1、基本RS觸發(fā)器、D觸發(fā)器的研究,一、實驗?zāi)康?1、掌握基本RS觸發(fā)器、D觸發(fā)器的邏輯功能 2、掌握基本RS觸發(fā)器、D觸發(fā)器的測試方法 3、熟悉D觸發(fā)器與其他觸發(fā)器間的相互轉(zhuǎn)換,觸發(fā)器是一種具有記憶功能的二進制存貯器件，是構(gòu)成各種時序電路的基本邏輯單元。它在數(shù)字系統(tǒng)和計算機中有著廣泛的運用。,二、實驗原理,按觸發(fā)器的邏輯功能分，有RS觸發(fā)器D觸發(fā)器JK觸發(fā)器T觸發(fā)器和T觸發(fā)器。 按觸發(fā)脈沖的觸發(fā)形式分，有高電平觸發(fā)、低電平觸發(fā)、上升沿觸發(fā)和下降沿觸發(fā)以及主從觸發(fā)器的脈沖觸發(fā)等。,觸發(fā)器具有以下基本特點：,具有兩個穩(wěn)定的（和）狀態(tài)，能存儲一位二進制信息； 在一定的外加信號作用下，觸發(fā)器可從一種穩(wěn)定

2、狀態(tài)轉(zhuǎn)換成另一種穩(wěn)定狀態(tài)（10或01）。 在一定的條件下，可以維持兩個穩(wěn)定狀態(tài) （0或1）之一而保持不變。,組成： 用2個與非門 構(gòu)成：將輸入端和輸出端交叉耦合而成,直接復位端,直接置位端,邏輯符號,邏輯圖,1.基本的R-S觸發(fā)器,基本RS觸發(fā)器的邏輯功能,置0,置1,保持,不定態(tài),0,1,Q n,基本RS觸發(fā)器功能表,D觸發(fā)器只有一根輸入線，狀態(tài)方成為：Qn+1=D。,2.D觸發(fā)器,D觸發(fā)器是時序邏輯電路的基本器件之一。在輸 入信號為單端的情況下，D觸發(fā)器用起來最為方 便。,CP上升沿觸發(fā),雙觸發(fā)器74LS74,邏輯符號,觸發(fā)器74LS74功能表,D觸發(fā)器簡單應(yīng)用：,構(gòu)成一位二進制計數(shù)器（二

3、分頻器）?？蓱?yīng)用譯碼顯示循環(huán)狀態(tài)，用示波器觀察Q波形。,電路圖：,循環(huán)狀態(tài)：,波形輸出：,（1）用D觸發(fā)器構(gòu)成觸發(fā)器, 觸發(fā)器,在D觸發(fā)器輸入端連接一異或門， D觸發(fā)器的輸出端與異或門輸入端相連接，構(gòu)成T觸發(fā)器。,Qn+1=TQn。,D觸發(fā)器構(gòu)成其它觸發(fā)器,（）用觸發(fā)器構(gòu)成觸發(fā)器,RD、SD不用時， 懸空或接高電平,上升沿到達時 觸發(fā)器翻轉(zhuǎn),頻率ffCP/, 觸發(fā)器,若將D觸發(fā)器的輸入端與 Q相連接，即得T觸 發(fā)器， 。當T觸 發(fā)器CP端的上升沿達 到時，觸發(fā)器的狀態(tài)就 翻轉(zhuǎn)一次。,三、實驗內(nèi)容,1、測試基本R-S觸發(fā)器的邏輯功能 由74LS00四二輸入與非門來實現(xiàn)。,Q,R-S觸發(fā)器邏輯功能

4、測試表,如圖是74LS74的管腳排列圖，該芯片中有兩個D觸發(fā)器。功能測試電路如下圖， 、D接邏輯開關(guān)，CP接單次脈沖，按表進行其功能測試。,2、D 觸發(fā)器功能測試,D觸發(fā)器74LS74功能測試表,采用用74LS74 觸發(fā)器構(gòu)成2-4進制計數(shù)器，其中CP為10KHZ TTL信號。用雙蹤示波器觀察工作情況，記錄CP和Q1、Q2的波形。,3、D觸發(fā)器計數(shù)功能測試,D觸發(fā)器計數(shù)波形,故障檢查與排除,1：芯片異常發(fā)燙。 解決辦法：請檢查芯片電源、地是否接反；電源電壓是否滿足要求。 現(xiàn)象2：各觸發(fā)器基本功能測試時不能得到理想值。 解決方法：請用邏輯測試筆或示波器檢查芯片電源及各輸入、輸出端是否滿足要求。 注意：測試時應(yīng)防止芯片引腳短路。 現(xiàn)象3：用D觸發(fā)器構(gòu)成2-4進制計數(shù)器時不能正確分頻。 解決方法：請用邏輯測試筆或示波器檢查芯片電源及各輸入、輸