2025年職業(yè)技能鑒定試題集測(cè)井儀修工附答案一、單項(xiàng)選擇題（每題1分，共20題）1.自然伽馬測(cè)井儀中，用于將射線能量轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的核心部件是（）A.光電倍增管B.穩(wěn)譜電路C.高壓電源模塊D.數(shù)據(jù)編碼芯片答案：A2.數(shù)控測(cè)井系統(tǒng)中，地面系統(tǒng)與井下儀器的通信通常采用（）A.RS485總線B.曼徹斯特編碼C.CAN總線D.模擬電壓傳輸答案：B3.維修聲波測(cè)井儀時(shí)，發(fā)現(xiàn)發(fā)射換能器無激勵(lì)信號(hào)，優(yōu)先檢查的是（）A.接收電路放大倍數(shù)B.脈沖發(fā)生器輸出C.時(shí)間門控制邏輯D.信號(hào)采集A/D轉(zhuǎn)換答案：B4.電阻率測(cè)井儀電極系絕緣電阻要求不低于（）A.100kΩB.1MΩC.10MΩD.100MΩ答案：D5.維修過程中測(cè)量?jī)x器電源模塊輸出紋波，應(yīng)使用（）A.萬用表直流電壓檔B.示波器交流耦合檔C.兆歐表D.頻率計(jì)答案：B6.存儲(chǔ)式測(cè)井儀FLASH存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)讀取失敗，可能的原因是（）A.電池電壓不足B.時(shí)鐘芯片損壞C.片選信號(hào)異常D.溫度傳感器故障答案：C7.磁定位測(cè)井儀中，感應(yīng)線圈輸出信號(hào)幅度與（）成正比A.井液電導(dǎo)率B.套管壁厚變化率C.儀器移動(dòng)速度D.地磁場(chǎng)強(qiáng)度答案：C8.維修放射性測(cè)井儀時(shí)，檢測(cè)NaI晶體是否失效的方法是（）A.測(cè)量晶體體積B.觀察外觀是否發(fā)黃C.用標(biāo)準(zhǔn)源測(cè)試計(jì)數(shù)率D.測(cè)量晶體對(duì)地電阻答案：C9.測(cè)井儀高溫測(cè)試時(shí)，通常要求在（）環(huán)境下穩(wěn)定2小時(shí)后測(cè)試性能A.85℃B.125℃C.175℃D.225℃答案：C10.維修張力傳感器時(shí)，若輸出信號(hào)非線性誤差超差，應(yīng)重點(diǎn)檢查（）A.彈性體形變B.應(yīng)變片粘貼質(zhì)量C.信號(hào)放大電路D.溫度補(bǔ)償電阻答案：B11.數(shù)控測(cè)井系統(tǒng)中，井下儀器的深度編碼通常采用（）A.格雷碼B.二進(jìn)制碼C.奇偶校驗(yàn)碼D.曼徹斯特碼答案：A12.維修伽馬能譜測(cè)井儀時(shí)，穩(wěn)譜電路的作用是（）A.穩(wěn)定高壓電源輸出B.補(bǔ)償溫度對(duì)譜線的漂移C.提高計(jì)數(shù)率精度D.增強(qiáng)抗干擾能力答案：B13.聲波變密度測(cè)井儀中，接收換能器的中心頻率通常為（）A.20kHzB.50kHzC.100kHzD.200kHz答案：B14.存儲(chǔ)式測(cè)井儀掉電后數(shù)據(jù)丟失，可能的故障點(diǎn)是（）A.EEPROM損壞B.超級(jí)電容失效C.時(shí)鐘電池耗盡D.數(shù)據(jù)總線斷路答案：B15.維修過程中判斷電路是否存在短路，應(yīng)使用（）A.萬用表電壓檔B.示波器時(shí)域分析C.兆歐表D.萬用表電阻檔（低阻）答案：D16.隨鉆測(cè)井儀（LWD）的泥漿脈沖發(fā)生器維修時(shí)，重點(diǎn)檢查（）A.渦輪發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)速B.壓力傳感器精度C.球閥密封性能D.信號(hào)編碼邏輯答案：C17.自然電位測(cè)井儀輸出基線漂移，可能的原因是（）A.電極極化電位變化B.井液電阻率過高C.電纜絕緣下降D.放大電路零點(diǎn)漂移答案：D18.維修感應(yīng)測(cè)井儀時(shí)，發(fā)射線圈與接收線圈的（）直接影響測(cè)量精度A.匝數(shù)比B.中心距C.繞制方向D.導(dǎo)線直徑答案：B19.測(cè)井儀防水密封失效的主要判斷依據(jù)是（）A.外殼表面銹蝕B.內(nèi)部電路板有冷凝水C.絕緣電阻低于100MΩD.溫度測(cè)試時(shí)出現(xiàn)短路答案：C20.維修過程中使用熱風(fēng)槍拆卸SMD元件，溫度應(yīng)控制在（）A.150-200℃B.250-300℃C.350-400℃D.450-500℃答案：B二、判斷題（每題1分，共10題）1.測(cè)井儀維修時(shí)，可直接用手觸摸CMOS芯片引腳（）答案：×（需佩戴防靜電手環(huán)）2.高壓測(cè)試時(shí)，操作人員與測(cè)試點(diǎn)的安全距離應(yīng)不小于0.5米（）答案：×（應(yīng)不小于1米）3.存儲(chǔ)式測(cè)井儀數(shù)據(jù)讀取前，需先進(jìn)行電池放電操作（）答案：×（應(yīng)保持電池供電）4.維修聲波測(cè)井儀時(shí)，發(fā)射電路電容可替換為容量相同的普通電容（）答案：×（需使用高頻低感電容）5.放射性測(cè)井儀維修后，需重新標(biāo)定計(jì)數(shù)率與源強(qiáng)的關(guān)系（）答案：√6.測(cè)井電纜芯線絕緣電阻低于10MΩ時(shí)，不影響測(cè)井儀供電（）答案：×（會(huì)導(dǎo)致電壓衰減）7.維修磁定位儀時(shí)，感應(yīng)線圈骨架變形不影響測(cè)量精度（）答案：×（會(huì)改變電感參數(shù)）8.數(shù)控測(cè)井系統(tǒng)中，井下儀器地址編碼錯(cuò)誤會(huì)導(dǎo)致通信失敗（）答案：√9.維修過程中，可使用普通焊錫維修高溫電路板（）答案：×（需使用高溫焊錫）10.測(cè)井儀溫度傳感器校準(zhǔn)應(yīng)在常溫下進(jìn)行（）答案：×（需在全量程溫度點(diǎn)校準(zhǔn)）三、簡(jiǎn)答題（每題5分，共5題）1.簡(jiǎn)述自然伽馬測(cè)井儀的基本工作流程。答案：自然伽馬測(cè)井儀通過NaI閃爍晶體接收地層伽馬射線，經(jīng)光電倍增管轉(zhuǎn)換為電脈沖信號(hào)，經(jīng)前置放大、主放大后由脈沖幅度分析器篩選有效脈沖，計(jì)數(shù)電路統(tǒng)計(jì)單位時(shí)間內(nèi)的脈沖數(shù)，最后通過編碼電路將計(jì)數(shù)率轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井信號(hào)傳輸至地面系統(tǒng)。2.列舉三種測(cè)井儀常見的電路故障現(xiàn)象及可能原因。答案：（1）無供電輸出：電源模塊損壞、保險(xiǎn)熔斷、輸入線路斷路；（2）信號(hào)失真：放大電路元件老化、耦合電容失效、接地不良；（3）通信失?。旱刂肪幋a錯(cuò)誤、總線電阻匹配異常、接口芯片損壞。3.維修存儲(chǔ)式測(cè)井儀時(shí)，如何驗(yàn)證FLASH存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)完整性？答案：（1）使用專用讀取工具讀取存儲(chǔ)數(shù)據(jù)；（2）對(duì)比寫入測(cè)試數(shù)據(jù)的校驗(yàn)碼（如CRC32）；（3）檢查數(shù)據(jù)文件頭、尾標(biāo)記是否完整；（4）通過地面系統(tǒng)回放數(shù)據(jù)，觀察曲線連續(xù)性和特征點(diǎn)是否符合預(yù)期。4.簡(jiǎn)述聲波測(cè)井儀發(fā)射電路的組成及各部分作用。答案：發(fā)射電路由脈沖發(fā)生器（產(chǎn)生觸發(fā)信號(hào)）、高壓儲(chǔ)能電容（存儲(chǔ)能量）、放電開關(guān)（控制能量釋放）、發(fā)射換能器（將電能轉(zhuǎn)換為聲能）組成。脈沖發(fā)生器觸發(fā)放電開關(guān)導(dǎo)通，儲(chǔ)能電容向發(fā)射換能器快速放電，激勵(lì)換能器產(chǎn)生聲波脈沖。5.測(cè)井儀高溫測(cè)試時(shí)，需監(jiān)測(cè)哪些關(guān)鍵參數(shù)？答案：（1）電源模塊輸出電壓、電流；（2）核心芯片（如DSP、ADC）工作溫度；（3）傳感器輸出信號(hào)穩(wěn)定性（如計(jì)數(shù)率、電阻率值）；（4）通信接口（如曼碼、RS485）的誤碼率；（5）機(jī)械結(jié)構(gòu)（如密封件、連接器）的形變或松動(dòng)情況。四、綜合分析題（每題10分，共3題）1.某油田使用的EILog-05系統(tǒng)在測(cè)井過程中，磁定位曲線出現(xiàn)周期性尖峰干擾，分析可能原因及排查步驟。答案：可能原因：（1）電纜外皮破損導(dǎo)致電磁干擾；（2）磁定位儀感應(yīng)線圈附近存在金屬異物；（3）儀器供電電源存在高頻紋波；（4）地面系統(tǒng)采集卡抗干擾能力下降。排查步驟：（1）檢查電纜外皮是否有破損，用兆歐表測(cè)試各芯線對(duì)地絕緣；（2）拆卸磁定位儀外殼，觀察線圈周圍是否有鐵屑或金屬殘片；（3）用示波器監(jiān)測(cè)儀器供電電壓，測(cè)量紋波幅值是否超過50mV；（4）更換地面采集卡，測(cè)試干擾是否消失；（5）在實(shí)驗(yàn)室模擬井環(huán)境下測(cè)試儀器，確認(rèn)是否為井下環(huán)境干擾。2.維修一臺(tái)存儲(chǔ)式伽馬能譜測(cè)井儀時(shí)，發(fā)現(xiàn)高溫（150℃）測(cè)試后能譜數(shù)據(jù)漂移，分析可能的故障點(diǎn)及解決方法。答案：可能故障點(diǎn)：（1）NaI晶體溫度特性不良，溫度升高導(dǎo)致發(fā)光效率變化；（2）光電倍增管高壓電源溫度漂移，影響增益穩(wěn)定性；（3）譜放電路中的運(yùn)放溫度系數(shù)過大，導(dǎo)致放大倍數(shù)變化；（4）穩(wěn)譜電路的參考峰（如Cs-137）溫度補(bǔ)償失效。解決方法：（1）更換溫度特性更優(yōu)的NaI晶體（如摻鉈濃度調(diào)整型）；（2）對(duì)高壓電源模塊增加溫度補(bǔ)償電阻，或更換為溫度系數(shù)＜50ppm/℃的穩(wěn)壓芯片；（3）采用低溫度漂移運(yùn)放（如AD8628），并增加溫度補(bǔ)償電路；（4）重新校準(zhǔn)穩(wěn)譜電路，在150℃下調(diào)整參考峰位置，更新補(bǔ)償系數(shù)。3.某公司新購(gòu)的陣列感應(yīng)測(cè)井儀在刻度時(shí)，各子陣列測(cè)量值偏差超過5%，分析可能的硬件故障原因及維修措施。答案：可能硬件故障原因：（1）發(fā)射線圈匝數(shù)錯(cuò)誤或繞制不均勻，導(dǎo)致發(fā)射磁場(chǎng)強(qiáng)度不一致；（2）接收線圈與發(fā)射線圈的相對(duì)位置偏移（如骨架變形），改變互感系數(shù)；（3）各子陣列的前置放大電路增益不一致（如電阻、電容參數(shù)誤差）；（4）A/D轉(zhuǎn)換模塊基準(zhǔn)電壓漂移，導(dǎo)致采樣精度下降；（5）刻度電