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文檔簡介

高頻電子企業(yè)面試題及答案1.問:傳輸線特性阻抗與哪些物理參數(shù)相關(guān)?實(shí)際設(shè)計(jì)中如何通過微帶線實(shí)現(xiàn)50Ω阻抗匹配?答:特性阻抗Z?由傳輸線單位長度電感L和電容C決定,公式為Z?=√(L/C)。對(duì)于微帶線,L和C受介質(zhì)基片介電常數(shù)ε?、厚度h、微帶線寬度w共同影響。實(shí)際設(shè)計(jì)時(shí),需根據(jù)基片參數(shù)(如常用FR4的ε?≈4.4,厚度h=1.6mm),通過公式Z?=(87/√(ε?+1.41))ln(5.98h/(0.8w+h))計(jì)算寬度w。若仿真軟件(如ADS)中微帶線模型與實(shí)際加工存在偏差,需考慮“有效介電常數(shù)”ε?ff的頻率色散效應(yīng)(高頻下ε?ff會(huì)略降低),并通過實(shí)際打樣后調(diào)整線寬補(bǔ)償,例如在2GHz時(shí),可能需將理論計(jì)算的w=2.5mm微調(diào)至2.4mm以實(shí)現(xiàn)50Ω。2.問:射頻功放設(shè)計(jì)中,如何平衡輸出功率與效率?AB類功放與D類功放的效率差異主要由什么決定?答:輸出功率(Pout)與效率(η)的平衡需通過負(fù)載線匹配實(shí)現(xiàn)。AB類功放靜態(tài)電流?。▽?dǎo)通角180°~360°),通過調(diào)整基極偏置電壓(如硅管Vbe≈0.7V時(shí),AB類偏置在0.6~0.7V),使器件在大信號(hào)時(shí)進(jìn)入飽和區(qū)輸出功率,小信號(hào)時(shí)減少直流功耗。D類功放屬開關(guān)模式,通過方波驅(qū)動(dòng)使器件工作在完全導(dǎo)通或截止?fàn)顟B(tài)(導(dǎo)通角≈180°),理論效率可達(dá)100%,實(shí)際因器件導(dǎo)通電阻(Ron)和寄生電容(Cds)損耗,效率仍高于AB類(AB類典型效率50%~60%,D類可達(dá)80%以上)。差異核心在于工作模式:AB類是線性放大(存在靜態(tài)功耗),D類是開關(guān)調(diào)制(僅開關(guān)瞬間有損耗)。3.問:混頻器三階交調(diào)失真(IM3)與變頻損耗(ConversionLoss)的關(guān)系是什么?設(shè)計(jì)接收機(jī)前端時(shí),如何選擇混頻器類型(雙平衡vs單平衡)?答:IM3反映混頻器的線性度,定義為兩個(gè)等幅輸入信號(hào)(f1、f2)產(chǎn)生的三階互調(diào)分量(2f1-f2、2f2-f1)與輸出有用信號(hào)(f_IF=|f_LO-f_RF|)的功率比,IM3越小線性越好。變頻損耗CL=P_RF輸入P_IF輸出,雙平衡混頻器因本振(LO)與射頻(RF)信號(hào)通過環(huán)形電橋正交耦合,可抑制LO-RF隔離度(典型>40dB),同時(shí)抵消偶次諧波(如2f_LO),但CL通常比單平衡混頻器高(雙平衡CL≈6~8dB,單平衡≈4~6dB)。接收機(jī)前端若需高隔離度(避免LO泄漏到天線)和低雜散(如通信系統(tǒng)要求鄰道抑制>60dB),應(yīng)選雙平衡混頻器;若對(duì)體積和成本敏感(如短距離無線傳感),單平衡混頻器更合適,但需額外增加LO-RF隔離電路(如π型濾波器)。4.問:低噪聲放大器(LNA)設(shè)計(jì)中,噪聲系數(shù)(NF)與增益(Gain)的折中原則是什么?如何通過源阻抗匹配同時(shí)優(yōu)化NF和輸入駐波比(VSWR)?答:NF=10log(輸入信噪比/輸出信噪比),LNA需最小化自身噪聲(典型NF<2dB),同時(shí)提供足夠增益(20~30dB)以抑制后級(jí)電路噪聲。折中原則:在1GHz以下頻段,通過共軛匹配(源阻抗=輸入阻抗)最大化增益,但可能犧牲NF(因最佳噪聲源阻抗Rn≠50Ω);在高頻段(如10GHz以上),需通過噪聲匹配(源阻抗=Rn)降低NF,此時(shí)增益可能略低,但后級(jí)放大器(如中頻放大器)可補(bǔ)償增益。實(shí)際設(shè)計(jì)中,采用“噪聲匹配+部分增益匹配”:通過史密斯圓圖找到最佳噪聲源阻抗點(diǎn)(由器件數(shù)據(jù)手冊的NFmin、Rn、Γopt給出),然后調(diào)整匹配網(wǎng)絡(luò)(如并聯(lián)電感抵消輸入電容),使輸入VSWR從∞(純噪聲匹配)優(yōu)化到2:1以內(nèi),同時(shí)NF僅增加0.1~0.2dB。5.問:高頻PCB設(shè)計(jì)中,微帶線與帶狀線的損耗差異主要由哪些因素引起?如何通過層疊結(jié)構(gòu)降低高頻信號(hào)的損耗?答:微帶線(單面接地)損耗包括導(dǎo)體損耗(銅箔粗糙度引起的趨膚效應(yīng),10GHz時(shí)趨膚深度δ≈1.6μm,需用1oz或0.5oz薄銅)、介質(zhì)損耗(tanδ=ε''/ε',F(xiàn)R4的tanδ≈0.02,高頻需用羅杰斯RO4350B,tanδ≈0.0013)、輻射損耗(開放結(jié)構(gòu)易向空間輻射)。帶狀線(雙面接地)因被介質(zhì)完全包裹,輻射損耗低,但介質(zhì)損耗與微帶線相同(取決于基片材料),導(dǎo)體損耗因上下兩層接地平面的電流分布更均勻,略低于微帶線。層疊結(jié)構(gòu)優(yōu)化:高頻信號(hào)層緊鄰地平面(間距h<0.2mm)以減小回路電感;電源層與地平面成對(duì)(間距≤0.1mm)降低電源噪聲;多GHz信號(hào)采用羅杰斯/特氟龍基片(ε?=3~3.5),減少介質(zhì)色散;關(guān)鍵信號(hào)線(如本振、射頻輸入)走內(nèi)層帶狀線,外圍用接地過孔陣列(間距≤λ/20,10GHz時(shí)λ=30mm,間距≤1.5mm)形成屏蔽。6.問:射頻測試中,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)校準(zhǔn)的“TRL”和“SOLT”方法的適用場景有何不同?如何判斷校準(zhǔn)是否成功?答:SOLT(短路-開路-負(fù)載-直通)是最常用校準(zhǔn)方法,適用于同軸接口(如SMA、N型),校準(zhǔn)件為標(biāo)準(zhǔn)短路(Γ=-1)、開路(Γ=1)、50Ω負(fù)載(Γ=0)和直通線(電長度已知)。但在高頻(>20GHz)時(shí),開路/短路的寄生電抗(如開路的雜散電容)會(huì)導(dǎo)致校準(zhǔn)誤差。TRL(直通-反射-線路)使用直通(DUT傳輸線)、反射(任意反射系數(shù),通常為短路或開路)和不同電長度的線路(如長度差Δl=λ/4),通過數(shù)學(xué)消除寄生參數(shù),適用于微帶線、波導(dǎo)等非同軸結(jié)構(gòu)的片上測試(如MMIC芯片)。校準(zhǔn)成功判斷:測試標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載時(shí),反射系數(shù)|Γ|應(yīng)<0.01(VSWR<1.02),傳輸系數(shù)S21的幅值波動(dòng)<0.1dB,相位誤差<1°。7.問:天線設(shè)計(jì)中,方向圖(RadiationPattern)的半功率波束寬度(HPBW)與增益(Gain)的關(guān)系是什么?如何通過微帶貼片天線展寬帶寬(從5%提升至15%)?答:增益G=(4πA_e)/λ2,其中A_e為有效孔徑面積;HPBW(θ?dB)與A_e成反比,因此G≈(41253)/(θ?dB_azimuth×θ?dB_elevation)(單位:度)。展寬微帶天線帶寬的方法:①增加基片厚度h(帶寬∝h/√ε?),但h過大會(huì)導(dǎo)致表面波損耗(h<0.05λ時(shí)可忽略);②采用低介電常數(shù)基片(如ε?=2.2的Duroid),降低Q值(Q∝√ε?/h);③加載短路針(將貼片邊緣通過過孔接地,形成“短路貼片”),引入感性電抗抵消貼片容性,展寬諧振頻帶;④多貼片疊層(寄生貼片位于主貼片上方0.05λ處),通過耦合產(chǎn)生雙諧振點(diǎn),合并后帶寬可達(dá)15%(單貼片帶寬通常5%~8%)。8.問:射頻電路中,如何抑制電源噪聲對(duì)高頻信號(hào)的干擾?舉例說明去耦電容的選型原則。答:電源噪聲(如紋波、開關(guān)噪聲)通過電源線串入射頻電路(如LNA的Vcc引腳),會(huì)調(diào)制射頻信號(hào)產(chǎn)生雜散。抑制方法:①電源入口處加π型濾波器(如10μH電感+100nF電容+10μF電容),濾除低頻紋波;②每級(jí)射頻器件電源引腳并聯(lián)去耦電容(高頻小電容+低頻大電容),形成“頻率分路”;③敏感電路(如混頻器本振端口)單獨(dú)供電,避免與大電流電路(如功放)共享電源。去耦電容選型:1GHz以下用100nF陶瓷電容(ESL<0.5nH),1~10GHz用10nF(ESL<0.3nH),10GHz以上用1nF或0.1nF(ESL<0.1nH);需注意電容自諧振頻率(f?=1/(2π√(L×C))),例如1nF電容配ESL=0.1nH時(shí),f?≈50GHz,適用于毫米波頻段。9.問:微波濾波器設(shè)計(jì)中,切比雪夫(Chebyshev)和巴特沃斯(Butterworth)響應(yīng)的主要區(qū)別是什么?設(shè)計(jì)一個(gè)3GHz、3階、0.1dB紋波的微帶低通濾波器,如何選擇原型參數(shù)?答:巴特沃斯響應(yīng)通帶內(nèi)最大平坦(無紋波),阻帶衰減隨頻率增加單調(diào)上升,但過渡帶較寬;切比雪夫響應(yīng)通帶內(nèi)有等幅紋波(0.1dB或0.5dB),阻帶衰減斜率更陡(相同階數(shù)下過渡帶更窄)。3階0.1dB切比雪夫低通原型參數(shù)(歸一化頻率Ω=ω/ωc):g1=1.0316,g2=1.1474,g3=1.0316(g0=g4=1,負(fù)載電阻歸一化50Ω)。轉(zhuǎn)換為微帶結(jié)構(gòu)時(shí),需將歸一化電感/電容轉(zhuǎn)換為微帶線的特性阻抗和電長度:低通原型中的串聯(lián)電感對(duì)應(yīng)高阻抗微帶線(Z1=√(g1/Z0)=√(1.0316×50)=7.18Ω?不,正確轉(zhuǎn)換應(yīng)為:串聯(lián)電感L=g1/(ωc×Z0),并聯(lián)電容C=g2×Z0/ωc,實(shí)際微帶線用高阻抗線(模擬電感)和低阻抗線(模擬電容),例如Z_high=100Ω(對(duì)應(yīng)電感),Z_low=20Ω(對(duì)應(yīng)電容),電長度θ=90°(ωc時(shí))。10.問:射頻測試中,如何測量功放的1dB壓縮點(diǎn)(P1dB)?測試時(shí)需要注意哪些干擾因素?答:P1dB是功放輸出功率隨輸入功率線性增加時(shí),輸出功率比線性外推值低1dB時(shí)的輸入/輸出功率點(diǎn)。測試步驟:①信號(hào)源輸出連續(xù)波(CW),通過衰減器(避免功放過載)輸入被測功放(DUT);②頻譜儀監(jiān)測輸出功率,記錄輸入功率Pin與輸出功率Pout的關(guān)系;③當(dāng)Pout偏離線性區(qū)(斜率從1dB/dB降至0.9dB/dB)時(shí),找到Pout_linear=Pin+Gain,Pout_actual=Pout_linear-1dB對(duì)應(yīng)的Pin即為P1dB輸入點(diǎn)(P1dB_in),Pout_actual為P1dB輸出點(diǎn)(P1dB_out)。干擾因素:①信號(hào)源諧波(需加低通濾波器,抑制二次諧波>30dBc);②功放自熱(測試時(shí)間過長導(dǎo)致結(jié)溫上升,P1dB下降,需加散熱片并限制測試時(shí)長);③測試系統(tǒng)駐波(電纜VSWR>1.2時(shí),反射功率會(huì)影響DUT輸入,需用隔離器(隔離度>20dB)連接信號(hào)源與DUT)。11.問:高頻電路中,為什么需要進(jìn)行阻抗匹配?除了傳輸線變壓器,還有哪些常用的寬頻帶匹配方法?答:阻抗匹配使負(fù)載吸收最大功率(Pmax=V2/(4Z0)),同時(shí)減少反射(VSWR=1時(shí)無反射),避免信號(hào)失真(反射波與入射波疊加形成駐波,導(dǎo)致相位誤差)和器件損壞(反射功率過大可能燒毀功放)。寬頻帶匹配方法:①漸變線匹配(如指數(shù)漸變線,長度L≥3λmin,通過阻抗?jié)u變(Z(z)=Z0×e^(az))覆蓋倍頻程帶寬);②多節(jié)λ/4阻抗變換器(兩節(jié)變換器帶寬比單節(jié)寬,三節(jié)可達(dá)倍頻程,通過切比雪夫分布設(shè)計(jì)各節(jié)阻抗Z1、Z2、Z3,使反射系數(shù)在通帶內(nèi)等紋波);③集總參數(shù)匹配(高頻下用低ESL電感和低ESR電容組成T型/L型網(wǎng)絡(luò),適用于100MHz~3GHz,帶寬受限于元件寄生參數(shù));④平衡-不平衡變換器(Balun),將單端50Ω轉(zhuǎn)換為差分100Ω,同時(shí)展寬匹配帶寬(如MarchandBalun,利用耦合線實(shí)現(xiàn),帶寬可達(dá)3:1)。12.問:接收機(jī)靈敏度(Sensitivity)的計(jì)算公式是什么?設(shè)計(jì)時(shí)如何通過增益分配降低系統(tǒng)噪聲系數(shù)?答:靈敏度S=10log(kTB)+NF+SNR_req,其中k=1.38×10^-23J/K(玻爾茲曼常數(shù)),T=290K(標(biāo)準(zhǔn)溫度),B為接收帶寬,NF為系統(tǒng)噪聲系數(shù),SNR_req為解調(diào)所需信噪比(如QPSK需SNR≥10dB)。例如,B=10MHz時(shí),kTB≈-134dBm,若NF=5dB,SNR_req=10dB,則S=-134+5+10=-119dBm。增益分配原則:前級(jí)(LNA)需高增益(G1>20dB)以抑制后級(jí)噪聲(系統(tǒng)NF≈NF1+NF2/G1+NF3/(G1G2)),后級(jí)(混頻器、中頻放大器)可適當(dāng)降低增益(G2=10dB),避免飽和(如混頻器1dB壓縮點(diǎn)為-5dBm,LNA輸出功率需≤-5dBm-G1=-25dBm)。實(shí)際設(shè)計(jì)中,LNA增益25dB,NF1=1.5dB,混頻器NF2=8dB,G2=6dB(變頻損耗-6dB),則系統(tǒng)NF≈1.5+8/25=1.82dB(忽略后級(jí)),有效降低了總噪聲系數(shù)。13.問:射頻電路調(diào)試中,發(fā)現(xiàn)功放輸出頻譜存在明顯二次諧波(-10dBc),可能的原因是什么?如何抑制?答:可能原因:①功放管工作在非線性區(qū)(靜態(tài)電流過小,進(jìn)入C類工作狀態(tài),導(dǎo)通角<180°,產(chǎn)生豐富諧波);②輸出匹配網(wǎng)絡(luò)未抑制諧波(匹配網(wǎng)絡(luò)僅匹配基頻,未對(duì)二次諧波(2f0)呈現(xiàn)高阻抗);③偏置電路存在紋波(電源紋波頻率為f0,調(diào)制基頻信號(hào)產(chǎn)生諧波)。抑制方法:①調(diào)整偏置電壓(如將Vbias從0.6V提升至0.65V,增加靜態(tài)電流,導(dǎo)通角從120°擴(kuò)大至150°,減少諧波分量);②在輸出端加低通濾波器(截止頻率f0,對(duì)2f0衰減>30dB,如3階切比雪夫微帶低通,2f0處衰減40dB);③優(yōu)化輸出匹配網(wǎng)絡(luò)(在2f0處設(shè)計(jì)為高阻抗,如λ/4短路支節(jié),2f0時(shí)長度為λ/2,短路點(diǎn)等效開路,阻止諧波輸出);④檢查電源濾波(在功放Vcc引腳并聯(lián)100pF+10μF電容,濾除電源紋波)。14.問:高頻PCB中,過孔(Via)對(duì)信號(hào)完整性的影響主要體現(xiàn)在哪些方面?如何設(shè)計(jì)過孔以減少3GHz信號(hào)的損耗?答:過孔影響:①寄生電感(L_via≈1nH/mm,3GHz時(shí)感抗X_L=2πfL≈18.8Ω/mm),導(dǎo)致信號(hào)反射(阻抗突變);②寄生電容(C_via≈0.2pF,3GHz時(shí)容抗X_C=1/(2πfC)≈26.5Ω),引起高頻信號(hào)旁路;③地彈噪聲(過孔電流變化導(dǎo)致地平面電位波動(dòng),影響相鄰信號(hào)線)。優(yōu)化設(shè)計(jì):①減小過孔長度(使用薄基片,如h=0.8mm,過孔長度≤1mm,L_via≈1nH);②控制過孔孔徑(鉆孔直徑d=0.2mm,反焊盤直徑D=0.6mm,C_via=ε?ε?×πd×h/(D-d)≈0.1pF);③增加接地過孔(信號(hào)過孔周圍對(duì)稱放置2~4個(gè)接地過孔,形成“地屏蔽”,降低電感并抑制電磁耦合);④背鉆(移除未使用的過孔部分,減少Stub長度,3GHz時(shí)Stub長度需<λ/10=10mm,背鉆后Stub≤0.5mm);⑤阻抗匹配(過孔等效阻抗Z_via=√(L_via/C_via)≈31Ω,通過調(diào)整微帶線寬度(原50Ω線寬w=1.2mm)至w=0.8mm(Z=70Ω),與過孔阻抗串聯(lián)后等效50Ω)。15.問:天線駐波比(VSWR)與回波損耗(RL)的換算關(guān)系是什么?測試天線VSWR時(shí),如何排除測試電纜的影響?答:VSWR=(1+|Γ|)/(1-|Γ|),RL=-20log|Γ|,因此VSWR=(1+10^(-RL/20))/(1-10^(-RL/20))。例如,RL=20dB時(shí),|Γ|=0.1,VSWR=(1+0.1)/(1-0.1)=1.22。測試天線VSWR時(shí),電纜損耗(L_cable)會(huì)導(dǎo)致測量誤差(實(shí)際|Γ_antenna|=|Γ_measured|×10^(L_cable/10))。排除方法:①用VNA進(jìn)行“電纜線損校準(zhǔn)”(通過短路-開路-負(fù)載校準(zhǔn),將參考面延伸至天線接口);②手動(dòng)計(jì)算修正:測量電纜的插入損耗L(dB),則真實(shí)VSWR=VSWR_measured×10^(L/10)(僅適用于低損耗電纜,L<3dB);③更換低損耗電纜(如毫米波頻段用半剛性電纜,損耗<0.5dB/m),或在天線端加隔離器(隔離度>20dB),避免反射信號(hào)二次經(jīng)過電纜。16.問:射頻功放設(shè)計(jì)中,如何通過負(fù)載牽引(Load-Pull)測試確定最佳負(fù)載阻抗?測試時(shí)需要注意哪些參數(shù)設(shè)置?答:負(fù)載牽引通過改變功放輸出端的負(fù)載阻抗(Γ_L),測量輸出功率(Pout)、效率(η)和線性度(IM3),找到使目標(biāo)參數(shù)(如最大Pout或最高η)最優(yōu)的Γ_L。測試步驟:①固定輸入功率(Pin=P1dB_in-3dB,確保功放未飽和);②用負(fù)載牽引系統(tǒng)(如Maury或Focus)控制Γ_L(通過機(jī)械調(diào)諧器或電子調(diào)諧器,覆蓋Smith圓圖上的Γ_L范圍);③記錄每個(gè)Γ_L對(duì)應(yīng)的Pout、η、IM3,繪制等高線圖,確定最佳負(fù)載點(diǎn)(如Pout最大的Γ_L=0.5∠60°)。注意事項(xiàng):①輸入功率需穩(wěn)定(信號(hào)源加穩(wěn)幅器,功率波動(dòng)<0.1dB);②功放需散熱(加溫控夾具,結(jié)溫穩(wěn)定在25±5℃);③調(diào)諧器與功放之間的電纜需短(長度<λ/10,避免相位誤差);④測試頻率點(diǎn)需覆蓋工作帶寬(如2.4~2.5GHz,每隔50MHz測試一次,確保最佳負(fù)載在全頻段內(nèi)可用)。17.問:高頻電路中,為什么需要進(jìn)行電磁兼容(EMC)設(shè)計(jì)?列舉三種減少射頻電路輻射干擾(EMI)的方法。答:EMC設(shè)計(jì)確保電路自身不產(chǎn)生超過標(biāo)準(zhǔn)(如FCCPart15)的輻射,同時(shí)能承受外部干擾(如靜電、雷電)。減少EMI的方法:①屏蔽設(shè)計(jì)(用金屬屏蔽罩覆蓋高頻模塊,屏蔽罩與PCB地平面良好接觸(接觸電阻<0.1Ω),接縫處用導(dǎo)電膠密封,開口尺寸<λ/20,1GHz時(shí)λ=300mm,開口≤15mm);②時(shí)鐘/本振信號(hào)濾波(在LO輸出端加帶通濾波器,抑制高次諧波(如10GHz本振的20GHz諧波,衰減>40dB));③接地優(yōu)化(采用單點(diǎn)接地,高頻電路(>100MHz)用星型接地,避免地電流環(huán)路(環(huán)路面積<1cm2,減小輻射天線效應(yīng)));④差分信號(hào)傳輸(如IQ信號(hào)用差分對(duì),共模噪聲相互抵消,輻射降低20dB以上)。18.問:射頻測試中,如何測量器件的噪聲系數(shù)(NF)?Y因子法的原理是什么?答:噪聲系數(shù)測量常用Y因子法,步驟:①連接噪聲源(ENR已知,如ENR=15dB)至被測器件(DUT)輸入;②噪聲源輸出“冷態(tài)”(Off,溫度T_c=290K)和“熱態(tài)”(On,溫度T_h=T_c×10^(ENR/10));③用噪聲系數(shù)分析儀(NFA)測量DUT輸出噪聲功率P_c(冷態(tài))和P_h(熱態(tài));④計(jì)算Y=P_h/P_c,NF=10log[(T_hY×T_c)/(Y-1)×(1/G)],其中G為DUT增益(需預(yù)先用VNA測量)。原理:DUT輸出噪聲包括自身噪聲(T_eff)和輸入噪聲(T_in),Y=(T_h+T_eff×G)/(T_c+T_eff×G),通過解方程消去T_eff,得到NF=10log(1+T_eff/T_c)。19.問:微波介質(zhì)陶瓷(如BaTiO3基材料)的介電常數(shù)(ε?)和損耗角正切(tanδ)對(duì)濾波器性能的影響是什么?設(shè)計(jì)介質(zhì)諧振器濾波器時(shí),如何選擇陶瓷材料?答:ε?決定諧振器尺寸(體積∝1/ε?),ε?越大,諧振器越小(如ε?=100的陶瓷,1GHz諧振器邊長≈15mm,而ε?=10的陶瓷需≈47mm)。tanδ影響無載Q值(Q=1/t

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