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文檔簡介
招聘IC驗證工程師筆試題及解答(某大型國企)
一、單項選擇題(本大題有10小題,每小題2分,共20分)
1、ic驗證工程師在驗證流程中,以下哪個階段通常負責確保設(shè)計規(guī)格的正確性和
完整性?
A、功能驗證
B、形式驗證
C、靜態(tài)時序分析
D、后端驗證
答案:A
解析:在TC驗證流程中,功能驗證階段的主要任務(wù)是確保設(shè)計規(guī)格的正確性和完
整性,通過模擬和測試驗iE設(shè)計的功能是否符合預(yù)期。形式驗證主要關(guān)注邏輯垢構(gòu)的正
確性,靜態(tài)時序分析關(guān)注時序約束的滿足,后端驗證關(guān)注物埋層面的實現(xiàn)。
2、以下哪個工具通常用于檢查設(shè)計中的邏輯錯誤和冗余,而不需要運行仿真?
A、仿真軟件
B、形式驗證工具
C、靜態(tài)分析工具
D、功耗分析工具
答案:C
解析:靜態(tài)分析工具可以在不運行仿真的情況下檢查設(shè)計中的邏輯錯誤和冗余。這
些工具分析設(shè)計文件,查找潛在的錯誤和不一致性,面不需要實際運行設(shè)計來驗證其功
能。仿真軟件需要運行仿真來測試設(shè)計,形式驗證工具用于確保邏輯結(jié)構(gòu)的正確性,功
耗分析工具用于評估設(shè)計的功耗。
3、在數(shù)字電路中,以下哪種觸發(fā)器可以實現(xiàn)邊沿觸發(fā)的功能?
A.觸發(fā)器D
B.觸發(fā)器JK
C.觸發(fā)器T
D.觸發(fā)器RS
答案:B
解析?:JK觸發(fā)器是一種可以邊沿觸發(fā)也可以電三觸發(fā)的觸發(fā)器。當J和K輸入端
同時為1或0時,JK觸發(fā)器可以實現(xiàn)邊沿觸發(fā)的功能。而在其他觸發(fā)器中,如D觸發(fā)
器、T觸發(fā)器和RS觸發(fā)器,通常只有電平觸發(fā)功能,無法實現(xiàn)邊沿觸發(fā)。
4、以下哪個描述是正確的關(guān)于Verilog語言中initial和always語句的區(qū)別?
A.initial語句用于初始化電路,而always語句用于描述電路的行為。
B.inilial語句用于描述電路的行為,而always語句用于初始化電路。
C.initial和always語句都用于初始化電路。
D.initial和always語句都用于描述電路的行為。
答案:A
解析:在Verilog語言中,initial語旬用于初始化電路,即在仿真開始時執(zhí)行一
次,通常用于賦初值。而always語句用于描述電路的行為,即在仿真過程中根據(jù)輸入
信號的變化來觸發(fā)執(zhí)行。因此,選項A正確描述了這兩個語句的區(qū)別。選項B、CfflD
的描述都是錯誤的。
5、以下關(guān)于Verilog語言中initial和always塊描述錯誤的是:
A.initial塊在仿真開始時執(zhí)行一次,always塊在每個仿真時間步開始時執(zhí)行
B.initial塊主要用于初始化變量,always塊主要用于描述組合邏輯
C.initial塊中的代碼執(zhí)行順序與代碼在塊中出現(xiàn)的順序一致,而always塊中的
代碼執(zhí)行順序與觸發(fā)事件有關(guān)
D.initial塊在仿真結(jié)束時不會自動執(zhí)行,而always塊會根據(jù)觸發(fā)事件重復(fù)執(zhí)行
答案:B
解析:選項B中的描述是錯誤的。initial塊主要用于初始化仿真環(huán)境中的變量和
參數(shù),而always塊主要用于描述時序邏輯。組合邏輯通常使用Verilog中的always
塊來實現(xiàn),而不是initial塊。initial塊中的代碼執(zhí)行順序確實與代碼在塊中出現(xiàn)的
順序一致,而always塊中的代碼執(zhí)行順序取決于觸發(fā)事件的順序。initial塊在仿真
結(jié)束時不會自動執(zhí)行,always塊則根據(jù)觸發(fā)條件(如時鐘信號)重復(fù)執(zhí)行。
6、在IC驗證過程中,以下哪種測試方法主要用于驗證設(shè)計的時序特性?
A.狀態(tài)機測試
B.壓力測試
C.時序測試
D.功能測試
答案:C
解析:選項C中的時序測試是專門用于驗證設(shè)計的時序特性的測試方法。時序測試
主要關(guān)注設(shè)計中的時鐘邊沿、周期、建立時間、保持時間等時序參數(shù)是否符合設(shè)計規(guī)范。
狀態(tài)機測試主要用于驗證狀態(tài)機的行為是否符合預(yù)期;壓力測試主要用于評估系統(tǒng)在高
負載下的性能;功能測試則側(cè)重于驗證設(shè)計的功能是否符合規(guī)格說明。因此,C選項是
正確答案。
答案:A
解析:D觸發(fā)器(DelayFlip-Flop)在時鐘信號的上升沿觸發(fā)時,輸入數(shù)據(jù)D的
值會傳遞到輸出端。其他選項中的觸發(fā)器,如J-K觸發(fā)器、S-R觸發(fā)器和T觸發(fā)器,也
有觸發(fā)信號,但它們的觸發(fā)時機可能是在時鐘信號的上升沿或下降沿,或者兩者都有可
能。因此,正確答案是A.D觸發(fā)器。
10、在進行IC驗證時,以下哪種驗證方法主要用于驗證電路的時序性能?
A.邏輯仿真
B.功能仿真
C.性能仿真
D.動態(tài)功耗分析
答案:C
解析:性能仿真(PerformanceSimulation)主要用于評估電路的時序性能,包括
信號路徑的延遲、時鐘周期、最大工作頻率等。通過性能仿真,驗證人員可以確定電路
是否滿足預(yù)定的時序要求。邏輯仿真(LogicSimulation)和功能仿真(Functional
Simulation)主要關(guān)注電路的功能正確性,而動態(tài)功耗分析(DynamicPowerAnalysis)
則關(guān)注電路在運行過程中的功耗情況。因此,正確答案是C.性能仿真。
二、多項選擇題(本大題有10小題,每小題4分,共40分)
1、在數(shù)字IC驗證中,以下哪些工具或技術(shù)是常用的?(答案:A,B,C,D)
A.SystemVerilog
?解析:SystemVerilog是一種硬件描述和驗證語言,廣泛用于數(shù)字IC的建模、仿
真和驗證,因為它提供了豐富的數(shù)據(jù)類型、結(jié)構(gòu)、接口以及斷言等特性,支持復(fù)
雜的驗證需求。
B.UVM(UniversalVerificationMethodology)
?解析:UVM是一種基于SystemVerilog的通用驗證方法學,它為驗證工程師提供
了一套標準化的驗證框架和類庫,包括環(huán)境構(gòu)建、事務(wù)級建模、斷言、覆蓋率收
集等功能,極大提高了險證的效率和可重用性。
C.FormalVerification
?解析:形式驗證是一種基于數(shù)學證明的方法來驗證硬件設(shè)計的正確性,它不依賴
于仿真輸入,而是通過分析設(shè)計本身來驗證其是否滿足特定的性質(zhì)或規(guī)范。在數(shù)
字IC驗證中,形式驗證常用于檢查設(shè)計的等價性、無死鎖、滿足時序要求等。
D.FPGA原型驗證
?解析:FPGA(現(xiàn)場可編程門陣列)原型驗證是將數(shù)字IC設(shè)計下載到FPGA板上
進行實際運行測試的方法。這種驗證方式能夠更接近實際硬件環(huán)境,有助于發(fā)現(xiàn)
仿真中難以發(fā)現(xiàn)的問題,如時序問題、電源噪聲等。
2,關(guān)于斷言(Assertion)在IC驗證中的應(yīng)用,以下哪些說法是正確的?(答案:
A,B,C)
A.斷言用于在驗證過程中檢查設(shè)計的某些特定屬性是否成立。
?解析:斷言是驗證中的一種重要機制,它允許驗證工程師在設(shè)計中的關(guān)鍵點插入
檢查點,以驗證設(shè)計是否滿足特定的屬性或規(guī)范。
B.使用斷言可以提高驗證的覆蓋率,特別是功能覆蓋率和代碼覆蓋率。
?解析:斷言本身并不直接提高覆蓋率,但它通過確保設(shè)計在特定條件下表現(xiàn)正確,
從而有助于發(fā)現(xiàn)潛在的錯誤,進而促使驗證工程師編寫更多的測試用例來覆蓋這
些錯誤場景,間接提高覆蓋率。然而,斷言更主要的作用是確保設(shè)計的正確性,
而非直接提高覆蓋率。
c.SystemVerilog提供了豐富的斷言語法,支持并發(fā)斷言和順序斷言。
?解析:SystemVe川og為斷言提供了豐富的語法支持,包括并發(fā)斷言(如assert
語句)和順序斷言(如sequence塊),使得驗證工程師能夠靈活地表達設(shè)計的驗
證需求。
D.斷言一旦編寫完成,就不需要再對其進行修改或優(yōu)化。
?解析:這個說法是錯誤的。隨著設(shè)計的演進和驗證的深入,驗證工程師可能需要
根據(jù)新的驗證需求或發(fā)現(xiàn)的問題對斷言進行修改或優(yōu)化,以確保它們始終能夠準
確地反映設(shè)計的驗證需求。
3、在數(shù)字邏輯電路設(shè)計中,下列哪些方法可以用于減少組合邏輯電路的復(fù)雜度?
A.使用卡諾圖簡化邏輯函數(shù)
B.增加寄存器級數(shù)
C.應(yīng)用Quine-McCluskey算法
D.提高時鐘頻率
E.采用冗余邏輯門
答案:A、C
解析:
選項A使用卡諾圖(Karnaughmap)來簡化邏輯函數(shù)是一?種常見的技術(shù),它可以幫助
我們找到最簡與或表達式SOP或POS),從而減少電路復(fù)雜度。
選項C應(yīng)用Quine-McCluskey算法也是一種系統(tǒng)化的方法,用于尋找邏輯函數(shù)的最
小項標準形式,進而簡化邏輯表達式。
選項B增加寄存器級數(shù)、選項D提高時鐘頻率、選項E采用冗余邏輯門,這些都不
直接幫助減少組合邏輯電路的復(fù)雜度,而是涉及時序邏輯或者并不優(yōu)化邏輯本身。
4、在FPGA設(shè)計流程中,下列哪些步驟是在綜合(synthesis)之后進行的?
A.設(shè)計輸入
B.功能仿真
C.時序分析
D.物理實現(xiàn)(布局布線)
E.測試向量生成
答案:B、C、D
解析:
在FPGA設(shè)計流程中,綜合(synthesis)是將高層次描述轉(zhuǎn)換成門級網(wǎng)表的過程。在
綜合完成后:
選項B功能仿真用于驗證轉(zhuǎn)換后的網(wǎng)表是否符合原始設(shè)計的功能;
選項C時序分析檢查綜合后設(shè)計是否滿足時序要求;
選項D物理實現(xiàn)(布局布線)則是在指定的FPGA架構(gòu)上確定實際的物理位置,并
連接各個邏輯單元。
選項A設(shè)計輸入是在綜合之前的步驟,而選項E測試向量生成通常是為了驗證設(shè)計,
但它并不是直接跟隨綜合的步驟。
5、以下哪些技術(shù)或工具在IC驗證領(lǐng)域中常用?()
A.SystemVcrilog
B.Verilog-A
C.UVM(UniversalVerificationMethodology)
D.FormalVerification
E.Post-SiliconValidation
答案:ABCD
解析:在IC驗證領(lǐng)域中,以下技術(shù)或工具都是常用的:
?SystemVerilog:一種用于硬件描述和驗證的通用語言,它擴展了Verilog和VHDL,
增加了驗證相關(guān)的特性。
?Verilog-A:用于模擬電路行為的語言,可以用來描述數(shù)字電路中的模擬部分。
?IVM:一種通用的驗證方法論,提供了一套驗證框架和庫,旨在提高驗證效率和
可復(fù)用性。
?FormalVerification:形式化驗證,是一種不依賴于測試案例的驗證方法,通
過數(shù)學證明來確保系統(tǒng)行為符合規(guī)范。
?Post-SiliconValidation:芯片流片后的驗證,用于確保實際芯片的行為符合
設(shè)計預(yù)期。
6、以下關(guān)于時序驗證的說法中,正確的是?()
A.時序驗證主要關(guān)注時鐘域之間的時序關(guān)系
B.時序驗證不需要考慮組合邏輯的時序問題
C.時序驗證需要驗證所有可能的時鐘域切換
D.時序驗證的目的是確保所有設(shè)計操作都在規(guī)定的時序窗口內(nèi)完成
答案:AD
解析:關(guān)于時序驗證的說法,正確的是:
?時序驗證主要關(guān)注時鐘域之間的時序關(guān)系,確保數(shù)據(jù)能夠在規(guī)定的時間內(nèi)正確傳
輸。
?時序驗證的目的是確保所有設(shè)計操作都在規(guī)定的時序窗口內(nèi)完成,這是保證電路
正確性的關(guān)鍵。
?時序驗證需要驗證所有可能的時鐘域切換,因為不同的切換可能會引入時序問題。
?組合邏輯的時序問題也是時序驗證的一部分,因為組合邏輯中的信號傳播延遲也
會影響整個系統(tǒng)的時序性能。
選項B錯誤,因為組合邏輯的時序問題也是時序驗證需要考慮的內(nèi)容。
7-.在IC驗證過程中,以下哪些工具或方法常用于提高驗證效率和覆蓋率?
A.約束隨機測試(ConstrainedRandomTesting)
B.形式驗證(Forma:Verification)
C.定向測試(DirectedTesting)
D.靜態(tài)時序分析(StaticTimingAnalysis,STA)
答案:A,B,C
解析:
A.約束隨機測試是一種在驗證過程中通過定義約束條件來指導(dǎo)隨機生成測試向量
的方法,這種方法可以顯著提高驗證的覆蓋率和效率,因為它能夠自動地探索設(shè)計空間
中的大量可能情況。
B.形式驗證是一種基于數(shù)學邏輯和算法的方法,用于證明設(shè)計在特定屬性下是否
滿足預(yù)期行為。它通常用于驗證設(shè)計的復(fù)雜性和關(guān)鍵路徑,可以顯著提高驗證的準確性
和效率。
C.定向測試是指針市設(shè)計中的特定功能或路徑進行的手動或自動測試。這種方法
可以確保關(guān)鍵功能的正確性,并在驗證過程中提供有針對性的測試案例。
D.靜態(tài)時序分析主要用于檢查數(shù)字電路中的時序問題,如建立時間和保持時間違
例,而不是直接用于提高驗證的覆蓋率和效率。因此,它不屬于提高驗證效率和覆蓋率
的常用工具或方法。
8、在IC驗證環(huán)境中,關(guān)于UVM(UniversalVerificationMethodology)的以下
描述中,哪些是正確的?
A.UVM是一個基于SyslenNerilog的驗證方法學,旨在提高驗證的可重用性、可
擴展性和標準化。
B.UVM中的sequence機制允許用戶定義和生成測試激勵,但無法控制激勵的發(fā)送
時機。
C.UVM中的component和object是構(gòu)建驗證環(huán)境的基本單元,其中compcnenl具
有層次結(jié)構(gòu)和相位控制。
D.UVM中的factor機制主要用于對象的創(chuàng)建和覆蓋率的收集。
答案:A,C
解析:
A.UVM(UniversalVerificationMethodology)確實是一個基于SystemVerilog
的驗證方法學,它提供了一套標準化的類庫和驗證框架,旨在提高驗證的可重月性、可
擴展性和標準化。這是UVM的核心目標之一。
B.UVM中的sequence機制允許用戶定義和生成測試激勵,并且可以控制激勵的發(fā)
送時機。通過sequence_item和sequence的配合使用,用戶可以靈活地控制測試激勵
的生成和發(fā)送,以滿足不同的驗證需求。因此,該選項中的“但無法控制激勵的發(fā)送時
機”是不正確的。
C.在UVM中,component和object是構(gòu)建驗證環(huán)境的基本單元。component具有
層次結(jié)構(gòu)和相位控制,可以包含其他component或object,并參與UVM的仿真階段(如
build_phasc>conncct_phasc等)。這使得驗證環(huán)境更加模塊化和易于管理。
D.UVM中的factory機制主要用于對象的創(chuàng)建和覆蓋率的收集,但這一描述并不
完全準確。factory機制主要用于對象的創(chuàng)建和覆蓋(override),它允許用戶在不修
改原始類代碼的情況下,通過配置來替換類中的某些方法或?qū)傩?。雖然factory機制可
以用于支持覆蓋率收集(例如,通過替換覆蓋率收集器),但其主要目的并不是為了收
集覆蓋率。因此,該選項中的“主要用于對象的創(chuàng)建和覆蓋率的收集”表述不夠準確。
9、在數(shù)字電路設(shè)計驗證過程中,下面哪些技術(shù)可以用來提高驗證的覆蓋率?
A.窮盡測試
B.隨機測試
C.形式驗證
D.系統(tǒng)級仿真
E.功能覆蓋點定義
答案:B,C,D,E
解析:提高驗證覆蓋率的方法包括隨機測試(通過隨機數(shù)據(jù)輸入來發(fā)現(xiàn)更多潛在錯
誤)、形式驗證(數(shù)學上證明電路行為符合規(guī)范)、系統(tǒng)級仿真(模擬真實工作環(huán)境下的
行為)以及功能覆蓋點定義(明確需要驗證的功能點以確保這些點都被測試到)。窮盡
測試雖然理論上可行,但在實際復(fù)雜的設(shè)計中通常是不可行的,因為狀態(tài)空間太大。
10、下列哪些是用于硬件描述語言(HDL)的常用標準?
A.Verilog
B.VHDL
C.SystemC
D.C++
E.Python
答案:A,B,C
解析:Verilog、V1IDL和SystemC是廣泛使用的硬件描述語言,它們主要用于數(shù)
字和模擬電路的設(shè)計與驗證。C++雖然有時會被用于建模和某些驗證任務(wù),但它并不是
一個專門的硬件描述語言。Python同樣不是用于硬件描述的標準語言,盡管它可能在
一些自動化腳本或輔助工具中使用。
三、判斷題(本大題有10小題,每小題2分,共20分)
1、ic驗證工程師在遂行時序分析時,只需要考慮時鐘信號和復(fù)位信號,無需考慮
其他控制信號。
答案;錯誤
解析:IC驗證工程師在進行時序分析時,需要考慮所有影響時序的因素,包括時
鐘信號、復(fù)位信號、數(shù)據(jù)信號、控制信號等。任何可能影響數(shù)據(jù)傳輸和邏輯判斷的信號
都應(yīng)在時序分析中被考慮。
2、在UVM(UniversalVerificationMethodology)中,所有的驗證組件都應(yīng)當
是可復(fù)用的,這樣可以提高驗證效率。
答案:正確
解析:在UVM中,設(shè)計驗證組件的可復(fù)用性是一個重要的原則。通過創(chuàng)建可復(fù)用的
驗證組件,可以減少重復(fù)工作,提高驗證效率,同時也有助于維護和升級驗證環(huán)境。這
樣的設(shè)計有助于驗證工程師更有效地構(gòu)建和管理更雜的驗證平臺。
3、在IC驗證中,覆蓋率是衡量驗證工作是否充分的重要指標,其中代碼覆蓋率越
高,表示驗證工作越完善。
答案:錯誤。
解析?:雖然代碼覆蓋率是衡量驗證工作的一個重要指標,但它并不能單獨決定驗證
工作的完善性。代碼覆蓋率高的確表示驗證覆蓋了更多的代碼路徑,但也可能存在未被
觸發(fā)的邊界情況或邏輯錯誤。因此,除了代碼覆蓋率外,還需要考慮功能覆蓋率、斷言
覆蓋率等多個方面,以全面評估驗證工作的質(zhì)量和充分性。
4、在SystemVerilog中,$display和,叱江?函數(shù)都是用于在仿真過程中輸出信息
的,但它們之間沒有任何區(qū)別。
答案:錯誤。
解析:在SystemVerilog中,$display和$何近6函數(shù)雖然都用于在仿真過程中輸
出信息,但它們之間存在明顯的區(qū)別。$display函數(shù)會自動在輸出信息的末尾添加換
行符,函數(shù)則不會。這意味著,使用$display時,每次調(diào)用都會在新的一行
開始輸出信息;而使用$write時,如果不顯式添加換行符,所有輸出信息都會連續(xù)顯
示在同一行上。這種區(qū)別使得$display和$\?!?在不同的輸出需求下各有優(yōu)勢。
5、在FPGA設(shè)計流程中,一旦完成邏輯綜合步驟后,就不能再對設(shè)計進行任何修改,
因為這會導(dǎo)致整個編譯過程重新開始。
答案:錯誤。
解析:雖然邏輯綜合步驟將RTL級描述轉(zhuǎn)換成了門級網(wǎng)表,但在FPGA設(shè)計流程中,
依然有多個階段可以對設(shè)計進行優(yōu)化與調(diào)整。例如,在布局布線階段發(fā)現(xiàn)時序問題時,
可以通過調(diào)整約束條件、優(yōu)化算法等手段來修正問題而不需要從頭開始整個編譯流程。
6、UVM(UniversalVerificationMethodology)中的序列項(sequenceitem)
只能單獨使用,不能組合成序列(sequence)來創(chuàng)建復(fù)雜的測試場景。
答案:錯誤。
解析:UVM中的序列項是構(gòu)成測試向例的基本單元,它們通常會被組合成序列,以
此來創(chuàng)建更加復(fù)雜和現(xiàn)實的測試場景。通過序列,可以控制序列項的生成順序,并且能
夠插入自定義的行為,如等待、重置等,從而使得測試向例更加靈活和強大。
7、IC驗證工程師在進行驗證工作時,通常需要編寫大量的驗證測試序列(VTS),
以確保芯片的功能正確無誤。
答案:正確
解析:1C驗證工程師的主要工作之一就是編寫和執(zhí)行驗證測試序列,這些測試序
列是用來模擬芯片在各種可能的工作條件下的行為,以確保芯片的設(shè)計符合預(yù)期功能。
因此,編寫大量的VTS是IC驗證工程師日常工作的一部分。
8、在IC驗證過程中,使用斷言(Assertion)可以有效地檢測到設(shè)計中的潛在錯
誤,但斷言本身并不能完全保證芯片設(shè)計的正確性。
答案:正確
解析:斷言是驗證過程中用來檢測設(shè)計行為是否滿足特定條件的一種工具。雖然斷
言可以幫助驗證工程師發(fā)現(xiàn)設(shè)計中的錯誤,但它們并不是萬能的。設(shè)計中的錯誤可能因
為多種原因而未能通過斷言檢測,例如,斷言可能沒有覆蓋到所有可能的錯誤情況,或
者錯誤可能發(fā)生在斷言檢查之外。因此,盡管斷言是驗證過程中的重要組成部分,但它
們不能保證芯片設(shè)計的完全正確性。
9、在1C驗證過程中,覆蓋率是衡量驗證完備性的唯一標準。
答案:錯誤
解析:雖然覆蓋率是衡量驗證完備性的重要指標之一,但它并不是唯一的標準。覆
蓋率可以幫助驗證工程師浜別哪些代碼或功能已被測試,但它無法直接證明設(shè)計的正確
性,也無法確保所有潛在的錯誤都已被發(fā)現(xiàn)。驗證的完備性還需要結(jié)合其他驗記方法和
技術(shù),如仿真、斷言、形式驗證等,以及驗證工程師的經(jīng)驗和專業(yè)知識來進行綜合評估。
10、在SystemVerilog中,所有的接口(interface)都可以直接實例化,無需聲
明為類型。
答案:錯誤
解析:在SystemVerilog中,接口(interface)是一種特殊的類,它定義了一組
信號和可選的任務(wù)(task)與函數(shù)(function),用于在模塊之間傳遞信號和通信。與
普通的類不同,接口在實例化時需要使用其類型名稱來聲明一個實例,而不能直接實例
化。例如,如果你定義了一個名為my_intcrfacc的接口,那么在實例化時需要這樣寫:
my_interface而不是直接像實例化模塊那樣寫。因此,題目中的說法“所
有的接口都可以直接實例化,無需聲明為類型”是錯誤的。
四、問答題(本大題有2小題,每小題10分,共20分)
第一題
題目:
請解釋什么是邊界掃描(BoundaryScan)技術(shù),并簡述其在集成電路(IC)設(shè)計
中的主要應(yīng)用及其優(yōu)點。
答案與解析:
邊界掃描技術(shù)(BoundaryScanTechnology,BST),也稱為JTAG技術(shù)(得名于其
標準IEEE1149.1的聯(lián)合測試行動組JointTestActionGroup),是一種用于測試和
調(diào)試集成甩路的硬件設(shè)計方法。它通過在芯片內(nèi)部設(shè)計專用的測試訪問端口(Test
AccessPort,TAP)控制器以及一系列邊界寄存器來實現(xiàn)對芯片內(nèi)部信號的監(jiān)控與控制。
主要應(yīng)用包括但不限于:
1.故障檢測:通過邊界寄存器來檢測連接錯誤或元件故障;
2.在線編程:允許通過
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