C2550-3:2011序文 11適用範囲 12引用規(guī)格 13用語及び定義 24交流磁気測定の一般的原理 3 34.2試験片 3 44.4空隙補償 54.5勵磁電源 54.6交流電圧測定 64.7交流電流測定 64.8周波數(shù)測定 64.9電力測定 65鉄損測定の手順 75.1測定回路 75.2測定の準備 75.3勵磁電源の調(diào)整 75.4電力の測定 g5.5鉄損の測定 85.6鉄損測定の再現(xiàn)性 g6磁束密度の波高値,磁界の強さの実効値,磁界の強さの波高値及び皮相電力の測定手順 96.1一般事項 96.2試験片 96.3測定原理 96.4再現(xiàn)性 附屬書A(參考)中間周波數(shù)で使用するエプスタイン試験器 附屬書JA(參考)試験片の切斷方法及び試験機器仕様 C2550-3:2011この規(guī)格は,工業(yè)標準化法第12條第1項の規(guī)定に基づき,一般社団法人日本電機工業(yè)會(JEMA)及び財団法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)から,工業(yè)標準原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を制定すべきとの申出があり,日本工業(yè)標準調(diào)查會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が制定した日本工業(yè)規(guī)格である。これによって,JISC2550:2000は廃止され,その一部を分割して制定したこの規(guī)格に置きこの規(guī)格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大臣及び日本工業(yè)標準調(diào)查會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実川新案権に閃わる確認について,真任はもたない。JISC2550の規(guī)格群には,次に示す部編成がある。JISC2550-1第1部:エプスタイン試験器によるJISC2550-2第2部：寸法·形狀の測定方法JISC2550-3第3部:中間周波磁気特性の測定方法JISC2550-4第4部:表絶緑抵抗の測定方法JISC2550-5第5部:電磁鋼帯の密度,抵抗率及び占積率の測定方法日本工業(yè)規(guī)格JIS電磁鋼帯試験方法一第3部:中間周波磁気特性の測定方法Testmethodsforelectricalsteelstripandsheet—Part3:Methodsofmeasurementofthemagneticpropertiesofelectricalsteelstripandsheetatmediumfrequencies序文この規(guī)格は,1988年に第1版として発行されたIEC60404-10を基とし,我が國で一般的となっている技術と整合させるため,技術的內(nèi)容を変更して作成した日本工業(yè)規(guī)格である。なお,この規(guī)格で側線又は點線の下線を施してある簡所は,対応國際規(guī)格を変更している事項である。変更の一覧表にその説明を付けて,附屬書JBに示す。1適用範囲この規(guī)格は,電磁鋼帯の中間周波數(shù)範囲(400Hz～10kHz)での交流勵磁下での磁気特性の測定方法に適用する。この規(guī)格の目的は,用語を定義し,電磁帯の磁気特性の測定方法を規(guī)定することにある。エプスタイン試験器は,いかなる等級の電磁鋼帯から採取した試験片にも適用できる。交流磁気特性は,誘起電圧が正弦波となる勵磁條件下(以下,磁束正弦波勵磁條件という。)において,磁束密度の波高値及び周波數(shù)を指定して測定する。測定は,(23±5)℃の周囲溫度において,消磁された試験片について行う注記この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC60404-10:1988,Magneticmaterials.Part10:Methodsofmeasurementofmagneticpropertiesofmagneticsheetandstripatmediumfrequencies(MOD)なお,対応の程度を表す記號“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”2引用規(guī)格引川規(guī)格は,その最新版(過を含む。)を適川する。JISC2550-5電磁鋼帯試験方法一第5部:電磁鋼帯の密度,抵抗率及び占積率の測定方法JISC2552無方向性密磁劍帶JISC2553方向性電磁鋼帯2C2550-3:20113用語及び定義この規(guī)格で川いる主な川語及び定我は,次による。磁界の強さ(magneticfieldstrength)試験片を磁化しようとする磁界の強さ。一般的に,磁界の強さHは,式(1)によって算出する。実効磁路長(effectivemagneticlength)磁界の強さが一様でない磁気回路を,全磁路にわたって一様と仮定して求めた,等価的な磁路の長さ。注記エプスタイン試験器では,0.94mを既定の値とする。磁束密度(magneticfluxdensity)一様に磁化された試験片の,単位斷面積當たりの磁束量。単位はテスラ(T)。磁気分極(magneticpolarization)一様に磁化された試験片の,単位斷面積當たりの磁化の強さ。単位はテスラ(T)。注記エプスタイン試験器において,二次コイルと空隙補償用の相互誘導器を用いて測定される値は,B=J+μ?Hの関係にある。電磁鋼帯などの高透磁率材料では,磁束密度Bと磁気分極Jとはほぼ等しい。我が國では,一般的に磁気分極と磁束密度とを區(qū)別せずに用いることが多い。実効質量(effectivemass)磁気回路を構成する鉄心のうち,実効磁路長に相當する長さの部分が鉄損に寄與するとして求めた,等価質量(4.3參照)。単位は(kg)?？障堆a償(airfuxcompensation)二次コイルの誘起電圧から,コイル內(nèi)に試験片がない狀態(tài)の二次コイルに誘起する電圧を差し引くこと正炫波磁束勵磁條件によって勵磁したときに,試験片中で消背されるエネルギーの,試験片の火効質3C2550-3:2011皮相電力(specificapparentpower)正弦波磁束勵磁條件によって勵磁したときの,勵磁電圧の実効値と勵磁電流の実効値との積を,試験片の実効質量で除した値(6.3.4參照)。単位は(VA/kg)。4交流磁気測定の一般的原理エプスタイン試験器は,一次コイル,二次コイル及び鉄心として組み立てられた試験片とで構成され,無負荷変圧器を形成する。この無負荷変圧器の交流磁気特性を,次に規(guī)定する方法に従い測定する。周波數(shù)範囲の最も高い領域では,特殊な構造のエプスタイン試験器(附屬書A參照)が必要な場合がある。この試験器では,巻線間の靜電容量が低く,コイルを支える巻棒材料の誘電損失が低い。4.2試験片試験片は,その端部が一枚ずつ交互に重なり合うようにして(図1參照),正方形に組み,長さと斷面積図1一試験片の長さが280mmの場合の試験片の端の交互積層方法(double-lappedjoints)試験片は,個別の製品規(guī)格(JIS.C.2552.…!!S.C.2553)の規(guī)定に従い採取する。注記試験片の切斷方法については,附屬書JAを參照。試験片は,著しいかえりが発生しない方法によって切斷し,特に指定がある場合には,対応する製品規(guī)格に従い熱処理態(tài)行う。試験片は,次の寸法とする。試験片の幅は土0.2mm以內(nèi),長さは土0.5mm以內(nèi)の許容差で切斷する。試験片を,圧延方向に対して平行又は直角に切斷する場合には,電磁鋼帯の緑を基準方向とする。指定された方向と実際に切斷された方向との角度は,次の許容差內(nèi)でなければならない。一方向性電磁鋼帯については,±1°一無方向性電磁鋼帯については,±5°平たんな試験片だけを用いる。測定に當たり,試験片の絶緑皮膜以外の絶緑物を付け加えてはならない。4C2550-3:2011てる(図2參照)。280280mm220*bmm≥190mmlm=0.94m4.4で指定される條件下で測定を行う場合,空隙磁束の補償のために,エプスタイン試験器に空隙補償用斷面をもち,粋內(nèi)の空間幅は32mmである。棒內(nèi)の空閲高さは約5mmを推奬する。C2550-3:2011一次及び二次コイルの巻數(shù)は,勵磁電源,測定機器及び周波數(shù)によって決まる個別の條件に合わせて設一次コイル及び二次コイルのそれぞれの総巻數(shù)は,一般に400Hz～10kHzの周波數(shù)範囲の試験に使用されている,200～360ターンを推奬するが,代表的な例として総巻數(shù)352ターンの試験樺の仕様を表JA.1波形のひずみを避け,內(nèi)部電圧降下を最小限に抑えるために,巻線のインピーダンスを十分小さくする。磁気回路の実効磁路長mは0.94mを既定の値とする。したがって,試験片の磁気的に等価な質量である実効質量mは,式(3)から算出する。lm:実効磁路長(m),m=0.94!:試験片の長さ(m)m:試験片の合計質量(kg)4.4空隙補償1000A/m以上の磁界の強さでは,空隙磁束の補償を実施しなければならない。低周波數(shù)(1000Hz以下)空隙補償川の相!秀增器時，4のA兒E用れた空Nの中心に配L,機工透說器の燭は,4の又イルの軸が作る平面に対して無真とする.…相互誘導器の一次ヨイルは…エプス名イン貳験器の一次ヨイルに真列に接続し.….相互誘導器の二次ヨイルは…エプス名イン貳験器の二次ヨイルに.…逆極性で真烈に接続相互誘導器のインダクタンスの値は,エプスタイン試験器のコイルに試験片を插入していない狀態(tài)で,エプスタイン試験器の巻線のインダクタンスと等しくなるように調(diào)整場合,勵磁電流によって相互誘導器の二次コイル內(nèi)に誘起される電圧が,勵磁電流に起因する空隙磁束によって,空のエプスタイン試験器の二次コイル內(nèi)に誘起される電圧を補償する。4.5勵磁電源勵磁電源は,インピーダンスが低く,電圧及び周波數(shù)の安定性の高いものを使用する。測定時において,電圧及び周波數(shù)の変動は,±0.2%を超えてはならない。鉄損,皮相電力及び磁界の強さの実効値を測定する場合には,二次電圧の波形率は1.10%～1.12%1と注記1二次電圧の波形率の制御には,幾つかの方法がある。例えば,電子的に制御された電源,又は負帰還制御が行える電源増幅器の使用などがある。二次電圧の波形率は,二次電圧の実効値の整流平均値に対する比率である。注1IEC規(guī)格では“1.11±1%”と表記している...波形率の測定には,実効値交流電圧計及び平均值形交流電圧計を使用する。注記2二次電圧の波形をオシロスコープで調(diào)べ,基本波以外の成分を含まないことを確認すること6C2550-3:20114.6交流電圧測定エプスタイン試験器の二次出圧は,入カインピーダンス1000Ω/V以上の,交流花圧計を使川して測定±0.5%以內(nèi)の精度の整流平均値に応答する電圧計で測定し,二次回路上の負荷をできる限り小さくする。注記1この種類の計器は一般に,整流平均値の1.111倍で目盛られている。注記2元ジ久兒電壓計が望志L..4.6.2實効值交流電壓計土0.5%以內(nèi)の精度の,実効値に応答する電圧計を使用する。注記元ジ夕兒電壓計が望杰L。4.6.2A_波高值交流電壓計±2.5%以內(nèi)の精度の,波高值に応答する電壓計を使用する。.4.7交流電流測定次のいずれかの方法で,勵磁電流の実効値を測定する。一±0.5%以內(nèi)の精度の,低インピーダンスの実効値電流計一一次コイルに直列に接続した無誘導精密抵抗器両端の電圧降下を,実効値電圧計で測定する。抵抗器と電圧計の総合的な不確かさは1%以下とする。二次電圧を調(diào)整し,損失を測定する場合には,電流計と精密抵抗器との各々を短絡する。高感度の波高値電圧計,又は校正済みのオシロスコープで,一次コイルに直列に接続した無誘導精密抵抗器両端の甕圧降下の波高値を測定する。使川する裝iのフルスケール思差を±3%以下とする。±0.5%以內(nèi)の精度の,既知の値の無誘導精密抵抗器を使用する。抵抗値は,波高破心圧汁の感度に応じて送定する。誘起出圧波形のひず(爪)みを最小限に抑えるため,土0.5%以內(nèi)の精度の,校正された相互誘導器を使用する。相互誘導器の一次インピーダンスはできる限り低くする。誤差を最小限に抑えるために,相互誘導器に接続される測定計器のインピーダンスと比較し相互誘導器の校正及び使用中は,エプスタイン試験器又は他の裝置の漏れ磁束によって測定が影響され4.8周波數(shù)測定土0.2%以內(nèi)の精度の,周波數(shù)計を使用する。4.9電力測定電力は,実際の測定時の周波數(shù),力率及び波高率において±0.5%以內(nèi)の精度の電力計で測定する?？赡茈娏τ嫟坞妶R回路の抵抗は,全範囲について,100ΩV以上とする。必要に応じて,二次回路內(nèi)の損失を表示された損失の値から差し引く。また,電圧回路のリアクタンスを補償している電力計を除き,電力C2550-3:20115鉄損測定の手順5.1測定回路鉄損は,図3に示した回路を用いて,電力計によって測定する。AAH9W-一次34ル3武驗片二次MHz:周波數(shù)計M:空隙福假用の相秀尊器図3一電力計による測定回路5.2測定の準備試験片の合計質量を士0.1%以內(nèi)の精度で測定する。ひょう(秤)量後,エプスタイン試験器のコイル內(nèi)に試験片を揮入し,角部で1枚ずつ交互に重なり合うように積層する。この際,エプスタイン試験器の各辺內(nèi)の試験片の枚數(shù)は同ーとし,試験片で形成される正方形の內(nèi)側の長さが220。mmになるようにする。試験片の半數(shù)を圧延方向と平行に切斷し,半數(shù)を直角に切斷する場合は,圧延方向に平行に切斷した試験片を,エプスタイン試験器の向かい合う辺に捕入し,直角に切斷した試験片を,他の二つの辺に捕入する。試験片が重なり合った部分において,試験片の間の隙間はできる限り狹くない。それぞれの角部には,重なり合った試験片の表面に垂直に,約1Nの力をかけてもよい。次に,試験片は,前の測定に使用したものよりも高い初期磁場から,減衰する交流磁場で消磁する。5.3勵磁電源の調(diào)整 勵磁電源は,エプスタイン試験器の二次電圧の整流平均値U|2|が所要値に達するまで,徐々に出力を増加させる。この間,一次回路內(nèi)の電流計を観察し,電力計の電流回路が過負荷にならないように注意する。この値は,磁束密度の所要値から,式(4)によって算出する。乙乙に,D2::二次コイルに誘起された電圧の整流平均値(V)f:M波數(shù)(Hz)R:二次回路內(nèi)の計器の合成抵抗(Ω)R:二次コイルと相互誘導器の直列抵抗(Q)A:各コイルに揮入された試験片の斷面積(m2)J:磁束密度の波高值(T)注記二次コイル誘起電圧を,実効値表示された平均値形電圧計の読みを用いる場合は式(4)の係數(shù)を8C2550-3:20114.444匕寸石必要爐南石。式(4)の定數(shù)走4.444匕Lた式を次に示す。試驗片の斷面積仗,式(5)億X石。乙乙億,A:試驗片の斷面租(m2)m:試驗片の合計質量(kg)Pm:試驗片の密度,又仗.MSC.2550-5億徉→て測定之札憶值5.4電力の測定一次川路內(nèi)の化流汁走知絡L,必要億応Cて二次出圧走山調(diào)整寸石。二次心圧の波形率走4.5億徉→て判定L,電力計の謊取n值走記緑寸石。注記試驗片の過熱走避壙,容易億再現(xiàn)できるように,エ才又久イY試驗器億通電L憶後仗,で寺石限n迅速億測定走尖施寸石。測定中仗試驗片走冷卻寸石乙匕爐望支L」?；χ瓋|X→て測定之札憶出力Pm仗,二次川路內(nèi)の計器億X→て消背之札憶化力走含hで」石。二次電圧仗基本的億正弦波狀で南石憶的,乙の電力仗一次近似で仗(.1xzf/&憶等L」。L憶爐→て,試驗片の合計損失算出值Pe仗,式(6億X→て算出寸石。乙乙億,Pe:試驗片の合計損失N?:二次彐イ兒の您卷數(shù)Pm:密力汁億X→て測定之札憶準力(W)P2:二次彐イ兒內(nèi)で誘起之札憶電圧の整流後の平均值(V)R:二次回路內(nèi)の計器の合成抵抗(2)參照)。乙乙億,P:試驗片のPe:試驗片の合計損失算出值(W)m:試驗片の害劾質量(kg)l:試驗片の長之(m)lm:害劾磁路長(m),m=0.94m:試驗片の合計質量(kg)5.6鉄損測定の再現(xiàn)性乙の項億記述L憶手順扒5得5札石結果の再現(xiàn)性仗,使用寸石周波數(shù)及述磁束密度億X→て變化Lて,2%～5%の相対標準偏差匕辦女之札石。C2550-3:20116磁束密度の波高値,磁界の強さの実効値,磁界の強さの波高値及び皮相電力の測定手順6.1一般事項この項目では,次の特性を判定するための測定方法を記述する。H一磁界の強さの波高値一皮相電力S8これらの方法によって測定される値は,規(guī)定の磁束密度の波高値及び周波數(shù)に依存する。6.2試験片6.3測定原理6.3.1磁束密度の波高值磁棗密度の波高値」は,簡條5に記述したように,測定された二次電圧の整流平均値から,5.3の式(4)注記二次コイル誘起電圧を,実効値表示された平均値形電圧計の読みを用いる場合は式(4)の係數(shù)を4.444とする必要がある。式(8)の定數(shù)を4.444とした式を次に示す。ここに,j:磁束密度の波高値(T)f:周波數(shù)(Hz)A:試験片の斷面積(m2)T2:二次コイル內(nèi)で誘起された電圧の整流平均値(V)R:二次回路內(nèi)の計器の合成抵抗(Q)R:二次コイルと相互誘導器の直列抵抗(Q)6.3.2磁界の強さの実効値磁界の強さの災効値は,図4に示す川路內(nèi)の失効值交流心流汁によって測定される勵磁ǔ流の失効低か図4一磁界の強さの実効値の測定回路磁界の強さの実効値は,勵磁電流の実効値から式(9)によって算出する。C2550-3:2011対応するうとFとの組合せが幾つか測定された後に,1に対するjの磁化曲線を描くことができる。6.3.3磁界の強さの波高値磁界の強さの波高値は,次のいずれかの方法によって測定される,勵磁電流の波高値1,から求める。a)方法A勵磁準流の波高們は,図5に示す回路の波高值準壓汁を川いて,既知の精密抵抗器Rの雨端に生じる電圧降下üαを測定する。図5一波高値電圧計を用いた磁界の強さの波高値の測定回路磁界の強さの波高値は,波高値電圧計の読みügから,式(10)によって算出する。N?:エプスタイン試験器の一次コイルの総巻數(shù)R?:精密抵抗器の抵抗値(Q)lm:実効磁路長(m),Lm=0.94UR:波高值電壓計の読み(V)b)方法B勵磁電流の波高値「,は,図6に示す回路の平均値形交流電圧計を用いて,相互誘導器M?のC2550-3:2011図6一相互誘導器Mμを用いた磁界の強さの波高値の測定回路注記1この方法では,相互誘導器の二次コイルの電圧波形に,1周期當たり2か所を超えるゼロ交差點がある場合を除き,平均値形交流電圧計は,工プスタイン試験器の二次電圧の測定この方法では,磁界の強さの波高値は,相互誘導器Moに接続した平均値形交流電圧計の読みUm]かここに,古:磁界の強度の波高値(A/m)Rm:M?の二次コイルの抵抗(Ω) R2:平均値形交流電圧計の內(nèi)部抵抗(Ω) Va:Mの二次コイルに誘起される電圧の整流平均値(V)注記2二次コイル誘起電圧を,実効値表示された平均値形電圧計の読みを用いる場合は式(4)の係數(shù)を4.444とする必要がある。式(11)の定數(shù)を4.444とした式を次に示す。注記3比透磁率は,慣例的に,次のように表される。皮相電力は,式(12)によって算出する。ü2:エプスタイン試験器の二次電圧の実効値(V)注記正弦波電圧の場合だけに,潤2=1.111-|T2|の関係が成り立つ。磁束密度と周波數(shù)の所要の値に対して,勵磁電流の実効値(6.3.2參照)とエブスタイン試験器の二次電圧の実効值を測定する。二次電圧の実効値は,4.6の要求事項に適合する電圧計を,エプスタイン試験器のC2550-3:2011二次コイルの両端に接続して測定する。式(3)に従い,Sを実効質比で除すと1kg當たりの皮機電力が式(13)から算出できる。m:試験片の合計質量(kg)?1:勵磁電流の実効值(A)V2:二次コイルの誘起電圧の整流平均値(V)l:試験片の長さ(m)m?:試験片の実効質量(kg)lm:実効磁路長(m),m=0.946.4再現(xiàn)性この項で記述した手順から得られる結果の再現(xiàn)性は,測定に用いた計器の精度及び試験片の組立て(4.2及び4.3參照)などによって本質的に変化する?！?.5%以內(nèi)の精度の計器を使用する場合には,再現(xiàn)性は,3%程度の相対標準偏差であるとみなされる。C2550-3:2011附屬書A中間周波數(shù)で使用するエプスタイン試験器中間周波數(shù)では,巻樺に使用する材料の誘電損失とエプスタイン試験器の巻線間の靜電容量から発生す誘電率が低い材料を選択することによって,誘電損失を無視できる程度に低減することができる。ポリスチレンはこれに適した材料であり,容易に切斷·接著し,エプスタイン試験器の巻棒,端子ポスト及び中間周波數(shù)での測定は,一般的に,比較的低い磁束密度で作動する低鉄損材料に限定されるため,巻線のターン數(shù)と線徑を低減することができる。また,一次コイル及び二次コイルを,一次巻及び二次巻の間に等間隔に間隔をあけたバイフィラ巻単一層の巻線にすることで,巻線間の靜電容量を最小限に低減する4.3及び上記の推奬事項によって製作されたエプスタイン試験器で,0.125mm徑銅線を200ターン巻いた一次コイル及び二次コイルの場合,巻線間靜電容量は約300pFであり,各巻線の抵抗は約3.5Ωであっこの靜電容量で加わる追加損失は,式(A.1)で算出できる。R:計器の合成抵抗(Q)C:巻線間の靜電容量(F)磁束密度が低い場合,この量は無視できるが,この量の比率が無視できない場合は,式(6)で算出される合計損失から差し引く必要がある。C2550-3:2011附屬書JA試験片の切斷方法及び試験機器仕様JA.1試験片の切斷方法試験片は,特に指定がなければ図JA.1a)～d)のように,鋼板の特性を代表するように,半分は圧延方向に平行(縦目)に,半分は圧延方向に直角(橫目)に採取するのがよい。その材料について,特に規(guī)定がある場合には又は受渡當事者間の協(xié)定によって,圧延方向に平行な試験片だけを使用するときには,図JA.1e)~g)のように採取する。その他の特殊な方法によったときには,試験成績書に切斷方法を明記する?？v目試験片橫目試験片/縱目試験片橫目試験片/殘材殘材殘材橫目試験片縱目試験片鋼帯殘材殘材殘材a)b)従目試験片橫目試験片/殘材殘材殘材縱目試験片殘材殘材橫目試験片殘材e)図JA.1一試験片の切斷方法JA.2試験機器仕様JA.2.1中間周波用エプスタイン試験器仕様C2550-3:2011項目仕様內(nèi)斷面幅32mm,高さ5mm(推奬)1.6mm以下材質誘電體損失長さ4個の種にそれぞれ88ターンずつ均一に一層に巻く。4個の種に一次コイルと並べてそれぞれ88ターンずつ均一に一層に巻く。新立4個のコイルが正方形磁路を形成する試料の各辺を叫むようにみ立てる。注記中間周波においては,エプスタイン試験棒の巻線粋材料の誘電體損及び二次コイルの自己靜電容量と巻線間靜電容量に起因する損失が付加され比校的低磁束密度での低損失材料に対して行われるので,コイルの巻數(shù)を少なく,またコイルの線332218.231.8o↑JA.2.2空隙補償用の相互誘導器C2550-3:2011表JA.2一空隙補償用の相互誘導器仕様項目仕様管狀卷樺寸法直徑55mm×長さ25mmつば板寸法120mm×120mm材質非磁性の絶緑體勵磁に必要な巻數(shù)(約40ターン)試験器に試験片がない場合の二次誘起電圧を打ち消すのに必要な巻數(shù)を一次コイルの外側に巻く。設置位置正方形に組み立てられた試験器の中央に,その軸が試験器の面に直角になるJA.2.3電流波高値検出用相互誘導器相互誘導器は,測定する磁界の強さHの大きさによって,1A形及び10A形を用い,その仕様は,表表JA.3一電流波高値検出用相互誘導器仕様項目10A形管狀卷樺①外形100mm,內(nèi)徑80mm,長さ120mm外形100mm,內(nèi)徑80mm,長さ40mm厚さ8mm,直徑210mm厚さ8mm,直徑210mm③JISC3104の4月平竹鋼況2.4mm×3.5mmを絶緑して用いる。30ターン×4層。JISC3104の4號平竹銅線3mm×4mmを絶緑して用いる。8ターン×2層。絶緑銅線0.4mm,8640ターン。絶緑銅線0.4mm,3200ターン。⑤を絶緑して川いる。30ターン×4川。JISC3104の4號平角劍線3mm×4mmを艷電気的特性一次抵抗約0.24Ω二次抵抗約660Ω絶緑抵抗100MΩ以上一次抵抗約0.