192.三維表征分析技術(shù)應(yīng)用試卷第一類型題：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題（共30題，每題1分）1.三維表征分析技術(shù)主要用于研究什么？A.二維圖像B.一維光譜C.三維結(jié)構(gòu)D.四維動(dòng)態(tài)2.下列哪項(xiàng)不是三維表征分析技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域？A.材料科學(xué)B.生物醫(yī)學(xué)C.地質(zhì)勘探D.天文觀測(cè)3.三維表征分析技術(shù)中，哪個(gè)方法主要用于獲得材料的表面形貌？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振4.下列哪項(xiàng)技術(shù)主要用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)？A.掃描電子顯微鏡B.原子力顯微鏡C.X射線衍射D.核磁共振5.三維表征分析技術(shù)中，哪個(gè)方法主要用于研究材料的成分分布？A.X射線熒光光譜B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振6.下列哪項(xiàng)技術(shù)主要用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振7.三維表征分析技術(shù)中，哪個(gè)方法主要用于研究材料的表面化學(xué)狀態(tài)？A.X射線光電子能譜B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振8.下列哪項(xiàng)技術(shù)主要用于研究材料的電子結(jié)構(gòu)？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振9.三維表征分析技術(shù)中，哪個(gè)方法主要用于研究材料的原子排列？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振10.下列哪項(xiàng)技術(shù)主要用于研究材料的分子結(jié)構(gòu)？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振第二類型題：多項(xiàng)選擇題（共20題，每題2分）11.三維表征分析技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域包括哪些？A.材料科學(xué)B.生物醫(yī)學(xué)C.地質(zhì)勘探D.天文觀測(cè)12.下列哪些方法屬于三維表征分析技術(shù)？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振13.三維表征分析技術(shù)中，哪些方法主要用于研究材料的表面形貌？A.掃描電子顯微鏡B.原子力顯微鏡C.X射線光電子能譜D.X射線熒光光譜14.下列哪些技術(shù)主要用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振15.三維表征分析技術(shù)中，哪些方法主要用于研究材料的成分分布？A.X射線熒光光譜B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振16.下列哪些技術(shù)主要用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振17.三維表征分析技術(shù)中，哪些方法主要用于研究材料的表面化學(xué)狀態(tài)？A.X射線光電子能譜B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振18.下列哪些技術(shù)主要用于研究材料的電子結(jié)構(gòu)？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振19.三維表征分析技術(shù)中，哪些方法主要用于研究材料的原子排列？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振20.下列哪些技術(shù)主要用于研究材料的分子結(jié)構(gòu)？A.X射線衍射B.掃描電子顯微鏡C.原子力顯微鏡D.核磁共振第三類型題：判斷題（共20題，每題1分）21.三維表征分析技術(shù)主要用于研究二維圖像。22.掃描電子顯微鏡主要用于獲得材料的表面形貌。23.X射線衍射主要用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)。24.X射線熒光光譜主要用于研究材料的成分分布。25.原子力顯微鏡主要用于研究材料的表面化學(xué)狀態(tài)。26.核磁共振主要用于研究材料的電子結(jié)構(gòu)。27.三維表征分析技術(shù)中，X射線衍射主要用于研究材料的原子排列。28.掃描電子顯微鏡主要用于研究材料的分子結(jié)構(gòu)。29.原子力顯微鏡主要用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)。30.X射線熒光光譜主要用于研究材料的表面化學(xué)狀態(tài)。第四類型題：簡(jiǎn)答題（共2題，每題5分）31.簡(jiǎn)述掃描電子顯微鏡在三維表征分析技術(shù)中的應(yīng)用。32.簡(jiǎn)述X射線衍射在三維表征分析技術(shù)中的應(yīng)用。附標(biāo)準(zhǔn)答案：第一類型題：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題1.C2.D3.B4.C5.A6.B7.A8.D9.A10.A第二類型題：多項(xiàng)選擇題11.A,B,C12.A,B,C,D13.A,B14.A15.A16.B,C17.A18.D19.A20.A第三類型題：判斷題21.×22.√23.√24.√25.×26.√27.√28.×29.×30.×第四類型題：簡(jiǎn)答題31.掃描電子顯微鏡主要用于獲得材料的表面形貌，通過高能電子束與材料表面相互作用，產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào)，從而形成高分辨率的表面圖像。廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域，可以詳細(xì)觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)和表面特征。32.X射線衍