1、1Magnetics (H.K.) Ltd.SAE SPCSAE SPC 的管理系統(tǒng)的管理系統(tǒng)Magnetics (H.K.) Ltd.g1、SAE的的SPC系統(tǒng)簡介系統(tǒng)簡介(包括法則的設(shè)置包括法則的設(shè)置)g2、常規(guī)控制圖的分類（、常規(guī)控制圖的分類（3種分類方法）種分類方法）g3、控制限的應(yīng)用管理控制限的應(yīng)用管理g4、 8種變差模式種變差模式原因分析和改進(jìn)措施原因分析和改進(jìn)措施g5、出現(xiàn)、出現(xiàn)OOC異常時(shí)的處理規(guī)定異常時(shí)的處理規(guī)定g6、控制圖在、控制圖在Corona SPC中的保存方法中的保存方法 g7、典型不符合案例介紹、典型不符合案例介紹3Magnetics (H.K.) Ltd.SAE

2、SPC管理系統(tǒng)簡介管理系統(tǒng)簡介Magnetics (H.K.) Ltd.SAE 控控制制圖圖運(yùn)運(yùn)行行系系統(tǒng)統(tǒng)圖圖SPC 推推進(jìn)進(jìn)人人明確工序控制點(diǎn)5M1E責(zé)任人/組織工序監(jiān)控/Defect/Ppk月度Review活動(dòng)IT 軟件注冊(cè)/升級(jí)/維護(hù)SPC 統(tǒng)統(tǒng)計(jì)計(jì)員員控制點(diǎn)軟件申請(qǐng)/設(shè)置品質(zhì)參數(shù)/編制質(zhì)量月報(bào)表OOC 責(zé)責(zé)任任人人(自自檢檢工工人人）控制點(diǎn)注冊(cè)申請(qǐng)、工序分析與改善入入數(shù)數(shù)員工入數(shù)SPC 推推進(jìn)進(jìn)人人統(tǒng)籌管理SPC控制點(diǎn)QA SPC 檢檢查查員員 執(zhí)行SPC 月度符合性檢查QA SPC 高高級(jí)級(jí)管管理理員員負(fù)責(zé)PE/QA/PROD/IT 問題協(xié)調(diào)；本部門軟件系統(tǒng)問題處理；組織SPC 符

3、合性檢查QMS統(tǒng)統(tǒng)籌籌管理SPC系統(tǒng)PE 確定控制點(diǎn)在QCFC中規(guī)定控制點(diǎn)/控制參數(shù)/控制圖表抽樣頻率 (Sampling Frequency)樣本數(shù)量 (Sampling Size)控制圖表的種類(Type of Control Chart)。Magnetics (H.K.) Ltd.Magnetics (H.K.) Ltd.Magnetics (H.K.) Ltd.(2)Corona SPC 系系統(tǒng)統(tǒng)法法則則設(shè)設(shè)置置分分類類1-國國標(biāo)標(biāo)8個(gè)個(gè)變變差差模模式式：G G1 1 G G2 2GB/T 4091-2001中中文文C Co or ro on na a S SP PC C 軟軟件件英英

4、文文圖形分析WE1WE211個(gè)點(diǎn)落在上A區(qū)以外Consecutive 1 Points 1 More Than UCLWE2WE221個(gè)點(diǎn)落在下A區(qū)以外Consecutive 1 Points 1 Small Than LCL過程WE3WE23連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)落在中心線上側(cè)的B區(qū)以外Consecutive 3 Points 2 More Than 2Sigma均值WE4WE24連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)落在中心線下側(cè)的B區(qū)以外Consecutive 3 Points 2 Small Than -2Sigma偏移WE5WE25連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在中心線上側(cè)的C區(qū)以外Consecutive 5 Points

5、 4 More Than 1SigmaWE6WE26連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)落在中心線下側(cè)的C區(qū)以外Consecutive 5 Points 4 Small Than -1SigmaWE7WE27連續(xù)9點(diǎn)落在中心線上側(cè)Consecutive 9 Points Above CLWE8WE28連續(xù)9點(diǎn)落在中心線下側(cè)Consecutive 9 Points Below CLWE9WE29連續(xù)6點(diǎn)遞增Consecutive 6 Points Upper TRENDWE10 WE30連續(xù)6點(diǎn)遞減Consecutive 6 Points Down TRENDWE12 WE31連續(xù)15點(diǎn)落在中心線兩側(cè)的C區(qū)內(nèi)Con

6、secutive 15 Points 15 In C Area分層WE13 WE32連續(xù)8點(diǎn)落在中心線兩側(cè)且無一在C區(qū)內(nèi)Consecutive 8 Points 8 Out Of C Area不夠WE14 WE33連續(xù)14點(diǎn)中相鄰點(diǎn)交替上下Consecutive 14 Points CrossMagnetics (H.K.) Ltd.Magnetics (H.K.) Ltd.Magnetics (H.K.) Ltd.Magnetics (H.K.) Ltd.Mode A/B/C/D 指工序問題點(diǎn)分級(jí)Remark 的方式。例如：二級(jí)工序 Monitor-2 需要由5M1E 相關(guān)責(zé)任人共同監(jiān)控，則

7、可將工序5M1E責(zé)任分別規(guī)范在A/B/C/D 等4個(gè)范圍，各自改善責(zé)任范圍內(nèi)問題。Mode升級(jí)法則：Mode設(shè)置方式之一：Magnetics (H.K.) Ltd.Mode設(shè)置方式之二：Magnetics (H.K.) Ltd.控控制制用用控控制制圖圖中中各各種種點(diǎn)點(diǎn)子子區(qū)區(qū)別別。N No o控控制制圖圖中中各各種種類類型型的的點(diǎn)點(diǎn)子子點(diǎn)點(diǎn)子子形形狀狀點(diǎn)點(diǎn)子子顏顏色色(1)工序分析報(bào)告的點(diǎn) ?；疑?2)排除點(diǎn)x 灰色(3)正常點(diǎn)。黑色(4)OOC Mode A * 黃色(5)OOC Mode B * 藍(lán)色(6)OOC Mode C * 紫色(7)OOC Mode D*紅色(8)OOC 已Rem

8、ark 點(diǎn)+改變OOC 點(diǎn)子狀態(tài)，原顏色不變Magnetics (H.K.) Ltd.定期審查定期審查Manufacturing Process Product Quality Monthly ReportSPC monthly report15Magnetics (H.K.) Ltd.常規(guī)控制圖的分類（常規(guī)控制圖的分類（3種分類方法）種分類方法）Magnetics (H.K.) Ltd.控制圖計(jì)量值控制圖正態(tài)分布X-R ChartX-s ChartX-Rs Chart (IR)p- Chartnp- Chartc- Chartu- Chart標(biāo)準(zhǔn)值未給定標(biāo)準(zhǔn)值給定分析用控制圖分析用控制圖控制

9、用控制圖控制用控制圖計(jì)數(shù)控制圖計(jì)點(diǎn)值控制圖泊松分布計(jì)件值控制圖二項(xiàng)分布Magnetics (H.K.) Ltd.根據(jù)數(shù)據(jù)類型不同，分為計(jì)量計(jì)量和計(jì)數(shù)計(jì)數(shù)控制圖分類1Magnetics (H.K.) Ltd.計(jì)量控制圖必須兩圖聯(lián)用計(jì)量值數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布，其分布參數(shù), 是各自獨(dú)立的不相關(guān)數(shù)據(jù)，必須加以分別控制Xbar圖是用于控制分布中心的；s圖是用于控制標(biāo)準(zhǔn)差的對(duì)兩圖進(jìn)行分析判斷時(shí)，應(yīng)先分析離散程度的控制圖Magnetics (H.K.) Ltd.主要用途希望盡快發(fā)現(xiàn)并消除異常原因；希望盡快發(fā)現(xiàn)并消除異常原因；從過程中只能獲得從過程中只能獲得1個(gè)測定值；個(gè)測定值；產(chǎn)品一致性好，不需多個(gè)值；產(chǎn)品一致

10、性好，不需多個(gè)值；(產(chǎn)品質(zhì)量均勻產(chǎn)品質(zhì)量均勻);因費(fèi)用、時(shí)間或產(chǎn)品批量小等限制只能得到一個(gè)測定值時(shí)。因費(fèi)用、時(shí)間或產(chǎn)品批量小等限制只能得到一個(gè)測定值時(shí)。(取樣費(fèi)取樣費(fèi)用高；檢驗(yàn)時(shí)間長；批量小用高；檢驗(yàn)時(shí)間長；批量小)優(yōu)點(diǎn)：可將測定值直接在圖上打點(diǎn)，不需計(jì)算；優(yōu)點(diǎn)：可將測定值直接在圖上打點(diǎn)，不需計(jì)算；缺點(diǎn)：不易發(fā)現(xiàn)質(zhì)量分布的平均變化，而且發(fā)現(xiàn)異常因素的能力不缺點(diǎn)：不易發(fā)現(xiàn)質(zhì)量分布的平均變化，而且發(fā)現(xiàn)異常因素的能力不如如Xbar圖圖(平均值控制圖平均值控制圖)。Magnetics (H.K.) Ltd.主要用途對(duì)于計(jì)量值而言，這是一個(gè)最常用的最基本的控制圖；對(duì)于計(jì)量值而言，這是一個(gè)最常用的最基本的

11、控制圖；適用于長度、重量、強(qiáng)度、時(shí)間和生產(chǎn)量等計(jì)量值的場合；適用于長度、重量、強(qiáng)度、時(shí)間和生產(chǎn)量等計(jì)量值的場合；Xbar 控制圖主要用于觀察分布的均值的變化，控制圖主要用于觀察分布的均值的變化，R控制圖用于觀察分布控制圖用于觀察分布的分散或變異度的變化；的分散或變異度的變化；Xbar控制圖比控制圖比X控制圖發(fā)現(xiàn)異常的敏感能力要強(qiáng)，而且由于每次是觀控制圖發(fā)現(xiàn)異常的敏感能力要強(qiáng)，而且由于每次是觀察一組產(chǎn)品，從而能較方便地利用極差察一組產(chǎn)品，從而能較方便地利用極差(R)控制圖控制圖優(yōu)點(diǎn)：1、適用范圍廣、適用范圍廣 2、靈敏度高、靈敏度高缺點(diǎn)：對(duì)于檢驗(yàn)數(shù)據(jù)的離散程度對(duì)于檢驗(yàn)數(shù)據(jù)的離散程度R圖，不如圖，

12、不如s圖精確。圖精確。Magnetics (H.K.) Ltd.Xbar-s與與Xbar-R相似，只是用標(biāo)準(zhǔn)偏差圖相似，只是用標(biāo)準(zhǔn)偏差圖(s圖圖)代替極差圖代替極差圖(R圖圖)而已。極差計(jì)算簡便而已。極差計(jì)算簡便.若樣本大小若樣本大小n 較大，例如較大，例如n10(5)，這時(shí)用極差，這時(shí)用極差法估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)差的效率較低。最好在法估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)差的效率較低。最好在Xbar-R圖圖中用中用s圖代替圖代替R圖。圖。Magnetics (H.K.) Ltd.計(jì)數(shù)值分為計(jì)件值/二項(xiàng)分布，計(jì)點(diǎn)值/泊松分布計(jì)數(shù)值情形所假定的分布只有一個(gè)獨(dú)立的參數(shù)，即平均水平，故用一張控制圖就足夠了。Magnetics (H.

13、K.) Ltd.p- Chart 不合格品率控制圖不合格品率控制圖np-chart 不合格品數(shù)控制圖不合格品數(shù)控制圖用來控制批質(zhì)量水平的控制工具。當(dāng)樣本大小保持不變時(shí)，用來控制批質(zhì)量水平的控制工具。當(dāng)樣本大小保持不變時(shí)，p-chart/np-chart 都可以用；但當(dāng)樣本大小是變化的場合，只能應(yīng)用都可以用；但當(dāng)樣本大小是變化的場合，只能應(yīng)用p-chart而不能應(yīng)用而不能應(yīng)用np-chart計(jì)件值計(jì)件值-二項(xiàng)分布二項(xiàng)分布若每個(gè)子組大小若每個(gè)子組大小n都相等，若都相等，若P很小，則選樣本容量要充分大，使每個(gè)子組平均都很小，則選樣本容量要充分大，使每個(gè)子組平均都有一個(gè)不合格品，通常取有一個(gè)不合格品，

14、通常取:若若n不相等，則不相等，則p-chart的的UCLp和和LCLp是凸凹狀，對(duì)此是凸凹狀，對(duì)此GB/T4091-2001國標(biāo)中給國標(biāo)中給出了兩種解決方案。出了兩種解決方案。關(guān)于樣本容量的確定需注意：關(guān)于樣本容量的確定需注意：Magnetics (H.K.) Ltd.方案一：如果方案一：如果n變化在子組大小目標(biāo)值變化在子組大小目標(biāo)值25%以內(nèi)，可采用單一的等于平均子以內(nèi)，可采用單一的等于平均子組大小的一組控制線；組大小的一組控制線；方案二：當(dāng)方案二：當(dāng)n變化較大時(shí)，可采用利用標(biāo)準(zhǔn)化變量的方法。例如不點(diǎn)繪變化較大時(shí)，可采用利用標(biāo)準(zhǔn)化變量的方法。例如不點(diǎn)繪P值，值，而改為點(diǎn)繪標(biāo)準(zhǔn)化而改為點(diǎn)繪標(biāo)

15、準(zhǔn)化Z值，根據(jù)值，根據(jù)P的標(biāo)準(zhǔn)值是否給定，有：的標(biāo)準(zhǔn)值是否給定，有：或或這樣，中心線和控制限如下所示成為常數(shù)，而與子組大小無關(guān)：這樣，中心線和控制限如下所示成為常數(shù)，而與子組大小無關(guān)：UCL=3CL=0LCL=-3Magnetics (H.K.) Ltd.u- chart 單位不合格數(shù)控制圖單位不合格數(shù)控制圖c- chart 不合格數(shù)控制圖不合格數(shù)控制圖用于控制一部機(jī)器，一個(gè)部件，一定的長度，一定的面積或用于控制一部機(jī)器，一個(gè)部件，一定的長度，一定的面積或任何一定的單位中所出現(xiàn)的不合格數(shù)目。當(dāng)樣本大小保持不任何一定的單位中所出現(xiàn)的不合格數(shù)目。當(dāng)樣本大小保持不變時(shí)，變時(shí)，u-chart/c-ch

16、art 都可以用；但當(dāng)樣本大小是變化都可以用；但當(dāng)樣本大小是變化的場合，應(yīng)用的場合，應(yīng)用u-chart 較適宜；較適宜；樣本大小一致時(shí)，控制界限為直線；樣本大小變化時(shí)，控制界限為凹凸?fàn)?計(jì)點(diǎn)值計(jì)點(diǎn)值-泊松分布泊松分布Magnetics (H.K.) Ltd.確定被控制對(duì)象及數(shù)據(jù)性質(zhì)計(jì)件值數(shù)據(jù)計(jì)點(diǎn)值數(shù)據(jù)計(jì)量值數(shù)據(jù)樣本均值X易于計(jì)算樣本量n5樣本標(biāo)準(zhǔn)偏差s易于計(jì)算過程質(zhì)量均勻或只能取一個(gè)數(shù)據(jù)樣本量是常數(shù)樣本量是常數(shù) X-R圖 X-R圖 X-s圖 X-Rs圖p圖u圖p圖、pn圖c圖、u圖NNNNNNNNYYYYYYYYYMagnetics (H.K.) Ltd.根據(jù)使用場合不同，分為標(biāo)準(zhǔn)值給定與標(biāo)準(zhǔn)

17、值未給定分為標(biāo)準(zhǔn)值給定與標(biāo)準(zhǔn)值未給定控制圖控制圖分類2Magnetics (H.K.) Ltd.標(biāo)準(zhǔn)值標(biāo)準(zhǔn)值即為規(guī)定的要求或目標(biāo)值即為規(guī)定的要求或目標(biāo)值標(biāo)準(zhǔn)值給定控制圖的目的標(biāo)準(zhǔn)值給定控制圖的目的確定若干個(gè)子組的確定若干個(gè)子組的X等特性的觀測值與其對(duì)應(yīng)的的標(biāo)準(zhǔn)值等特性的觀測值與其對(duì)應(yīng)的的標(biāo)準(zhǔn)值X0(或或 0)之差，之差，是否顯著大于僅由預(yù)期的偶然原因造成是否顯著大于僅由預(yù)期的偶然原因造成的差異的差異，其中每個(gè)子組的，其中每個(gè)子組的n值相同。值相同。標(biāo)準(zhǔn)值給定情形的控制圖與標(biāo)準(zhǔn)值給定情形的控制圖與標(biāo)準(zhǔn)值未給定情形的控制圖標(biāo)準(zhǔn)值未給定情形的控制圖之間的差別，在于有關(guān)過程中心位置與變差的附加要求之間

18、的差別，在于有關(guān)過程中心位置與變差的附加要求不同。不同。Xo-子組平均值標(biāo)準(zhǔn)值過程均值的真值標(biāo)準(zhǔn)值R極差標(biāo)準(zhǔn)值so子組標(biāo)準(zhǔn)差o-組內(nèi)過程標(biāo)準(zhǔn)差的真值標(biāo)準(zhǔn)值po-子組不合格率標(biāo)準(zhǔn)值 Magnetics (H.K.) Ltd.顧客指定的顧客指定的基于通過使用無規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)值的分析用控制圖而獲得的經(jīng)驗(yàn)來確定基于通過使用無規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)值的分析用控制圖而獲得的經(jīng)驗(yàn)來確定基于通過考慮服務(wù)的需要和生產(chǎn)的費(fèi)用而建立的經(jīng)濟(jì)值來確定基于通過考慮服務(wù)的需要和生產(chǎn)的費(fèi)用而建立的經(jīng)濟(jì)值來確定由產(chǎn)品規(guī)格指定的標(biāo)稱值由產(chǎn)品規(guī)格指定的標(biāo)稱值通過調(diào)查被認(rèn)為代表所有未來數(shù)據(jù)特征的預(yù)備數(shù)據(jù)來確定標(biāo)準(zhǔn)值通過調(diào)查被認(rèn)為代表所有未來數(shù)據(jù)特征的預(yù)

19、備數(shù)據(jù)來確定標(biāo)準(zhǔn)值為控制圖有效運(yùn)作，標(biāo)準(zhǔn)值應(yīng)該與固有變異相一致。為控制圖有效運(yùn)作，標(biāo)準(zhǔn)值應(yīng)該與固有變異相一致。Magnetics (H.K.) Ltd.標(biāo)準(zhǔn)值未給定控制圖標(biāo)準(zhǔn)值未給定控制圖標(biāo)準(zhǔn)值未給定控制圖情形的目的標(biāo)準(zhǔn)值未給定控制圖情形的目的發(fā)現(xiàn)所點(diǎn)繪的特性發(fā)現(xiàn)所點(diǎn)繪的特性(如如X、R或任何其它統(tǒng)計(jì)量或任何其它統(tǒng)計(jì)量)觀測值觀測值本身的變差是否顯著大于僅由偶然原因造成的變差。本身的變差是否顯著大于僅由偶然原因造成的變差。這種控制圖完全基于子組數(shù)據(jù)。用來檢驗(yàn)非偶然原因這種控制圖完全基于子組數(shù)據(jù)。用來檢驗(yàn)非偶然原因造成的那些變差。造成的那些變差。Magnetics (H.K.) Ltd.根據(jù)使用

20、用途不同，分為分析用與控制用控制圖分為分析用與控制用控制圖分類3Magnetics (H.K.) Ltd.分析用控制圖的目的是對(duì)收集到的一定數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，尋找穩(wěn)態(tài)。分析用控制圖的目的是對(duì)收集到的一定數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，尋找穩(wěn)態(tài)。1.分析生產(chǎn)過程是否處于穩(wěn)態(tài)。若不穩(wěn)，則需調(diào)整過程，使之達(dá)到穩(wěn)態(tài)。分析生產(chǎn)過程是否處于穩(wěn)態(tài)。若不穩(wěn)，則需調(diào)整過程，使之達(dá)到穩(wěn)態(tài)。2.分析生產(chǎn)過程的工序能力是否滿足技術(shù)要求。若不滿足，則需調(diào)整工序能力。分析生產(chǎn)過程的工序能力是否滿足技術(shù)要求。若不滿足，則需調(diào)整工序能力。荷蘭學(xué)者維爾達(dá)把“過程能力指數(shù)滿足要求“稱“技術(shù)控制狀態(tài)”(新編質(zhì)量管理學(xué))狀態(tài)分類是否技術(shù)是III穩(wěn)態(tài)否II

21、IIV狀態(tài)I：統(tǒng)計(jì)穩(wěn)態(tài)與技術(shù)穩(wěn)態(tài)同時(shí)達(dá)到，這是最理想的狀態(tài)狀態(tài)II：統(tǒng)計(jì)穩(wěn)態(tài)未達(dá)到，技術(shù)穩(wěn)態(tài)達(dá)到。(考慮經(jīng)濟(jì)，可以保持)狀態(tài)III：統(tǒng)計(jì)穩(wěn)態(tài)達(dá)到，技術(shù)穩(wěn)態(tài)未達(dá)到。狀態(tài)IV：統(tǒng)計(jì)穩(wěn)態(tài)與技術(shù)穩(wěn)態(tài)均未達(dá)到，這是最不理想的狀態(tài)。當(dāng)過程達(dá)到所確定的狀態(tài)后，才能將分析用的控制圖延長作為控制用的控制圖。后者相當(dāng)于生產(chǎn)中的大法，故前者轉(zhuǎn)為后者應(yīng)有正式的手續(xù)統(tǒng)計(jì)狀態(tài)Magnetics (H.K.) Ltd.控制用控制圖的目的控制用控制圖的目的-工序維持工序維持控制用控制圖是對(duì)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，保持穩(wěn)控制用控制圖是對(duì)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，保持穩(wěn)態(tài)。態(tài)。Magnetics (H.K.) Ltd.作分析用控制圖作分析用控

22、制圖異常否異常否剔除異常點(diǎn)，重剔除異常點(diǎn)，重新計(jì)算（需查新計(jì)算（需查k k）計(jì)算計(jì)算CpCp或或CpkCpkCp,Cpk=1Cp,Cpk=1否否采取措施，采取措施，使使Cp,Cpk=1Cp,Cpk=1Cp,Cpk=1Cp,Cpk=1否否作控制用控制圖作控制用控制圖定期抽樣打點(diǎn)定期抽樣打點(diǎn)異常否異常否查明原因調(diào)整過程查明原因調(diào)整過程k=25k=25否否重新收集數(shù)據(jù)重新收集數(shù)據(jù)使使k=25k=25N NN NN NN NN NY YY YY YY Y工序工序改善改善工序工序維持維持分析用控制圖轉(zhuǎn)化為分析用控制圖轉(zhuǎn)化為控制用控制圖時(shí)，應(yīng)控制用控制圖時(shí)，應(yīng)有一個(gè)交接手續(xù)，即有一個(gè)交接手續(xù)，即保留工序分

23、析報(bào)告保留工序分析報(bào)告35Magnetics (H.K.) Ltd.控控 制制 限限 的的 管管 理理Magnetics (H.K.) Ltd.g標(biāo)準(zhǔn)值給定情形標(biāo)準(zhǔn)值給定情形 必須是在已知均值和標(biāo)準(zhǔn)差的情況下計(jì)算出控制限后手動(dòng)輸入必須是在已知均值和標(biāo)準(zhǔn)差的情況下計(jì)算出控制限后手動(dòng)輸入Corona系統(tǒng)；系統(tǒng)；g標(biāo)準(zhǔn)值未給定情形標(biāo)準(zhǔn)值未給定情形 分析用控制圖應(yīng)該是收集數(shù)據(jù)完成導(dǎo)入分析用控制圖應(yīng)該是收集數(shù)據(jù)完成導(dǎo)入Corona系統(tǒng)，待軟件系統(tǒng)進(jìn)行工序分析后系統(tǒng)，待軟件系統(tǒng)進(jìn)行工序分析后再自動(dòng)設(shè)置正確的控制限；再自動(dòng)設(shè)置正確的控制限； 控制用控制圖則是分析用控制圖設(shè)定的控制限的延伸；控制用控制圖則是分

24、析用控制圖設(shè)定的控制限的延伸；g計(jì)數(shù)計(jì)數(shù)值中的值中的P P值，一般是用值，一般是用過過去去長長期生期生產(chǎn)產(chǎn)中中積累積累的的經(jīng)驗(yàn)數(shù)經(jīng)驗(yàn)數(shù)字，如字，如沒沒有有經(jīng)驗(yàn)數(shù)經(jīng)驗(yàn)數(shù)字，字，則則用用頭頭一批一批2525個(gè)以上樣組算出平均個(gè)以上樣組算出平均不合格品率不合格品率 P P 作作為為中心中心線；線；注：一般控制限的計(jì)算使用注：一般控制限的計(jì)算使用3倍倍Sigma。 標(biāo)準(zhǔn)值給定情形設(shè)置控制限必須有文件支持。標(biāo)準(zhǔn)值給定情形設(shè)置控制限必須有文件支持。Magnetics (H.K.) Ltd.g5M1E改變時(shí)，需評(píng)估控制限的符合性，有需要時(shí)更新控制限；改變時(shí)，需評(píng)估控制限的符合性，有需要時(shí)更新控制限；g由于工

25、序不斷改善、提高，原控制限可能會(huì)出現(xiàn)過松、過寬的現(xiàn)象，失去由于工序不斷改善、提高，原控制限可能會(huì)出現(xiàn)過松、過寬的現(xiàn)象，失去工序預(yù)防控制的作用，應(yīng)考慮重新進(jìn)行工序分析，并設(shè)置合理的控制限；工序預(yù)防控制的作用，應(yīng)考慮重新進(jìn)行工序分析，并設(shè)置合理的控制限；g對(duì)對(duì)OOC異常點(diǎn)能了解原因并消除這種原因，防止問題再發(fā)生的情況下，應(yīng)異常點(diǎn)能了解原因并消除這種原因，防止問題再發(fā)生的情況下，應(yīng)剔除剔除OOC異常點(diǎn)再重新計(jì)算控制限；異常點(diǎn)再重新計(jì)算控制限；g為確保為確保 Yield Target /P0的先進(jìn)性和挑戰(zhàn)性，一般每月應(yīng)評(píng)估一次的先進(jìn)性和挑戰(zhàn)性，一般每月應(yīng)評(píng)估一次Yield Target/P0，有必要時(shí)

26、應(yīng)更新控制限。，有必要時(shí)應(yīng)更新控制限。注：注：控制限不是固定不變的?？刂葡薏皇枪潭ú蛔兊?。 凡是更新控制限都必須注明更新的理由，必要時(shí)提交工序凡是更新控制限都必須注明更新的理由，必要時(shí)提交工序 分析報(bào)告。分析報(bào)告。 對(duì)于長期或超過一年未更新控制限的控制圖應(yīng)對(duì)控制限重對(duì)于長期或超過一年未更新控制限的控制圖應(yīng)對(duì)控制限重 新進(jìn)行評(píng)估。新進(jìn)行評(píng)估。38Magnetics (H.K.) Ltd.8種變差模式原因分析和種變差模式原因分析和改進(jìn)措施改進(jìn)措施Magnetics (H.K.) Ltd.原因：控制限計(jì)算問題、原因：控制限計(jì)算問題、5M1E發(fā)生變化、產(chǎn)品間的均值發(fā)生變化、產(chǎn)品間的均值或或標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差

27、變化、測量系統(tǒng)問題變化、測量系統(tǒng)問題Magnetics (H.K.) Ltd.原因：過程的均值原因：過程的均值或標(biāo)準(zhǔn)差或標(biāo)準(zhǔn)差變化。變化。出現(xiàn)在R圖或S圖中表明過程標(biāo)準(zhǔn)差變化，增大的原因通常是無規(guī)律的(例如設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?dòng))或由于過程中某個(gè)要素發(fā)生變化(例如使用新的不是很一致的原材料)；減小通常認(rèn)為是好的狀態(tài)，但是上述分析必須是在確保測量系統(tǒng)沒有偏離要求(例如新的檢驗(yàn)員或量具)的前提下進(jìn)行Magnetics (H.K.) Ltd.原因：過程的均值原因：過程的均值發(fā)生變化。發(fā)生變化。原因可能是工裝夾具、刀具等逐漸磨損、維修逐漸變壞等，從而使得參數(shù)隨著時(shí)間而變化；改進(jìn)的建議是及時(shí)更換工裝夾

28、具或刀具，或?qū)ζ溥M(jìn)行維護(hù)。Magnetics (H.K.) Ltd.原因：數(shù)據(jù)分層不夠。原因：數(shù)據(jù)分層不夠。數(shù)據(jù)分層不夠可能是兩個(gè)不同批次的材料混淆，輪流使用兩臺(tái)設(shè)備或兩位操作人員輪流進(jìn)行操作，早晚班未分開等等Magnetics (H.K.) Ltd.原因：均值發(fā)生變化。原因：均值發(fā)生變化。Magnetics (H.K.) Ltd.原因：均值發(fā)生變化。原因：均值發(fā)生變化。Magnetics (H.K.) Ltd.原因：出現(xiàn)此現(xiàn)象是輸出分布寬度標(biāo)準(zhǔn)差原因：出現(xiàn)此現(xiàn)象是輸出分布寬度標(biāo)準(zhǔn)差變小，造成這種變小，造成這種現(xiàn)象的原因可能是有數(shù)據(jù)虛假或數(shù)據(jù)分層不夠等，排除上述現(xiàn)象的原因可能是有數(shù)據(jù)虛假或數(shù)據(jù)

29、分層不夠等，排除上述兩種可能才能認(rèn)為是標(biāo)準(zhǔn)差兩種可能才能認(rèn)為是標(biāo)準(zhǔn)差的改進(jìn)的改進(jìn).Magnetics (H.K.) Ltd.原因：數(shù)據(jù)分層不夠。原因：數(shù)據(jù)分層不夠。Magnetics (H.K.) Ltd.減少均值偏移的措施如下：減少均值偏移的措施如下：- -通過收集數(shù)據(jù)，進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，找出大量連續(xù)生產(chǎn)過程中由于工具磨損、加工條件隨時(shí)間逐漸變通過收集數(shù)據(jù)，進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，找出大量連續(xù)生產(chǎn)過程中由于工具磨損、加工條件隨時(shí)間逐漸變化而產(chǎn)生偏移的規(guī)律，及時(shí)進(jìn)行中心調(diào)整，或采取設(shè)備自動(dòng)補(bǔ)償偏移或刀具自動(dòng)調(diào)整和補(bǔ)償?shù)?。化而產(chǎn)生偏移的規(guī)律，及時(shí)進(jìn)行中心調(diào)整，或采取設(shè)備自動(dòng)補(bǔ)償偏移或刀具自動(dòng)調(diào)整和補(bǔ)償?shù)取?

30、-根據(jù)中心偏移量，通過首件檢驗(yàn)可調(diào)整設(shè)備、刀具等的加工定位裝置。根據(jù)中心偏移量，通過首件檢驗(yàn)可調(diào)整設(shè)備、刀具等的加工定位裝置。- -改變操作者的加工偏向上下公差等的傾向性加工習(xí)慣，以公差中心值為加工依據(jù)。改變操作者的加工偏向上下公差等的傾向性加工習(xí)慣，以公差中心值為加工依據(jù)。- -配置更為精確、高一等級(jí)的量具，或由量規(guī)檢驗(yàn)改為量值檢驗(yàn)。配置更為精確、高一等級(jí)的量具，或由量規(guī)檢驗(yàn)改為量值檢驗(yàn)。減少分散程度的措施如下：減少分散程度的措施如下：- -修訂工序，改進(jìn)工藝方法，修訂操作規(guī)程，優(yōu)化工藝參數(shù)，推廣應(yīng)用新材料、新工藝、新技術(shù)。修訂工序，改進(jìn)工藝方法，修訂操作規(guī)程，優(yōu)化工藝參數(shù)，推廣應(yīng)用新材料、

31、新工藝、新技術(shù)。- -改造或更新設(shè)備，與客戶要求相適應(yīng)的精度較高的設(shè)備。改造或更新設(shè)備，與客戶要求相適應(yīng)的精度較高的設(shè)備。- -改變材料的進(jìn)貨周期，盡可能減少由于材料進(jìn)貨批次的不同而造成的質(zhì)量波動(dòng)。改變材料的進(jìn)貨周期，盡可能減少由于材料進(jìn)貨批次的不同而造成的質(zhì)量波動(dòng)。- -對(duì)關(guān)鍵工序、重要工序的操作者進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)。對(duì)關(guān)鍵工序、重要工序的操作者進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)。- -改造現(xiàn)有的現(xiàn)場環(huán)境條件以滿足產(chǎn)品對(duì)現(xiàn)場環(huán)境的特殊要求。改造現(xiàn)有的現(xiàn)場環(huán)境條件以滿足產(chǎn)品對(duì)現(xiàn)場環(huán)境的特殊要求。- -增添工裝工具，提高工裝工具的精度。增添工裝工具，提高工裝工具的精度。48Magnetics (H.K.) Ltd.出現(xiàn)出現(xiàn)

32、OOC異常時(shí)的處理規(guī)定異常時(shí)的處理規(guī)定Magnetics (H.K.) Ltd.g每個(gè)工作日按照規(guī)定的要求，隨機(jī)取數(shù)按時(shí)輸入控制用控制每個(gè)工作日按照規(guī)定的要求，隨機(jī)取數(shù)按時(shí)輸入控制用控制圖圖，檢查控制圖運(yùn)行趨勢(shì)，出現(xiàn)檢查控制圖運(yùn)行趨勢(shì)，出現(xiàn) OOC 應(yīng)在三個(gè)工作日內(nèi)批應(yīng)在三個(gè)工作日內(nèi)批注注(Remark)g出現(xiàn)出現(xiàn)OOC，執(zhí)行，執(zhí)行“消除異因的消除異因的 20 字方針字方針”： 查出異因、采取措施、保証消除、有效措施、納入標(biāo)準(zhǔn)查出異因、采取措施、保証消除、有效措施、納入標(biāo)準(zhǔn)g批注批注(Remark) 內(nèi)容應(yīng)是異常點(diǎn)的末端原因，對(duì)末端原因所采內(nèi)容應(yīng)是異常點(diǎn)的末端原因，對(duì)末端原因所采取的糾正行動(dòng)。

33、取的糾正行動(dòng)。Remark 中的責(zé)任人或相中的責(zé)任人或相關(guān)關(guān)5M1E 等，應(yīng)可等，應(yīng)可追溯。追溯。Magnetics (H.K.) Ltd.g以班以班/工作日為單位對(duì)異常點(diǎn)進(jìn)行批注工作日為單位對(duì)異常點(diǎn)進(jìn)行批注(Remark)。凡每個(gè)。凡每個(gè)班班/工作日有多組數(shù)據(jù)均為異常點(diǎn)，且發(fā)現(xiàn)的工作日有多組數(shù)據(jù)均為異常點(diǎn)，且發(fā)現(xiàn)的末端原因均為末端原因均為同一原因時(shí)，可在同一原因時(shí)，可在OOC Remark/Combine Points處處填入具體填入具體OOC個(gè)數(shù)，并在其最終異常點(diǎn)處個(gè)數(shù)，并在其最終異常點(diǎn)處Remark，則當(dāng)，則當(dāng)日以往日以往OOC 由系統(tǒng)自動(dòng)改變?yōu)橐延上到y(tǒng)自動(dòng)改變?yōu)橐裄emark 標(biāo)記標(biāo)記

34、“+”g對(duì)于控制圖所出現(xiàn)的對(duì)于控制圖所出現(xiàn)的OOC， 建議按下列順序進(jìn)行檢查：建議按下列順序進(jìn)行檢查： a.取數(shù)據(jù)是否隨機(jī)；取數(shù)據(jù)是否隨機(jī)； b. 數(shù)字的讀取是否準(zhǔn)確、測試儀器是否符合標(biāo)準(zhǔn)；數(shù)字的讀取是否準(zhǔn)確、測試儀器是否符合標(biāo)準(zhǔn)； c. 控制限設(shè)置是否正確；控制限設(shè)置是否正確； d. 然后再調(diào)查生產(chǎn)過程人、機(jī)、料、法、環(huán)等方面的原因然后再調(diào)查生產(chǎn)過程人、機(jī)、料、法、環(huán)等方面的原因;51Magnetics (H.K.) Ltd.控制圖在控制圖在Corona SPC中的中的保存方法保存方法 Magnetics (H.K.) Ltd.g所有量產(chǎn)所有量產(chǎn)Project的的QCFC中規(guī)定的控制圖均設(shè)置在中規(guī)定的控制圖均設(shè)置在MP(mass product)文件夾下文件夾下g在生產(chǎn)線上正常生產(chǎn)中使用的控制圖也應(yīng)分別保存在在生產(chǎn)線上正常生產(chǎn)中使用的控制圖也應(yīng)分別保存在MP文文件夾下件夾下g在生產(chǎn)線上在生產(chǎn)線上Monitor/Master/Testing/Engineering monitor/Prototype類型的控制圖分別在相應(yīng)的類型的控制圖分別在相應(yīng)的BU主菜主菜單下設(shè)立相應(yīng)的文件夾，保存在這些文件夾內(nèi)，不可將它們單下設(shè)立相應(yīng)的文件夾，保存在這些文件夾內(nèi)，不可將它們放入放入MP文件