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1、AEFT3101 Rev1,Probe Card機(jī)臺(tái)良率分析,Owner: Reviewer: Approver : Date：2009-03-04 Version：01,所有字體：宋體+Arial,AEFT3101 Rev1,Revision History文件修正一覽表,AEFT3101 Rev1,1.廠內(nèi)良率針對(duì)P/C的判斷標(biāo)準(zhǔn)： 參照Probe Card驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)：Pass Yield Gap0.3%，單一bin rate Gap0.15% W10MT049-019 Rev1Probe card 驗(yàn)收表：,AEFT3101 Rev1,2.實(shí)例講解 例1：P/C固定機(jī)臺(tái)測(cè)試 根據(jù)P/C的測(cè)

2、試的pass rate,前三大defect bin rate做分析和層別，判斷是否異常,從圖中可以清楚看到，#01的P/C，pass rate和bin12 rate均偏高，接下來只需要交叉驗(yàn)證來判斷是機(jī)臺(tái)異常，還是P/C異常,AEFT3101 Rev1,例2：P/C和機(jī)臺(tái)的搭配不固定 這類情況，需要層別機(jī)臺(tái)和P/C來找到異常的真因,圖1By P/C做層別，可以看出#01，#05的O/S rate都偏高，但#01在FT-17和FT-33都有做測(cè)試，而#05只在FT-33做測(cè)試； 進(jìn)一步By機(jī)臺(tái)做分析，發(fā)現(xiàn)#01在FT-17的O/S rate較低，而在FT-33較高，說明#01 卡片O/S rate偏高的問題，是在FT-33上引起的，而#05在FT-33的

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