• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2025-12-23 頒布
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【正版授權(quán)-法語(yǔ)版】 IEC 60749-26:2025 FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)_第1頁(yè)
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基本信息：

  • 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：IEC 60749-26:2025 FR
  • 標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件-機(jī)械和氣候測(cè)試方法-第26部分：靜電放電(ESD)靈敏度測(cè)試-人體模型(HBM)
  • 英文名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
  • 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
  • 發(fā)布日期：2025-12-23

文檔簡(jiǎn)介

靜電放電（ESD）敏感性測(cè)試方法-人體模型（HBM）

IEC60749-26:2025FR標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行機(jī)械和氣候測(cè)試的重要部分，特別是在進(jìn)行ESD敏感性測(cè)試時(shí)。它詳細(xì)規(guī)定了進(jìn)行這種測(cè)試的方法和要求。

1.設(shè)備準(zhǔn)備：在進(jìn)行ESD敏感性測(cè)試之前，需要準(zhǔn)備適當(dāng)?shù)脑O(shè)備，包括靜電發(fā)生器、人體模型、接地墊、溫度和濕度控制系統(tǒng)等。

2.測(cè)試環(huán)境：測(cè)試應(yīng)在特定的溫度和濕度環(huán)境下進(jìn)行，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。通常，環(huán)境溫度應(yīng)在15℃到30℃之間，相對(duì)濕度應(yīng)在10%到75%之間。

3.測(cè)試步驟：測(cè)試步驟包括將半導(dǎo)體器件放置在人體模型上，并將人體模型接地。靜電發(fā)生器產(chǎn)生靜電放電，然后檢查半導(dǎo)體器件是否受到ESD的影響。

4.結(jié)果評(píng)估：根據(jù)測(cè)試結(jié)果，可以評(píng)估半導(dǎo)體器件的ESD敏感性。如果器件在測(cè)試中沒(méi)有受到ESD的影響，則認(rèn)為其具有足夠的ESD抗性。如果器件受到ESD影響，則需要進(jìn)行進(jìn)一步的故障分析以確定問(wèn)題所在。

IEC60749-26:2025FR標(biāo)準(zhǔn)提供了詳細(xì)的測(cè)試方法和要求，以確保半導(dǎo)體器件在制造、運(yùn)輸和使用過(guò)程中能夠抵抗靜電放

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