2026年EMI現(xiàn)場測試流程與工程實踐一、單選題（共15題，每題2分，合計30分）1.在2026年EMI現(xiàn)場測試中，選擇測試頻率范圍時，優(yōu)先考慮的頻段是？A.30MHz-300MHzB.300MHz-3GHzC.3GHz-30GHzD.30GHz-300GHz2.現(xiàn)場EMI測試中，屏蔽室的主要作用是？A.提高測試精度B.防止外界電磁干擾C.減少測試成本D.以上都是3.當(dāng)測試設(shè)備無法直接接觸被測設(shè)備時，應(yīng)采用哪種測試方法？A.近場探頭測試B.遠場天線測試C.毫伏表測量D.示波器觀測4.2026年新規(guī)中，對移動設(shè)備的輻射發(fā)射限值要求？A.比舊標(biāo)準(zhǔn)提高20%B.比舊標(biāo)準(zhǔn)降低10%C.與舊標(biāo)準(zhǔn)相同D.以上都不對5.現(xiàn)場EMI測試中，使用屏蔽布的主要目的是？A.提高測試靈敏度B.防止電磁泄漏C.美化測試環(huán)境D.以上都是6.當(dāng)測試中發(fā)現(xiàn)諧波超標(biāo)時，應(yīng)優(yōu)先檢查？A.電源線B.接地線C.整流電路D.驅(qū)動電路7.2026年EMI測試中，對低頻磁場測試的要求？A.使用高靈敏度探頭B.使用低頻磁環(huán)C.使用遠場天線D.以上都是8.現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)傳導(dǎo)騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查？A.電源線B.接地線C.整流電路D.以上都是9.在EMI測試中，使用頻譜分析儀的目的是？A.測量信號幅度B.分析信號頻譜C.檢測諧波成分D.以上都是10.當(dāng)測試環(huán)境電磁干擾嚴重時，應(yīng)采取？A.使用屏蔽布B.移動測試位置C.使用濾波器D.以上都是11.2026年EMI測試中，對高頻場測試的要求？A.使用近場探頭B.使用遠場天線C.使用高增益放大器D.以上都是12.現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)靜電放電騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查？A.外殼接地B.人體接觸點C.靜電消除裝置D.以上都是13.在EMI測試中，使用場強儀的目的是？A.測量電場強度B.測量磁場強度C.檢測電磁泄漏D.以上都是14.當(dāng)測試設(shè)備精度不足時，應(yīng)采?。緼.更換更高精度設(shè)備B.提高測試環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)C.使用校準(zhǔn)工具D.以上都是15.2026年EMI測試中，對測試報告的要求？A.包含測試數(shù)據(jù)B.包含測試環(huán)境C.包含整改建議D.以上都是二、多選題（共10題，每題3分，合計30分）1.現(xiàn)場EMI測試中，哪些因素會影響測試精度？A.測試環(huán)境B.測試設(shè)備C.操作人員D.被測設(shè)備2.當(dāng)測試中發(fā)現(xiàn)輻射發(fā)射超標(biāo)時，應(yīng)優(yōu)先檢查？A.天線位置B.接地線C.整流電路D.驅(qū)動電路3.在EMI測試中，使用屏蔽布的主要目的是？A.提高測試靈敏度B.防止電磁泄漏C.美化測試環(huán)境D.以上都是4.現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)傳導(dǎo)騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查？A.電源線B.接地線C.整流電路D.驅(qū)動電路5.2026年EMI測試中，對低頻磁場測試的要求？A.使用高靈敏度探頭B.使用低頻磁環(huán)C.使用遠場天線D.以上都是6.當(dāng)測試環(huán)境電磁干擾嚴重時，應(yīng)采??？A.使用屏蔽布B.移動測試位置C.使用濾波器D.以上都是7.在EMI測試中，使用頻譜分析儀的目的是？A.測量信號幅度B.分析信號頻譜C.檢測諧波成分D.以上都是8.現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)靜電放電騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查？A.外殼接地B.人體接觸點C.靜電消除裝置D.以上都是9.在EMI測試中，使用場強儀的目的是？A.測量電場強度B.測量磁場強度C.檢測電磁泄漏D.以上都是10.當(dāng)測試設(shè)備精度不足時，應(yīng)采取？A.更換更高精度設(shè)備B.提高測試環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)C.使用校準(zhǔn)工具D.以上都是三、判斷題（共20題，每題1分，合計20分）1.現(xiàn)場EMI測試中，屏蔽室必須符合國際標(biāo)準(zhǔn)。（√）2.輻射發(fā)射測試中，天線高度必須高于地面1米。（√）3.傳導(dǎo)騷擾測試中，被測設(shè)備必須連接到電源線。（√）4.低頻磁場測試中，使用遠場天線效果更好。（×）5.現(xiàn)場測試中，屏蔽布可以完全消除電磁干擾。（×）6.2026年新規(guī)中，對移動設(shè)備的輻射發(fā)射限值要求比舊標(biāo)準(zhǔn)提高20%。（×）7.當(dāng)測試中發(fā)現(xiàn)諧波超標(biāo)時，應(yīng)優(yōu)先檢查電源線。（√）8.現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)傳導(dǎo)騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查接地線。（√）9.在EMI測試中，使用頻譜分析儀的目的是測量信號幅度。（×）10.當(dāng)測試環(huán)境電磁干擾嚴重時，應(yīng)采取使用屏蔽布。（√）11.2026年EMI測試中，對高頻場測試的要求是使用近場探頭。（×）12.現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)靜電放電騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查外殼接地。（√）13.在EMI測試中，使用場強儀的目的是檢測電磁泄漏。（√）14.當(dāng)測試設(shè)備精度不足時，應(yīng)采取提高測試環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)。（×）15.2026年EMI測試中，對測試報告的要求是包含整改建議。（√）16.現(xiàn)場EMI測試中，屏蔽室必須接地良好。（√）17.輻射發(fā)射測試中，天線角度必須垂直于地面。（√）18.傳導(dǎo)騷擾測試中，被測設(shè)備必須處于工作狀態(tài)。（√）19.低頻磁場測試中，使用近場探頭效果更好。（√）20.現(xiàn)場測試中，屏蔽布可以完全消除電磁干擾。（×）四、簡答題（共5題，每題6分，合計30分）1.簡述現(xiàn)場EMI測試的基本流程。2.解釋2026年EMI測試新規(guī)的主要內(nèi)容。3.說明現(xiàn)場測試中，如何減少環(huán)境電磁干擾的影響？4.描述輻射發(fā)射測試和傳導(dǎo)騷擾測試的主要區(qū)別。5.列舉三種常見的EMI整改方法，并簡述其原理。五、論述題（共1題，15分）結(jié)合實際工程案例，論述2026年EMI現(xiàn)場測試中，如何有效識別和解決電磁干擾問題。答案與解析一、單選題答案與解析1.B解析：2026年EMI測試中，優(yōu)先考慮的頻段是300MHz-3GHz，該頻段涵蓋大多數(shù)無線通信頻段，對移動設(shè)備測試尤為重要。2.B解析：屏蔽室的主要作用是防止外界電磁干擾，確保測試環(huán)境的純凈性，提高測試精度。3.B解析：當(dāng)測試設(shè)備無法直接接觸被測設(shè)備時，應(yīng)采用遠場天線測試，該方法適用于大尺寸或遠距離測試。4.A解析：2026年新規(guī)中，對移動設(shè)備的輻射發(fā)射限值要求比舊標(biāo)準(zhǔn)提高20%，以適應(yīng)更高頻率的無線通信需求。5.B解析：現(xiàn)場EMI測試中，使用屏蔽布的主要目的是防止電磁泄漏，確保測試環(huán)境的純凈性。6.A解析：當(dāng)測試中發(fā)現(xiàn)諧波超標(biāo)時，應(yīng)優(yōu)先檢查電源線，因為電源線是諧波的主要傳播路徑。7.A解析：2026年EMI測試中，對低頻磁場測試的要求是使用高靈敏度探頭，以準(zhǔn)確測量低頻磁場強度。8.A解析：現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)傳導(dǎo)騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查電源線，因為電源線是傳導(dǎo)騷擾的主要傳播路徑。9.D解析：在EMI測試中，使用頻譜分析儀的目的是測量信號幅度、分析信號頻譜、檢測諧波成分等。10.D解析：當(dāng)測試環(huán)境電磁干擾嚴重時，應(yīng)采取使用屏蔽布、移動測試位置、使用濾波器等措施。11.B解析：2026年EMI測試中，對高頻場測試的要求是使用遠場天線，以準(zhǔn)確測量高頻電磁場強度。12.A解析：現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)靜電放電騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查外殼接地，以確保靜電荷能夠及時釋放。13.D解析：在EMI測試中，使用場強儀的目的是測量電場強度、測量磁場強度、檢測電磁泄漏等。14.A解析：當(dāng)測試設(shè)備精度不足時，應(yīng)采取更換更高精度設(shè)備，以確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。15.D解析：2026年EMI測試中，對測試報告的要求是包含測試數(shù)據(jù)、測試環(huán)境、整改建議等。二、多選題答案與解析1.A、B、C、D解析：現(xiàn)場EMI測試中，測試環(huán)境、測試設(shè)備、操作人員、被測設(shè)備都會影響測試精度。2.A、B、C、D解析：當(dāng)測試中發(fā)現(xiàn)輻射發(fā)射超標(biāo)時，應(yīng)優(yōu)先檢查天線位置、接地線、整流電路、驅(qū)動電路等。3.A、B、C、D解析：在EMI測試中，使用屏蔽布的主要目的是提高測試靈敏度、防止電磁泄漏、美化測試環(huán)境等。4.A、B、C、D解析：現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)傳導(dǎo)騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查電源線、接地線、整流電路、驅(qū)動電路等。5.A、B、C、D解析：2026年EMI測試中，對低頻磁場測試的要求是使用高靈敏度探頭、使用低頻磁環(huán)、使用遠場天線等。6.A、B、C、D解析：當(dāng)測試環(huán)境電磁干擾嚴重時，應(yīng)采取使用屏蔽布、移動測試位置、使用濾波器等措施。7.A、B、C、D解析：在EMI測試中，使用頻譜分析儀的目的是測量信號幅度、分析信號頻譜、檢測諧波成分等。8.A、B、C、D解析：現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)靜電放電騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查外殼接地、人體接觸點、靜電消除裝置等。9.A、B、C、D解析：在EMI測試中，使用場強儀的目的是測量電場強度、測量磁場強度、檢測電磁泄漏等。10.A、B、C、D解析：當(dāng)測試設(shè)備精度不足時，應(yīng)采取更換更高精度設(shè)備、提高測試環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)、使用校準(zhǔn)工具等措施。三、判斷題答案與解析1.√解析：屏蔽室必須符合國際標(biāo)準(zhǔn)，以確保測試環(huán)境的純凈性和測試結(jié)果的可靠性。2.√解析：輻射發(fā)射測試中，天線高度必須高于地面1米，以符合國際標(biāo)準(zhǔn)。3.√解析：傳導(dǎo)騷擾測試中，被測設(shè)備必須連接到電源線，以模擬實際工作狀態(tài)。4.×解析：低頻磁場測試中，使用近場探頭效果更好，因為近場探頭對低頻磁場更敏感。5.×解析：現(xiàn)場測試中，屏蔽布可以減少電磁干擾，但不能完全消除。6.×解析：2026年新規(guī)中，對移動設(shè)備的輻射發(fā)射限值要求比舊標(biāo)準(zhǔn)提高10%，以適應(yīng)更高頻率的無線通信需求。7.√解析：當(dāng)測試中發(fā)現(xiàn)諧波超標(biāo)時，應(yīng)優(yōu)先檢查電源線，因為電源線是諧波的主要傳播路徑。8.√解析：現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)傳導(dǎo)騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查接地線，因為接地線是傳導(dǎo)騷擾的主要傳播路徑。9.×解析：在EMI測試中，使用頻譜分析儀的目的是分析信號頻譜，而不僅僅是測量信號幅度。10.√解析：當(dāng)測試環(huán)境電磁干擾嚴重時，應(yīng)采取使用屏蔽布，以減少干擾。11.×解析：2026年EMI測試中，對高頻場測試的要求是使用遠場天線，因為遠場天線對高頻電磁場更敏感。12.√解析：現(xiàn)場測試中，若發(fā)現(xiàn)靜電放電騷擾超標(biāo)，應(yīng)優(yōu)先檢查外殼接地，以確保靜電荷能夠及時釋放。13.√解析：在EMI測試中，使用場強儀的目的是檢測電磁泄漏，以評估設(shè)備的EMI性能。14.×解析：當(dāng)測試設(shè)備精度不足時，應(yīng)采取更換更高精度設(shè)備，以提高測試精度。15.√解析：2026年EMI測試中，對測試報告的要求是包含整改建議，以幫助用戶改進設(shè)備的EMI性能。16.√解析：現(xiàn)場EMI測試中，屏蔽室必須接地良好，以確保測試環(huán)境的純凈性。17.√解析：輻射發(fā)射測試中，天線角度必須垂直于地面，以符合國際標(biāo)準(zhǔn)。18.√解析：傳導(dǎo)騷擾測試中，被測設(shè)備必須處于工作狀態(tài)，以模擬實際工作情況。19.√解析：低頻磁場測試中，使用近場探頭效果更好，因為近場探頭對低頻磁場更敏感。20.×解析：現(xiàn)場測試中，屏蔽布可以減少電磁干擾，但不能完全消除。四、簡答題答案與解析1.簡述現(xiàn)場EMI測試的基本流程答：現(xiàn)場EMI測試的基本流程包括：(1)準(zhǔn)備測試環(huán)境，確保屏蔽室或測試場符合標(biāo)準(zhǔn)；(2)連接測試設(shè)備，包括頻譜分析儀、天線、場強儀等；(3)激活被測設(shè)備，確保其處于正常工作狀態(tài)；(4)進行輻射發(fā)射測試和傳導(dǎo)騷擾測試；(5)記錄測試數(shù)據(jù)，分析測試結(jié)果；(6)編寫測試報告，提出整改建議。2.解釋2026年EMI測試新規(guī)的主要內(nèi)容答：2026年EMI測試新規(guī)的主要內(nèi)容包括：(1)提高移動設(shè)備的輻射發(fā)射限值，以適應(yīng)更高頻率的無線通信需求；(2)加強對低頻磁場測試的要求，確保設(shè)備對低頻電磁場的兼容性；(3)規(guī)范測試環(huán)境的標(biāo)準(zhǔn)，確保測試結(jié)果的可靠性；(4)完善測試報告的要求，增加整改建議的內(nèi)容。3.說明現(xiàn)場測試中，如何減少環(huán)境電磁干擾的影響答：現(xiàn)場測試中，減少環(huán)境電磁干擾的影響的方法包括：(1)使用屏蔽室或屏蔽帳篷，以減少外界電磁干擾；(2)選擇遠離電磁干擾源的測試位置；(3)使用濾波器，減少電源線上的傳導(dǎo)騷擾；(4)使用接地良好的測試設(shè)備，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。4.描述輻射發(fā)射測試和傳導(dǎo)騷擾測試的主要區(qū)別答：輻射發(fā)射測試和傳導(dǎo)騷擾測試的主要區(qū)別包括：(1)輻射發(fā)射測試測量設(shè)備向空間輻射的電磁能量，而傳導(dǎo)騷擾測試測量設(shè)備通過電源線傳導(dǎo)的電磁騷擾；(2)輻射發(fā)射測試使用天線進行測量，而傳導(dǎo)騷擾測試使用線路進行測量；(3)輻射發(fā)射測試的頻率范圍更廣，而傳導(dǎo)騷擾測試的頻率范圍較窄。5.列舉三種常見的EMI整改方法，并簡述其原理答：三種常見的EMI整改方法包括：(1)使用濾波器，濾波器可以阻止高頻信號通過電源線或信號線，減少傳導(dǎo)騷擾；(2)使用屏蔽罩，屏蔽罩可以阻擋電磁場的傳播，減少輻射發(fā)射；(3)改善接地，良好的接地可以減少設(shè)備的靜電荷積累，減少靜電放電騷擾。五、論述題答案與解析結(jié)合實際工程案例，論述2026年EMI現(xiàn)場測試中，如何有效識別和解決電磁干擾問題答：在2026年EMI現(xiàn)場測試中，有效識別和解決電磁干擾問題需要綜合考慮測試環(huán)境、測試設(shè)備、被測設(shè)備等多方面因素。以下結(jié)合實際工程案例進行論述：案例背景：某公司生產(chǎn)的智能手環(huán)在現(xiàn)場EMI測試中，發(fā)現(xiàn)輻射發(fā)射超標(biāo)，尤其是在300MHz-3GHz頻段。經(jīng)過初步分析，懷疑是手環(huán)的無線通信模塊導(dǎo)致的干擾。識別問題：1.測試環(huán)境：測試在屏蔽室中進行，但屏蔽室的接地存在輕微問題，導(dǎo)致外界電磁干擾進入測試環(huán)境。2.測試設(shè)備：頻譜分析儀的精度不足，無法準(zhǔn)確測量高頻信號。3.被