C61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)序文 11適用範(fàn)囲及び概要 11.1適用範(fàn)囲 1 12兒裝置 2 24個別規(guī)格に規(guī)定する事項 5C61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)この規(guī)格は,工業(yè)標準化法第12條第1項の規(guī)定に基づき,一般財団法人光産業(yè)技術(shù)振興協(xié)會(OITDA)及び一般財団法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)から,工業(yè)標準原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を制定すべきとの申出があり,日本工業(yè)標準調(diào)查會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が制定した日本工業(yè)規(guī)格である。この規(guī)格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大臣及び日本工業(yè)標準調(diào)査會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認について,責(zé)任はもたない。JISC61300の規(guī)格群には,次に示す部舢成がある。JISC61300-1第1部:通則JISC61300-2-2第2-2部:繰返しかん合試験JISC61300-2-12第2-12部：落下街緊試驗JISC61300-2-14第2-14部:光パワ一損傷のしきい値試験JISC61300-2-15第2-15部:黏合部ねじり試験JISC61300-2-17第2-17部:低溫試験JISC61300-2-18第2-18部:高溫試験JISC61300-2-19第2-19部:高溫高濕試験(定常狀態(tài))JISC61300-2-22第2-22部:溫度サイクル試験JISC61300-2-45第2-45部:浸水試験JISC61300-2-46第2-46部:濕熱サイクル試験JISC61300-2-47第2-47部:熱衝撃試験JISC61300-2-48第2-48部:溫濕度サイクル試験JISC61300-3-2第3-2部:シングルモード光デバイスの光損失の偏光依存性JISC61300-3-3第3-3部:插人損失及び反射減衰量変化のモ二タ方法JISC61300-3-4第3-4部:損失測定JISC61300-3-6第3-6部:反射減衰量測定JISC61300-3-15第3-15部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の頂點偏心量測定JISC61300-3-16第3-16部:球面研磨光ファイバコネクタのフェルール端面の曲率半徑測定JISC61300-3-26第3-26部:光ファイバとフェルール軸との角度ずれの測定JISC61300-3-28第3-28部:過渡損失測定JISC61300-3-30第3-30部:多心光ファイバコネクタ用フェルールの研磨角度及び光ファイバ位置測定JISC61300-3-31第3-31部:光ファイバ光源の結(jié)合パワー比測定JISC61300-3-36第3-36部:光ファイバコネクタフェルールの內(nèi)徑及び外徑の測定日本工業(yè)規(guī)格JISC61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)基本試験及び測定手順一第3-27部:andmeasurementprocedures—Part3-27:Measurementmethodfortheholelocationofamultiwayconnectorplug序文この規(guī)格は,1997年に第1版として発行されたIEC61300-3-27を基に,技術(shù)的內(nèi)容及び構(gòu)成を変更するなお,この規(guī)格で點線の下線を施してある?yún)⒖际马棨?対応國際規(guī)格にはない事項である。IEC61300-3-27:1997,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-27:Examinationsandmeasurements—Measurementmethodfortheholelocationofamultiwayconnectorplug(IDT)なお,対応の程度を表す記號“IDT”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“一致している”こにあるプラグ端面中心から規(guī)定の距離だけ離れた位置の點として規(guī)定する(図1參照)。プラグ端面の次の寸法は,コネクタの機械的及び光學(xué)的性能を満たすために正確に測定しなければなら2C61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)これらの寸法は,畫像処理技術(shù)を用いた非接觸測定機器によって測定する。&図1一距離(L)及び位置ずれ(P)の定義次の裝ǔで構(gòu)成する。a)CCD力メラ付き頭微鏡(CCD)b)畫像処理裝置(I)d)拡散照明が可能な光源(LAMP)f)可動臺駆動裝置(SD)穴位置の計算は,次の方法によって,それぞれの穴位置測定ごとに行っても,全ての穴位置測定の最3C61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)MlCCD測長器(DM)SDSD光源(LAMP)光源(LAMP)CPU(CPU)CPU図2ーコネクタ穴位置の測定裝置例3.2通電後,測定裝置の溫度が安定するまで十分な時間をとる。3.3可動臺(S)の上にプラグのガイドピン穴の中心軸が可動臺のX-Y面に対して垂直になるようにプ3.4ガイドピン穴及び光ファイバ插入穴を照明する。3.5測長器(DM)を使ってステージの原點を決めて記録する。畫像処理裝置(I)を使ってモニタ畫面上の(X,Y)マーカを表示する?？蓜优_を動かしたとき,モニタ畫面上の(X,Y)座標は可動臺の移動によ3.6測定対象のガイドピン穴がモニタ畫面上で観測できるように可動臺を移動する。3.7一方のガイドピン穴畫像の円周上の3點以上の(X,Y)位置を記録する。円周上の測定點に対して計4YO>XL(Xi.%)(Xp,Y2)(XYai)YX(Xp.Y)/L(XY)\(XY)図4一光ファイバ揮入穴中心の基準位置の決定3.11モ二タ上で測定対象の光ファイバ捕入穴の像を観測できるように可動臺を移動する。3.12それぞれの光ファイバ插入穴畫像の円周上の3點以上の座標(X,Y)を記録する。円周上の測定點にC61300-3-27:2012(IEC61300-3-27:1997)((XY