸發(fā)也可以電三觸發(fā)的觸發(fā)器。當J和K輸入端

同時為1或0時,JK觸發(fā)器可以實現(xiàn)邊沿觸發(fā)的功能。而在其他觸發(fā)器中,如D觸發(fā)

器、T觸發(fā)器和RS觸發(fā)器,通常只有電平觸發(fā)功能,無法實現(xiàn)邊沿觸發(fā)。

4、以下哪個描述是正確的關(guān)于Verilog語言中initial和always語句的區(qū)別?

A.initial語句用于初始化電路,而always語句用于描述電路的行為。

B.inilial語句用于描述電路的行為,而always語句用于初始化電路。

C.initial和always語句都用于初始化電路。

D.initial和always語句都用于描述電路的行為。

答案:A

解析:在Verilog語言中,initial語旬用于初始化電路,即在仿真開始時執(zhí)行一

次,通常用于賦初值。而always語句用于描述電路的行為,即在仿真過程中根據(jù)輸入

信號的變化來觸發(fā)執(zhí)行。因此,選項A正確描述了這兩個語句的區(qū)別。選項B、CfflD

的描述都是錯誤的。

5、以下關(guān)于Verilog語言中initial和always塊描述錯誤的是:

A.initial塊在仿真開始時執(zhí)行一次,always塊在每個仿真時間步開始時執(zhí)行

B.initial塊主要用于初始化變量,always塊主要用于描述組合邏輯

C.initial塊中的代碼執(zhí)行順序與代碼在塊中出現(xiàn)的順序一致,而always塊中的

代碼執(zhí)行順序與觸發(fā)事件有關(guān)

D.initial塊在仿真結(jié)束時不會自動執(zhí)行,而always塊會根據(jù)觸發(fā)事件重復(fù)執(zhí)行

答案:B

解析:選項B中的描述是錯誤的。initial塊主要用于初始化仿真環(huán)境中的變量和

參數(shù),而always塊主要用于描述時序邏輯。組合邏輯通常使用Verilog中的always

塊來實現(xiàn),而不是initial塊。initial塊中的代碼執(zhí)行順序確實與代碼在塊中出現(xiàn)的

順序一致,而always塊中的代碼執(zhí)行順序取決于觸發(fā)事件的順序。initial塊在仿真

結(jié)束時不會自動執(zhí)行,always塊則根據(jù)觸發(fā)條件(如時鐘信號)重復(fù)執(zhí)行。

6、在IC驗證過程中,以下哪種測試方法主要用于驗證設(shè)計的時序特性?

A.狀態(tài)機測試

B.壓力測試

C.時序測試

D.功能測試

答案:C

解析:選項C中的時序測試是專門用于驗證設(shè)計的時序特性的測試方法。時序測試

主要關(guān)注設(shè)計中的時鐘邊沿、周期、建立時間、保持時間等時序參數(shù)是否符合設(shè)計規(guī)范。

狀態(tài)機測試主要用于驗證狀態(tài)機的行為是否符合預(yù)期;壓力測試主要用于評估系統(tǒng)在高

負載下的性能;功能測試則側(cè)重于驗證設(shè)計的功能是否符合規(guī)格說明。因此,C選項是

正確答案。

答案:A

解析:D觸發(fā)器(DelayFlip-Flop)在時鐘信號的上升沿觸發(fā)時,輸入數(shù)據(jù)D的

值會傳遞到輸出端。其他選項中的觸發(fā)器,如J-K觸發(fā)器、S-R觸發(fā)器和T觸發(fā)器,也

有觸發(fā)信號,但它們的觸發(fā)時機可能是在時鐘信號的上升沿或下降沿,或者兩者都有可

能。因此,正確答案是A.D觸發(fā)器。

10、在進行IC驗證時,以下哪種驗證方法主要用于驗證電路的時序性能?

A.邏輯仿真

B.功能仿真

C.性能仿真

D.動態(tài)功耗分析

答案:C

解析:性能仿真(PerformanceSimulation)主要用于評估電路的時序性能,包括

信號路徑的延遲、時鐘周期、最大工作頻率等。通過性能仿真,驗證人員可以確定電路

是否滿足預(yù)定的時序要求。邏輯仿真(LogicSimulation)和功能仿真(Functional

Simulation)主要關(guān)注電路的功能正確性,而動態(tài)功耗分析(DynamicPowerAnalysis)

則關(guān)注電路在運行過程中的功耗情況。因此,正確答案是C.性能仿真。

二、多項選擇題(本大題有10小題,每小題4分,共40分)

1、在數(shù)字IC驗證中,以下哪些工具或技術(shù)是常用的?(答案:A,B,C,D)

A.SystemVerilog

?解析:SystemVerilog是一種硬件描述和驗證語言,廣泛用于數(shù)字IC的建模、仿

真和驗證,因為它提供了豐富的數(shù)據(jù)類型、結(jié)構(gòu)、接口以及斷言等特性,支持復(fù)

雜的驗證需求。

B.UVM(UniversalVerificationMethodology)

?解析:UVM是一種基于SystemVerilog的通用驗證方法學,它為驗證工程師提供

了一套標準化的驗證框架和類庫,包括環(huán)境構(gòu)建、事務(wù)級建模、斷言、覆蓋率收

集等功能,極大提高了險證的效率和可重用性。

C.FormalVerification

?解析:形式驗證是一種基于數(shù)學證明的方法來驗證硬件設(shè)計的正確性,它不依賴

于仿真輸入,而是通過分析設(shè)計本身來驗證其是否滿足特定的性質(zhì)或規(guī)范。在數(shù)

字IC驗證中,形式驗證常用于檢查設(shè)計的等價性、無死鎖、滿足時序要求等。

D.FPGA原型驗證

?解析:FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)原型驗證是將數(shù)字IC設(shè)計下載到FPGA板上

進行實際運行測試的方法。這種驗證方式能夠更接近實際硬件環(huán)境,有助于發(fā)現(xiàn)

仿真中難以發(fā)現(xiàn)的問題,如時序問題、電源噪聲等。

2,關(guān)于斷言(Assertion)在IC驗證中的應(yīng)用,以下哪些說法是正確的?(答案:

A,B,C)

A.斷言用于在驗證過程中檢查設(shè)計的某些特定屬性是否成立。

?解析:斷言是驗證中的一種重要機制,它允許驗證工程師在設(shè)計中的關(guān)鍵點插入

檢查點,以驗證設(shè)計是否滿足特定的屬性或規(guī)范。

B.使用斷言可以提高驗證的覆蓋率,特別是功能覆蓋率和代碼覆蓋率。

?解析:斷言本身并不直接提高覆蓋率,但它通過確保設(shè)計在特定條件下表現(xiàn)正確,

從而有助于發(fā)現(xiàn)潛在的錯誤,進而促使驗證工程師編寫更多的測試用例來覆蓋這

些錯誤場景,間接提高覆蓋率。然而,斷言更主要的作用是確保設(shè)計的正確性,

而非直接提高覆蓋率。

c.SystemVerilog提供了豐富的斷言語法,支持并發(fā)斷言和順序斷言。

?解析:SystemVe川og為斷言提供了豐富的語法支持,包括并發(fā)斷言(如assert

語句)和順序斷言(如sequence塊),使得驗證工程師能夠靈活地表達設(shè)計的驗

證需求。

D.斷言一旦編寫完成,就不需要再對其進行修改或優(yōu)化。

?解析:這個說法是錯誤的。隨著設(shè)計的演進和驗證的深入,驗證工程師可能需要

根據(jù)新的驗證需求或發(fā)現(xiàn)的問題對斷言進行修改或優(yōu)化,以確保它們始終能夠準

確地反映設(shè)計的驗證需求。

3、在數(shù)字邏輯電路設(shè)計中,下列哪些方法可以用于減少組合邏輯電路的復(fù)雜度?

A.使用卡諾圖簡化邏輯函數(shù)

B.增加寄存器級數(shù)

C.應(yīng)用Quine-McCluskey算法

D.提高時鐘頻率

E.采用冗余邏輯門

答案:A、C

解析:

選項A使用卡諾圖(Karnaughmap)來簡化邏輯函數(shù)是一?種常見的技術(shù),它可以幫助

我們找到最簡與或表達式SOP或POS),從而減少電路復(fù)雜度。

選項C應(yīng)用Quine-McCluskey算法也是一種系統(tǒng)化的方法,用于尋找邏輯函數(shù)的最

小項標準形式,進而簡化邏輯表達式。

選項B增加寄存器級數(shù)、選項D提高時鐘頻率、選項E采用冗余邏輯門,這些都不

直接幫助減少組合邏輯電路的復(fù)雜度,而是涉及時序邏輯或者并不優(yōu)化邏輯本身。

4、在FPGA設(shè)計流程中,下列哪些步驟是在綜合(synthesis)之后進行的?

A.設(shè)計輸入

B.功能仿真

C.時序分析

D.物理實現(xiàn)(布局布線)

E.測試向量生成

答案:B、C、D

解析:

在FPGA設(shè)計流程中,綜合(synthesis)是將高層次描述轉(zhuǎn)換成門級網(wǎng)表的過程。在

綜合完成后:

選項B功能仿真用于驗證轉(zhuǎn)換后的網(wǎng)表是否符合原始設(shè)計的功能;

選項C時序分析檢查綜合后設(shè)計是否滿足時序要求;

選項D物理實現(xiàn)(布局布線)則是在指定的FPGA架構(gòu)上確定實際的物理位置,并

連接各個邏輯單元。

選項A設(shè)計輸入是在綜合之前的步驟,而選項E測試向量生成通常是為了驗證設(shè)計,

但它并不是直接跟隨綜合的步驟。

5、以下哪些技術(shù)或工具在IC驗證領(lǐng)域中常用?()

A.SystemVcrilog

B.Verilog-A

C.UVM(UniversalVerificationMethodology)

D.FormalVerification

E.Post-SiliconValidation

答案:ABCD

解析:在IC驗證領(lǐng)域中,以下技術(shù)或工具都是常用的:

?SystemVerilog:一種用于硬件描述和驗證的通用語言,它擴展了Verilog和VHDL,

增加了驗證相關(guān)的特性。

?Verilog-A:用于模擬電路行為的語言,可以用來描述數(shù)字電路中的模擬部分。

?IVM:一種通用的驗證方法論,提供了一套驗證框架和庫,旨在提高驗證效率和

可復(fù)用性。

?FormalVerification:形式化驗證,是一種不依賴于測試案例的驗證方法,通

過數(shù)學證明來確保系統(tǒng)行為符合規(guī)范。

?Post-SiliconValidation:芯片流片后的驗證,用于確保實際芯片的行為符合

設(shè)計預(yù)期。

6、以下關(guān)于時序驗證的說法中,正確的是?()

A.時序驗證主要關(guān)注時鐘域之間的時序關(guān)系

B.時序驗證不需要考慮組合邏輯的時序問題

C.時序驗證需要驗證所有可能的時鐘域切換

D.時序驗證的目的是確保所有設(shè)計操作都在規(guī)定的時序窗口內(nèi)完成

答案:AD

解析:關(guān)于時序驗證的說法,正確的是:

?時序驗證主要關(guān)注時鐘域之間的時序關(guān)系,確保數(shù)據(jù)能夠在規(guī)定的時間內(nèi)正確傳

輸。

?時序驗證的目的是確保所有設(shè)計操作都在規(guī)定的時序窗口內(nèi)完成,這是保證電路

正確性的關(guān)鍵。

?時序驗證需要驗證所有可能的時鐘域切換,因為不同的切換可能會引入時序問題。

?組合邏輯的時序問題也是時序驗證的一部分,因為組合邏輯中的信號傳播延遲也

會影響整個系統(tǒng)的時序性能。

選項B錯誤,因為組合邏輯的時序問題也是時序驗證需要考慮的內(nèi)容。

7-.在IC驗證過程中,以下哪些工具或方法常用于提高驗證效率和覆蓋率?

A.約束隨機測試(ConstrainedRandomTesting)

B.形式驗證(Forma:Verification)

C.定向測試(DirectedTesting)

D.靜態(tài)時序分析(StaticTimingAnalysis,STA)

答案:A,B,C

解析:

A.約束隨機測試是一種在驗證過程中通過定義約束條件來指導(dǎo)隨機生成測試向量

的方法,這種方法可以顯著提高驗證的覆蓋率和效率,因為它能夠自動地探索設(shè)計空間

中的大量可能情況。

B.形式驗證是一種基于數(shù)學邏輯和算法的方法,用于證明設(shè)計在特定屬性下是否

滿足預(yù)期行為。它通常用于驗證設(shè)計的復(fù)雜性和關(guān)鍵路徑,可以顯著提高驗證的準確性

和效率。

C.定向測試是指針市設(shè)計中的特定功能或路徑進行的手動或自動測試。這種方法

可以確保關(guān)鍵功能的正確性,并在驗證過程中提供有針對性的測試案例。

D.靜態(tài)時序分析主要用于檢查數(shù)字電路中的時序問題,如建立時間和保持時間違

例,而不是直接用于提高驗證的覆蓋率和效率。因此,它不屬于提高驗證效率和覆蓋率

的常用工具或方法。

8、在IC驗證環(huán)境中,關(guān)于UVM(UniversalVerificationMethodology)的以下

描述中,哪些是正確的?

A.UVM是一個基于SyslenNerilog的驗證方法學,旨在提高驗證的可重用性、可

擴展性和標準化。

B.UVM中的sequence機制允許用戶定義和生成測試激勵,但無法控制激勵的發(fā)送

時機。

C.UVM中的component和object是構(gòu)建驗證環(huán)境的基本單元,其中compcnenl具

有層次結(jié)構(gòu)和相位控制。

D.UVM中的factor機制主要用于對象的創(chuàng)建和覆蓋率的收集。

答案:A,C

解析:

A.UVM(UniversalVerificationMethodology)確實是一個基于SystemVerilog

的驗證方法學,它提供了一套標準化的類庫和驗證框架,旨在提高驗證的可重月性、可

擴展性和標準化。這是UVM的核心目標之一。

B.UVM中的sequence機制允許用戶定義和生成測試激勵,并且可以控制激勵的發(fā)

送時機。通過sequence_item和sequence的配合使用,用戶可以靈活地控制測試激勵

的生成和發(fā)送,以滿足不同的驗證需求。因此,該選項中的“但無法控制激勵的發(fā)送時

機”是不正確的。

C.在UVM中,component和object是構(gòu)建驗證環(huán)境的基本單元。component具有

層次結(jié)構(gòu)和相位控制,可以包含其他component或object,并參與UVM的仿真階段(如

build_phasc>conncct_phasc等)。這使得驗證環(huán)境更加模塊化和易于管理。

D.UVM中的factory機制主要用于對象的創(chuàng)建和覆蓋率的收集,但這一描述并不

完全準確。factory機制主要用于對象的創(chuàng)建和覆蓋(override),它允許用戶在不修

改原始類代碼的情況下,通過配置來替換類中的某些方法或?qū)傩?。雖然factory機制可

以用于支持覆蓋率收集(例如,通過替換覆蓋率收集器),但其主要目的并不是為了收

集覆蓋率。因此,該選項中的“主要用于對象的創(chuàng)建和覆蓋率的收集”表述不夠準確。

9、在數(shù)字電路設(shè)計驗證過程中,下面哪些技術(shù)可以用來提高驗證的覆蓋率?

A.窮盡測試

B.隨機測試

C.形式驗證

D.系統(tǒng)級仿真

E.功能覆蓋點定義

答案:B,C,D,E

解析:提高驗證覆蓋率的方法包括隨機測試(通過隨機數(shù)據(jù)輸入來發(fā)現(xiàn)更多潛在錯

誤)、形式驗證(數(shù)學上證明電路行為符合規(guī)范)、系統(tǒng)級仿真(模擬真實工作環(huán)境下的

行為)以及功能覆蓋點定義(明確需要驗證的功能點以確保這些點都被測試到)。窮盡

測試雖然理論上可行,但在實際復(fù)雜的設(shè)計中通常是不可行的,因為狀態(tài)空間太大。

10、下列哪些是用于硬件描述語言(HDL)的常用標準?

A.Verilog

B.VHDL

C.SystemC

D.C++

E.Python

答案:A,B,C

解析:Verilog、V1IDL和SystemC是廣泛使用的硬件描述語言,它們主要用于數(shù)

字和模擬電路的設(shè)計與驗證。C++雖然有時會被用于建模和某些驗證任務(wù),但它并不是

一個專門的硬件描述語言。Python同樣不是用于硬件描述的標準語言,盡管它可能在

一些自動化腳本或輔助工具中使用。

三、判斷題(本大題有10小題,每小題2分,共20分)

1、ic驗證工程師在遂行時序分析時,只需要考慮時鐘信號和復(fù)位信號,無需考慮

其他控制信號。

答案;錯誤

解析:IC驗證工程師在進行時序分析時,需要考慮所有影響時序的因素,包括時

鐘信號、復(fù)位信號、數(shù)據(jù)信號、控制信號等。任何可能影響數(shù)據(jù)傳輸和邏輯判斷的信號

都應(yīng)在時序分析中被考慮。

2、在UVM(UniversalVerificationMethodology)中,所有的驗證組件都應(yīng)當

是可復(fù)用的,這樣可以提高驗證效率。

答案:正確

解析:在UVM中,設(shè)計驗證組件的可復(fù)用性是一個重要的原則。通過創(chuàng)建可復(fù)用的

驗證組件,可以減少重復(fù)工作,提高驗證效率,同時也有助于維護和升級驗證環(huán)境。這

樣的設(shè)計有助于驗證工程師更有效地構(gòu)建和管理更雜的驗證平臺。

3、在IC驗證中,覆蓋率是衡量驗證工作是否充分的重要指標,其中代碼覆蓋率越

高,表示驗證工作越完善。

答案:錯誤。

解析?:雖然代碼覆蓋率是衡量驗證工作的一個重要指標,但它并不能單獨決定驗證

工作的完善性。代碼覆蓋率高的確表示驗證覆蓋了更多的代碼路徑,但也可能存在未被

觸發(fā)的邊界情況或邏輯錯誤。因此,除了代碼覆蓋率外,還需要考慮功能覆蓋率、斷言

覆蓋率等多個方面,以全面評估驗證工作的質(zhì)量和充分性。

4、在SystemVerilog中,$display和,叱江?函數(shù)都是用于在仿真過程中輸出信息

的,但它們之間沒有任何區(qū)別。

答案:錯誤。

解析:在SystemVerilog中,$display和$何近6函數(shù)雖然都用于在仿真過程中輸

出信息,但它們之間存在明顯的區(qū)別。$display函數(shù)會自動在輸出信息的末尾添加換

行符,函數(shù)則不會。這意味著,使用$display時,每次調(diào)用都會在新的一行

開始輸出信息;而使用$write時,如果不顯式添加換行符,所有輸出信息都會連續(xù)顯

示在同一行上。這種區(qū)別使得$display和$\?!?在不同的輸出需求下各有優(yōu)勢。

5、在FPGA設(shè)計流程中,一旦完成邏輯綜合步驟后,就不能再對設(shè)計進行任何修改,

因為這會導(dǎo)致整個編譯過程重新開始。

答案:錯誤。

解析:雖然邏輯綜合步驟將RTL級描述轉(zhuǎn)換成了門級網(wǎng)表,但在FPGA設(shè)計流程中,

依然有多個階段可以對設(shè)計進行優(yōu)化與調(diào)整。例如,在布局布線階段發(fā)現(xiàn)時序問題時,

可以通過調(diào)整約束條件、優(yōu)化算法等手段來修正問題而不需要從頭開始整個編譯流程。

6、UVM(UniversalVerificationMethodology)中的序列項(sequenceitem)

只能單獨使用,不能組合成序列(sequence)來創(chuàng)建復(fù)雜的測試場景。

答案:錯誤。

解析:UVM中的序列項是構(gòu)成測試向例的基本單元,它們通常會被組合成序列,以

此來創(chuàng)建更加復(fù)雜和現(xiàn)實的測試場景。通過序列,可以控制序列項的生成順序,并且能

夠插入自定義的行為,如等待、重置等,從而使得測試向例更加靈活和強大。

7、IC驗證工程師在進行驗證工作時,通常需要編寫大量的驗證測試序列(VTS),

以確保芯片的功能正確無誤。

答案:正確

解析:1C驗證工程師的主要工作之一就是編寫和執(zhí)行驗證測試序列,這些測試序

列是用來模擬芯片在各種可能的工作條件下的行為,以確保芯片的設(shè)計符合預(yù)期功能。

因此,編寫大量的VTS是IC驗證工程師日常工作的一部分。

8、在IC驗證過程中,使用斷言(Assertion)可以有效地檢測到設(shè)計中的潛在錯

誤,但斷言本身并不能完全保證芯片設(shè)計的正確性。

答案:正確

解析:斷言是驗證過程中用來檢測設(shè)計行為是否滿足特定條件的一種工具。雖然斷

言可以幫助驗證工程師發(fā)現(xiàn)設(shè)計中的錯誤,但它們并不是萬能的。設(shè)計中的錯誤可能因

為多種原因而未能通過斷言檢測,例如,斷言可能沒有覆蓋到所有可能的錯誤情況,或

者錯誤可能發(fā)生在斷言檢查之外。因此,盡管斷言是驗證過程中的重要組成部分,但它

們不能保證芯片設(shè)計的完全正確性。

9、在1C驗證過程中,覆蓋率是衡量驗證完備性的唯一標準。

答案:錯誤

解析:雖然覆蓋率是衡量驗證完備性的重要指標之一,但它并不是唯一的標準。覆

蓋率可以幫助驗證工程師浜別哪些代碼或功能已被測試,但它無法直接證明設(shè)計的正確

性,也無法確保所有潛在的錯誤都已被發(fā)現(xiàn)。驗證的完備性還需要結(jié)合其他驗記方法和

技術(shù),如仿真、斷言、形式驗證等,以及驗證工程師的經(jīng)驗和專業(yè)知識來進行綜合評估。

10、在SystemVerilog中,所有的接口(interface)都可以直接實例化,無需聲

明為類型。

答案:錯誤

解析:在SystemVerilog中,接口(interface)是一種特殊的類,它定義了一組

信號和可選的任務(wù)(task)與函數(shù)(function),用于在模塊之間傳遞信號和通信。與

普通的類不同,接口在實例化時需要使用其類型名稱來聲明一個實例,而不能直接實例

化。例如,如果你定義了一個名為my_intcrfacc的接口,那么在實例化時需要這樣寫:

my_interface而不是直接像實例化模塊那樣寫。因此,題目中的說法“所

有的接口都可以直接實例化,無需聲明為類型”是錯誤的。

四、問答題(本大題有2小題,每小題10分,共20分)

第一題

題目:

請解釋什么是邊界掃描(BoundaryScan)技術(shù),并簡述其在集成電路(IC)設(shè)計

中的主要應(yīng)用及其優(yōu)點。

答案與解析:

邊界掃描技術(shù)(BoundaryScanTechnology,BST),也稱為JTAG技術(shù)(得名于其

標準IEEE1149.1的聯(lián)合測試行動組JointTestActionGroup),是一種用于測試和

調(diào)試集成甩路的硬件設(shè)計方法。它通過在芯片內(nèi)部設(shè)計專用的測試訪問端口(Test

AccessPort,TAP)控制器以及一系列邊界寄存器來實現(xiàn)對芯片內(nèi)部信號的監(jiān)控與控制。

主要應(yīng)用包括但不限于:

1.故障檢測:通過邊界寄存器來檢測連接錯誤或元件故障;

2.在線編程:允許通過

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論