1、統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制SPCStatistical Process Control,培訓(xùn)講義 Training Material,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,1.制作直方圖 1.1.抽樣編號(hào) 1.2.樣品計(jì)量 1.3.計(jì)算極差 R=Xmax-Xmin 1.4.數(shù)據(jù)分組 K 1.5.確定組距 d 1.6.確定各組區(qū)間的端點(diǎn) ak 1.7.計(jì)算每組中值 Yi,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,1.8.統(tǒng)計(jì)樣本落在每個(gè)區(qū)間的頻數(shù) 1.9.建立直方圖 1.9.1.建立直角坐標(biāo) 1.9.2.標(biāo)出每一組的端點(diǎn) 1.9.3.畫(huà)出長(zhǎng)方形,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,2.制作正態(tài)分布圖 2.1.找出每個(gè)長(zhǎng)方形的中點(diǎn)

2、 2.2.用光滑曲線使中點(diǎn)相連 示例燈片重量,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,3.控制圖過(guò)程控制的有力工具 3.1.控制圖的構(gòu)成 3.2.均值和極差圖（X-R）的建立 3.2.1.收集數(shù)據(jù) 選擇子組大小 原則“應(yīng)使得一個(gè)子組內(nèi)在該單元中的各樣本之間出現(xiàn)變差的機(jī)會(huì)小”,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,選擇子組頻率 選擇子組組數(shù) 3.2.2.建立控制圖，記錄原始數(shù)據(jù) 3.2.3.計(jì)算均值X和極差R X=(1/n)Xi R=Xmax-Xmin 3.2.4.確定控制圖縱坐標(biāo)的刻度 X圖 （最大刻度值-最小刻度值）2(Xmax-Xmin) R圖 最大刻度值Rmax,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,3.2

3、.5.描點(diǎn)畫(huà)線 3.2.6.計(jì)算控制限 計(jì)算過(guò)程平均值X和平均極差R X=(1/n)Xj R=(1/n)Rk 計(jì)算控制限 UCLx=X+A2R LCLx=X-A2R UCLR=D4R LCLR=D3R 3.2.7.在控制圖中畫(huà)控制限,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,3.3.過(guò)程能力解釋 3.3.1.極差圖分析 點(diǎn) 線（鏈） 區(qū)圖形的趨勢(shì) 非隨機(jī)圖形的表現(xiàn) 子組內(nèi)數(shù)據(jù)點(diǎn)總體分布準(zhǔn)則 特殊原因的標(biāo)注、對(duì)策和改善 糾正改善后重新計(jì)算極差圖控制限,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,3.3.2.均值圖分析 點(diǎn) 線（鏈） 區(qū),SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,3.4.如何更快地檢測(cè)到大的過(guò)程變化？ 3.4.1

4、.方法 3.4.2.重新計(jì)算R，UCL/LCL 計(jì)算估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 R/d2=R/d2 計(jì)算其它值 R新= R/d2 d2新 UCLR新=D4 R新 LCLR新=D3 R新 UCLX新=X+A2 R新 LCLX新=X-A2 R新,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,3.5.控制圖的益處 3.5.1.判斷過(guò)程穩(wěn)定 3.5.2.預(yù)測(cè) 3.5.3.改進(jìn)、降本 3.5.4.便于交流 3.5.5.明確職責(zé),SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,3.6.使用控制圖的準(zhǔn)備 3.6.1.建立適用于實(shí)施的環(huán)境 3.6.2.定義過(guò)程 3.6.3.確定控制的特性 3.6.4.確定測(cè)量系統(tǒng) 3.6.5.使不必要的變差最小,SPC-正態(tài)分布圖的制作與分析,3.7.其它控制圖的介紹 3.7.1.用于計(jì)量型數(shù)據(jù)的其它型控制圖 X-S（均值-標(biāo)準(zhǔn)差圖） Xi-MR（單