電磁鋼帯試験方法一第3部:中間周波磁気特性の測定方法(JEMA/JSA)日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會審議(日本規(guī)格協(xié)會発行)C2550-3:2019(部會長)藤智吾雄正之吉子彥弘幸彌織日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會標(biāo)準(zhǔn)第二部會構(gòu)成表所屬東京大學(xué)一般社団法人情報処理學(xué)會情報規(guī)格調(diào)査會一般社団法人電子情報技術(shù)産業(yè)協(xié)會一般財団法人日本規(guī)格協(xié)會IEC/SMB日本代表委員(ソ二一株式會社)一般社団法人電気學(xué)會一般財団法人電気安全環(huán)境研究所全國地域婦人団體連絡(luò)協(xié)議會一般社団法人日本電機(jī)工業(yè)會東京工業(yè)大學(xué)主婦連合會大青大青伊巖內(nèi)江酒住高田橘平水山測田崎井谷村中爪田本根幸富祐淳里真哲香O主務(wù)大臣:経濟(jì)産業(yè)大臣制定:平成23.9.20改正:平成31.3.20官報公示:平成31.3.20原案作成者:一般社団法人日本電機(jī)工業(yè)會(于102-0082東京都千代田區(qū)一番町17-4電機(jī)工業(yè)會館TEL03-3556-5881)一般財団法人日本規(guī)格協(xié)會(于108-0073東京都港區(qū)三田3-13-12三田MTビルTEL03-4231-8530)審議部會:日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會標(biāo)準(zhǔn)第二部會(部會長大崎博之)會の審議に付きれ,速やかに,確認(rèn),改正又は廃止されます。C2550-3:2019● 11適用範(fàn)囲 12引用規(guī)格 13用語及び定義 24交流磁気測定の一般的原理 34.1一般事項 34.2工プスタイン試験法の原理 34.3試験片 34.4工プスタイン試験器 44.5空隙補(bǔ)償 64.6勵磁電源 64.7交流電圧測定 64.8交流電流測定 74.9周波數(shù)測定 74.10電力測定 75鉄損測定の手順 75.1一般事項 75.2測定の準(zhǔn)備 75.3勵磁電源の調(diào)整 85.4電力の測定 95.5鉄損の測定 95.6鉄損測定の再現(xiàn)性 6磁気分極の波高値,磁界の強(qiáng)さの実効値,磁界の強(qiáng)さの波高値及び皮相電力の測定手順 6.1一般事項 6.2試験片 6.3測定原理 106.4測定裝置 16.5測定手順 6.6磁気分極の波高值Jの測定 6.7磁界の強(qiáng)さの実効値の測定 6.8磁界の強(qiáng)さの波高値の測定 6.9皮相電力の測定 6.10再現(xiàn)性 7試験報告書 附屬書A(參考)中間周波數(shù)で使用するエプスタイン試験器 著作権法により無斷での複製,転載等は禁止されております。附屬書B(參考)デジタルサンプリングによる磁気特性測定法 附屬書JA(參考)試験片の切斷方法及び試験機(jī)器仕様 21 23●C2550-3:2019この規(guī)格は,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第14條によって準(zhǔn)用する第12條第1項の規(guī)定に基づき,一般社団法人日本電機(jī)工業(yè)會(JEMA)及び一般財団法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)から,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を改正すべきとの申出があり,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が改正した日本工業(yè)規(guī)格でこの規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意JISC2550の規(guī)格群には,次に示す部編成がある。JISC2550-1第1部:エプスタイン試験器による電磁鋼帯の磁気特性の測定方法JISC2550-2第2部:寸法·形狀の測定方法JISC2550-3第3部:中間周波磁気特性の測定方法JISC2550-4第4部:表面絶緑抵抗の測定方法JISC2550-5第5部:電磁鋼帯の密度,抵抗率及び占積率の測定方法●●C2550-3:2019電磁鋼帯試験方法一第3部:中間周波磁気特性の測定方法序文この規(guī)格は,2016年に第2版として発行されたIEC60る技術(shù)と整合させるため,技術(shù)的內(nèi)容を変更して作成した日本工業(yè)規(guī)格である。この規(guī)格は,電磁鋼帯の中間周波數(shù)範(fàn)囲(400Hz～10kHz)における交流勵磁下での磁気特性の測定方法について規(guī)定する。誘起電圧が正弦波となる勵磁條件下(以下,磁束正弦波勵磁條件という。)において,磁気分極の波高値及び周波數(shù)を指定して測定する。測定は,(23±5)℃の周囲溫度において,消磁された試験片について行う注記この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC60404-10:2016,Magneticmaterials—Part10:Methodsofmeasurementofmagneticpropertiesofelectricalsteelstripandsheetatmediumfrequencies(MOD)なお,対応の程度を表す記號“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”の引用規(guī)格は,その最新版(追補(bǔ)を含む。)を適用する。JISC2550-5電磁鋼帯試験方法一第5部:電磁鋼帯の密度,抵抗率及び占積率の測定方法注記対応國際規(guī)格:IEC60404-13,Magneticmaterials—Part13:Methodsofmeasurementofdensity,resistivityandstackingfactorofelectricalsteelsheetandstripJISC2552無方向性電磁鋼帯2C2550-3:2019materials—Cold-rollednon-orientedelectricalsteelstripandsheetdeliveredinthefully-processedJISC2553方向性電磁鋼帯注記対応國際規(guī)格:IEC60404-8-7,Magneticmaterials—Part8-7:Specificationsforindividualmaterials—Cold-rolledgrain-orientedelectricalsteelstripandsheetdeliveredinthefully-processed3用語及び定義3.1磁界の強(qiáng)さ(magneticfieldstrength)ェプスタイン試験器においては,磁界の強(qiáng)さHが全磁路にわたって一様であると仮定して,実効磁路長3.2実効磁路長(effectivemagneticlength)磁界の強(qiáng)さが一様でない磁気回路を,全磁路にわたって一様であると仮定して求めた,等価的な磁路の3.3磁束密度(magneticfluxdensity)一様に磁化された試験片の,単位斷面積當(dāng)たりの磁束量。単位は,テスラ(T)。磁気分極(magneticpolarization)一様に磁化された試験片の,単位斷面積當(dāng)たりの磁化の強(qiáng)さ。単位は,テスラ(T)。は,磁気分極Jである。磁束密度Bと磁気分極Jとは,磁気定數(shù)をμo[=4π×10~?H/m]とす○●33.5憲劾質(zhì)量(effectivemass)3.63.7鉄損(specifictotalloss)3.84交流磁気測定0一般的原理周波數(shù)範(fàn)囲の高い領(lǐng)域では,特殊な構(gòu)造のエプスタイン試験器(附屬書A參照)が必要な場合がある。エプスタイン試験器の巻線間の靜電容量を測定するには,別の測定システム(例えば,抵抗,靜電容量4.3試験片●4C2550-3:2019單位mm図1-試験片の長さが280mmの場合の試験片の端の交互積層方法(double-lappedjoints)試験片は,個別の製品規(guī)格(JISC2552及びJISC2553)の規(guī)定に従って採取する。注記…試験片の切斷方法については,附屬書JA.を參照。格に従って熱処理を行う。試験片は,次の寸法とする。試験片の長さは,±0.5mmの許容差で切斷する。試験片を,圧延方向に対して平行又は直角に切斷する場合には,電磁鋼帯の緣を基準(zhǔn)方向とする。指定された方向と実際に切斷された方向との角度は,次の許容差內(nèi)でなければならない。平たんな試験片だけを使用する。測定に當(dāng)たり,試験片の絶緑皮膜以外の絶緑物を付け加えない。鉄心を構(gòu)成する試験片は12枚以上で,4の倍數(shù)の枚數(shù)とし,試験片の備厚きに対まる推凝枚數(shù)を表QA試験片端部の重なり部に,垂直に(1±0.1)Nの力を加える。表0A一試験片の枚數(shù)mm枚數(shù)mm枚數(shù)0.0250.250.050.250.230.50以上5C2550-3:2019●280280220+1≥190lm=940KXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXXEXXXXKXXXXXXXXXXXXXXXX4.5の條件下で測定を行う場合,空隙磁束の補(bǔ)償のために,エプスタイン試験器に空隙補(bǔ)償用の相互誘導(dǎo)面をもち,粋內(nèi)の空間幅は32mmとする?；們?nèi)の空間高さは約5mmを推凝する。巻棒の內(nèi)側(cè)表面の過度の摩耗を防ぐため,より大きな斷面積の巻粋とし,取外し可能な內(nèi)粋を揮入する4個のコイルは,それぞれ2巻線を備える。一次コイル及び二次コイルの巻數(shù)は,勵磁電源,測定機(jī)器及び周波數(shù)によって決まる個別の條件に合わ一次コイル及び二次コイルのそれぞれの総巻數(shù)は,一般に400Hz～10kHzの周波數(shù)範(fàn)囲の試験に使用さ6著作権法により無斷での復(fù)製,転載等は禁止されております。C2550-3:2019磁気回路の実効磁路長は,0.94mを既定の値とする。試験片の磁気的に等価な質(zhì)量である実効質(zhì)量m8は,式(3)から算出する。m:実効磁路長(m),1m=0.94m:試験片の合計質(zhì)量(kg)4.5空隙補(bǔ)償1000A/m以上の磁界の強(qiáng)さでは,空隙磁束の補(bǔ)償を?qū)g施する。低い周波數(shù)領(lǐng)域(1000Hz以下)の場合は,空隙磁束を補(bǔ)償するために,相互誘導(dǎo)器を使用してもよい。相互誘導(dǎo)器の一次コイルは,エプスタイン試験器の一次コイルに直列に接続し,相互誘導(dǎo)器の二次,逆極性で直列に接続する(図3參照)。態(tài)で勵磁コイルに交流電流を流し,エプスタイン試験器と相互誘導(dǎo)器とが連結(jié)された二次コイルの両端試験器と相互誘導(dǎo)器とが連結(jié)された二次コイル內(nèi)に誘起される電圧が,試験片の磁気分極の波高値に比例する。ょり高い周波數(shù)領(lǐng)域では,相互誘導(dǎo)器の線間靜電容量結(jié)合によって二次電圧の位相が著しくシフトし,ことを確認(rèn)する。相互誘導(dǎo)器の二次巻線を,線間間隔をあけて配置するなど,適切に設(shè)計することで,位相シフトを低減できる。高い周波數(shù)領(lǐng)域で,上述の方法で位相シフトが避けられない場合は,相互誘導(dǎo)器を除き,演算処理による空隙補(bǔ)償を行う(B.4參照)。4.6勵磁電源勵磁電源は,內(nèi)部インピーダンスが低く,電圧及び周波數(shù)の安定性の高いものを使用する。測定時において,電圧及び周波數(shù)の変動は,±0.2%とする。鉄損,皮相電力及び磁界の強(qiáng)さの実効値を測定する場合には,二次電圧の波形率は1.111の±1%とする。注記二次電圧の波形率の制御には,幾つかの方法がある。例えば,電子的に制御された電源,負(fù)帰還制御が行える電源増幅器の使用などがある。二次電圧の波形率は,二次電圧の実効値の整流平均値に対する比率である。波形率の測定には,実効値交流電圧計及び平均値形交流電圧計を使用する。負(fù)帰還制御が行える電源増幅器を使用する場合,二次電4.7交流電圧測定4.7.1一般事項注記デジタルサンプリング法の適用は,附屬書B4.7.2平均値形交流電圧計7C2550-3:2019次のいずれかの電流測定器で,勵磁電流を測定する。二次電圧を調(diào)整し,損失を測定する場合には,電流測定器を短絡(luò)する。注記1デジタル電流計,又はデジタル電圧計が望ましい。鉄損は,磁気分極の波高値及び周波數(shù)を指定して測定する?；イい吮容^可能な鉄損値を得るため,磁束正弦波勵磁條件で測定する?！?C2550-3:2019H:周波數(shù)計A:電流測定器W:電力計M:空隙補(bǔ)償用の相互誘導(dǎo)器Vi:平均值形交流電壓計V2:実効值交流電壓計5.3勵磁電源の調(diào)整所定の磁気分極の波高値jを達(dá)成するため,勵磁電源の出力を,エプスタイン試験器の二次電圧の整流…………(4)R:二次回路內(nèi)の計器の合成抵抗(Q)A:各コイルに揮入された試験片の斷面積(m2)j:磁気分極の波高値(T)9C2550-3:2019注記二次コイル誘起電圧を,実効値表示された平均値形交流電圧計の読みを使用する場合は,式(4)試験片の斷面積Aは,式(5)による。m:試験片の合計質(zhì)量(kg)!pm:試験片の密度,又はJISC2550-5に従って測定された値5.4電力の測定電力計の電流回路が過負(fù)荷とならないように,一次回路內(nèi)の電流計を観察する。次に,電流計を短絡(luò)し,二次電圧を再調(diào)整する。二次電圧の波形率を4.6に従って判定し,電力計の値を読み取る。試験片の過熱を避け,測定再現(xiàn)性を得やすくするため,エプスタイン試験器に通電した後は,でき注記デジタルサンプリング法の適用は,附屬書B參照。電力計によって測定された電力Pmは,二次回路內(nèi)の計器によって消費(fèi)された電力を含んでいる。二次電圧は基本的に正弦波狀であるため,この電力は一次近似では(1.111U2/R?仁等Lい。ここに,Pe:試験片の合計損失算出値(W)R;:二次回路內(nèi)の計器の合成抵抗(Q)鉄損測定値Pは,試験片の合計損失算出値Peを,試験片の実効質(zhì)量m3で除することによって算出するPe:試験片の合計損失算出値(W)m:試験片の実効質(zhì)量(kg)!:試験片の長さ(m)Lm:実効磁路長(m),Lm=0.94m:試験片の合計質(zhì)量(kg)●C2550-3:20195.6鉄損測定の再現(xiàn)性この簡條の手順から得られる結(jié)果の再現(xiàn)性は,使用する周波數(shù)及び磁気分極によって変化するため,2%~5%の範(fàn)囲の相対標(biāo)準(zhǔn)偏差とみなす。6磁気分極の波高値,磁界の強(qiáng)さの実効値,磁界の強(qiáng)さの波高値及び皮相電力の測定手順6.1一般事項この簡條では,次の特性を判定するための測定方法を規(guī)定する。一磁気分極の波高値j一磁界の強(qiáng)さの実効値試験片は,4.3の規(guī)定を満足する。6.3測定原理6.3.1磁気分極の波高値j磁気分極の波高値りは,4.7に規(guī)定したように,測定された二次電圧の整流平均値から,5.3の式(4)によ注記デジタルサンプリング法の適用は,附屬書B參照。6.3.2磁界の強(qiáng)さの実効値磁界の強(qiáng)さの実効値Hは,図4に示す回路內(nèi)の実効値交流電流計によって測定した勵磁電流の実効値かVi:平均值形交流電壓計図4ー磁界の強(qiáng)さの実効値の測定回路6.3.3磁界の強(qiáng)さの波高値な一般事項磁界の強(qiáng)さの波高値白は,次のいずれかの方法によって測定した,勵磁電流の波高値し,から求める。C2550-3:2019VI:平均值形交流電壓計:波高値交流電圧計図5一波高値電圧計を用いた磁界の強(qiáng)さの波高値の測定回路の両端に発生する平均値電圧を±0.5%の精度で測定することから求める。相互誘導(dǎo)器の一次コイルは,工●V:平均值形交流電壓計注記1この方法では,相互誘導(dǎo)器の二次コイルの電圧波形に,1周期當(dāng)たり2か所を超えるゼロ交差點がある場合を除き,平均値形交流電圧計は,エブスタイン試験器の二次電圧の測定に使用図6一相互誘導(dǎo)器Mpを用いた磁界の強(qiáng)さの波高値の測定回路6.4測定裝置6.4.1平均値電圧測定C2550-3:2019二次電圧の整流平均値及び方法Bでの相互誘導(dǎo)器の整流平均値は,!MΩ.以上の入カインビーダンスをもつ平均値形交流電圧計を使用して測定する。土0.5%の確度の電圧計を使用する(4.7參照)。6.4.2電流測定勵磁電流の実効値は,実効値に応答する電流測定器で測定する。土0.5%の確度の測定器を使用する(4.8參照)。6.4.3電流波高値測定方法Aに基づき,抵抗器R?の両端電圧の波高値を,校正済みの波高値交流電圧計,又は校正済みのオシロスコープで測定する。使用する裝置のフルスケール誤差を±3%以下とする。注記デジタルサンプリング法の適用は,附屬書B參照。6.4.4抵抗器R?±0.5%の確度の無誘導(dǎo)精密抵抗器を使用する。抵抗値は,波高値電圧計の感度に応じて選定する。誘起電圧波形のひず(歪)みを最小限に抑えるため,6.4.5相互誘導(dǎo)器Mp図6の相互誘導(dǎo)器は,相互誘導(dǎo)係數(shù)が土0.5%の確度に校正された相互誘導(dǎo)器を使用する。相互誘導(dǎo)器の。誤差を最小限に抑えるために,相互誘導(dǎo)器の二次インピーダ相互誘導(dǎo)器の校正中及び使用中は,エプスタイン試験器又は他の裝置からの漏れ磁束によって測定が影6.5測定手順磁気分極j及び磁界の強(qiáng)さA(chǔ)又はáの,個々の値又は組合せの値を測定する。磁界の強(qiáng)さを指定して磁気分極を測定するときには,指定の磁界の強(qiáng)する(6.6參照)。二次電圧を平均值形交流電圧計で測定する(5.3參照)。磁気分極を指定して磁界の強(qiáng)さを測定する場合には,二次電圧を,5.3に従って指定の値に調(diào)整する。磁界の強(qiáng)さの実効値?を測定する場合には,勵磁電流を電流測定器で測定する。方法Aに基づき,磁界の強(qiáng)さの波高値甘を測定する場合には,抵抗器Rnの両端電圧の波高値を波高値交流電圧計で測定する。方法Bに基づき,相互誘導(dǎo)器Moの二次コイルの平均値電圧を測定する場合には,平均値形交流電圧計皮相電力の測定では,磁気分極及び周波數(shù)の指定の値に対して,勵磁電流の実効値.(6.6.參照)と王ズス名人試験器の二次電壓の実効值上を測定する。二次電壓の実劾值は,4.7の要求事項を滿足する電壓計を,6.6磁気分極の波高値jの測定磁気分極の波高値は,式(8)によって算出する。著作権法により無斷での複製,転載等は禁止されております。C2550-3:2019………………(9)ここに,j:磁気分極の波高値(T)A:試験片の斷面積(m2)R,:二次回路內(nèi)の計器の合成抵抗(Q) 注記二次コイル誘起電圧を,実効値表示された平均値形交流電圧計の読みを使用する場合は,式(8)6.7磁界の強(qiáng)さの実効値の測定…………(10)ここに,A:磁界の強(qiáng)さの実効値(A/m)lm:実効磁路長(m),lm=0.94??:勵磁電流の実効值(A)6.8磁界の強(qiáng)さの波高値の測定方法Aでは,磁界の強(qiáng)さの波高値は,波高値交流電圧計の読みùgから,式(11)によって算出する?！?11)R?:図5に示す無誘導(dǎo)精密抵抗器R?の抵抗値(Q)lm:寒効磁路長(m),!m=0.94UR:波高值交流電壓計の読み(V) 方法Bでは,磁界の強(qiáng)さの波高値は,相互誘導(dǎo)器Moに接続した平均値形交流電圧計の読み|Um|から,R;:二次回路內(nèi)の計器の合成抵抗(Q)C2550-3:2019 Um]:Moの二次コイルに誘起された電圧の整流平均値(V)注記1二次コイル誘起電圧を,実効値表示された平均値形交流電圧計の読みを使用する場合は,式(12)の係數(shù)を4.443とする必要がある。式(12)の定數(shù)を6.9皮相電力の測定m:試験片の合計質(zhì)量(kg)U2|:合成二次コイルに誘起された電圧の整流平均値(V)m?:試験片の実効質(zhì)量(kg)Lm:実効磁路長(m),lm=0.94この簡條の手順から得られる結(jié)果の再現(xiàn)性は,測定に用いた計器の確度及び試験片の組立て(4.2及び4.3參照)などによって本質(zhì)的に変化する。士0.5%の確度の計器を使用する場合には,再現(xiàn)性は,3%程度7試験報告書(我が國の現(xiàn)狀に盒ね甚,試験報告書は然験方法の規(guī)格で想定しているた熱,この規(guī)格では不探用としC2550-3:2019附屬書A4.4及び上記の推奨事項によって製作されたエプスタイン試験器……………(A.1)……………●C2550-3:2019る磁気特性測定法電力計法に適用する場合,二次電圧U?(I)及び一次コイルに直列に接続した無誘導(dǎo)精密抵抗器両端の電間周波磁気特性測定法を応用することが有効である。B.2技術(shù)的詳細(xì)及び要求事項磁気分極の波高値は,式(B.I)によって算出する。ここに,j:磁気分極の波高値(T)f:試験周波數(shù)(Hz)A:試験片の斷面積(m2)R:二次回路內(nèi)の計器の合成抵抗(2)R:合成二次コイルの直列抵抗(Q)T:勵磁周期[1/f(s)]C2550-3:2019lm:実効磁路長(m),1m=0.94A:試験片の斷面積(m2)pm:試験片の規(guī)定密度(kg·m-3)R:無誘導(dǎo)精密抵抗器の抵抗値(Q)T:勵磁周期[1/f(s)]U1:一次コイルに直列に接続された無誘導(dǎo)精密抵抗器の両端子間の電圧(V)R:二次回路內(nèi)の計器の合成抵抗(Q)OOuy:無誘導(dǎo)精密抵抗器両端電圧降下の瞬時値(V)uz:二次コイル誘起電圧の瞬時値(V)R:無誘導(dǎo)精密抵抗器の抵抗値(Q)Lm:実効磁路長(m),Lm=0.94ü,:一次コイルに直列に接続された無誘導(dǎo)精密抵抗器の両端子間の電圧の波高值(V)lm:実効磁路長(m),m=0.94R:無誘導(dǎo)精密抵抗器の抵抗値(Q)pm:試験片の規(guī)定密度(kg·m-3)uy:一次コイルに直列に接続された無誘導(dǎo)精密抵抗器の両端子間の電圧の瞬時値uz:二次コイル誘起電圧の瞬時値(V)●C2550-3:2019B.3校正B.4演算処理による空隙補(bǔ)償演算処理による空隙補(bǔ)償は,相互誘導(dǎo)器の原理と同様であり,式(B.5)による。R:無誘導(dǎo)精密抵抗器の抵抗値(Q)U1(:一次コイルに直列に接続された無誘導(dǎo)精密抵抗器の両端子間の電圧(V)補(bǔ)正係數(shù)Cは,試験片を揮入しない狀態(tài)で一次コイルに電流を流したとき,空隙補(bǔ)償された二次コイル電圧Uz4(I)の最大値が,二次コイル誘起電圧Uze(I)の0.1%以下となるように調(diào)整する。演算処理による空隙補(bǔ)償は,相互誘導(dǎo)器による方法で生じる位相ずれ及びインピーダンスの増大を抑制●●附屬書JA殘材殘材鋼帯殘材橫目試験片/殘材橫目試験片/b)縱目試験片橫目試験片/殘材殘材殘材縱目試験片殘材殘材橫目試験片殘材JA.2.1空隙補(bǔ)償用の相互誘導(dǎo)器●20C2550-3:2019表JA.1一空隙補(bǔ)償用の相互誘導(dǎo)器仕様管狀卷樺直徑55mm×長さ25mm材質(zhì)低誘電率,非磁性の絶緑體勵磁に必要な巻數(shù)(約40ターン)試験器に試験片がない場合の二次誘起電圧を打ち消すのに必要な巻數(shù)を一次設(shè)置位置正方形に組み立てられた試験器の中央に,その軸が試験器の面に直角になるJA.2.2電流波高値検出用相互誘導(dǎo)器相互誘導(dǎo)器は,測定する磁界の強(qiáng)さHの大きさによって,1A形及び10A形を用い,その仕様表JA.2一電流波高値検出用相互誘導(dǎo)器仕様1A形管狀巻樺①外形100mm,內(nèi)徑80mm,長さ120mm外形100mm,內(nèi)徑80mm,長さ40mm厚さ8mm,直徑210mm③JISC3104の4號平角銅線2.4mm×3.5mmJISC3104の4號平角銅線3mm×4mmを絶絶緑銅線0.4mm,8640ターン。絶緑銅線0.4mm,3200ターン。⑤JISC3104の4號平角銅線2.4mm×3.5mmJISC3104の4號平角銅線3mm×4mmを絶電気的特性一次抵抗約0.24Ω二次抵抗約660Ω一次抵抗約0.04Ω二次抵抗約230Ω絶緑抵抗100MQ以上8②②図JA.2一電流波高値検出用相互誘導(dǎo)器參考文獻(xiàn)JISC3104平角銅線附屬書JBJISと対応國際規(guī)格との対比表JISC2550-3:2019電磁鋼帶試験方法一第3部:中間周波磁気特性の測定方法規(guī)格番號(IV)JISと國際規(guī)格との技術(shù)的差異の簡條ごとの評価及びその內(nèi)容異の理由及び今後の対策簡條番號及び題名番號技術(shù)的差異の內(nèi)容3用語及び定義3用語の定義は記載され追加読者の理解を助けるため追加した。IEC規(guī)格の変更は提案予定な4交流磁気測定の一般的原理4.3の倍數(shù)だけを規(guī)定。追加JISでは試験片枚數(shù)の推凝値を表測定上好ましい試験片枚數(shù)を示し器4.7.1一般事項4.7.1JISでは二次電圧測定用交流電圧計の推奬値をIEC60404-6の記載に従4.7.2平均值形交流電圧計平均値形交流電圧計4.7.2JISでは平均値形交流電圧計の入力4.7.3A波高值交流電圧計一一追加JISでは波高値交流電圧計に対する規(guī)格番號(IⅢI)國際規(guī)格の規(guī)定(IV)JISと國際規(guī)格との技術(shù)的差異の簡條ごとの評価及びその內(nèi)容異の理由及び今後の対策簡條番號及び題名番號技術(shù)的差異の內(nèi)容6磁気分極の波高值，磁界値,磁界の強(qiáng)さの波高値及び皮相電力の測定手順6.4.1平均值電圧測定6.4.1JISでは平均値電圧測定の入カイン6.5測定手順6.5皮相電力の測定方法の追加皮相電力の測定方法を追加した。読者の理解を助けるため追加した。IEC規(guī)格の変更は提案予定な6.8磁界の強(qiáng)さの波高值の測定値形交流電圧計の読みを使用する場合の記載追加均値形交流電圧計の読みから算出読者の理解を助けるため追加した。IEC規(guī)格の変更は提案予定な7試験報告書我が國の一般的な取引では製品にら,JISでは製品規(guī)格に試験成績表を規(guī)定し,試験方法の規(guī)格から,試提案予定な。JISと國際規(guī)格との対応の程度の全體評価:IEC60404-10:2016,MOD注記1簡條ごとの評価欄の用語の意味は,次による。一削除………………國際規(guī)格の規(guī)定項目又は規(guī)定內(nèi)容を削除している。一追加………………國際規(guī)格にない規(guī)定項目又は規(guī)定內(nèi)容を追加している。一変更………………國際規(guī)格の規(guī)定內(nèi)容を変更している。注記2JISと國際規(guī)格との対応の程度の全體評価欄の記號の意味は,次による。-MOD…………國際規(guī)格を修正している。OO電磁鋼帯試験方法一第3部:中間周波磁気特性の測定方法1今回の改正までの経緯電磁鋼帯試験方法に関する日本工業(yè)規(guī)格は,1953年にJISC2501(ケイ素鋼板)として材料規(guī)格に含める交流磁化特性及び鉄損の試験方法を追加した。法などを追加してJISC2550(けい素鋼板試験方法)を制定した。一1970年規(guī)格名稱を“電気鉄板試験方法”と改めた上,50cmエプスタイン試験器及びNS透磁率計一1975年磁気試験の単位をSI単位系に改め,層間抵抗試験方法のうちの積層試験方法を削除し,繰一1986年規(guī)格名稱を“電磁鋼板試験方法”と改めた上,商用周波における磁気試験に,抵抗器と波高含む,次の規(guī)格に分割した。d)JISC2550-4第4部:表面絶緑抵抗の測定方法e)JISC2550-5第5部:電磁鋼帯の密度,抵抗率及び占積率の測定方法今回,一般社団法人日本電機(jī)工業(yè)會は,JIS原案作成委員會を組織し,JIS原案を作成した?！?4C2550-3:2019解説対応國際規(guī)格の改訂では,デジタルサンプリング法,數(shù)値演算による空隙補(bǔ)償法など,新たな內(nèi)容がa)用語及び定義(簡條3)対応國際規(guī)格では用語及びその定義は記載されていないが,使用者の利便性を考え,主な用語及びその定義を追加した。対応國際規(guī)格では試料中の単位面積當(dāng)たりの磁束量を,“磁気分極J”で表しているが,舊規(guī)格では我が國で一般的に使用されている“磁束密度B”で表していた。今回の改訂に整合し,“磁気分極J”において両者はほぼ等しい。b)試験片(4.3)対応國際規(guī)格で,熱処理を行う記載が追加されたことに対応した。c)空隙補(bǔ)償(4.5)対応國際規(guī)格で,相互誘導(dǎo)器の接続法及び演算処理による空隙補(bǔ)償の記載が追加さe)周波數(shù)測定(4.9)対応國際規(guī)格で,周波數(shù)計の確度が±0.1%以內(nèi)と規(guī)定されたことに対応した。f)測定の準(zhǔn)備(5.2),磁界の強(qiáng)さの実効値(6.3.2),磁界の強(qiáng)さの波高値(6.3.3)対応國際規(guī)格で,図g)鉄損の測定(5.5)対応國際規(guī)格で,試験片の合計損失算出値Pと記載されているが,これは誤記のj)試験報告書(簡條7)この規(guī)格は測定方法の規(guī)格であることから,試験報告書に記載する內(nèi)容を規(guī)定する必要はないと判斷し,試験報告書の項目だけを殘し,內(nèi)容は削除した。I)